特許 7591768 ピッチコントロール剤

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-11-21

(45)【発行日】2024-11-29

(54)【発明の名称】ピッチコントロール剤

(51)【国際特許分類】

   D21H 21/02 20060101AFI20241122BHJP

   D21H 17/03 20060101ALI20241122BHJP

   D21H 17/02 20060101ALI20241122BHJP

【ＦＩ】

D21H21/02

D21H17/03

D21H17/02

【請求項の数】 6

(21)【出願番号】P 2021200204

(22)【出願日】2021-12-09

(65)【公開番号】P2023085893

(43)【公開日】2023-06-21

【審査請求日】2024-08-29

【早期審査対象出願】

(73)【特許権者】

【識別番号】000154727

【氏名又は名称】株式会社片山化学工業研究所

(73)【特許権者】

【識別番号】505112048

【氏名又は名称】ナルコジャパン合同会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000040

【氏名又は名称】弁理士法人池内アンドパートナーズ

(72)【発明者】

【氏名】川頭 勇太

(72)【発明者】

【氏名】榎本 幸典

【審査官】山崎 晶

(56)【参考文献】

【文献】特開平８－７３８９２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００８－７８６２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１８－３９９８５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平６－２５７０８１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｄ２１Ｈ ２１／０２

Ｄ２１Ｈ １７／０３

Ｄ２１Ｈ １７／０２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを含有するピッチコントロール剤であって、
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、ピッチコントロール剤。

【請求項2】

下記式（１）によって決定される平均ＨＬＢが、１２．０～１３．３である、請求項１記載のピッチコントロール剤。
平均ＨＬＢ＝ＨＬＢ₁×｛ｗ₁/（ｗ₁+ｗ₂）｝＋ＨＬＢ₂×｛ｗ₂/（ｗ₁+ｗ₂）｝ （１）
ＨＬＢ₁：第１の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₁：第１の非イオン界面活性剤の含有量（重量％）
ＨＬＢ₂：第２の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₂：第２の非イオン界面活性剤の含有量（重量％）

【請求項3】

前記第１の界面活性剤は、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル並びにポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、請求項１又は２に記載のピッチコントロール剤。

【請求項4】

前記第２の界面活性剤のＨＬＢが１３．０～１４．７である、請求項１から３のいずれかに記載のピッチコントロール剤。

【請求項5】

古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法であって、
パルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含み、
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、ピッチ欠点の発生抑制方法。

【請求項6】

モノテルペンと、
ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方である非イオン界面活性剤Ａと、
ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される非イオン界面活性剤であって、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤Ｂと、を含有し、
下記式（３）によって決定される非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）と非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）との差（ＨＬＢ_mod）が、３．９～４．９である、ピッチコントロール剤。
ＨＬＢ_mod＝｜ＨＬＢ_A－ＨＬＢ_B｜ （３）

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、ピッチコントロール剤、及び古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法に関する。

【背景技術】

【0002】

近年、製紙工程ではピッチトラブルが増加傾向にある。製紙工程で発生したピッチは、系内の様々な箇所に付着して脱水不良や操業に悪影響を及ぼすだけではなく、パルプスラリーに混入し抄紙工程で紙に抄き込まれた結果、紙表面にピッチ由来の欠点（ピッチ欠点）が発生する原因となりうる。このようにピッチは、生産効率の悪化や品質低下を引き起こすことから、製紙工場においてピッチトラブルの改善が大きな課題となっている。

【0003】

ピッチは、製紙工程で使用される原料及び薬剤に起因して発生する粘着性物質が、無機物や微細繊維等を凝集すること等により生じうると考えられている。粘着性物質の原因物質としては、紙の原料であるパルプに含まれる天然樹脂成分やワックス、これらに加え、古紙の利用率増加に伴い古紙に付着した合成樹脂及びラベルの粘着剤、並びに製紙工程で添加される余剰なサイズ剤や紙力剤などの有機物などがある。

【0004】

ピッチ欠点には、ピッチが混入したことにより生じる紙面の汚れや穴あきに加え、しみ出し欠点が含まれる。しみ出し欠点は、ピッチに含まれる蜜蝋やパラフィンワックスが、抄紙後の加熱乾燥工程において溶け出し、紙表面にしみ出すことで生じる欠点をいう。古紙として蝋引き段古紙の回収量の増加に伴い、このしみ出し欠点の発生が大きな問題の一つになっている。なぜなら、蝋引き段古紙表面には蜜蝋やパラフィンワックスが塗布されており、蝋引き段古紙が古紙原料に混入すると、古紙のパルプ化と共に、より多くの蜜蝋やパラフィンワックスがパルプスラリーに混入し、その結果、しみ出し欠点が発生する頻度が増加するからである。しみ出し欠点をはじめとするピッチ欠点は、品質及び最終製品化率（生産性）の低下を引き起こすことから、早急な対策が求められている。

【0005】

特許文献１は、硫酸ナトリウム、硫酸カリウム、ｄ－リモネン、メタケイ酸ナトリウム、硫酸ラウリル、炭酸プロピレン及びそれらの混合物を用いて、パルプ紙料中のワックスを分離して除去する方法を開示する。特許文献２は、リモネン、ノニオン性界面活性剤及びアルカリ性化合物を含む薬剤を使用して、製紙工程におけるピッチ障害を防止する方法を開示する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【文献】特表２００３－５１７５２０号公報

【文献】特開２００８－００７８６２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

しかしながら、従来の方法では、製紙工程におけるピッチの発生、特に、抄紙後に得られる紙表面におけるしみ出し欠点といったピッチ欠点の発生を十分に抑制できているとはいえない。このため、しみ出し欠点を含めたピッチ欠点の発生を抑制可能な新たな方法が求められている。

