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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-12-09
(45)【発行日】2024-12-17
(54)【発明の名称】ＯＣＴ装置
(51)【国際特許分類】
A61B 3/10 20060101AFI20241210BHJP
G01N 21/17 20060101ALI20241210BHJP
【ＦＩ】
A61B3/10 100
G01N21/17 630
【請求項の数】
6
(21)【出願番号】P 2021057158
(22)【出願日】2021-03-30
(65)【公開番号】P2022154236
(43)【公開日】2022-10-13
【審査請求日】2024-02-27
(73)【特許権者】
【識別番号】000135184
【氏名又は名称】株式会社ニデック
(72)【発明者】
【氏名】余語 宏文
【審査官】渡戸 正義
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１８－１２４１８８（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０１５／００９４９７８（ＵＳ，Ａ１）
【文献】特開２０１５－０６８７７５（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１８－０６３１９３（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０１８／０１３５９６２（ＵＳ，Ａ１）
【文献】特開２０１６－００２３８１（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０１４／０２６８０３８（ＵＳ，Ａ１）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ａ６１Ｂ ３／００ － ３／１８
Ｇ０１Ｎ ２１／００
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
掃引周波数を第１の掃引周波数と、第２の掃引周波数と、の間で変更可能な波長掃引光源と、前記波長掃引光源からの光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
被検眼の組織に導かれた前記測定光と前記参照光とのスペクトル干渉信号を検出する第１の検出器と、を備えるＯＣＴ光学系と、
前記スペクトル干渉信号を演算処理して被検眼のＯＣＴデータを取得する画像処理器と、
前記第１の掃引周波数である場合に第１のＦＰＮを発生させ、前記第２の掃引周波数である場合に第１のＦＰＮに対してゼロディレイ位置から離れた位置に第２のＦＰＮを発生させる、少なくとも１つの光学部材、を有するＦＰＮ生成光学系と、
前記第１のＦＰＮと前記第２のＦＰＮとを含むＦＰＮを検出する第２の検出器と、
各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を取得する演算制御器であって、前記掃引周波数が第１の掃引周波数である場合に得られる前記スペクトル干渉信号への前記演算処理へ適用される第１の補正情報を、前記第１の掃引周波数の場合に検出される前記第１のＦＰＮに少なくとも基づいて取得し、前記掃引周波数が前記第１の掃引周波数よりも低い前記第２の掃引周波数である場合に得られる前記スペクトル干渉信号への演算処理へ適用される第２の補正情報を、前記掃引周波数が第２の掃引周波数の場合に生じる前記第２のＦＰＮに少なくとも基づいて取得する、演算制御器と、
を備えるＯＣＴ装置。
【請求項2】
前記ゼロディレイ位置に対応する位置と前記光学部材の位置との光学的距離を、前記第１のＦＰＮが前記光学部材によって発生する第１の距離と、前記第２のＦＰＮが前記光学部材によって発生する第２の距離と、の間で変更する駆動部を、更に備える、請求項１記載のＯＣＴ装置。
【請求項3】
前記ＦＰＮ生成光学系は、前記第１のＦＰＮを発生させる前記光学部材として第１の光学部材を有し、更に、前記第２のＦＰＮを発生させる前記光学部材として、前記第１の光学部材とは別体であり、前記ゼロディレイ位置に対応する位置からの光学的距離が、前記第１の光学部材の位置よりも離れて配置されている第２の光学部材を有する、請求項１記載のＯＣＴ装置。
【請求項4】
