(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-12-02
(45)【発行日】2024-12-10
(54)【発明の名称】偏光変換素子及び画像表示装置
(51)【国際特許分類】
G02B 5/30 20060101AFI20241203BHJP
G02F 1/13 20060101ALI20241203BHJP
G02F 1/13357 20060101ALI20241203BHJP
G03B 21/14 20060101ALI20241203BHJP
【FI】
G02B5/30
G02F1/13 505
G02F1/13357
G03B21/14 A
(21)【出願番号】P 2023122560
(22)【出願日】2023-07-27
(62)【分割の表示】P 2020509749の分割
【原出願日】2019-03-04
【審査請求日】2023-08-28
(31)【優先権主張番号】P 2018068011
(32)【優先日】2018-03-30
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】000002185
【氏名又は名称】ソニーグループ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110003339
【氏名又は名称】弁理士法人南青山国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】米澤 元
(72)【発明者】
【氏名】阿部 昇平
(72)【発明者】
【氏名】高橋 祐一
【審査官】鈴木 玲子
(56)【参考文献】
【文献】特開2009-186703(JP,A)
【文献】特開平09-005518(JP,A)
【文献】特開2012-255821(JP,A)
【文献】特開2012-108969(JP,A)
【文献】特開2011-107495(JP,A)
【文献】特開2017-177519(JP,A)
【文献】特開平09-221342(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G02B 5/30
G03B 21/14
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
光入射面と光出射面とを有する偏光分離素子であって、第1の接合面を有する第1のガラス基材と、第2の接合面を有する第2のガラス基材と、前記第1の接合面に設けられた光学機能膜と、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層とを有する偏光分離素子と、
前記無機接合層を透過した第1の偏光を、前記第1の偏光と直交する第2の偏光に変換する無機波長板と、
前記光入射面側に配置され複数のアパーチャを有する第1の支持フレームと、前記光出射面側に配置され前記無機波長板を支持する第2の支持フレームと、前記第2の支持フレーム
と前記無機波長板を接着するための接着部材とを有し、前記第1の支持フレームと前記第2の支持フレームが接合されることで、前記偏光分離素子に対して前記無機波長板が間隔を介して対向するように前記偏光分離素子と前記無機波長板とを共通に支持する支持体と
を具備する偏光変換素子。
【請求項2】
請求項1に記載の偏光変換素子であって、
前記接着部材は、入射光が照射されない領域に配置される
偏光変換素子。
【請求項3】
請求項1または請求項2に記載の偏光変換素子であって、
前記シリコン化合物は、シリコン酸化物である
偏光変換素子。
【請求項4】
請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の偏光変換素子であって、
前記直接接合は、プラズマ接合である
偏光変換素子。
【請求項5】
請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の偏光変換素子であって、
前記無機接合層及び前記第2の接合面の表面粗さ(Ra)は、2nm以下である
偏光変換素子。
【請求項6】
請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の偏光変換素子であって、
前記無機接合層の厚みは、200nm以上1000nm以下である
偏光変換素子。
【請求項7】
請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の偏光変換素子であって、
前記光学機能膜は、第1の屈折率を有する第1の誘電体と、前記第1の屈折率とは異なる第2の屈折率を有する第2の誘電体とを交互に積層した光学多層膜である
偏光変換素子。
【請求項8】
請求項7に記載の偏光変換素子であって、
前記光学多層膜は、偏光分離膜である
偏光変換素子。
【請求項9】
請求項8に記載の偏光変換素子であって、
前記第1のガラス基材及び前記第2のガラス基材各々の屈折率(nd)は、1.6以上1.8以下である
偏光変換素子。
【請求項10】
偏光変換素子と、前記偏光変換素子に入射する光を生成する光源とを有する照明光学系を具備する画像表示装置であって、
前記偏光変換素子は、光入射面と光出射面とを有する偏光分離素子であって、
第1の接合面を有する第1のガラス基材と、第2の接合面を有する第2のガラス基材と、前記第1の接合面に設けられた光学機能膜と、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層とを有する偏光分離素子と、
