(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-11-25
(45)【発行日】2024-12-03
(54)【発明の名称】外観検査装置
(51)【国際特許分類】
G01N 21/88 20060101AFI20241126BHJP
【FI】
G01N21/88 Z
(21)【出願番号】P 2020165795
(22)【出願日】2020-09-30
【審査請求日】2023-08-24
(73)【特許権者】
【識別番号】000220505
【氏名又は名称】ニデックパワートレインシステムズ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100179969
【氏名又は名称】駒井 慎二
(74)【代理人】
【識別番号】100138689
【氏名又は名称】梶原 慶
(74)【代理人】
【識別番号】100173532
【氏名又は名称】井上 彰文
(72)【発明者】
【氏名】坂東 賢也
(72)【発明者】
【氏名】野村 昭
【審査官】村田 顕一郎
(56)【参考文献】
【文献】特開2008-064486(JP,A)
【文献】特開2017-190962(JP,A)
【文献】特開2020-051998(JP,A)
【文献】米国特許出願公開第2008/0273211(US,A1)
【文献】特開2004-085204(JP,A)
【文献】特開平10-068607(JP,A)
【文献】欧州特許出願公開第3470778(EP,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01N 21/84-21/958
G01B 11/00-11/30
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
ワークの外観を検査する外観検査装置であって、
前記ワークを搬送する搬送部と、
前記ワークに向けて光を照射する
複数の光照射部を備える光照射ユニットと、前記光照射ユニットからの前記光が前記ワークで反射した反射光を受光する
複数の受光部を備える受光ユニットと、
を各々備える複数の光学ユニットと、
前記受光ユニットでの
前記ワーク全体の受光結果に基づいて前記ワーク全体の画像を生成する画像処理部と、
前記ワーク全体のうちの検査対象となる検査対象領域の検査対象画像を抽出し
、前記検査対象領域の外観の良否判断の基準となる基準画像と、前記検査対象画像とを比較して、前記良否判断を行う判断部と、
を備え、
前記複数の光学ユニットは、
第1の複数の光学ユニットと、
前記第1の複数の光学ユニットと前記ワークの搬送方向に沿って離れて配置される第2の複数の光学ユニットと、
を備え、
前記第1の複数の光学ユニットの当該複数の光学ユニットが前記搬送方向と交差する方向に設けられ、
前記第2の複数の光学ユニットの当該複数の光学ユニットが前記搬送方向と交差する方向に設けられる、
ことを特徴とする外観検査装置。
【請求項2】
前記光照射ユニットは、前記光として、レーザ光を照射する請求項1に記載の外観検査装置。
【請求項3】
前記光照射ユニットは、前記レーザ光を前記ワークの搬送方向と交差する方向に沿ったライン状に照射する請求項2に記載の外観検査装置。
【請求項4】
前記光照射ユニット
の前記複数の光照射部は、互いに波長が異なる前記光をそれぞれ照射
し、
前記画像処理部は、前記受光ユニットで各前記波長の光を受光した後
、前記受光ユニットで特定の波長に対応した前記検査対象画像を抽出する請求項1~3のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項5】
前記光照射ユニット
の前記複数の光照射部は、互いに波長が異なる前記光をそれぞれ照射
し、
前記受光ユニット
の前記複数の受光部は、各前記光照射部からの前記波長が異なる光を個別に受光す
る請求項1~4のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項6】
前記第1の複数の光学ユニットおよび前記第2の複数の光学ユニットは、前記複数の光照射部および前記複数の受光部が対となって配置されている、請求項1~5のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項7】