【0008】

本開示は、製紙工程におけるピッチ欠点の発生、とりわけしみ出し欠点の発生を抑制可能なピッチコントロール剤、紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する可能な方法、及び古紙の製造方法を提供する。

【課題を解決するための手段】

【0009】

本開示は、一態様として、モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを含有するピッチコントロール剤であって、第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤であるピッチコントロール剤に関する。

【0010】

本開示は、その他の態様として、モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを配合して得られたピッチコントロール剤に関し、第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である。

【0011】

本開示は、その他の態様として、古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法であって、パルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含み、第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、ピッチ欠点発生抑制方法に関する。

【0012】

本開示は、その他の態様として、モノテルペンと、ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方である非イオン界面活性剤Ａと、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される非イオン界面活性剤であって、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤Ｂとを含有し、下記式（３）によって決定される非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）と非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）との差（ＨＬＢ_mod）が、３．９～４．９である、ピッチコントロール剤に関する。
ＨＬＢ_mod＝｜ＨＬＢ_A－ＨＬＢ_B｜ （３）

【発明の効果】

【0013】

本開示は、一又は複数の実施形態において、しみ出し欠点の発生を抑制可能なピッチコントロール剤、及び紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法を提供できる。本開示は、一又は複数の実施形態において、ピッチ欠点の発生が抑制された古紙の製造方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】図１は、しみ出し抑制効果の確認試験の結果の一例を示す。

【発明を実施するための形態】

【0015】

ｄ－リモネン等のテルペン化合物は、一般的には（Ｃ₅Ｈ₈）_nで表される植物由来の精油であり、製紙工程において発生するピッチの除去に広く使用されている。テルペン化合物の多くは疎水性であることから、アルカリ性化合物（ＮａＯＨ）により製剤のｐＨをアルカリ性にすること等によって乳化状態として使用されている（例えば、特許文献１及び２）。

【0016】

本開示は、下記の第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤とｄ－リモネンとを混合して製剤化することにより、ｄ－リモネン等のモノテルペンが可溶化した製剤を得ることができ、その結果、製紙工程におけるしみ出し欠点の発生抑制でき、さらには得られた製剤の安定性が向上されうる、という知見に基づく。
第１の界面活性剤：ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤
第２の界面活性剤：曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤

【0017】

モノテルペン、上記２種類の界面活性剤（第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤又は非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂ）を配合して製剤化することにより、モノテルペンを可溶化でき、得られた製剤（ピッチコントロール剤）の安定性の向上効果と、しみ出し欠点の発生抑制効果とが奏されるメカニズムの詳細は明らかではないが、以下のように推察される。
上記の異なる物性を有する少なくとも２種類の非イオン界面活性剤（第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤又は非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂ）を使用することにより、モノテルペンがこれらの界面活性剤が集合することによって形成されるミセル中に捉えられ、モノテルペンを水溶液中に可溶化することができる。モノテルペンの可溶化状態を、製剤（水溶液）及び処理液（パルプスラリー）中で安定に保つことができることから、モノテルペンによるピッチの溶解性及び／又は除去効果が向上され、紙表面におけるしみ出し欠点の発生を抑制できると考えられる。
但し、本開示はこれらのメカニズムに限定して解釈されなくてもよい。

【0018】

本開示における「ピッチ」とは、製紙工程におけるピッチをいい、一形態において、製紙原料に含まれる樹脂などが凝集して集塊化することにより形成される粘着性物質をいう。樹脂としては、一又は複数の実施形態において、木材パルプに含まれる天然樹脂成分、古紙原料から混入する雑誌の背糊やラベルの粘着剤、蜜蝋及びパラフィンワックス等の合成樹脂等が挙げられる。

【0019】

本開示における「ピッチ欠点」とは、抄紙工程においてピッチが抄き込まれることに起因して紙表面に生じるピッチ由来の欠点をいう。ピッチ欠点としては、一又は複数の実施形態において、ピッチに含まれるワックス等の樹脂成分が紙表面に溶け出してしみ状になるしみ出し欠点、及び穴あき欠点等が挙げられる。本開示は、特に、ワックス等の合成樹脂に由来するしみ出し欠点の発生抑制に有用である。

【0020】

本開示における「ピッチ欠点の発生抑制」とは、一又は複数の実施形態において、紙表面に生じうるピッチ欠点の個数を減らすこと、及び／又はピッチ欠点のサイズを小さくすること等が挙げられる。ピッチ欠点の個数及びサイズは、実施例に記載の方法により測定できる。

【0021】

本開示における「製剤安定性の向上」とは、一形態として、調製したピッチコントロール剤を２５℃及び４０℃でそれぞれ２４時間静置して保管した後、目視により可溶化状態が維持されていることが確認できることをいう。製剤安定性は、実施例に記載の方法により確認できる。本開示において「可溶化状態」とは、一形態として、製剤が透明又は半透明である状態をいう。本開示において「乳化状態」とは、一形態として、製剤が白濁した乳濁液の状態をいう。

【0022】

本開示における「ＨＬＢ（ｈｙｄｒｏｐｈｉｌｉｃ ｌｉｐｏｐｈｉｌｉｃ ｂａｌａｎｃｅ）」は、一又は複数の実施形態において、以下のグリフィン式を用いて算出することができる。
ＨＬＢ＝２０×（親水部の式量の総和／分子量）

【0023】

本開示における「曇点」は、非イオン界面活性剤水溶液の温度を上昇した場合に白濁し相分離が生じる温度をいい、例えば、ＩＳＯ １０６５ １９９１（エチレンオキシドから得られる非イオン系界面活性剤及び混合された非イオン系界面活性剤－曇点の決定）に記載された測定方法Ａ（曇点１０℃～９０℃の場合：蒸留水中で測定）により測定できる。