前記無機接合層を透過した第1の偏光を、前記第1の偏光と直交する第2の偏光に変換する無機波長板と、
前記光入射面側に配置され複数のアパーチャを有する第1の支持フレームと、前記光出射面側に配置され前記無機波長板を支持する第2の支持フレームと、前記第2の支持フレーム
と前記無機波長板を接着するための接着部材とを有し、前記第1の支持フレームと前記第2の支持フレームが接合されることで、前記偏光分離素子に対して前記無機波長板が間隔を介して対向するように前記偏光分離素子と前記無機波長板とを共通に支持する支持体と、を有する
画像表示装置。
【請求項11】
請求項10に記載の画像表示装置であって、
前記接着部材は、入射光が照射されない領域に配置される
画像表示装置。
【請求項12】
請求項10または請求項11に記載の画像表示装置であって、
前記偏光変換素子によって偏光変換された光を所定の色に対応する光に分光する少なくとも一つのダイクロイックミラーを有する分光光学系と、
前記分光光学系によって分光された光を変調する少なくとも一つの液晶パネルと、
前記液晶パネルによって変調された光を合成する光合成部と、
前記光合成部によって合成された光を投射する投射レンズと
をさらに具備する画像表示装置。
【請求項13】
請求項10乃至請求項12のいずれか1項に記載の画像表示装置であって、
前記シリコン化合物は、シリコン酸化物である
画像表示装置。
【請求項14】
請求項10乃至請求項13のいずれか1項に記載の画像表示装置であって、
前記直接接合は、プラズマ接合である
画像表示装置。
【請求項15】
請求項10乃至請求項14のいずれか1項に記載の画像表示装置であって、
前記無機接合層及び前記第2の接合面の表面粗さ(Ra)は、2nm以下である
画像表示装置。
【請求項16】
請求項10乃至請求項15のいずれか1項に記載の画像表示装置であって、
前記無機接合層の厚みは、200nm以上1000nm以下である
画像表示装置。
【請求項17】
請求項10乃至請求項16のいずれか1項に記載の画像表示装置であって、
前記光学機能膜は、第1の屈折率を有する第1の誘電体と、前記第1の屈折率とは異なる第2の屈折率を有する第2の誘電体とを交互に積層した光学多層膜である
画像表示装置。
【請求項18】
請求項17に記載の画像表示装置であって、
前記光学多層膜は、偏光分離膜である
画像表示装置。
【請求項19】
請求項18に記載の画像表示装置であって、
前記第1のガラス基材及び前記第2のガラス基材各々の屈折率(nd)は、1.6以上1.8以下である
画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本技術は、光学機能膜を有する光学素子、偏光変換素子及びこれを備えた画像表示装置、並びに光学素子の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
投射型画像表示装置(プロジェクタ)には、光の利用効率を上げるために偏光変換素子が用いられている。この種の偏光変換素子として、例えば特許文献1には、BK7等の光学ガラスで構成された第1基材及び第2基材と、第1基材と第2基材との間に配置された偏光分離膜と、偏光分離膜と第2基材との間に配置されたポリオルガノシロキサン等の有機膜からなる接合層とを有する偏光変換素子が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
近年、投射型画像表示装置においては、画像の高輝度化を実現するため、光源の高出力化あるいは光エネルギの高密度化が進められている。このため、偏光分離素子においては、耐熱性、耐光性及び光透過性の更なる向上が求められる。しかしながら、従来の偏光分離素子にはガラス基材と偏光分離膜との接合部に有機系の接着剤が用いられているため、耐熱性が低く、光による劣化が避けられない。さらには接合界面における屈折率差によって光の透過ロスも生じやすい。
【0005】
以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、耐熱性、耐光性及び光透過性に優れた光学素子、偏光変換素子及びこれを備えた画像表示装置、並びに光学素子の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本技術の一形態に係る光学素子は、第1のガラス基材と、第2のガラス基材と、光学機能膜と、無機接合層とを具備する。
前記第1のガラス基材は、第1の接合面を有する。
前記第2のガラス基材は、第2の接合面を有する。
前記光学機能膜は、前記第1の接合面を被覆する。
前記無機接合層は、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる。
【0007】
上記光学素子は、光学機能膜と第2の接合面との接合部がシリコン化合物からなる無機接合層で構成されているため、耐熱性及び耐光性に優れる。さらに、上記接合層が第2の接合面に直接接合により接合されるため、界面における屈折率差が小さくなり、したがって透過率を向上させることができる。
【0008】
前記シリコン化合物は、シリコン酸化物であってもよい。
【0009】
前記直接接合は、プラズマ接合であってもよい。
【0010】
この場合、前記無機接合層及び前記第2の接合面の表面粗さ(Ra)は、2nm以下とすることができる。
【0011】