前記光照射ユニットは、前記ワークの搬送方向に沿って設けられた少なくとも2つの光照射部を有し、
前記2つの光照射部のうち、前記搬送方向上流側に設けられた前記光照射部は、前記搬送方向上流側から下流側に向かって前記光を照射し、前記搬送方向下流側に設けられた前記光照射部は、前記搬送方向下流側から上流側に向かって前記光を照射する請求項1~6のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項8】
前記光照射ユニットと前記受光ユニットとは、前記ワークとの距離を測定するレーザ測長器を構成する請求項1~7のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項9】
前記ワークは、互いに位置が異なる複数の前記検査対象領域を有し、
前記判断部は、各前記検査対象領域に対して、前記良否判断を行う請求項1~8のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項10】
前記判断部は、複数の前記検査対象領域のうち、少なくとも1つの前記検査対象領域に対する前記良否判断において否と判断した場合には、前記ワークを不良品と判断する請求項9に記載の外観検査装置。
【請求項11】
前記良否判断において否と判断された前記検査対象領域を報知する報知部を備える請求項10に記載の外観検査装置。
【請求項12】
前記画像処理部は、前記基準画像と前記検査対象画像との縮尺を合わせる処理を行う請求項1~11のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項13】
前記基準画像は、前記ワークの設計値に基づいて得られた画像であり、
前記画像処理部は、前記基準画像を前記ワークの実寸の大きさに対応する第1対応画像とし、前記検査対象画像を前記ワークの実寸の大きさに対応する第2対応画像とする処理を行い、
前記判断部は、前記第1対応画像と前記第2対応画像とを比較して、前記良否判断を行う請求項1~12のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【請求項14】
前記ワークを表裏反転させる反転機構を備え、
前記ワークの表側に対する外観検査と、裏側に対する外観検査と行う請求項1~13のいずれか1項に記載の外観検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、外観検査装置に関する。
【背景技術】
【0002】
部品を検査する検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の検査装置は、部品を撮像する撮像部と、前記撮像部からの画像データ(撮像信号)を処理する信号処理部とを備える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1に記載の検査装置では、部品の一部分に対する部分検査を行う際には、まず、部品全体の画像データを信号処理部に取り込む。次いで、部品全体の画像データから、検査対象となる前記一部分の画像データをさらに取り込んで、当該画像データに基づいて部分検査が行われる。このように、部分検査では、部品全体の画像データを取り込んでいるため、検査対象以外の画像データ、すなわち、部分検査に必要がない(用いられない)画像データも取り込むことととなり、その分、検査時間が長くなるという問題が生じる。
本発明の目的は、検査時間の短縮が可能な外観検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の外観検査装置の一つの態様は、ワークの外観を検査する外観検査装置であって、
ワークに向けて光を照射する光照射ユニットと、
光照射ユニットからの光がワークで反射した反射光を受光する受光ユニットと、
受光ユニットでの受光結果に基づいてワーク全体の画像を生成する画像処理部と、
ワーク全体のうちの検査対象となる検査対象領域の検査対象画像を抽出し、検査対象画像を取り込んで、検査対象領域の外観の良否判断の基準となる基準画像と、検査対象画像とを比較して、良否判断を行う判断部とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【0006】