【0024】

［ピッチコントロール剤］
本開示のピッチコントロール剤は、一態様として、モノテルペンと、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤である第１の界面活性剤と、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である第２の界面活性剤と、を含有するピッチコントロール剤に関する。本態様のピッチコントロール剤の用途としては、一又は複数の実施形態において、抄紙後に得られる紙表面におけるしみ出し欠点の発生抑制のための使用、及びしみ出し欠点の発生が抑制された古紙の製造のための使用等が挙げられる。

【0025】

＜モノテルペン＞
本開示において「モノテルペン」とは、テルペン化合物のうちイソプレン単位２個からなる炭素数が１０の化合物をいう。モノテルペンとしては、一又は複数の実施形態において、単環式モノテルペン、複素環式モノテルペン及び非環式モノテルペンが挙げられる。単環式モノテルペンとしては、一又は複数の実施形態において、ｄ－リモネン、パインオイル、ターピネオール、及びテレビン油等が挙げられる。

【0026】

＜第１の界面活性剤＞
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤である。

【0027】

第１の界面活性剤のＨＬＢは、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、一又は複数の実施形態において、９．７以上である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０．５以下又は１０．４以下である。

【0028】

第１の界面活性剤としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル、ポリオキシアルキレンアルキルアミン、並びにこれらの混合物等が挙げられる。

【0029】

ポリオキシアルキレンひまし油としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンひまし油が挙げられる。ポリオキシアルキレン硬化ひまし油としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油及びその誘導体を含むことができ、好ましくはポリオキシエチレン硬化ひまし油が挙げられる。ポリオキシアルキレン硬化ひまし油の誘導体としては、一又は複数の実施形態において、ラウリル酸ポリオキシエチレン硬化ひまし油及びモノイソステアリン酸ポリオキシエチレン硬化ひまし油等のモノ脂肪酸ポリオキシアルキレン硬化ひまし油、及びポリオキシエチレン硬化ひまし油コハク酸等が挙げられる。

【0030】

ポリオキシエチレンひまし油及びポリオキシエチレン硬化ひまし油におけるエチレンオキシド付加モル数は、一又は複数の実施形態において、２５以下であり、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、２０以下である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０以上又は１５以上である。

【0031】

ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、１５以下であり、一又は複数の実施形態において、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、１４以下又は１３以下である。アルキル基の炭素数は、同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０以上又は１１以上である。
ポリオキシアルキレンアルキルエーテルとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルエーテル（イソデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ）、及びポリオキシエチレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ）等が挙げられる。
ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルアミン（イソデシルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルアミン（ラウリルアミンＥＯ）、及びポリオキシエチレントリデシルアミン（トリデシルアミンＥＯ）等が挙げられる。

【0032】

第１の界面活性剤は、一又は複数の実施形態において、一種類であってもよいし、複数種類であってもよい。

【0033】

＜第２の界面活性剤＞
第２の界面活性剤は、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である。

【0034】

第２の界面活性剤の曇点は、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、一又は複数の実施形態において、７４℃以上又は８０℃以上である。

【0035】

ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、１５以下であり、一又は複数の実施形態において、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、１４以下又は１３以下である。ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、同様の点から、一又は複数の実施形態において、１０以上又は１２以上である。
ポリオキシアルキレンアルキルエーテルとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルエーテル（イソデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンオキシプロピレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ／ＰＯ）、及びポリオキシエチレンオキシプロピレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ／ＰＯ）等が挙げられる。
ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルアミン（イソデシルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルアミン（ラウリルアミンＥＯ）、及びポリオキシエチレントリデシルアミン（トリデシルアミンＥＯ）等が挙げられる。

【0036】

第２の界面活性剤のＨＬＢは、一又は複数の実施形態において、１３．０～１４．７であり、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、１３．５以上又は１３．６以上である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１４．５以下又は１４．４以下である。

【0037】

第２の界面活性剤は、一又は複数の実施形態において、一種類であってもよいし、複数種類であってもよい。

【0038】

本開示のピッチコントロール剤は、下記式（１）によって決定される平均ＨＬＢ（ＨＬＢ_MIX）が、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、一又は複数の実施形態において、１２．０～１３．３である。平均ＨＬＢ（ＨＬＢ_MIX）は、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、一又は複数の実施形態において、１２．２５以上、１２．３以上、１２．４以上、１２．５以上、１２．６以上、１２．７以上又は１２．８以上である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１３．２以下又は１３．１以下である。
平均ＨＬＢ＝ＨＬＢ₁×｛ｗ₁/（ｗ₁+ｗ₂）｝＋ＨＬＢ₂×｛ｗ₂/（ｗ₁+ｗ₂）｝ （１）
ＨＬＢ₁：第１の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₁：第１の非イオン界面活性剤の含有量（重量％）
ＨＬＢ₂：第２の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₂：第２の非イオン界面活性剤の含有量（重量％）
第１の界面活性剤及び／又は第２の界面活性剤を複数種類含む場合は、それぞれの界面活性剤のＨＬＢとその配合量とを上記式（１）に倣って掛け合わせ、それを足し合わせることにより平均ＨＬＢを求めることができる。本開示において、ピッチコントロール剤における各成分の含有量は、ピッチコントロール剤製造時の各成分の配合量として読み替えることができる。

【0039】

本開示において、第２の界面活性剤のＨＬＢ（ＨＬＢ₂）と第１の界面活性剤のＨＬＢ（ＨＬＢ₁）との差（ＨＬＢ₂－ＨＬＢ₁）は、一又は複数の実施形態において、３．９～４．９である。

【0040】

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンと第１の界面活性剤との配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、好ましくは１：１～１：２である。