前記無機接合層の厚みは、200nm以上1000nm以下とすることができる。
【0012】
前記光学機能膜は、第1の屈折率を有する第1の誘電体と、前記第1の屈折率とは異なる第2の屈折率を有する第2の誘電体とを交互に積層した光学多層膜であってもよい。
【0013】
前記光学多層膜は、偏光分離膜とすることができる。
【0014】
前記第1のガラス基材及び前記第2のガラス基材各々の屈折率(nd)は、1.6以上1.8以下とすることができる。
【0015】
本技術の一形態に係る偏光変換素子は、偏光分離素子と、無機波長板と、支持体とを具備する。
前記偏光分離素子は、第1の接合面を有する第1のガラス基材と、第2の接合面を有する第2のガラス基材と、前記第1の接合面に設けられた光学機能膜と、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層とを有する。
前記無機波長板は、前記無機接合層を透過した第1の偏光を、前記第1の偏光と直交する第2の偏光に変換する。
前記支持体は、前記偏光分離素子に対して前記無機波長板が間隔を介して対向するように前記偏光分離素子と前記無機波長板とを共通に支持する。
【0016】
本技術の一形態に係る画像表示装置は、偏光変換素子を具備する。
前記偏光変換素子は、偏光分離素子と、無機波長板と、支持体とを有する。
前記偏光分離素子は、第1の接合面を有する第1のガラス基材と、第2の接合面を有する第2のガラス基材と、前記第1の接合面に設けられた光学機能膜と、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層とを有する。
前記無機波長板は、前記無機接合層を透過した第1の偏光を、前記第1の偏光と直交する第2の偏光に変換する。
前記支持体は、前記偏光分離素子に対して前記無機波長板が間隔を介して対向するように前記偏光分離素子と前記無機波長板とを共通に支持する。
【0017】
本技術の一形態に係る光学素子の製造方法は、
第1のガラス基材の表面に光学機能膜を形成し、
前記光学機能膜の上にシリコン化合物からなる無機接合層を形成し、
前記無機接合層に、第2のガラス基材をプラズマ接合により接合する。
【0018】
前記光学素子の製造方法は、前記無機接合層を形成した後、前記第2のガラス基材を接合する前に、前記無機接合層及び前記第2のガラス基材の接合面を研磨してもよい。
【0019】
あるいは、前記光学素子の製造方法は、前記光学機能膜を形成する前に、前記第1のガラス基材の表面を研磨し、前記第2のガラス基材を前記無機接合層に接合する前に、前記第2のガラス基材の接合面を研磨してもよい。
【0020】
前記光学機能膜は、イオンビームスパッタ法又はバイアススパッタ法により形成されてもよい。
【発明の効果】
【0021】
以上のように、本技術によれば、耐熱性、耐光性及び光透過性に優れた光学素子を得ることができる。
なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【
図1】本技術の一実施形態に係る偏光変換素子の構成を示す分解斜視図である。
【
図2】上記偏光変換素子の構成を示す要部の概略断面図である。
【
図3】上記偏光変換素子における偏光分離素子の構成を示す要部の概略断面図である。
【
図4】上記偏光分離素子の作製方法を説明する図である。
【
図5】上記偏光分離素子の作製方法を説明する図である。
【
図6】上記偏光分離素子の製造方法の一例を示す概略工程図である。
【
図7】上記偏光分離素子における偏光分離膜の層構造の一例を示す模式図である。
【
図8】上記偏光分離素子の製造方法の他の一例を示す概略工程図である。
【
図9】上記偏光分離素子の光学特性の一例を示す図である。
【
図10】本技術の一実施形態に係る画像表示装置を示す概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【0023】
以下、本技術に係る実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【0024】
<第1の実施形態>
図1は、本技術の一実施形態に係る偏光変換素子100の構成を示す分解斜視図、
図2は偏光素子100の要部の概略断面図である。偏光変換素子100は、偏光分離素子10と、無機波長板20と、これらを支持する支持体30とを備える。偏光変換素子100は、無偏光の入射光Lを所定の偏光(本例ではP偏光)に変換する光学素子である。
【0025】
[偏光分離素子]
偏光分離素子10は、光入射面101と、光出射面102とを有する。偏光分離素子10は、入射光Lの偏光方向によって入射光Lを透過し又は反射する光学素子(偏光ビームスプリッタ)である。
【0026】
偏光分離素子10は、例えば、平行六面体形状の複数のプリズムをZ軸方向に貼り合わせることにより構成される。本実施形態において複数のプリズムは、第1のガラス基材11と、第2のガラス基材12とを有する。第1のガラス基材11及び第2のガラス基材12の間には、S偏光を反射し、P偏光を透過する偏光分離層13と、偏光分離層13によって反射されたS偏光を再び反射する反射層14とが交互に配置されている。
【0027】
図3は、偏光分離素子10の構成を示す要部の概略断面図である。同図に示すように、偏光分離層13は、偏光分離膜131と、無機接合層132との積層体で構成される。
【0028】