本発明の外観検査装置の一つの態様によれば、検査時間の短縮が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【
図1】
図1は、本発明の外観検査装置の実施形態を示す平面図である。
【
図3】
図3は、
図1に示す外観検査装置の主要部のブロック図である。
【
図4】
図4は、レーザ光の発光、受光状態を示す平面図である。
【
図5】
図5は、良品となるコネクティングロッドへのレーザ光の照射状態を示す平面図である。
【
図7】
図7は、不良品となるコネクティングロッドへのレーザ光の照射状態を示す平面図である。
【
図8】
図8は、
図5に示すコネクティングロッドの全体画像および検査対象画像である。
【
図9】
図9は、
図7に示すコネクティングロッドの全体画像および検査対象画像である。
【
図13】
図13は、コネクティングロッドの検査対象領域を示す平面図である。
【
図14】
図14は、コネクティングロッドの検査対象領域を示す平面図である。
【
図15】
図15は、
図1に示す外観検査装置で実行される制御プログラムのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0008】
図1~
図16を参照して、本発明の外観検査装置の実施形態について説明する。なお、以下では、説明の便宜上、互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸を設定する。一例として、X軸とY軸を含むXY平面が水平となっており、Z軸が鉛直となっている。本明細書中において、上下方向、水平方向、上側および下側とは、単に各部の相対位置関係を説明するための名称であり、実際の配置関係等は、これらの名称で示される配置関係等以外の配置関係等であってもよい。また、以下では、説明の都合上、
図2および
図6中の上側を「上(または上方)」、下側を「下(または下方)」と言うことがある。
【0009】
図1~
図3に示す外観検査装置1は、ワーク9の外観を検査する装置である。外観検査装置1は、光学ユニット2と、搬送部4と、反転機構5と、報知部6と、制御部3とを備える。以下、各部の構成について説明する。
なお、ワーク9としては、特に限定されず、例えば、コネクティングロッド(略称:コンロッド)等の自動車部品等が挙げられる。本実施形態では、ワーク9がコネクティングロッドの場合を一例にして説明する。
【0010】
図4に示すように、ワーク9としてのコネクティングロッドは、リング状の大端部91と、リング状の小端部92と、大端部91と小端部92とを連結する連結部93とを有する。大端部91は、クランクシャフトと連結される部分である。小端部92は、ピストンと連結される部分である。また、ワーク9は、鍛造品である。
【0011】
搬送部4は、ワーク9を搬送する装置である。搬送部4の構成は、特に限定されないが、本実施形態では、ベルトコンベアである。そして、搬送部4がベルトコンベアで構成された場合、ワーク9は、ベルト41上に載置された状態で、X軸方向に沿って搬送される。ここで、「所定方向(例えばX軸方向)に沿う」とは、所定方向(例えばX軸方向)と並行な状態を言う。また、本実施形態での搬送方向は、X軸方向負側から正側に向かう方向となり、X軸方向負側が「搬送方向上流側」、X軸方向正側が「搬送方向下流側」となる。
また、ベルト41上でのワーク9は、搬送方向上流側に小端部92が位置し、搬送方向下流側に大端部91が位置した状態で載置され、その向き(姿勢)のまま搬送される。
【0012】
図1に示すように、反転機構5は、ワーク9の搬送途中で、当該ワーク9を表裏反転させる装置である。反転機構5は、ワーク9を搬送方向上流側と下流側とから挟んで保持する保持部51と、保持部51をX軸方向と平行な軸O52回りに回転可能に支持する回転支持部52とを有する。そして、反転機構5は、保持部51でワーク9を保持した状態で、保持部51をワーク9ごと軸O52回りに180度回転させることができる。これにより、ワーク9の表裏を反転させることができる。
【0013】
