特許 7591177 テスト装置及び電子機器

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-11-19

(45)【発行日】2024-11-27

(54)【発明の名称】テスト装置及び電子機器

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/26 20200101AFI20241120BHJP

   G01R 31/28 20060101ALI20241120BHJP

   G01R 31/00 20060101ALI20241120BHJP

【ＦＩ】

G01R31/26 F

G01R31/28 Z

G01R31/00

【請求項の数】 10

(21)【出願番号】P 2024505488

(86)(22)【出願日】2022-07-13

(65)【公表番号】

(43)【公表日】2024-03-25

(86)【国際出願番号】 CN2022105534

(87)【国際公開番号】W WO2023024744

(87)【国際公開日】2023-03-02

【審査請求日】2023-10-11

(31)【優先権主張番号】202110967983.6

(32)【優先日】2021-08-23

(33)【優先権主張国・地域又は機関】CN

(73)【特許権者】

【識別番号】523349907

【氏名又は名称】チップワン テクノロジー （チューハイ） カンパニー リミテッド

(74)【代理人】

【識別番号】100099759

【弁理士】

【氏名又は名称】青木 篤

(74)【代理人】

【識別番号】100123582

【弁理士】

【氏名又は名称】三橋 真二

(74)【代理人】

【識別番号】100092624

【弁理士】

【氏名又は名称】鶴田 準一

(74)【代理人】

【識別番号】100114018

【弁理士】

【氏名又は名称】南山 知広

(74)【代理人】

【識別番号】100153729

【弁理士】

【氏名又は名称】森本 有一

(74)【代理人】

【識別番号】100196601

【弁理士】

【氏名又は名称】酒井 祐市

(72)【発明者】

【氏名】チェン チンルン

(72)【発明者】

【氏名】ヤン チーチャオ

【審査官】島▲崎▼ 純一

(56)【参考文献】

【文献】特開平０６－３０８０３６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００４－２８７６７３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１０－２３２９４７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０７－２４４１２９（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１３／０２０４５５３（ＵＳ，Ａ１）

【文献】中国特許出願公開第１０１０６７７９９（ＣＮ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｒ ３１／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

テスト装置であって、
制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも１つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられることを特徴とするテスト装置。

【請求項2】

前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。

【請求項3】

前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第１の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第２の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第３の記憶ユニットとを含むことを特徴とする請求項２に記載のテスト装置。

【請求項4】

前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられることを特徴とする請求項１または２に記載のテスト装置。

【請求項5】

前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする請求項４に記載のテスト装置。

【請求項6】

前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする請求項４に記載のテスト装置。

【請求項7】

前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。

【請求項8】

前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか１つまたは複数を含むことを特徴とする請求項５に記載のテスト装置。

【請求項9】

請求項１に記載のテスト装置を含むことを特徴とする電子機器。

【請求項10】

前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含むことを特徴とする請求項９に記載の電子機器。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、表示技術分野に関し、特に、テスト装置及び電子機器に関する。

【背景技術】

【0002】

関連技術では、表示データの補正を行う時に、アプリケーションプロセッサＡＰ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）は、表示ストリーム圧縮（ｅｘ：ＶＥＳＡ ＤＳＣ ｄｉｓｐｌａｙ ｓｔｒｅａｍ ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ）画像及びその検査符号を同時に出力する必要があり、それにより、データ受信機は、受信した圧縮画像から検査符号を生成して、受信した検査符号と比較することにより、最終的な画像データが正しいか否かを判断する。しかしながら、画像データが正しくないと判断された場合に、関連技術では、画像データの誤りの原因が、アプリケーションプロセッサにあるのか、駆動チップのデコーダにあるのかを特定することができない。

【発明の概要】

【0003】

本開示の一態様によれば、テスト装置であって、制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも１つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられるテスト装置を提供する。

【0004】

可能な一実施形態では、前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられる。

【0005】

可能な一実施形態では、前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第１の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第２の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第３の記憶ユニットとを含む。