偏光分離膜131は、S偏光光Lsを反射し、P偏光光Lpを透過する光学機能膜であり、第1のガラス基材11の接合面11a(第1の接合面)を被覆する誘電体多層膜で構成される。接合面11aと入射面101とのなす角は、典型的には、45°である。偏光分離膜131は、第1の屈折率を有する第1の誘電体と、第1の屈折率とは異なる第2の屈折率を有する第2の誘電体とを交互に積層した光学多層膜である。
【0029】
第1の誘電体は、第2の誘電体よりも屈折率(nd)が小さい材料で構成される。第1の誘電体及び第2の誘電体各々の屈折率は、第1及び第2のガラス基材11,12の屈折率によって選定される。例えば、第1及び第2のガラス基材11,12の屈折率(nd)が1.6~1.8の場合、第1の誘電体はSiO2(nd:1.46)、第2の誘電体はTa2O5(nd:2.16)である。屈折率(nd)が1.6~1.8のガラス材としては、例えば、OHARA製硝材S-TIH(nd:1.72)等が挙げられる。
【0030】
無機接合層132は、偏光分離膜131と第2のガラス基材12の接合面12a(第2の接合面)との間に設けられる。接合面12aは、接合面11aと平行な平面である。無機接合層132は、シリコン化合物からなり、第2のガラス基材12の接合面12aと直接接合により接合される。接合面12aと対向する無機接合層132の表面は、第2のガラス基材12と直接接合される接合界面を形成する。つまり、無機接合層132は、当該接合界面を形成するためのバッファ層として機能する。当該バッファ層は、偏光分離層13の一部を構成し、偏光分離膜131に積層されることで所定の偏光分離機能を果たす。
【0031】
無機接合層132を構成するシリコン化合物としては、シリコン酸化物(SiO2、SiO)、シリコン窒化物(SiN)、シリコン酸窒化物(SiON)、シリコン酸化炭化物(SiOC)等が挙げられる。無機接合層132は、第2のガラス基材12の接合面12aと直接接合されているため、界面に接着剤を介在させることなく、無機接合層132を接合面12aに一体的に接合することができる。
【0032】
直接接合としては、例えば、プラズマ接合が挙げられる。プラズマ接合では、無機接合層132と接合面12aとの間に、シリコン-酸素共有結合あるいはシリコン-シリコン共有結合を形成することで、無機接合層132が接合面12aに強固に固定される。直接接合には、プラズマ接合のほか、拡散接合などの固相接合法が採用されてもよい。
【0033】
本実施形態において無機接合層132は、シリコン酸化物、特に、二酸化ケイ素で構成される。これにより、SiO2を主成分とするガラス材に近い屈折率が得られるため、無機接合層132と第2のガラス基材12との接合界面における屈折率差はあるが当該接合界面の厚みが1nm以下と波長に比べて十分に小さいので、屈折率差に起因する反射をなくすことができる。
【0034】
無機接合層132及び接合面12aの表面粗さ(Ra)は、2nm以下である。これにより、第2のガラス基材12に対する無機接合層132のプラズマ接合による直接接合処理を安定に行うことができる。無機接合層132及び接合面12aの表面粗さ(Ra)は、1nm以下であることが好ましく、0.5nm以下であることがより好ましい。
【0035】
無機接合層132の厚みは、上記接合界面を形成するのに十分な厚みを有していればよく、例えば、200nm以上1000nm以下である。これにより、第1及び第2のガラス基材11,12間の接合厚みを小さくすることができるため、偏光分離素子10及び偏光変換素子100の小型化を図ることができるとともに、第2のガラス基材12との接合時の加熱によるガスの発生量を抑制することができる。無機接合層132の厚みを200nm以上とすることで、偏光分離層13の一部(低屈折率材料層)として無機接合層132を機能させることができる。なお、無機接合層132の厚みは200nm未満であってもよく、接合界面を形成することが可能であれば特に限定されない。
【0036】
一方、反射層14は、偏光分離層13によって反射されたS偏光光Lsを光出射面102に向けて再び反射する光学機能膜であり、第1のガラス基材11と第2のガラス基材12との間に偏光分離層13と平行に配置される。反射層14は、例えば、誘電体多層膜で構成される。誘電体多層膜としては、酸化ケイ素と酸化チタンとを交互に積層した多層膜が挙げられる。反射層14は、誘電体多層膜で構成されてもよい。
【0037】
反射層14は、第1のガラス基材11の表面(接合面11aとは反対側の面)に上記誘電体多層膜が形成された後、第2のガラス基材12の表面(接合面12aとは反対側の面)に接合される。接合方法は特に限定されず、直接接合でもよいし、接着剤を用いた接合であってもよい。直接接合の場合、誘電体多層膜の表面に二酸化ケイ素膜を形成し、当該に酸化ケイ素膜を第1のガラス基材11へプラズマ接合により接合される。
【0038】
偏光分離素子10は、例えば
図4に示すように、偏光分離層13及び反射層14がそれぞれ形成された第1のガラス基材11の両面に第2のガラス基材12が接合された素子集合体10Mを、切断線Cに沿って切断することで形成される。
図5A~Cに示すように、個片化された個々の偏光分離素子10pは、長手方向の両端がラップ研磨され、光入射面101及び光出射面102に反射防止膜101m,102mが形成された後、長手方向に両端どうし接合される。
【0039】
[無機波長板]