ワーク9を反転させる前は、当該ワーク9の表側に対する外観検査(以下、「第1検査(第1外観検査)」と言う。)を行うことができる。また、ワーク9を反転させた後は、当該ワーク9の裏側に対する外観検査(以下、「第2検査(第1外観検査)」と言う。)と行うことができる。そして、第1検査および第2検査の双方により、ワーク9の外観検査を過不足なく行うことができ、よって、ワーク9が良品かまたは不良品かを正確に判断することができる。なお、第1検査および第2検査には、ワーク9の全体の画像(全体画像)7が用いられる。また、以降では、良品のワーク9を「ワーク9A」と言い、不良品のワーク9を「ワーク9B」と言うことがある。
【0014】
図1に示すように、本実施形態では、光学ユニット2は、ベルト41に対し、Z軸方向正側(ベルト41の上側)に12個配置される。各光学ユニット2は、ワーク9を撮像するユニットである。
また、これら12個の光学ユニット2のうち、6個の光学ユニット2は、搬送方向上流側で第1検査に用いられる。また、残りの6個の光学ユニット2は、搬送方向下流側で第2検査に用いられる。上流側の6個の光学ユニット2と、下流側の6個の光学ユニット2とは、配置箇所が異なること以外は、同じ構成であるため、上流側の6個の光学ユニット2について、代表的に説明する。
【0015】
6個の光学ユニット2は、それぞれ、光照射部23と、受光部24とを有する。そして、光学ユニット2、1つ当たり、隣り合って配置された光照射部23と受光部24とが組(対)となる。また、各光学ユニット2では、光照射部23と受光部24とが、ワーク9との距離を測定するレーザ測長器を構成する。これにより、距離の大小に応じてワーク9の凹凸等の外形形状(3次元形状)を検出することができる。そして、レーザ測長器での検出結果に基づいて、ワーク9の全体の画像7を正確に得ることができる。
【0016】
なお、光照射部23と受光部24とは、互いに軸線同士が所定の角度(仰角)θをもって配置されている。角度θは、特に限定されないが、例えば、20°~30°が好ましい。
また、外観検査装置1では、光照射部23と受光部24とが光学ユニット2を構成すると言うこととは別に、6個の光照射部23が光照射ユニット21を構成し、6個の受光部24が受光ユニット22を構成すると言うこともできる。
【0017】
図1、
図2に示すように、各光照射部23(光照射ユニット21)は、ワーク9に向けて光LBを照射することができる。光LBとしては、特に、レーザ光が好ましい。レーザ光は、指向性に優れている。これにより、光LBをワーク9に容易かつ正確に照射することができる。
また、各光照射部23は、レーザ光(光LB)をワーク9の搬送方向と交差する方向、すなわち、Y軸方向に沿ったライン状に照射することができる。これにより、
図5、
図7に示すように、ワーク9に対して、Y軸方向に沿ったライン状のレーザ光が当たる。そして、ワーク9の平面視での形状に応じて、すなわち、ワーク9が良品なのか不良品なのかに応じて、ワーク9上でレーザ光が当たる位置(状態)が変わる(
図5~
図7参照)。従って、外観検査装置1は、「光切断法」によりワーク9の平面視での形状を検出する装置であると言うことができる。また、ワーク9に対しては、レーザ光がライン状に当たるため、例えばレーザ光がスポット状(点状)に当たる場合に比べて、スムースな画像7を取得することができる。
【0018】
図4に示すように、各受光部24(受光ユニット22)は、当該受光部24と対をなす光照射部23からの光LBが、ワーク9で反射した反射光LB’を受光することができる。受光部24としては、特に限定されず、例えば、CCDカメラ等を用いることができる。
【0019】
図1に示すように、外観検査装置1では、ワーク9の搬送方向(X軸方向)に沿って光学ユニット2が2つずつ設けられ、ワーク9の搬送方向と交差する方向(Y軸方向)に沿って光学ユニット2が3つずつ設けられる。すなわち、光学ユニット2は、2行3列に配置される。
そして、Y軸方向に沿って並ぶ3つの光学ユニット2のうち、中央に位置する光学ユニット2は、平面視でベルト41の中心線O41上に配置され、残りの2つの光学ユニット2は、中央の光学ユニット2から等距離に配置される。
【0020】
また、Y軸方向に沿って並ぶ3つの光学ユニット2は光照射部23から互いに波長が異なる光LBを照射することができる。以下では、赤色の光LBを照射する光学ユニット2を「光学ユニット2R」と言い、緑色の光LBを照射する光学ユニット2を「光学ユニット2G」と言い、青色の光LBを照射する光学ユニット2を「光学ユニット2B」と言う。