【0041】

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンと第２の界面活性剤との配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、好ましくは１：０．５～１：２である。

【0042】

本開示のピッチコントロール剤における第１の界面活性剤と第２の界面活性剤との配合割合は、一又は複数の実施形態において、重量比で１：９９～９９：１であり、好ましくは１：０．５～１：２である。

【0043】

本開示のピッチコントロール剤におけるモノテルペンの含有量は、一又は複数の実施形態において、１.０重量％以上であり、好ましくは３.０重量％～７．５重量％である。

【0044】

本開示のピッチコントロール剤における第１の界面活性剤の含有量は、一又は複数の実施形態において、１.０重量％以上であり、好ましくは３.０重量％～７．５重量％である。

【0045】

本開示のピッチコントロール剤における第２の界面活性剤の含有量は、一又は複数の実施形態において、２.０重量％以上であり、好ましくは６.０重量％～１５．０重量％である。

【0046】

本開示のピッチコントロール剤は、モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを配合することにより製造できる。よって、本開示は、その他の態様として、モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを配合して得られるピッチコントロール剤に関する。また、本開示はさらにその他の態様として、下記式（２）によって決定される第１の非イオン界面活性剤及び第２の非イオン界面活性剤の平均ＨＬＢが１２．０～１３．３となるように、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤をモノテルペンと配合して得られるピッチコントロール剤に関する。平均ＨＬＢの好ましい範囲は、上述の通りである。
平均ＨＬＢ＝ＨＬＢ₁×｛ｗ_1'/（ｗ_1'+ｗ_2'）｝＋ＨＬＢ₂×｛ｗ_2'/（ｗ_1'+ｗ_2'）｝ （２）
ＨＬＢ₁：第１の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ_1'：第１の非イオン界面活性剤の配合量（重量％）
ＨＬＢ₂：第２の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ_2'：第２の非イオン界面活性剤の配合量（重量％）
本開示において、ピッチコントロール剤における各成分の配合量は、ピッチコントロール剤中の含有量として読み替えることができる。

【0047】

本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、パルプ中のピッチへ直接作用させる内添型ピッチコントロール剤として使用してもよいし、間接的にピッチの付着を抑制する作用をもたせるために外添型ピッチコントロール剤として使用してもよい。

【0048】

本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、アルカリ性化合物を含まないことが好ましい。本開示において「アルカリ性化合物を含まない」とは、一又は複数の実施形態において、アルカリ性化合物を含まないこと、実質的にアルカリ性化合物を含まないこと、又は製剤安定性及びピッチ欠点抑制効果に影響を与える量のアルカリ性化合物を含まないこと、を含む。本開示のピッチコントロール剤におけるアルカリ性化合物の配合量は、特に限定されないが、好ましくは３質量％以下、より好ましくは１質量％以下、更に好ましくは０．１質量％以下、更に好ましくは０．０１質量％以下、更に好ましくは０．００１質量％以下、更に好ましくは０質量％である。アルカリ性化合物としては、一又は複数の実施形態において、アルカリ金属水酸化物及びアルカリ金属の炭酸塩等が挙げられる。具体例としては水酸化ナトリウム、水酸化リチウム及び水酸化カリウム等のアルカリ金属水酸化物、水酸化マグネシウム及び水酸化カルシウム等のアルカリ土類金属水酸化物、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム及び炭酸水素ナトリウム等のアルカリ金属の炭酸塩及びソーダ灰が挙げられる。

【0049】

本開示のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、本開示の効果を損なわない範囲で、他の工程添加剤を含んでいてもよいし、含まなくてもよい。その他の工程添加剤としては、一又は複数の実施形態において、消泡剤、スケールコントロール剤、スライムコントロール剤、及び他のピッチコントロール剤等が挙げられる。

【0050】

本開示は、その他の態様として、モノテルペンと、上記の第１の非イオン界面活性剤と、上記の第２の非イオン界面活性剤とを配合することを含む、ピッチコントロール剤の製造方法に関する。本開示の製造方法において、各薬剤の配合時に添加（混合）する順番は特に制限されるものではなく、モノテルペンと第１の非イオン界面活性剤とを混合した後、第２の非イオン界面活性剤と混合してもよいし、第１の非イオン界面活性剤と第２の非イオン界面活性剤と混合した後、モノテルペンを混合してもよいし、３成分すべてを同時に混合してもよい。特に限定されない一又は複数の実施形態において、本開示の製造方法は、モノテルペンと第１の非イオン界面活性剤とを十分に混合すること、モノテルペンと第１の非イオン界面活性剤との混合物に第２の非イオン界面活性剤を添加して十分に攪拌混合すること、及び、モノテルペンと第１の非イオン界面活性剤と第２の非イオン界面活性剤との混合物に水を添加して混合することを、この順番で行うこと含む。
本開示の製造方法は、一又は複数の実施形態において、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤の配合割合が上記の割合となるように、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を配合する工程を含んでいてもよい。

【0051】

［ピッチコントロール剤の第２の形態］
本開示は、さらにその他の態様として、モノテルペンと、非イオン界面活性剤Ａと、非イオン界面活性剤Ｂとを含有し、下記式（３）によって決定される非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）と非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）との差（ＨＬＢ_mod）が、３．９～４．９である、ピッチコントロール剤に関する。
非イオン界面活性剤Ａ：ポリオキシアルキレンひまし油及びポリオキシアルキレン硬化ひまし油の少なくとも一方
非イオン界面活性剤Ｂ：アルキル基の炭素数が１５以下である、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンの少なくとも一方
ＨＬＢ_mod＝｜ＨＬＢ_A－ＨＬＢ_B｜ （３）
本態様のピッチコントロール剤の用途としては、一又は複数の実施形態において、抄紙後に得られる紙表面におけるしみ出し欠点の発生抑制のための使用、及びしみ出し欠点の発生が抑制された古紙の製造のための使用等が挙げられる。