無機波長板20は、反射層14で反射されたS偏光光LsをP偏光光Lpに変換する光学素子(1/2波長板)である。無機波長板20は、典型的には、X軸方向に長手の矩形状の水晶板で構成され、偏光分離素子10の光出射面102に所定の間隔をおいて配置される。
【0040】
無機波長板20の光入射側及び光出射側の各面には、反射防止膜21が形成される。反射防止膜21は、誘電体多層膜であり、例えば、フッ化マグネシウム(MgF2)や二酸化ケイ素(SiO2)、TiO2、Ta2O5などの誘電体多層膜で構成される。
【0041】
無機波長板20は、X軸方向の長手の短冊形状を有し、
図1に示すように反射層14からの反射光(S偏光光Ls)の光路上にそれぞれ間隔をあけて複数配置される。各無機波長板20は、第2の支持フレーム120に共通に支持される。
【0042】
[支持体]
支持体30は、第1の支持フレーム110と第2の支持フレーム120との接合体で構成される。第1の支持フレーム110は、複数のアパーチャ111を有する金属板で構成され、偏光分離素子10の光入射面101側に配置される。第2フレーム120は、偏光分離素子10の光出射面102側に配置された額縁状の金属板で構成される。第1の支持フレーム110及び第2の支持フレーム120は、偏光分離素子10及び無機波長板20を挟んで接着層130もしくは適宜の連結機構を介して相互に接合される。
【0043】
支持体30は、無機波長板20が偏光分離素子10の光出射面102の所定位置に対向するように偏光分離素子10と無機波長板20とを共通に支持する。これにより、偏光分離素子10と無機波長板20との間を接着剤等により相互に接合することなく、偏光分離素子10と無機波長板20との相対的位置関係が維持される。したがって、偏光分離素子10と無機波長板20との間の接着剤の存在による耐熱性、耐光性及び透光性の低下を回避することができる。
【0044】
第1の支持フレーム110は額縁形状を有し、偏光分離素子10の光入射面101に接する。第2の支持フレーム120は、無機波長板20を支持する開口部が面内に形成された板形状を有する。第1及び第2の支持フレーム110,120は、周辺を補強することで互いの接合強度が確保される。第1及び第2の支持フレーム110,120の構成材料は特に限定されず、典型的には金属材料で構成される。接着層130は、紫外線硬化樹脂等の有機材料で構成され、第2の支持フレーム120と無機波長板20及び偏光分離素子10との間を接着し、入射光Lが照射されない領域に配置される。これにより、光の照射による接着層130の劣化を回避することができる。
【0045】
[偏光分離素子の製造方法]
続いて、偏光分離素子10の製造方法、特に、偏光分離層13の製造方法について説明する。
【0046】
本実施形態の偏光分離素子10の製造方法は、第1のガラス基材11の表面(接合面11a)に偏光分離膜131を形成する工程と、偏光分離膜131の上にシリコン化合物からなる無機接合層132を形成する工程と、無機接合層132に、第2のガラス基材12をプラズマ接合により接合する工程とを有する。
【0047】
(方法1)
図6は、偏光分離素子10の製造方法の一例を示す概略工程図である。この例では、第1のガラス基材11上に偏光分離膜131及び無機接合層132が成膜され(
図6A)、無機接合層132の表面及び第2のガラス基材12の接合面12aが研磨により平坦化された後(
図6B)、無機接合層132と第2のガラス基材12とが直接接合される(
図6C)。つまり、本例では、無機接合層132を形成した後、第2のガラス基材12を接合する前に、無機接合層132及び第2のガラス基材12の接合面12aが研磨される。
【0048】
偏光分離膜131及び無機接合層132の成膜方法は特に限定されず、スパッタ法、イオンビームスパッタ法、真空蒸着法、イオンアシスト蒸着法等が適用可能である。偏光分離膜131を構成する誘電体多層膜には、例えば、低屈折率材料層としてSiO
2を、高屈折率材料層としてTa
2O
5を用いることができる。各材料層の厚み、層数等は、要求される偏光分離特性に応じて適宜設定可能である。一例として、
図7に示すように、偏光分離膜131は12層の誘電体多層膜で構成され、その上層(13層目)に無機接合層132を構成する二酸化ケイ素膜が形成される。
【0049】
無機接合層132及び第2のガラス基材12の接合面12aは、表面粗さ(Ra)が1nam以下、より好ましくは、0.5nm以下となるように研磨される。研磨方法は特に限定されず、典型的には、nmオーダで表面粗さを調整できる高精度研磨法が採用される。これにより、後述するプラズマ接合により、所望とする接合強度を得ることができる。
【0050】
無機接合層132の表面を研磨することで第2のガラス基材12との接合に必要な表面粗さが得られるため、第1のガラス基材11の接合面11aやその上に成膜される偏光分離膜131の表面粗さは1nm以上であってもよい。これにより、接合面11aの加工コストや偏光分離膜131の膜厚制御が容易となる。また、無機接合層132は、研磨により厚みが削減されるため、例えば5000nmの厚みで成膜され、その後、例えば2000nm以下の厚みになるまで研磨される。
【0051】
無機接合層132と第2のガラス基材12との接合には、プラズマ接合が用いられる。プラズマ接合では、まず、第1のガラス基材11上の無機接合層132の表面と、第2のガラス基材12の接合面12aとに、プラズマ活性処理が施される。これにより、無機接合層132の表面及び接合面12aにOH基が生成されることで親水化される。
【0052】