【0021】
搬送方向上流側では、3つの光学ユニット2は、Y軸方向負側から光学ユニット2B、光学ユニット2G、光学ユニット2Rの順に配置される。また、光学ユニット2B、光学ユニット2G、光学ユニット2Rの各光照射部23は、それぞれ、搬送方向上流側から下流側に向かって光LBを照射する。なお、各色の光LBは、ワーク9に対してほぼ同じ位置に照射される。
【0022】
一方、搬送方向下流側では、3つの光学ユニット2は、Y軸方向負側から光学ユニット2R、光学ユニット2G、光学ユニット2Bの順に配置される。また、光学ユニット2B、光学ユニット2G、光学ユニット2Rの各光照射部23は、それぞれ、搬送方向下流側から上流側に向かって光LBを照射する。搬送方向下流側でも同様に、各色の光LBは、ワーク9に対してほぼ同じ位置に照射される。
また、搬送方向上流側と下流側とでは、光学ユニット2R同士が対向し、光学ユニット2B同士が対向し、光学ユニット2G同士が対向して配置される。
【0023】
各受光部24は、波長が異なる光LB(反射光LB’)を個別に受光することができる。
例えば、光学ユニット2Rに着目すると、当該光学ユニット2Rを構成する光照射部23からは、赤色の光LBが照射される。光照射部23とともに光学ユニット2Rを構成する受光部24は、赤色の光LBが透過し、それ以外の波長の光LBの透過を遮断する特定波長透過フィルタが内蔵されている。これにより、受光部24は、赤色の光LBを安定して受光することができる。
【0024】
同様に、光学ユニット2Gに着目すると、当該光学ユニット2Gを構成する光照射部23からは、緑色の光LBが照射される。光照射部23とともに光学ユニット2Gを構成する受光部24は、赤色の光LBが透過し、それ以外の波長の光LBの透過を遮断する特定波長透過フィルタが内蔵されている。これにより、緑色の光LBを安定して受光することができる。
【0025】
また、光学ユニット2Bに着目すると、当該光学ユニット2Bを構成する光照射部23からは、青色の光LBが照射される。光照射部23とともに光学ユニット2Bを構成する受光部24は、赤色の光LBが透過し、それ以外の波長の光LBの透過を遮断する特定波長透過フィルタが内蔵されている。これにより、青色の光LBを安定して受光することができる。
【0026】
以上のような構成の光学ユニット2により、搬送方向上流側では、ワーク9を撮像する際、平面視でワーク9を中心に囲んで、死角の発生を防止することができる。これにより、第1検査を正確に行うのに十分な程度の撮像を行うことができる。
また、前述したように、Y軸方向に沿って並ぶ3つの光学ユニット2は、互いに波長が異なる光LBの発光と受光とがなされる。これにより、例えば光学ユニット2Rの光LBが光学ユニット2Gで受光されるのを防止する、すなわち、誤受光を防止することができ、よって、ワーク9を正確に撮像することができる。
【0027】
また、前述したように、光学ユニット2B、光学ユニット2G、光学ユニット2RがY軸方向に沿って配置される。このような配置は、例えば、光学ユニット2B、光学ユニット2G、光学ユニット2RをX軸方向に沿って配置した場合に比べて、外観検査装置1の全長を短くすることができる。これにより、ワーク9、1つ当たりの検査に要する撮像時間や搬送時間を短縮することができる。
【0028】
また、
図1に示すように、外観検査装置1は、第1カバー10Aと、第2カバー10Bとを備える。第1カバー10Aは、搬送方向上流側で第1検査に用いられる各光学ユニット2をワーク9ごと一括して外側から覆う。第2カバー10Bは、搬送方向上流側で第2検査に用いられる各光学ユニット2をワーク9ごと一括して外側から覆う。
【0029】
第1カバー10Aおよび第2カバー10Bは、それぞれ、自然光等の外部(外側)からの光を遮断する光不透過性を有する。外部からの光は、撮像時のノイズとなるおそれがあるが、第1カバー10Aおよび第2カバー10Bにより、外部からの光を遮断して、ノイズを防止することができる。
【0030】
報知部6は、各種の情報を報知することができる。なお、各種の情報としては、例えば、後述する「良否判断において否と判断された検査対象領域94」や、その他、各光学ユニット2、搬送部4および反転機構5の各部の作動エラー等が挙げられる。また、報知部6での報知方法としては、例えば、音声による報知方法、発光による報知方法等が挙げられ、これらを単独または組み合わせて用いることができる。