【0006】

可能な一実施形態では、前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられる。

【0007】

可能な一実施形態では、前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。

【0008】

可能な一実施形態では、前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。

【0009】

可能な一実施形態では、前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられる。

【0010】

可能な一実施形態では、前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか１つまたは複数を含む。

【0011】

本開示の一態様によれば、前記テスト装置を含む電子機器を提供する。

【0012】

可能な一実施形態では、前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含む。

【0013】

本開示の実施例によるテストモジュールは、制御モジュールから送信されるテスト制御信号を受信した場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得して、前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、それにより、前記テスト対象の表示駆動チップが、受信したテスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいてターゲット検査符号を得るようにし、前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得る。このようにして、表示駆動チップの復号化機能をテストして、表示駆動チップの復号化機能が正常であるか否かを判断し、受信した表示データに誤りがある場合、制御モジュールのエンコーダに問題があるのか、それとも表示駆動チップのデコーダに問題があるのかを区別することができるとともに、テストコストが低く、テスト時間が短く、テスト効率が高い。

【0014】

以上の一般的な説明と後の詳細な説明は、例示的及び解釈的なものに過ぎず、本開示を制限するものではないことは理解すべきである。以下、例示的な実施例について図面を参照しつつ詳細に説明することによって、本開示の他の特徴及び態様は明らかになるであろう。

【図面の簡単な説明】

【0015】

ここで、本明細書の一部として組み込まれる図面は、本開示に適合する実施例を示すものであり、明細書と共に本開示の技術的手段を説明するために用いられる。

【図1】本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。

【図2】本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。

【図3】本開示の一実施例による電子機器のブロック図を示す。

【発明を実施するための形態】

【0016】

以下に、本開示による様々な例示的な実施例、特徴及び態様について図面を参照しつつ詳細に説明する。図面において、同じ符号は、機能が同じまたは類似する要素を示す。図面には実施例の様々な態様が示されているが、特に明記されていない限り、図面は必ずしも原寸に比例しているとは限らない。

【0017】

本開示の記載において、理解すべきこととして、「長さ」、「幅」、「上」、「下」、「前」、「後」、「左」、「右」、「鉛直」、「水平」、「頂」、「底」、「内」、「外」などの用語によって表される方位または位置関係は、図面に示された方位または位置関係に基づくものであり、本開示の説明を容易にし、説明を簡略化するために示されたものにすぎず、それらにより示される装置または要素が必ずしも特定の方位を有し、特定の方位で構成され動作しなければならないことを示すか又は暗示するものではないため、本開示を限定するものと理解すべきではない。

【0018】

なお、「第１の」や「第２の」という用語は、説明の目的のためだけに使用され、相対的な重要性を示したり暗示したり、或いはそれらにより示される技術的特徴の数を暗黙的に示すものと理解すべきではない。それにより、「第１の」や「第２の」によって限定される特徴は、１つまたは複数の当該特徴を明示的または暗黙的に含むものであってもよい。本開示の記載において、「複数」は、特に特定の限定がない限り、２つ以上を意味する。

【0019】

本開示では、特に明確な規定と限定がない限り、「取り付け」、「つながる」、「接続」、「固定」などの用語は、広義に理解されるべきである。例えば、固定接続であってもよいし、取り外し可能な接続であってもよいし、または一体になっていてもよい。機械的接続であってもよいし、電気的接続であってもよい。直接に接続してもよいし、中間媒体を介して間接的に接続してもよいし、２つの要素の内部の連通や２つの要素の相互作用関係であってもよい。当業者であれば、本開示における上記用語の具体的な意味を具体的な状況に応じて理解することができる。

【0020】

ここで専用の用語「例示的」とは、「例、実施例として用いられることまたは説明的なもの」を意味する。ここで「例示的」に説明されるいかなる実施例は、必ずしも他の実施例より好ましいまたは優れたものであると解釈されるとは限らない。