プラズマ活性処理に使用されるガスには、酸素(O2)、窒素(N2)、ヘリウム(He)、アルゴン(Ar)、水素(H2)等を用いることができる。特に、無機接合層132及び接合面12aの構成元素と同種のガス(本例では酸素)を使用することで、無機接合層132及び接合面12aの変質を抑制することができる。
【0053】
続いて、無機接合層132と第2のガラス基材12とが貼り合わされ、各々のOH基間の水素結合により仮接合状態となる。この状態で、例えば200℃以上の温度に熱処理(アニール)し、界面のSi-OHを脱水縮合反応させ、シリコン-酸素共有結合あるいはシリコン-シリコン共有結合を形成することで、プラズマ接合が完了する。
【0054】
(方法2)
図8は、偏光分離素子10の製造方法の他の一例を示す概略工程図である。この例では、第1のガラス基材11の接合面11a及び第2のガラス基材12の接合面12aが研磨により平坦化され(
図8A)、第1のガラス基材の接合面11aに偏光分離膜131及び無機接合層132が順に成膜された後(
図8B)、無機接合層132と第2のガラス基材12とが直接接合される(
図8C)。つまり、本例では、偏光分離層13が形成される前に、第1のガラス基材の接合面11aが研磨され、第2のガラス基材12を無機接合層132に接合する前に、第2のガラス基材12の接合面12aが研磨される。
【0055】
偏光分離膜131及び無機接合層132の成膜方法は、本例では、表面の平坦度が高い成膜法が用いられる。このような成膜方法としては、例えば、イオンビームスパッタリング、バイアススパッタリング等のような成膜面の面粗度の小さい成膜方法が適用可能であり、これにより、表面粗さ(Ra)が例えば0.5nm以下の高い平坦度をもった蒸着膜を形成することができる。このような成膜法によって偏光分離層13が形成されることで、研磨処理を必要とすることなく無機接合層132の表面を所望とする平坦度で形成することができるため、無機接合層132の厚みを例えば200nm程度にまで薄くすることができる。
【0056】
無機接合層132と第2のガラス基材12との接合工程では、上述の方法1と同様なプラズマ接合処理が行われる。本例では、無機接合層132の厚みを小さくすることができるため、アニール時における無機接合層132からの脱ガス量を低減することができるという利点がある。
【0057】
以上のように構成される本実施形態の偏光変換素子100においては、偏光分離層13と第2のガラス基材12の接合面12aとの接合部がシリコン化合物からなる無機接合層132で構成されているため、耐熱性及び耐光性の向上を実現することができる。さらに、無機接合層132が接合面12aに直接接合により接合されるため、接合界面における屈折率差はあるが当該接合界面の厚みが1nm以下と波長に比べて十分小さいので、屈折率差に起因する反射をなくして透過率を向上させることができる。
【0058】
例えば、
図9に、上述の方法1で作製された偏光分離素子10の光学特性を示す。
図9より、可視光域において高い偏波消光比が得られることが確認される。図示せずとも、上述の方法2で作製された偏光分離素子によっても
図9と同様な光学特性が得られることが確認されている。
【0059】
ここで、一般的に、屈折率(nd)が1.5付近の汎用ガラス(白板ガラス、青板ガラス、BK7など)をガラス基材に用いて偏光分離膜を成膜する場合、低屈折率材料であるMgF2(フッ化マグネシウム、nd:1.38)を用いないと所望とする光学特性(透過率)が得られにくい。しかし、MgF2は、膜応力が大きいため、誘電体多層膜を形成することが困難であり、接合時に温度を200℃に上げた際に多層膜が破壊されてしまう。このため、プラズマ接合などの直接接合により偏光分離膜をガラス基材に接合することができず、紫外線硬化型接着剤などの有機系の接着剤を用いる必要があった。
しかしながら、ガラス基材と偏光分離膜との接合部に有機系の接着剤が用いられているため、耐熱性が低く、光による劣化が避けられない。
【0060】
これに対して本実施形態の偏光分離素子10によれば、ガラス基材と偏光分離膜との接合部に有機系の接着剤が介在していないため、耐熱性及び耐光性が向上し、光源の高出力化あるいは光エネルギの高密度化にも十分に対応することが可能となる。また、光の光路上に接着剤が存在しないため、接合界面における屈折率差はあるが当該接合界面の厚みが1nm以下と波長に比べて十分小さいので、屈折率差に起因する反射をなくして透過率を向上させることができる。
【0061】
しかも、本実施形態では、第1及び第2のガラス基材11,12に屈折率が1.6以上1.8以下のガラス材が用いられるため、偏光分離膜131の低屈折率材料に二酸化ケイ素を、高屈折率材料にTiO2、Ta2O5などの一般的な材料を用いて、所望とする光学特性を確保することができる。
【0062】
さらに本実施形態の偏光変換素子100によれば、無機波長板20が偏光分離素子10を支持する支持体30に共通に支持されているため、偏光分離素子10から無機波長板20に至る光路上に有機系の接着剤を介在させることなく無機波長板20を偏光分離素子10の光出射面102に対して非接触で配置することができる。これにより、偏光変換素子100の耐熱性、耐光性及び光透過率を向上させることができる。
【0063】