【0031】
図3に示すように、制御部3は、各光学ユニット2、搬送部4、反転機構5、報知部6に電気的に接続され、各部の作動をそれぞれ制御する。制御部3は、CPU31と、記憶部32とを有する。記憶部32には、例えば、外観検査を行うためのプログラムが予め記憶される。CPU31は、記憶部32に記憶されたプログラムを実行することができる。これにより、各光学ユニット2等が作動して、外観検査が行われる。
なお、本実施形態では、制御部3は、第1検査で用いられる光学ユニット2と、第2検査で用いられる光学ユニット2とを制御しているが、これに限定されない。例えば、第1検査で用いられる光学ユニット2を制御する制御部3と、第2検査で用いられる光学ユニット2を制御する制御部3とがそれぞれ設けられていてもよい。
また、搬送部4は、PLC(Programmable Logic Controller)にて制御されていてもよい。
【0032】
ワーク9は、製造過程で、例えば、欠損、傷、打痕等の損傷が生じる場合がある。損傷が生じたワーク9は、不良品として扱われる。
外観検査装置1は、第1検査および第2検査の2つの検査結果に基づいて、ワーク9が良品であるか、または、不良品であるかを判断することができる。以下、ワーク9に対する良不良を判断する構成について説明する。
【0033】
外観検査装置1では、ワーク9を複数の部位に分けて、各部位を検査対象領域94に設定する。これにより、ワーク9は、検査が行われるのに際し、互いに位置が異なる複数の検査対象領域94を有することとなる。本実施形態では、大端部91を検査対象領域94に設定する場合と、小端部92を検査対象領域94に設定する場合と、連結部93を検査対象領域94に設定する場合とがあり、代表的に大端部91を検査対象領域94に設定する場合について説明する。なお、
図7に示すように、不良品であるワーク9Bは、大端部91の周方向の一部が欠損した欠損部95を有する。
また、外観検査装置1では、検査対象領域94が予め特定されており、光LBが照射される照射領域には、検査対象領域94が含まれる。
【0034】
図3に示すように、制御部3のCPU31は、画像処理部33としての機能を発揮する部分と、判断部34としての機能を発揮する部分とを有する。なお、本実施形態では、画像処理部33と、判断部34とは、1つのCPU31で機能が発揮されるが、これに限定されない。例えば、画像処理部33の機能を発揮するCPU31と、判断部34の機能を発揮するCPU31とがそれぞれ設けられていてもよい。
画像処理部33は、受光ユニット22での受光結果、すなわち、前述したレーザ測長器での検出結果に基づいて、ワーク9全体の画像7を生成することができる。
例えば、
図5、
図7に示すように、良品のワーク9Aと、不良品のワーク9Bとでは、光LBが当たる部分と、当たらない部分とが異なる。すなわち、
図5に示す状態では、光LBは、ワーク9Aの大端部91上の2箇所に当たっているが、
図7に示す状態では、ワーク9Bに欠損部95がある分、当該欠損部95には、光LBが当たらず、大端部91上での光LBの当たる箇所は、1箇所である。そして、ワーク9が良品である場合(ワーク9Aの場合)には、
図8に示す画像7が生成される。一方、ワーク9が不良品である場合(ワーク9Bの場合)には、
図9に示す画像7が生成される。
なお、ベルト41上に当たる光LBも撮像されるが、当該光LBに関する画像データは、画像処理部33で削除される。
【0035】
なお、判断部34は、ワーク9全体のうちの検査対象となる検査対象領域94の検査対象画像71を画像7から抽出する。例えば、ワーク9が良品であり、当該ワーク9の検査対象領域94が大端部91の場合には、
図8に示す検査対象画像71が抽出される。一方、ワーク9が不良品であり、当該ワーク9の検査対象領域94が大端部91の場合には、
図9に示す検査対象画像71が抽出される。
【0036】
また、制御部3の記憶部32には、基準画像8が予め記憶される。基準画像8は、検査対象領域94の外観の良否判断の基準となる画像である。また、基準画像8は、ワーク9(ワーク9A)の設計値、すなわち、CADデータに基づいて得られた画像である。
本実施形態では、基準画像8として、