【0052】

［非イオン界面活性剤Ａ］
ポリオキシアルキレンひまし油としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンひまし油が挙げられる。ポリオキシアルキレン硬化ひまし油としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油及びその誘導体を含み、好ましくはポリオキシエチレン硬化ひまし油が挙げられる。

【0053】

非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）は、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、一又は複数の実施形態において、９．５以上又は１０以上である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１５以下、１４以下、１３以下、１２以下、１１以下、１０．５以下又は１０．４以下である。

【0054】

ポリオキシエチレンひまし油及びポリオキシエチレン硬化ひまし油におけるエチレンオキシド付加モル数は、一又は複数の実施形態において、１０以上、１５以上又は２０以上であり、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、６０以下、５５以下、５０以下、４５以下又は４０以下である。

【0055】

［非イオン界面活性剤Ｂ］
ポリオキシアルキレンアルキルエーテルとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルエーテル（イソデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ）、ポリオキシエチレンオキシプロピレンラウリルエーテル（ラウリルエーテルＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンオキシプロピレントリデシルエーテル（トリデシルエーテルＥＯ／ＰＯ）、ポリオキシエチレンセチルエーテル、及びポリオキシエチレンステアリルエーテル等が挙げられる。
ポリオキシアルキレンアルキルアミンとしては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシエチレンイソデシルアミン（イソデシルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンラウリルアミン（ラウリルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレントリデシルアミン（トリデシルアミンＥＯ）、ポリオキシエチレンセチルアミン、及びポリオキシエチレンステアリルアミン等が挙げられる。

【0056】

ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、一又は複数の実施形態において、１０以上であり、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、１２以上又は１３以上である。ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンのアルキル基の炭素数は、一又は複数の実施形態において、１８以下、１６以下又は１５以下である。

【0057】

非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）は、一又は複数の実施形態において、１５以下、１４以下、１３以下、１２以下、１１以下、１０．５以下又は１０．４以下である。非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）は、同様の点から、一又は複数の実施形態において、９．５以上又は１０以上である。

【0058】

本第２の形態のピッチコントロール剤において、非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）と非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）との差（ＨＬＢ_mod）は、３．９～４．９である。ＨＬＢ_modは、一又は複数の実施形態において、４以上、４．２以上、４．４以上、４．５以上又は４．７以上である。ＨＬＢ_modは、一又は複数の実施形態において、４．８以下又は４．７以下である。

【0059】

第２の形態のピッチコントロール剤における一又は複数の実施形態において、非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）が９．５～１０．５である場合、非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）は１３．４～１５である。第２の形態のピッチコントロール剤における一又は複数の実施形態において、非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）が１３．４～１５である場合、非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）は９．５～１０．５である。

【0060】

第２の形態のピッチコントロール剤は、下記式（４）によって決定される平均ＨＬＢ２（ＨＬＢ_MIX2）が、製剤安定性のさらなる向上及び欠点発生のさらなる抑制の点から、一又は複数の実施形態において、１２．０～１３．３であり、１２．２５以上、１２．３以上、１２．４以上、１２．５以上、１２．６以上、１２．７以上又は１２．８以上である。同様の点から、一又は複数の実施形態において、１３．２以下又は１３．１以下である。
平均ＨＬＢ２＝ＨＬＢ_A×｛ｗ_A/（ｗ_A+ｗ_B）｝＋ＨＬＢ_B×｛ｗ_B/（ｗ_A+ｗ_B）｝ （４）
ＨＬＢ_A：非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ
ｗ_A：非イオン界面活性剤Ａの含有量（重量％）
ＨＬＢ_B：非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ
ｗ_B：非イオン界面活性剤Ｂの含有量（重量％）
非イオン界面活性剤Ａ及び／又は非イオン界面活性剤Ｂを複数種類含む場合は、それぞれの界面活性剤のＨＬＢとその配合量とを上記式（４）に倣って掛け合わせ、それを足し合わせることにより平均ＨＬＢ２を求めることができる。

【0061】

第２の形態のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、モノテルペンと、非イオン界面活性剤Ａと、非イオン界面活性剤Ｂとを配合することにより製造できる。第２の形態のピッチコントロール剤は、一又は複数の実施形態において、下記式（５）によって決定される非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ａの平均ＨＬＢ２’ （ＨＬＢ_MIX2'）が１２．０～１３．３となるように、非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂをモノテルペンと配合することによって製造できる。
平均ＨＬＢ２’＝ＨＬＢ_A×｛ｗ_A'/（ｗ_A'+ｗ_B'）｝＋ＨＬＢ_B×｛ｗ_B'/（ｗ_A'+ｗ_B'）｝ （５）
ＨＬＢ_A：非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ
ｗ_A'：非イオン界面活性剤Ａの配合量（重量％）
ＨＬＢ_B：非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ
ｗ_B'：非イオン界面活性剤Ｂの配合量（重量％）

【0062】

本第２の形態のピッチコントロール剤におけるモノテルペン、非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂの配合割合並びにそれらの含有量は、第１の形態のピッチコントロール剤と同様である。

【0063】

［ピッチ欠点発生抑制方法］
本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含む、古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法に関する。本開示のピッチ欠点発生抑制方法において使用するモノテルペン、第１の界面活性剤、及び第２の界面活性剤は、本開示のピッチコントロール剤と同様である。よって、本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、本開示のピッチコントロール剤を添加することを含む、古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法に関する。