なお、一般的に屈折率(nd)が1.45の石英や1.5付近の汎用ガラス(白板ガラス、青板ガラス、BK7、Bolofloatなど)に対して低屈折率材料に膜応力の大きいMgF2を用いる場合にも本技術は適用可能である。この場合、接合時に温度を上げた際に多層膜中にマイクロクラックが発生したり、光学特性に劣ったりすることはあるが、素子の作製は可能である。
【0064】
同様に、屈折率(nd)が1.45の石英や1.5付近の汎用ガラス(白板ガラス、青板ガラス、BK7、Bolofloatなど)に対して低屈折率材料に膜応力の小さい二酸化ケイ素を用いてもよい。この場合もやはり光学特性は劣るが素子の作製は可能である。
【0065】
<第2の実施形態>
続いて、以上のように構成される偏光変換素子100を有する照明光学系を備えた画像表示装置について説明する。
図10は、本技術の一実施形態に係る画像表示装置200を示す概略構成図である。
【0066】
本実施形態の画像表示装置200は、偏光を出射する照明光学系240と、照明光学系240から出射された光を分光する分光光学系250と、分光光学系250によって分光された光をそれぞれ変調する液晶パネル63,68,73を備える。また、画像表示装置200は、液晶パネル63,68,73によって変調されたそれぞれの光を合成する光合成部80と、光合成部80により合成された光を投射する投射レンズ90を備える。
【0067】
照明光学系240において、超高圧水銀ランプ等の光源41から出射された白色光は、リフレクタ42によって反射され、防爆ガラス43を透過して出射される。UVカットフィルタ44は、防爆ガラス43を透過した光から紫外線を除去する。UVカットフィルタ44を透過した光は、第1のフライアイレンズ45及び第2のフライアイレンズ46によって輝度ムラが低減され、偏光変換素子100に入射する。偏光変換素子100は、入射した光を例えばP偏光光に変換する。そして、このP偏光光が照明光学系240から出射される。
【0068】
照明光学系240から出射された光は、コンデンサレンズ48によってコリメートされ、分光光学系250に入射する。分光光学系250は、照明光学系240からの白色光のうち青色光を透過し、赤色光及び緑色光を反射するダイクロイックミラー49を含む。また、分光光学系250は、ダイクロイックミラー49によって反射された光の光路上に配置され、緑色光を反射し、赤色光を透過するダイクロイックミラー53を含んで構成される。
【0069】
ダイクロイックミラー49を透過した青色光は、UV吸収フィルタ51を透過することにより紫外線をカットされる。UV吸収フィルタ51を透過した青色光は、ミラー52によって反射されるとともに、コンデンサレンズ61に入射する。コンデンサレンズ61によって集光された青色光は、入射側偏光板62によって直線偏光に偏光方向が揃えられ、液晶パネル63に入射する。液晶パネル63の後段には、検光子としての出射側偏光板64が配置されており、液晶パネル63を透過した光のうち、所定の偏光方向の光のみを透過させる。
【0070】
液晶パネル63には、例えば、ツイストネマチック型のものを用いることができる。この場合、液晶パネル63の各画素には、画像情報に応じた青色光用の信号電圧が印加され、この電圧に応じて各画素を透過する青色光の偏光方向が回転される。画素毎に偏光方向の異なった青色光を出射側偏光板64に透すことにより、画像情報に対応した強度分布を有する青色像光が得られる。出射側偏光板64を透過した青色光は、光合成部80の入射面に設けられた1/2波長フィルム65を透過することによって偏光方向が90°回転された後、合成プリズム等の光合成部80に入射する。
【0071】
ダイクロイックミラー53によって反射された緑色光は、コンデンサレンズ66に入射する。コンデンサレンズ66によって集光された緑色光は、入射側偏光板67によって直線偏光となり、液晶パネル68に入射する。液晶パネル68は、画像情報に応じて、各画素を透過する緑色光の偏光方向を回転させる。液晶パネル68を透過した緑色光が出射側偏光板69を透過することによって、画像情報に対応した強度分布を有する緑色像光が得られる。出射側偏光板69を透過した緑色光は、光合成部80に入射する。
【0072】
一方、ダイクロイックミラー53を透過した赤色光は、集光レンズ54及びミラー55を介して波長選択フィルタ56へ入射する。波長選択フィルタ56は、バンドパスフィルタ等で構成され、有効な赤色光のみを後段に透過させる。波長選択フィルタ56を透過した赤色光は、集光レンズ57及びミラー58を介してコンデンサレンズ71に入射する。
【0073】
コンデンサレンズ71によって集光された赤色光は、入射側偏光板72によって直線偏光となり、液晶パネル73に入射する。液晶パネル73は、画像情報に応じて、各画素を透過する赤色光の偏光方向を回転させる。液晶パネル73を透過した赤色光が出射側偏光板74を透過することによって、画像情報に対応した強度分布を有する赤色像光が得られる。出射側偏光板74を透過した赤色光は、光合成部80の入射面に設けられた1/2波長フィルム75を透過することによって偏光方向が90°回転された後、光合成部80に入射する。
【0074】
光合成部80は、赤色光と緑色光と青色光とを同一光路上に合成する。合成プリズムから出射された合成光は、投射レンズ90によって、図示しないスクリーンに拡大投射される。
【0075】
なお、ここでは、画像情報に応じて光を変調する変調器として透過型の液晶パネルを示したが、反射型液晶パネルや、GLV(Grating Light Valve)等を用いた他の方式により変調が行われてもよい。
【0076】