図10に示す第1基準画像81、
図11に示す第2基準画像82、
図12に示す第3基準画像83が用意される。第1基準画像81は、大端部91の画像である。第2基準画像82は、連結部93の画像である。第3基準画像83は、小端部92の画像である。
【0037】
検査対象領域94が大端部91の場合、当該大端部91の外観の良否判断には、第1基準画像81が用いられる。
なお、
図13に示すように、検査対象領域94が連結部93の場合、当該連結部93の外観の良否判断には、第2基準画像82が用いられる。
また、
図14に示すように、検査対象領域94が小端部92の場合、当該小端部92の外観の良否判断には、第3基準画像83が用いられる。
【0038】
画像処理部33は、基準画像8と検査対象画像71との縮尺を合わせる処理を行う。ここで、「縮尺を合わせる処理」とは、単位長さ(実長さ)当たりのスキャン点データ(点群データ)を合わせることを言う。具体的には、画像処理部33は、基準画像8をワーク9の実寸の大きさに対応する第1対応画像とし、検査対象画像71をワーク9の実寸の大きさに対応する第2対応画像とする処理を行う。これにより、後述する判断部34で、基準画像8と検査対象画像71と比較する際、第1対応画像と第2対応画像とを用いれば、基準画像8と検査対象画像71とを同スケールで比較することができる。よって、検査対象領域94に対する良否判断を正確に行うことができる。
また、ワーク9に損傷がある場合、検査対象画像71に対する縮尺の程度によっては、検査対象画像71から損傷が消失するおそれがあるが、画像処理部33では、損傷を強調する処理を行うことができる。これにより、判断部34では、損傷があるワーク9をワーク9Bとして判断することができる。
【0039】
判断部34は、第1検査および第2検査が行われる際、まず、抽出した検査対象画像71を取り込む。これにより、検査対象領域94以外を含むワーク9の全体の画像7を取り込む場合に比べて、判断部34で処理するスキャン点データを、例えば60%以下に低減することができ、よって、検査時間の短縮が可能となる。
次いで、判断部34は、例えばテンプレートマッチングにより、基準画像8と検査対象画像71とを比較して、良否判断を行う。例えば、基準画像8と検査対象画像71との一致数が閾値を越えた場合には、検査対象領域94の外観が「良」と判断され、閾値以下の場合には、検査対象領域94の外観が「不良」と判断される。
【0040】
また、判断部34は、各検査対象領域94に対して、良否判断を行う。すなわち、判断部34は、大端部91を検査対象領域94に設定した場合の大端部91に対する良否判断と、連結部93を検査対象領域94に設定した場合の連結部93に対する良否判断と、小端部92を検査対象領域94に設定した場合の小端部92に対する良否判断とを行う。これにより、ワーク9の全体に対する外観の良否判断を過不足なく行うことができる。
なお、外観検査装置1は、検査対象領域94ごとに、例えば閾値等の検査条件を変更することもできる。
【0041】
そして、判断部34は、全(複数の)検査対象領域94のうち、少なくとも1つの検査対象領域94に対する良否判断において否と判断した場合には、ワーク9を不良品と判断する。これにより、不良品を高精度に検出することができる。
また、報知部6は、良否判断において否と判断された検査対象領域94を報知することができる。これにより、損傷が生じているのはどこの部分であるのかを把握ことができる。
なお、画像処理部33または判断部34は、各受光部24(受光ユニット22)で各波長の光LBを受光した後、信号処理上、または、当該受光部24で特定の波長に対応した検査対象画像71を抽出することもできる。これにより、波長を特定した分、判断部34で処理する検査対象画像71のスキャン点データを低減して、検査時間の短縮に寄与する。
【0042】
次に、ワーク9に対する良不良を判断するプログラムについて、
図15、
図16に示すフローチャートに基づいて説明する。なお、ワーク9に対する良不良を判断するプログラムは、制御部3の記憶部32に予め記憶され、CPU31で実行される。
まず、搬送部4を作動させて(ステップS101)、ワーク9を搬送する。
次いで、第1検査を行う(ステップS102)。ステップS102は、サブルーチンである(
図16参照)。
【0043】