【0064】

薬剤の添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーのパルプ固形分、ピッチの発生状態及び古紙原料の種類等に応じて決定することができる。モノテルペンの添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分（絶乾パルプ濃度）に対して５ｐｐｍ～１０００ｐｐｍであり、好ましくは２５ｐｐｍ～５００ｐｐｍである。第１の界面活性剤の添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分に対して５ｐｐｍ～１０００ｐｐｍであり、好ましくは２５ｐｐｍ～５００ｐｐｍである。第２の界面活性剤の添加量は、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーの固形分に対して５ｐｐｍ～２０００ｐｐｍであり、好ましくは５０ｐｐｍ～１０００ｐｐｍである。

【0065】

モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤のパルプスラリーへの添加は、一又は複数の実施形態において、連続的に行ってもよいし、間欠的に行ってもよい。

【0066】

本開示のピッチ欠点発生抑制方法は、一又は複数の実施形態において、ピッチが付着する製造装置に、本開示のピッチコントロール剤を噴霧することを含んでいてもよい。本開示のピッチコントロール剤の噴霧は、一又は複数の実施形態において、本開示のピッチコントロール剤を洗浄シャワー水に添加して行ってもよい。対象となる製造装置としては、特に制限されるものではなく、一又は複数の実施形態において、ワイヤー、フェルト及びロール等が挙げられる。

【0067】

本開示のピッチ欠点発生抑制方法は、一又は複数の実施形態において、古紙表面に発生しうるしみ出し欠点の発生抑制に有用である。よって、本開示はその他の態様として、パルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含む、古紙パルプにおけるしみ出し欠点の発生を抑制する方法に関する。

【0068】

本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含む、古紙パルプにおけるピッチ障害を抑制する方法に関する。本開示は、その他の態様として、紙の製造工程において、ピッチが付着する製造装置に、本開示のピッチコントロール剤を噴霧することを含む、ピッチ障害抑制方法に関する。

【0069】

本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、モノテルペン、非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂを添加することを含む、古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法に関する。本開示のピッチ欠点発生抑制方法において使用するモノテルペン、非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂは、本開示の第２の形態のピッチコントロール剤と同様である。よって、本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、本開示の第２の形態のピッチコントロール剤を添加することを含む、古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法に関する。本態様のピッチ欠点発生抑制方法における、薬剤の添加量及び添加箇所等は、上述の通りである。

【0070】

［古紙パルプの製造方法］
本開示は、その他の態様として、古紙パルプ製造工程の少なくとも一カ所に、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含む、古紙パルプの製造方法に関する。本開示の古紙パルプの製造方法によれば、一又は複数の実施形態において、ピッチ欠点の発生が抑制された紙又は板紙を製造することができる。

【0071】

本開示の古紙パルプの製造方法において使用するモノテルペン、第１の界面活性剤、及び第２の界面活性剤は、本開示のピッチコントロール剤と同様である。よって、本開示は、その他の態様として、古紙パルプ製造工程の少なくとも一カ所に、本開示にピッチコントロール剤を添加することを含む、古紙パルプの製造方法に関する。

【0072】

本開示の古紙パルプの製造方法は、異物混入に伴うピッチ欠点の発生を効率的に抑制できる点から、一又は複数の実施形態において、古紙パルプの原料となるパルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含む。モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤のパルプスラリーへの添加は、一又は複数の実施形態において、連続的に行ってもよいし、間欠的に行ってもよい。パルプスラリーとしては、一又は複数の実施形態において、古紙パルプ製造工程のチェスト内のパルプスラリーが挙げられる。

【0073】

本開示の古紙パルプの製造方法は、一又は複数の実施形態において、ピッチが付着する製造装置に、本開示のピッチコントロール剤を噴霧することを含んでいてもよい。

【0074】

本開示の古紙パルプの製造方法における薬剤（モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤）の添加箇所としては、一又は複数の実施形態において、パルプ化工程においてパルプスラリーに対して機械的シェアをかける箇所又はそのような機器が挙げられ、ピッチを排水ラインからパルプ化工程の系外へ排出して、欠点発生をさらに抑制できる点から、排水ラインの上流側又は排水ラインの上流側に設置された機器が好ましい。機械的シェアをかける機器としては、一又は複数の実施形態において、パルプスラリーを攪拌可能な機器が挙げられ、好ましくは５０ｒｐｍ～３０００ｒｐｍの回転速度でパルプスラリーを攪拌する機器である。

【0075】

本開示の古紙パルプの製造方法における薬剤の添加箇所としては、一又は複数の実施形態において、パルパー、リファイナー、スクリュープレス、ダブルセパレーター、精選スクリーン、ロータリースクリーン、ウォッシャー、シックナー、及びファンポンプ等が挙げられ、欠点発生のさらなる抑制の点から、パルパー、リファイナー及びファンポンプが好ましい。

【0076】

本開示は、その他の態様として、古紙パルプ製造工程の少なくとも一カ所に、モノテルペン、非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂを添加することを含む、古紙パルプの製造方法に関する。本開示の古紙パルプの製造方法において使用するモノテルペン、非イオン界面活性剤Ａ及び非イオン界面活性剤Ｂは、本開示の第２の形態のピッチコントロール剤と同様である。よって、本開示は、その他の態様として、パルプスラリーに、本開示の第２の形態のピッチコントロール剤を添加することを含む、古紙パルプの製造方法に関する。本態様の古紙パルプの製造方法における、薬剤の添加量及び添加箇所等は、上述の通りである。