【0021】

本明細書において、「及び／又は」という用語は、関連対象の関連関係を記述するためのものに過ぎず、３つの関係が存在可能であることを示す。例えば、Ａ及び／又はＢは、Ａのみが存在すること、ＡとＢが同時に存在すること、Ｂのみが存在することという３つの場合を示すことができる。また、本明細書において、「少なくとも１つ」という用語は、複数のうちのいずれか１つ、又は複数のうちの少なくとも２つの任意の組み合わせを示す。例えば、Ａ、Ｂ及びＣのうちの少なくとも１つを含むとは、Ａ、Ｂ及びＣからなる集合から選択されるいずれか１つ又は複数の要素を含むことを示すことができる。

【0022】

また、本開示をより良く説明するために、以下の具体的な実施形態において、多くの具体的な細部が示されている。当業者であれば、何らかの具体的な細部がなくても、本開示は同様に実施できることは理解すべきである。いくつかの実例において、本開示の主旨を明らかにするために、当業者によく知られている方法、手段、要素、および回路については詳細に説明されていない。

【0023】

図１を参照すると、図１は、本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。

【0024】

図１に示すように、前記装置は、制御モジュール１０と、テストモジュール２０と、少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップ３０とを含む。

【0025】

ここで、前記制御モジュール１０は、テストモジュール２０による少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも１つのテスト制御信号を出力することに用いられる。

【0026】

前記テスト対象の表示駆動チップ３０は、前記制御モジュール１０及び前記テストモジュール２０に接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられる。

【0027】

前記テストモジュール２０は、前記制御モジュール１０に接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップ３０に送信して、前記テスト対象の表示駆動チップ３０から出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップ３０のテスト結果を得ることに用いられる。

【0028】

本開示の実施例によるテストモジュールは、制御モジュールから送信されるテスト制御信号を受信した場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得して、前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、それにより、前記テスト対象の表示駆動チップが、受信したテスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいてターゲット検査符号を得るようにし、前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得る。このようにして、表示駆動チップの復号化機能をテストして、表示駆動チップの復号化機能が正常であるか否かを判断し、受信した表示データに誤りがある場合、制御モジュールのエンコーダに問題があるのか、それとも表示駆動チップのデコーダに問題があるのかを区別することができるとともに、テストコストが低く、テスト時間が短く、テスト効率が高い。

【0029】

本開示の実施例によるテストモジュールは、表示駆動チップに設けられてもよい。それにより、表示駆動チップは、セルフ検出を行い、復号化機能が正常であるか否かを自ら判断することができ、受信した表示データに誤りがあると特定された場合に、制御モジュール（例えば、アプリケーションプロセッサＡＰ）の符号化機能に問題があるのか、それとも自己の復号化機能に問題があるのかを区別することができる。

【0030】

本開示の実施例では、表示駆動チップ３０の具体的な種類について限定せず、当業者であれば、駆動される表示パネルの種類に応じて適宜選択することができる。一例において、表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルなどのいずれか１つまたは複数を含んでもよい。

【0031】

一例において、制御モジュール１０は、処理モジュールを含んでもよく、処理モジュールは、個別のプロセッサ、またはディスクリート部品、またはプロセッサとディスクリート部品の組み合わせを含むが、これらに限らない。前記プロセッサは、電子機器において命令を実行する機能を有するコントローラを含んでもよい。前記プロセッサは、任意の適切な態様によって実現されてもよく、例えば、１つまたは複数の特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）、デジタル信号処理装置（ＤＳＰＤ）、プログラマブルロジックデバイス（ＰＬＤ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）、コントローラ、マイクロコントローラ、マイクロプロセッサ、または他の電子部品によって実現される。前記プロセッサの内部において、前記実行可能な命令は、ロジックゲート、スイッチ、特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ、ＡＳＩＣ）、プログラマブルロジックコントローラおよび組み込みマイクロコントローラなどのハードウェア回路によって実行されてもよい。

【0032】

一例において、制御モジュール１０は、アプリケーションプロセッサＡＰとタイミングコントローラを含んでもよく、アプリケーションプロセッサＡＰは、表示データを圧縮符号化するためのエンコーダを含んでもよく、圧縮された表示データまたは圧縮されていない表示データをタイミングコントローラを介して表示駆動チップに送信する。