前記ＦＰＮ生成光学系は、前記第１のＦＰＮとはゼロディレイ位置からの距離が異なる第３のＦＰＮと、前記第２のＦＰＮとはゼロディレイ位置からの距離が異なる第４のＦＰＮと、を更に発生させ、前記演算制御器は、前記第１の補正情報を、前記第１の掃引周波数の場合にそれぞれ検出される前記第１のＦＰＮおよび前記第３のＦＰＮに基づいて取得し、
前記第２の補正情報を、前記第２の掃引周波数の場合にそれぞれ検出される前記第２のＦＰＮおよび前記第４のＦＰＮに基づいて取得する、請求項１から３のいずれかに記載のＯＣＴ装置。
【請求項5】
被検眼に対する前記測定光の照射を遮断する遮断部材を備え、前記演算制御器は、前記遮断部材が被検眼に対する前記測定光の照射を遮断した状態で前記第２の検出器によって検出される第１のＦＰＮおよび前記第２のＦＰＮに基づいて、第１の補正情報および第２の補正情報を取得する、請求項１～４のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項6】
ＯＣＴ装置において、被検眼の所定の範囲を撮影するための第１の撮影モードと、前記所定の範囲とは異なる範囲を撮影するための第２の撮影モードと、のいずれかが実行され、前記第１の撮影モードが実行される場合において、前記波長掃引光源は前記第１の掃引周波数で波長を掃引し、
前記第２の撮影モードが実行される場合において、前記波長掃引光源は前記第２の掃引周波数で波長を掃引することを特徴とする、請求項１～５いずれかのＯＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、被検眼のＯＣＴデータを得るＯＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、眼科分野では、ＳＳ－ＯＣＴ(Swept Source OCT)が活用されつつある。ＳＳ－ＯＣＴは、波長掃引光源をＯＣＴ光源として備え、被検眼の組織に導かれた測定光と参照光とのスペクトル干渉信号を、高速にサンプリングし、更に処理することによって、ＯＣＴデータを取得する。
【0003】
このような装置では、サンプリングで得られるスペクトル干渉信号と波数空間とのマッピング状態が、装置の経時変化や環境変化の影響を受け当初の状態から変異してしまう。これに対し、適宜、キャリブレーションが行われている。例えば、特許文献１には、ＦＰＮ（Fixed Pattern Noise）信号を発生させる光学部材を備えたＦＰＮ発生光学系を備え、ＦＰＮ信号を利用して波数成分に関してキャリブレーションを行う装置が開示されている。
【0004】
また、ＳＳ－ＯＣＴの技術分野では、波長掃引光源における掃引周波数を変更可能な装置が提案されている。例えば、特許文献２では、掃引周波数が変更されることで、深さ方向の撮影範囲を、被検眼の局所部位（前眼部または眼底）を撮影できる程度から、全眼球（角膜から眼底まで）を撮影する程度まで、大幅に変更できる装置が開示されている。また、掃引周波数が変更されることで、感度、および、Ａスキャンの撮像時間なども併せて変更されると考えられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【文献】特開２０１８－１２４１８８号公報
【文献】特開２０１２－７５６４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかしながら、特許文献１のように、一定の掃引周波数でのキャリブレーションに適したＦＰＮ生成光学系が、掃引周波数を変更可能な装置へ適用された場合、適切なＦＰＮ信号を取得できない場合があった。例えば、ゼロディレイ位置に対応する位置とＦＰＮを発生させる光学部材の位置との光学的距離を一定としつつ、掃引周波数を低減させた場合、ＦＰＮ信号をフーリエ変換した際に形成されるピークのエンベロープが、ゼロディレイ領域に入ってしまう場合がある。このような場合に、良好なキャリブレーションデータを取得できなくなる。
【0007】
本開示は、上記従来技術の問題点を鑑み、ＯＣＴデータを好適に取得できるＯＣＴ装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本開示の典型的な実施形態に係るＯＣＴ装置は、掃引周波数を第１の掃引周波数と、第２の掃引周波数と、の間で変更可能な波長掃引光源と、前記波長掃引光源からの光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、被検眼の組織に導かれた前記測定光と前記参照光とのスペクトル干渉信号を検出する第１の検出器と、を備えるＯＣＴ光学系と、前記スペクトル干渉信号を演算処理して被検眼のＯＣＴデータを取得する画像処理器と、前記第１の掃引周波数である場合に第１のＦＰＮを発生させ、前記第２の掃引周波数である