【0077】

本開示はさらに以下の一又は複数の実施形態に関する。
［１］ モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを含有するピッチコントロール剤であって、
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、ピッチコントロール剤。
［２］ 下記式（１）によって決定される平均ＨＬＢが、１２．０～１３．３である、［１］記載のピッチコントロール剤。
平均ＨＬＢ＝ＨＬＢ₁×｛ｗ₁/（ｗ₁+ｗ₂）｝＋ＨＬＢ₂×｛ｗ₂/（ｗ₁+ｗ₂）｝ （１）
ＨＬＢ₁：第１の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₁：第１の非イオン界面活性剤の含有量（重量％）
ＨＬＢ₂：第２の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₂：第２の非イオン界面活性剤の含有量（重量％）
［３］ モノテルペンと、第１の界面活性剤と、第２の界面活性剤とを配合して得られたピッチコントロール剤であって、
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、ピッチコントロール剤。
［４］ 下記式（２）によって決定される第１の非イオン界面活性剤及び第２の非イオン界面活性剤の平均ＨＬＢが１２．０～１３．３となるように、前記第１の界面活性剤及び前記第２の界面活性剤とモノテルペンとが配合されている、［３］記載のピッチコントロール剤。
平均ＨＬＢ＝ＨＬＢ₁×｛ｗ_1'/（ｗ_1'+ｗ_2'）｝＋ＨＬＢ₂×｛ｗ_2'/（ｗ_1'+ｗ_2'）｝ （２）
ＨＬＢ₁：第１の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ_1'：第１の非イオン界面活性剤の配合量（重量％）
ＨＬＢ₂：第２の非イオン界面活性剤のＨＬＢ
ｗ_2'：第２の非イオン界面活性剤の配合量（重量％）
［５］ 前記第１の界面活性剤は、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油及びその誘導体、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル並びにポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、［１］から［４］のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
［６］ 前記第２の界面活性剤のＨＬＢが１３．０～１４．７である、［１］から［５］のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
［７］ アルカリ性化合物を実質的に含有しない、［１］から［６］のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
［８］ 前記モノテルペンは、単環式モノテルペン、複素環式モノテルペン及び非環式モノテルペンからなる群から選択され、好ましくは単環式モノテルペンであり、より好ましくはｄ－リモネン、パインオイル、ターピネオール、及びテレビン油からなる群から選択される、［１］から［７］のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
［９］ 前記第１の界面活性剤は、第１の界面活性剤としては、一又は複数の実施形態において、ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油及びその誘導体、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル、ポリオキシアルキレンアルキルアミン、並びにこれらの混合物からなる群から選択される、［１］から［８］のいずれかに記載のピッチコントロール剤。
［１０］ 古紙パルプにおけるピッチ欠点の発生を抑制する方法であって、
パルプスラリーに、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含み、
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、ピッチ欠点の発生抑制方法。
［１１］ モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤に代えて、［１］から［９］のいずれかに記載のピッチコントロール剤を、前記パルプスラリーに添加することを含む、［１０］記載の方法。
［１２］ 古紙パルプを製造する方法であって、
古紙パルプ製造工程の少なくとも一カ所に、モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤を添加することを含み、
第１の界面活性剤が、ＨＬＢが９．６～１０．６であり、曇点を有さない非イオン界面活性剤であり、
第２の界面活性剤が、曇点が７０℃以上であって、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤である、古紙パルプの製造方法。
［１３］ モノテルペン、第１の界面活性剤及び第２の界面活性剤に代えて、［１］から［９］のいずれかに記載のピッチコントロール剤を、前記パルプスラリーに添加することを含む、［１２］記載の方法。
［１４］ モノテルペンと、
ポリオキシアルキレンひまし油、ポリオキシアルキレン硬化ひまし油及びその誘導体からなる群から選択される少なくとも一つである非イオン界面活性剤Ａと、
ポリオキシアルキレンアルキルエーテル及びポリオキシアルキレンアルキルアミンからなる群から選択される非イオン界面活性剤であって、アルキル基の炭素数が１５以下である非イオン界面活性剤Ｂと、を含有し、
下記式（３）によって決定される非イオン界面活性剤ＡのＨＬＢ（ＨＬＢ_A）と非イオン界面活性剤ＢのＨＬＢ（ＨＬＢ_B）との差（ＨＬＢ_mod）が、３．９～４．９である、ピッチコントロール剤。
ＨＬＢ_mod＝｜ＨＬＢ_A－ＨＬＢ_B｜ （３）

【0078】

以下、実施例により本開示をさらに詳細に説明するが、これらは例示的なものであって、本開示はこれら実施例に制限されるものではない。

【実施例】

【0079】

以下の実施例及び比較例では、下記の薬剤を使用した。
［溶剤］
ｄ－リモネン （富士フィルム和光純薬社製）
［非イオン界面活性剤］
非イオン界面活性剤は、下記表１に示す組成を有する非イオン界面活性剤(受注生産品)を使用した。下記表１において、ひまし油における括弧内の数字はＥＯの付加モル数を示し、ＥＯ／ＰＯの括弧内の数字はＥＯとＰＯとのモル比を示す。

【表1】

【0080】

［安定性確認試験１］
（１）ピッチコントロール剤の調製
ｄ－リモネン、第１の界面活性剤、第２の界面活性剤、水酸化ナトリウム（ＮａＯＨ）及び水を用いて、下記表２に示す配合量（重量％）の実施例及び比較例のピッチコントロール剤を調製した。具体的には、実施例１及び２のピッチコントロール剤は、まず、溶剤と第１の界面活性剤とを十分混合した後、第２の界面活性剤を添加して混合し、これらを十分撹拌した後さらに水を添加して混合することにより調製した。比較例１～６のピッチコントロール剤は、まず、溶剤と第１の界面活性剤とを十分混合した後、水を添加して混合し、（ＮａＯＨを含有する場合は）ＮａＯＨを添加してさらに混合することにより調製した。下記表２に各成分の配合量（重量％）を示す。実施例１及び２のピッチコントロール剤のＨＬＢ_MIX（平均ＨＬＢ）は、１２．８３であった。
（２）安定性確認試験
調製したピッチコントロール剤を２５℃又は４０℃で静置して保管し、２４時間後に製剤の外観を目視で確認した。その結果を下記表２に示す。なお、調製直後の実施例１及び２のピッチコントロール剤は、いずれも製剤全体が透明又は半透明であった。ただし、比較例１～６のピッチコントロール剤はいずれも調製直後から製剤全体が白濁していた。
＜評価＞
〇：可溶化（製剤全体が無色又は青白色かつ透明又は半透明液体である）
△：乳化（製剤全体が白濁している）
×：分離（製剤が相分離を生じている）