【0033】

図２を参照すると、図２は、本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。

【0034】

可能な一実施形態では、図２に示すように、前記テストモジュール２０は、テストユニット２１０と、記憶ユニット２２０と、比較ユニット２３０とを含む。

【0035】

前記テストユニット２１０は、前記記憶ユニット２２０及び前記比較ユニット２３０に接続され、前記記憶ユニット２２０から、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニット２２０から取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップ３０に送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニット２３０に送信することに用いられる。

【0036】

前記比較ユニット２３０は、前記テスト対象の表示駆動チップ３０から出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール１０及び前記テスト対象の表示駆動チップ３０に送信することに用いられる。

【0037】

一例において、ターゲット検査符号は、少なくとも１つのフレームが伸張された画像データに対して少なくとも１種の演算を行って得られる検査符号であってもよい。

【0038】

一例において、記憶ユニットは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含み、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、命令実行機器に使用される命令を保持および記憶可能な有形装置であってもよい。コンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、例えば、電気記憶装置、磁気記憶装置、光記憶装置、電磁記憶装置、半導体記憶装置、または上記の任意の適切な組み合わせであってもよいが、これらに限らない。コンピュータ読み取り可能な記憶媒体のより具体的な例（非網羅的リスト）としては、携帯型コンピュータディスク、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリーメモリ（ＲＯＭ）、消去可能プログラマブルリードオンリーメモリ（ＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリ）、スタティックランダムアクセスメモリ（ＳＲＡＭ）、プログラマブルリードオンリーメモリ（ＰＲＯＭ）、携帯型コンパクトディスクリードオンリーメモリ（ＣＤ－ＲＯＭ）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、メモリスティック、フロッピーディスク、例えば命令が記憶されているせん孔カードまたはスロット内突起構造のような機械的符号化装置、および上記の任意の適切な組み合わせを含む。ここで使用されるコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、瞬時信号自体、例えば無線電波または他の自由に伝播される電磁波、導波路または他の伝送媒体を介して伝播される電磁波（例えば、光ファイバーケーブルを通過するパルス光）、または電線を介して伝送される電気信号と解釈されるものではない。

【0039】

本開示の実施例によるテスト対象の表示データは、１つのフレームが圧縮された画像の表示データであってもよいし、複数のフレームが圧縮された画像の表示データであってもよい。それに応じて、伸張パラメータは、１つのフレームが圧縮された画像の表示データに対応する伸張パラメータであってもよいし、複数のフレームが圧縮された画像の表示データに対応する複数の伸張パラメータであってもよい。ここで、複数の伸張パラメータは、ＶＥＳＡ（Ｖｉｄｅｏ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｓｔａｎｄａｒｄｓ Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ、ビデオ電子規格協会）、ＤＳＣ（Ｄｉｓｐｌａｙ Ｓｔｒｅａｍ Ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ、表示ストリーム圧縮）規格の画像パラメータセット設定（Ｐｉｃｔｕｒｅ Ｐａｒａｍｅｔｅｒ Ｓｅｔ：ＰＰＳ）であってもよい。

【0040】

本開示の実施例による検査符号は、パリティチェック（Ｐａｒｉｔｙ Ｃｈｅｃｋ）の検査符号、ＢＣＣ排他的論理和の検査方法（ｂｌｏｃｋ ｃｈｅｃｋ ｃｈａｒａｃｔｅｒ、ブロック検査符号）の検査符号、ＬＲＣ縦方向冗長検査（Ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ Ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙ Ｃｈｅｃｋ）の検査符号、ＣＲＣ（Ｃｙｃｌｉｃ Ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙ Ｃｈｅｃｋ）巡回冗長検査の検査符号、ＭＤ５、ＳＨＡ、ＭＡＣなどのダイジェストアルゴリズムの検査符号、または他のタイプの検査方式の検査符号であってもよく、本開示の実施例ではこれに対して限定しない。