本実施形態の画像表示装置200によれば、第1の実施形態で説明した偏光変換素子100を照明光学系240に備えているため、耐熱性、耐光性及び光透過率に優れた照明光学系を構築することができる。また、光源の高出力化あるいは光エネルギの高密度化にも対応することができるため、高輝度の画像を形成することができる。
【0077】
以上、本技術の実施形態について説明したが、本技術は上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、種々変更を加え得ることは勿論である。
【0078】
例えば以上の実施形態では、偏光分離素子10の偏光分離膜131がS偏光を反射し、P偏光を透過する光学機能膜で構成されたが、これに限られず、P偏光を反射し、S偏光を透過する光学機能膜で構成されてもよい。あるいは、無機波長板20には、S偏光をP偏光に変換する波長板に限られず、P偏光をS偏光に変換する波長板が用いられてもよい。
【0079】
偏光分離膜131の層数は12層に限られず、例えば、9~13層であってもよい。各層の厚みも任意に設定することができる。偏光分離膜131の総厚も特に限定されず、例えば、1500~2000nmで適宜設定することができる。
【0080】
さらに以上の実施形態では、光学素子として偏光分離膜を有する偏光分離素子を例に挙げて説明したが、これに限られず、反射防止膜や波長選択膜等の光学機能膜を備えた光学素子にも本技術は適用可能である。
【0081】
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
(1) 第1の接合面を有する第1のガラス基材と、
第2の接合面を有する第2のガラス基材と、
前記第1の接合面を被覆する光学機能膜と、
前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層と
を具備する光学素子。
(2)上記(1)に記載の光学素子であって、
前記シリコン化合物は、シリコン酸化物である
光学素子。
(3)上記(1)又は(2)に記載の光学素子であって、
前記直接接合は、プラズマ接合である
光学素子。
(4)上記(1)~(3)のいずれか1つに記載の光学素子であって、
前記無機接合層及び前記第2の接合面の表面粗さ(Ra)は、2nm以下である
光学素子。
(5)上記(1)~(4)のいずれか1つに記載の光学素子であって、
前記無機接合層の厚みは、200nm以上1000nm以下である
光学素子。
(6)上記(1)~(5)のいずれか1つに記載の光学素子であって、
前記光学機能膜は、第1の屈折率を有する第1の誘電体と、前記第1の屈折率とは異なる第2の屈折率を有する第2の誘電体とを交互に積層した光学多層膜である
光学素子。
(7)上記(6)に記載の光学素子であって、
前記光学多層膜は、偏光分離膜である
光学素子。
(8)上記(7)に記載の光学素子であって、
前記第1のガラス基材及び前記第2のガラス基材各々の屈折率(nd)は、1.6以上1.8以下である
光学素子。
(9) 第1の接合面を有する第1のガラス基材と、第2の接合面を有する第2のガラス基材と、前記第1の接合面に設けられた光学機能膜と、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層とを有する偏光分離素子と、
前記無機接合層を透過した第1の偏光を、前記第1の偏光と直交する第2の偏光に変換する無機波長板と
前記偏光分離素子に対して前記無機波長板が間隔を介して対向するように前記偏光分離素子と前記無機波長板とを共通に支持する支持体と
を具備する偏光変換素子。
(10) 第1の接合面を有する第1のガラス基材と、第2の接合面を有する第2のガラス基材と、前記第1の接合面に設けられた光学機能膜と、前記光学機能膜と前記第2の接合面との間に設けられ、前記第2の接合面と直接接合により接合されたシリコン化合物からなる無機接合層とを有する偏光分離素子と、
前記無機接合層を透過した第1の偏光を、前記第1の偏光と直交する第2の偏光に変換する無機波長板と
前記偏光分離素子に対して前記無機波長板が間隔を介して対向するように前記偏光分離素子と前記無機波長板とを共通に支持する支持体と
を有する偏光変換素子
を具備する画像表示装置。
(11) 第1のガラス基材の表面に光学機能膜を形成し、
前記光学機能膜の上にシリコン化合物からなる無機接合層を形成し、
前記無機接合層に、第2のガラス基材をプラズマ接合により接合する
光学素子の製造方法。
(12)上記(11)に記載の光学素子の製造方法であって、さらに、
前記無機接合層を形成した後、前記第2のガラス基材を接合する前に、前記無機接合層及び前記第2のガラス基材の接合面を研磨する
光学素子の製造方法。
(13)上記(11)に記載の光学素子の製造方法であって、さらに、
前記光学機能膜を形成する前に、前記第1のガラス基材の表面を研磨し、
前記第2のガラス基材を前記無機接合層に接合する前に、前記第2のガラス基材の接合面を研磨する
光学素子の製造方法。
(14)上記(11)~(13)のいずれか1つに記載の光学素子の製造方法であって、
前記無機接合層は、イオンビームスパッタ法又はバイアススパッタ法により形成される
光学素子の製造方法。
【符号の説明】
【0082】
10…偏光分離素子
11…第1のガラス基材
12…第2のガラス基材
13…偏光分離層
14…反射層
20…無機波長板
30…支持体
100…波長変換素子
131…偏光分離膜
132…無機接合層
200…画像表示装置