【表2】

【0081】

表２に示すように、第２の界面活性剤を含有しない比較例１～６では、乳化や分離が確認され、製剤安定性に問題があった。これに対し、表２に示す２種類の界面活性剤を含有する実施例１及び２のピッチコントロール剤は、安定性試験のいずれの条件（２５℃及び４０℃）であっても、可溶化状態が維持されており、製剤として安定であることが確認できた。

【0082】

［安定性確認試験２］
（１）ピッチコントロール剤の調製
下記表３に示す溶剤（ｄ－リモネン）、第１の界面活性剤、第２の界面活性剤及び水を使用し、安定性確認試験１と同時手順でこれらを混合してピッチコントロール剤を調製した。溶剤、第１の界面活性剤、第２の界面活性剤及び水の配合量は、それぞれ５重量％、５重量％、１０重量％及び８０重量％となるように調製した。なお、表３の実施例７のピッチコントロール剤は、表２の実施例１のピッチコントロール剤と同じ処方である。
表３に示すＨＬＢ_MIX（平均ＨＬＢ）は、下記式より決定した。
ＨＬＢ_MIX（平均ＨＬＢ）＝Ｈ₁×｛ｗ₁／（ｗ₁+ｗ₂）｝＋Ｈ₂×｛ｗ₂／（ｗ₁+ｗ₂）｝
Ｈ₁：第１の界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₁：第１の界面活性剤の配合量（５重量％）
Ｈ₂：第２の界面活性剤のＨＬＢ
ｗ₂：第２の界面活性剤の配合量（１０重量％）
（２）安定性確認試験
上記安定性確認試験１と同様に製剤安定性の評価を行った。その結果を下記表３に示す。

【0083】

【表3】

【0084】

表３に示すように、比較例７～１８では、乳化や分離が確認され、製剤安定性に問題があった。これに対し、実施例３～１０のピッチコントロール剤は、安定性試験のいずれの条件（２５℃及び４０℃）であっても、可溶化状態が維持されており、製剤として安定であることが確認できた。

【0085】

［しみ出し抑制効果の確認試験］
（実施例１１）
上記表２に示す実施例１のピッチコントロール剤を用いて、しみ出し欠点の抑制効果の確認試験を行った。確認試験は、下記の手順で行った。
段ボール古紙を離解して得られた３重量％パルプスラリーを８０ｇ（絶乾２．４ｇ）に蝋粒（蝋引き段古紙表面の蝋を粒状に成形したもの）０．０５ｇを添加した。得られた蝋粒添加パルプスラリーに、下記表４に示す各薬剤を対パルプ（絶乾）１重量％添加し、２５℃で１時間攪拌処理を行なった。手抄きにより坪量１２０ｇ／ｍ²の紙を抄き、画像解析によって欠点の個数・大きさを計測した。その結果を下記表４及び図１に示す。なお、ｄ－リモネンの対パルプ（絶乾）濃度は、５００ｐｐｍであった。
＜欠点の個数及び大きさの計測方法＞
１）手抄きした紙をカメラ（商品名：デジタルスチルカメラＣｙｂｅｒ－ｓｈｏｔ ＤＳＣ－ＷＸ５００、ＳＯＮＹ製）で撮影して画像データを取得した。撮影は、１．３倍に拡大して行った。
２）画像解析ソフトウェア「ＡＰ－ＮＬＴ」（精密ウェーブ社製）を用いて紙上の滲み出し欠点を検出した。
３）画像解析ソフトウェア「ＡＰ－ＮＬＴ」（精密ウェーブ社製）を用いて検出箇所の個数と大きさ（検出箇所の面積から算出）を計測した。

【0086】

（比較例１９）
実施例１のピッチコントロール剤に代えて表２に示す比較例３のピッチコントロール剤を使用した以外は、実施例１１と同様にしみ出し欠点の抑制効果の確認試験を行った。その結果を下記表４及び図１に示す。なお、ｄ－リモネンの対パルプ（絶乾）濃度は５００ｐｐｍであり、ＮａＯＨの対パルプ（絶乾）濃度は３８ｐｐｍであった。

【0087】

（比較例２０）
実施例１のピッチコントロール剤に代えて、ｄ－リモネン及びＮａＯＨ原体を対パルプ（絶乾）濃度でそれぞれ５００ｐｐｍ及び２００００ｐｐｍ添加した以外は、実施例１１と同様にしみ出し欠点の抑制効果の確認試験を行った。その結果を下記表４及び図１に示す。

【0088】

（比較例２１）
実施例１のピッチコントロール剤に代えて、ｄ－リモネンを５００ｐｐｍ添加した以外は、実施例１１と同様にしみ出し欠点の抑制効果の確認試験を行った。その結果を下記表４及び図１に示す。

【表4】

【0089】

表４及び図１に示すとおり、実施例１１では、比較例１９～２１と比べて、しみ出し欠点の個数を抑制でき、かつ発生した欠点のサイズを減少することができた。

【図1】