【0041】

本開示の実施例では、伸張された表示データを用いて検査符号を得ることについて、その具体的な実現形態を限定せず、当業者であれば、関連技術を参考にして実現することができる。

【0042】

一例において、記憶ユニットに記憶されたプリセット検査符号は、テスト対象の表示データの理想的な検査符号であってもよく、または、標準検査符号と呼ばれる。

【0043】

可能な一実施形態では、図２に示すように、前記記憶ユニット２２０は、前記テスト対象の表示データを記憶するための第１の記憶ユニット２２１０と、対応する伸張パラメータを記憶するための第２の記憶ユニット２２２０と、前記プリセット検査符号を記憶するための第３の記憶ユニット２２３０とを含み、前記第１の記憶ユニット２２１０に記憶されるテスト対象の表示データは、少なくとも１つのフレームが圧縮された画像の表示データを含む。

【0044】

可能な一実施形態では、前記制御モジュール１０は、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられてもよい。

【0045】

可能な一実施形態では、前記表示駆動チップは、表示パネル４０に接続され、
前記制御モジュール１０は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップ３０に送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップ３０は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。

【0046】

一例において、テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が正常である場合、制御モジュール１０は、圧縮符号化された表示データをテスト対象の表示駆動チップ３０に送信してもよい。このような場合、テスト対象の表示駆動チップ３０のデコーダは、受信した圧縮された表示データを復号化し伸張して、伸張された表示データを得て、伸張された表示データに基づいて駆動電圧を生成して表示パネルを制御することができる。

【0047】

可能な一実施形態では、図２に示すように、前記表示駆動チップは、表示パネル４０に接続され、
前記制御モジュール１０は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップ３０に送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップ３０は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。

【0048】

一例において、テスト対象の表示駆動チップ３０の復号化機能が異常である場合、表示パネルに対する正確な駆動を実現するために、制御モジュール１０は、圧縮符号化された表示データをテスト対象の表示駆動チップ３０に送信してはならず、この時、制御モジュール１０は、圧縮符号化されていない表示データをテスト対象の表示駆動チップ３０に送信する。このような場合、テスト対象の表示駆動チップ３０は直接に、受信した表示データに基づいて駆動電圧を生成して表示パネルを制御する。

【0049】

可能な一実施形態では、前記制御モジュール１０は、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップ３０への表示データの出力を停止させることに用いられる。

【0050】

本開示の一態様によれば、前記テスト装置を含む電子機器を提供する。

【0051】

可能な一実施形態では、前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含む。

【0052】

可能な一実施形態では、前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか１つまたは複数を含む。

【0053】

なお、本開示の実施例によるテストモジュールは、表示駆動チップに設けられてもよく、表示パネルを表示駆動する時にテスト動作を行い、デコーダが正常に動作しているか否かを特定することができる。

【0054】

本開示の実施例による表示駆動チップの自己検証機能に基づいて、当業者は、アプリケーションプロセッサ及び冗長なテストパターン（ｐａｔｔｅｒｎ）を組み合わせることなく、表示駆動チップの復号化機能（伸張機能）の歩留まり率を容易にテストすることができ、テスト時間及びコストを大幅に短縮することができる。

【0055】

本開示の実施例によるテスト装置は、電子機器に適用することができ、電子機器は、端末、サーバ、または他の形態の装置として提供されてもよい。

【0056】

図３を参照すると、図３は、本開示の一実施例による電子機器のブロック図を示す。

【0057】

例えば、電子機器８００は、携帯電話、コンピュータ、デジタル放送端末、メッセージ送受信機器、ゲームコンソール、タブレット機器、医療機器、フィットネス機器、パーソナルデジタルアシスタント等の端末であってもよい。

【0058】

図３を参照すると、電子機器８００は、処理モジュール８０２、メモリ８０４、電源モジュール８０６、マルチメディアモジュール８０８、オーディオモジュール８１０、入出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース８１２、センサモジュール８１４、及び通信モジュール８１６のうちの１つまたは複数のモジュールを含んでもよい。