場合に第１のＦＰＮに対してゼロディレイ位置から離れた位置に第２のＦＰＮを発生させる、少なくとも１つの光学部材、を有するＦＰＮ生成光学系と、前記第１のＦＰＮと前記第２のＦＰＮとを含むＦＰＮを検出する第２の検出器と、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を取得する演算制御器であって、前記掃引周波数が第１の掃引周波数である場合に得られる前記スペクトル干渉信号への前記演算処理へ適用される第１の補正情報を、前記第１の掃引周波数の場合に検出される前記第１のＦＰＮに少なくとも基づいて取得し、前記掃引周波数が前記第１の掃引周波数よりも低い前記第２の掃引周波数である場合に得られる前記スペクトル干渉信号への演算処理へ適用される第２の補正情報を、前記掃引周波数が第２の掃引周波数の場合に生じる前記第２のＦＰＮに少なくとも基づいて取得する、演算制御器と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【図1】本実施例に係るＯＣＴ装置の一例を示す図である。
【図2】キャリブレーションとして制御部の行う制御のフローチャート図である。
【図3】ＦＰＮ信号に基づいて求められる各波数成分のマッピング情報の一例である。
【図4】各波数成分の波数マッピング状態を、補正情報に基づいて補正することを説明する図である。
【図5】補正情報の取得の際に制御部が行う制御のフローチャート図である。
【図6】ＦＰＮ生成光学系の一例を示す図である。
【図7】ＦＰＮ生成光学系によって生成されるＦＰＮ信号について説明する図である。
【図8】掃引周波数によってＦＰＮ信号が検出される信号周波数が変化することを説明する図である。
【図9】波長掃引光源の掃引周波数が第２の掃引周波数である場合における、第２のＦＰＮ信号のフーリエ変換である。
【図10】補正情報の較正として制御部が行う制御のフローチャート図である。
【図11】較正された補正情報によって対応ズレが補正されることを説明する図である。
【図12】較正された補正情報によって対応ズレが補正されることを説明する図である。
【図13】較正光学系によって取得されるスペクトル干渉信号を説明する図である。
【図14】較正光学系によって取得される較正用干渉信号を説明する図である。
【図15】ＦＰＮ生成光学系の変容例を示す図である。
【図16】ＦＰＮ生成光学系及び参照光学系の変容例を示す図である。
【図17】ＦＰＮ生成光学系の変容例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
［概要］
本開示の実施形態を説明する。以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。例えば、ある実施形態において、複数の項目を適宜組み合わせることができる。また、例えば、ある実施形態に関して記載された項目を、他の実施形態に対して適用できる。
本開示の実施形態を説明する。以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。例えば、ある実施形態において、複数の項目を適宜組み合わせることができる。また、例えば、ある実施形態に関して記載された項目を、他の実施形態に対して適用できる。
【0011】
例えば、第１実施形態に記載の発明と、第２実施形態に記載の発明は、同時に実施されてもよい。また、第１実施形態に記載の発明と、第２実施形態に記載の発明は、いずれか一方が実施されてもよい。
【0012】
＜第１実施形態＞
第１実施形態に係るＯＣＴ装置は、掃引周波数を複数に変更可能な装置において、それぞれの掃引周波数に対応するキャリブレーションデータが適正に取得される。
第１実施形態に係るＯＣＴ装置は、掃引周波数を複数に変更可能な装置において、それぞれの掃引周波数に対応するキャリブレーションデータが適正に取得される。
【0013】
第１実施形態に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光学系を備え、ＯＣＴ光学系の第１の検出器から出力されるスペクトル干渉信号を画像処理器で演算処理してＯＣＴデータを取得可能であってもよい。
【0014】
＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系は、例えば、フーリエドメインＯＣＴ光学系であってもよい。例えば、ＯＣＴ装置は、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ－ＯＣＴ：Swept Source OCT）であってもよい。