次いで、反転機構5を作動させて(ステップS103)、ワーク9の表裏を反転させる。
次いで、第2検査を行う(ステップS104)。ステップS104は、サブルーチンである(
図16参照)。
次いで、第1検査および第2検査の検査結果に基づいて、ワーク9が良品であるか、または、不良品であるかを判断する(ステップS105)。ステップS105での判断の結果、「ワーク9を良品とする」ことができれば、プログラムを終了する。一方、ステップS105での判断の結果、「ワーク9を良品とする」ことができない場合には、ワーク9の不良個所、すなわち、損傷が生じているのはどこの部分であるのかを、報知部6により報知して、プログラムを終了する。
【0044】
また、ステップS102とステップS104とは、同じステップを有するサブルーチンである(
図16参照)。
サブルーチンでは、まず、光学ユニット2により、ワーク9全体をスキャンして、撮像する(ステップS201)。
次いで、画像処理部33がワーク9全体の画像7を生成するとともに(ステップS202)、判断部34が画像7から検査対象画像71を抽出する(ステップS203)。
【0045】
次いで、判断部34が検査対象画像71を取り込んだ後(ステップS204)、画像処理部33は、基準画像8と検査対象画像71との位置合わせを行って(ステップS205)、当該基準画像8と検査対象画像71とのスケール(縮尺)を合わせる処理(画像比較のための前処理)を行う(ステップS206)。
次いで、判断部34は、基準画像8(第1対応画像)と検査対象画像71(第2対応画像)とを比較して(ステップS207)、検査対象領域94の外観に対する良否を判断する(ステップS208)。
【0046】
次いで、判断部34は、ステップS208での判断結果を記憶部32に記憶させる(ステップS209)。
次いで、判断部34は、全検査対象領域94に対して検査(第1検査または第2検査)が終了したか否かを判断する(ステップS210)。
ステップS210での判断の結果、検査が終了した場合には、サブルーチンを終了し、検査が終了していない場合には、ステップS203に戻り、以降のステップを順次実行する。
以上のようなプログラムにより、ワーク9に対する良不良の判断を迅速かつ正確に行うことができる。
【0047】
また、スケール(縮尺)を合わせる処理(平滑化処理)を行う利点としては、以下の利点もある。
実際に製造されたワーク9の寸法は、寸法公差を含めた外形に仕上がるため、現物のワーク9の画像7と、設計値に基づいて得られた基準画像8、すなわち、寸法公差を含めていない基準画像8とでは、完全に一致することはなく、ワーク9が全て不良品として判断されてしまうおそれがある。そこで、外観検査装置1では、画像7と基準画像8との差を解消するために、スケールを合わせる処理が行われる。これにより、検査時間の短縮を図ることができる。
【0048】
以上、本発明の外観検査装置を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、外観検査装置を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができる。また、任意の構成物が付加されていてもよい。
また、光学ユニット2の配置態様は、搬送方向上流側と下流側とで、それぞれ、前記実施形態では2行3列に配置されるが、これに限定されず、例えば、2行1列であってもよいし、2行2列であってもよい。また、各光学ユニット2の配置箇所については、平面視でベルト41と重なる位置であればよい。
【符号の説明】
【0049】
1…外観検査装置、2…光学ユニット、2R…光学ユニット、2G…光学ユニット、2B…光学ユニット、21…光照射ユニット、22…受光ユニット、23…光照射部、24…受光部、3…制御部、31…CPU、32…記憶部、33…画像処理部、34…判断部、4…搬送部、41…ベルト、5…反転機構、6…報知部、7…画像(全体画像)、71…検査対象画、8…基準画像、81…第1基準画像、82…第2基準画像、83…第3基準画像、9…ワーク、9A…ワーク、9B…ワーク、91…大端部、92…小端部、93…連結部、94…検査対象領域、95…欠損部、10A…第1カバー、10B…第1カバー、LB…光、LB’…反射光、O41…中心線、O52…軸、S101~S107、S201~S210…ステップ、θ…角度(仰角)