【0059】

処理モジュール８０２は、一般的に電子機器８００の全体的な動作、例えば表示、電話の呼び出し、データ通信、カメラ動作、および記録動作に関連する動作を制御する。処理モジュール８０２は、命令を実行して前記方法の全部または一部のステップを完成するための１つまたは複数のプロセッサ８２０を含んでもよい。なお、処理モジュール８０２は、処理モジュール８０２と他のモジュールとのインタラクションのために、１つまたは複数のモジュールを含んでもよい。例えば、処理モジュール８０２は、マルチメディアモジュール８０８と処理モジュール８０２とのインタラクションのために、マルチメディアモジュールを含んでもよい。

【0060】

メモリ８０４は、電子機器８００での動作をサポートするために様々なタイプのデータを記憶するように構成される。これらのデータの例としては、電子機器８００において動作する任意のアプリケーションプログラムまたは方法の命令、連絡先データ、電話帳データ、メッセージ、ピクチャ、ビデオなどを含む。メモリ８０４は、スタティックランダムアクセスメモリ（ＳＲＡＭ）、電気的消去可能プログラマブルリードオンリーメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、消去可能プログラマブルリードオンリーメモリ（ＥＰＲＯＭ）、プログラマブルリードオンリーメモリ（ＰＲＯＭ）、リードオンリーメモリ（ＲＯＭ）、磁気メモリ、フラッシュメモリ、磁気ディスク、または光ディスクなどの任意のタイプの揮発性または不揮発性の記憶装置、またはそれらの組み合わせによって実現できる。

【0061】

電源モジュール８０６は、電子機器８００の様々なモジュールに電力を供給する。電源モジュール８０６は、電源管理システム、１つまたは複数の電源、および電子機器８００のための電力の生成、管理、および分配に関連する他のモジュールを含んでもよい。

【0062】

マルチメディアモジュール８０８は、前記電子機器８００とユーザとの間に出力インターフェースを提供するスクリーンを含む。いくつかの実施例では、スクリーンは、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）およびタッチパネル（ＴＰ）を含んでもよい。スクリーンがタッチパネルを含む場合、スクリーンは、ユーザからの入力信号を受けるようにタッチスクリーンとして実現されてもよい。タッチパネルは、タッチ、スライドおよびタッチパネル上のジェスチャーを検知するために、１つまたは複数のタッチセンサを含む。前記タッチセンサは、タッチ又はスライド動作の境界だけではなく、前記タッチ又はスライド動作に関連する継続時間及び圧力を検出するようにしてもよい。いくつかの実施例では、マルチメディアモジュール８０８は、１つのフロントカメラおよび／またはバックカメラを含む。電子機器８００が動作モード、例えば写真モードまたはビデオモードになると、フロントカメラおよび／またはバックカメラは、外部のマルチメディアデータを受信することができる。各フロントカメラおよびバックカメラは、固定された光学レンズ系、または焦点距離および光学ズーム能力を有するものであってもよい。

【0063】

オーディオモジュール８１０は、オーディオ信号を出力および／または入力するように構成される。例えば、オーディオモジュール８１０は、電子機器８００が動作モード、例えば呼び出しモード、記録モードおよび音声認識モードになると、外部のオーディオ信号を受信するように構成されたマイクロフォン（ＭＩＣ）を含む。受信されたオーディオ信号は、さらにメモリ８０４に記憶されるか、または通信モジュール８１６を介して送信されてもよい。いくつかの実施例では、オーディオモジュール８１０は、オーディオ信号を出力するためのスピーカをさらに含む。

【0064】

Ｉ／Ｏインターフェース８１２は、処理モジュール８０２とキーボード、クリックホイール、ボタンなどの周辺インターフェースモジュールとの間にインターフェースを提供する。これらのボタンは、ホームボタン、音量ボタン、スタートボタン、およびロックボタンを含んでもよいが、これらに限らない。

【0065】

センサモジュール８１４は、電子機器８００に各方面での状態評価を提供するための１つまたは複数のセンサを含む。例えば、センサモジュール８１４は、電子機器８００のオン／オフ状態、電子機器８００の例えばディスプレイおよびキーパッドのようなモジュールの相対的位置決めを検出可能である。センサモジュール８１４は、さらに、電子機器８００または電子機器８００のあるモジュールの位置変化、ユーザと電子機器８００との接触の有無、電子機器８００の方位または加減速、および電子機器８００の温度変化を検出可能である。センサモジュール８１４は、いかなる物理的接触なしに近傍の物体の存在を検出するように構成された近接センサを含んでもよい。センサモジュール８１４は、相補型金属酸化物半導体（ＣＭＯＳ）又は電荷結合装置（ＣＣＤ）イメージセンサのような、イメージングの応用において使用されるための光センサをさらに含んでもよい。いくつかの実施例では、当該センサモジュール８１４は、加速度センサ、ジャイロセンサ、磁気センサ、圧力センサ、または温度センサをさらに含んでもよい。

【0066】

通信モジュール８１６は、電子機器８００と他の機器との間の有線または無線通信を実現するように構成される。電子機器８００は、例えば無線ネットワーク（ＷＩＦＩ）、第２世代移動通信技術（２Ｇ）または第３世代移動通信技術（３Ｇ）、またはそれらの組み合わせのような、通信規格に基づく無線ネットワークにアクセス可能である。例示的な一実施例では、通信モジュール８１６は、放送チャネルを介して外部の放送管理システムからの放送信号又は放送関連情報を受信する。例示的な一実施例では、前記通信モジュール８１６は、近距離通信を促進させるために近距離無線通信（ＮＦＣ）モジュールをさらに含む。例えば、ＮＦＣモジュールは、無線周波数識別（ＲＦＩＤ）技術、赤外線データ協会（ＩｒＤＡ）技術、超広帯域（ＵＷＢ）技術、ブルートゥース（登録商標）（ＢＴ）技術、および他の技術によって実現できる。

【0067】

例示的な実施例では、電子機器８００は、前記方法を実行するために、１つまたは複数の特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）、デジタル信号処理装置（ＤＳＰＤ）、プログラマブルロジックデバイス（ＰＬＤ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、コントローラ、マイクロコントローラ、マイクロプロセッサ、または他の電子デバイスによって実現できる。

【0068】

例示的な実施形態では、さらに、上述の方法を実行するように電子デバイス８００のプロセッサ８２０によって実行可能なコンピュータプログラム命令を含むメモリ８０４のような不揮発性コンピュータ可読記憶媒体を提供する。

【0069】

本開示の各実施例を記述したが、上記説明は、例示的なものに過ぎず、網羅的なものではなく、かつ披露された各実施例に限定されるものでもない。当業者にとって、説明された各実施例の範囲および精神から逸脱することなく、様々な修正および変更は自明である。本明細書に選ばれた用語は、各実施例の原理、実際の応用、または市場における技術への改善を好適に解釈するか、または他の当業者に本文に披露された各実施例を理解させるためのものである。本発明の態様の一部を以下記載する。
［態様１］
テスト装置であって、
制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも１つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも１つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられることを特徴とするテスト装置。
［態様２］
前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられることを特徴とする態様１に記載のテスト装置。
［態様３］
前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第１の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第２の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第３の記憶ユニットとを含むことを特徴とする態様２に記載のテスト装置。
［態様４］
前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられることを特徴とする態様１または２に記載のテスト装置。
［態様５］
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする態様４に記載のテスト装置。
［態様６］
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする態様４に記載のテスト装置。
［態様７］
前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられることを特徴とする態様１に記載のテスト装置。
［態様８］
前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか１つまたは複数を含むことを特徴とする態様５に記載のテスト装置。
［態様９］
態様１～８のいずれか１項に記載のテスト装置を含むことを特徴とする電子機器。
［態様１０］
前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含むことを特徴とする態様９に記載の電子機器。

【図1】

【図2】

【図3】