ＯＣＴ光学系は、例えば、フーリエドメインＯＣＴ光学系であってもよい。例えば、ＯＣＴ装置は、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ－ＯＣＴ：Swept Source OCT）であってもよい。
【0015】
ＯＣＴ光学系は、波長掃引光源から出射される光を光分割器によって測定光と参照光に分割してもよい。また、ＯＣＴ光学系は、被検眼からの測定光の反射光と、参照光とのスペクトル干渉信号を、第１の検出器によって検出してもよい。
【0016】
例えば、波長掃引光源は、掃引周波数を第１の掃引周波数と、第１の掃引周波数よりも低い第２の掃引周波数と、の間で変更可能な波長掃引光源であってもよい。本実施例において、掃引周波数とは単位時間あたりに掃引が行われる回数を示す。例えば、第１の掃引周波数と第２の掃引周波数との間で変更されることで、ＯＣＴ装置の深さ方向に関する撮影範囲が変更されてもよい。例えば、第１の掃引周波数は、被検眼の眼底の断層画像を取得するための掃引周波数であり、第２の掃引周波数は、被検眼の全眼球の断層画像を取得するための掃引周波数であってもよい。また、掃引周波数が第１の掃引周波数と第２の掃引周波数との間で変更されることで、撮影時間や測定の感度が変更されてもよい。例えば、ＯＣＴ装置は、第１の掃引周波数で撮影する第１の撮影モードと、第２の掃引周波数で撮影する第２の撮影モードとに選択的に設定されても良い。
【0017】
＜ＦＰＮ生成光学系＞
ＯＣＴ装置において、ＦＰＮ生成光学系が備えられる。ＦＰＮ生成光学系は、例えば、第１のＦＰＮと第２のＦＰＮと、を発生させるための光学部材と、第１のＦＰＮの信号と第２のＦＰＮの信号を検出可能な第２の検出器と、を備える光学系であってもよい。なお、第１実施形態において、掃引周波数が同条件の場合において、第２のＦＰＮが発生する位置は、第１のＦＰＮの位置よりもゼロディレイ位置から離れた位置である。なお本実施例において、ゼロディレイ位置とは、ＯＣＴ画像における、測定光と参照光との光路長が一致する深さ位置である。
ＯＣＴ装置において、ＦＰＮ生成光学系が備えられる。ＦＰＮ生成光学系は、例えば、第１のＦＰＮと第２のＦＰＮと、を発生させるための光学部材と、第１のＦＰＮの信号と第２のＦＰＮの信号を検出可能な第２の検出器と、を備える光学系であってもよい。なお、第１実施形態において、掃引周波数が同条件の場合において、第２のＦＰＮが発生する位置は、第１のＦＰＮの位置よりもゼロディレイ位置から離れた位置である。なお本実施例において、ゼロディレイ位置とは、ＯＣＴ画像における、測定光と参照光との光路長が一致する深さ位置である。
【0018】
また、ＦＰＮ生成光学系とＯＣＴ光学系との間で一部の構成が兼用される。例えば、ＦＰＮ生成光学系の第２の検出器は、ＯＣＴ光学系の第１の検出器と兼用される。つまりＦＰＮ生成光学系は、光源からの光をＦＰＮ発生用の光学部材へ導くと共に、光学部材を介した光を第１の検出器に導く。
【0019】
ＯＣＴ装置において、ゼロディレイ位置に対応する位置と、光学部材の位置と、の間の光学的距離を変更する駆動部が備えられてもよい。本実施例においてゼロディレイ位置に対応する位置は、光学部材を配置した場合に、光源から光学部材を介して検出器に入射するまでの光路長と、参照光路の光路長が一致する位置である。すなわち、ゼロディレイに対応する位置とは、光学部材を配置した場合に、ゼロディレイ位置にＦＰＮが生成される位置である。なお、本実施例において、ゼロディレイ位置に対応する位置を原点位置と称する。
【0020】
例えば、駆動部は、ＦＰＮ生成光学系の光路長、又は参照光路の光路長を変更することで光学的距離を変更する。例えば、駆動部は光学的距離を、第１のＦＰＮが発生する第１の距離と、第２のＦＰＮが発生する第２の距離と、の間で変更してもよい。例えば、駆動部は光学的距離を、波長掃引光源が第１の掃引周波数の場合に第１の距離に変更し、第２の掃引周波数の場合に第２の距離に変更してもよい。
【0021】
また、ＦＰＮ生成光学系において、例えば、第１のＦＰＮを発生させるための第１の光学部材が備えられている。また、ＦＰＮ生成光学系において、例えば、第２のＦＰＮを発生させるための第２の光学部材が備えられている。例えば、第１の光学部材と第２の光学部材は兼用される。
【0022】
例えば、第１の光学部材と第２の光学部材は別体であってもよい。その場合、原点位置から第１の光学部材までの光学的距離よりも、原点位置から第２の光学部材までの光学的距離が長くなるように、第１の光学部材と第２の光学部材は配置されてもよい。
【0023】
＜マッピング状態の補正＞
ＯＣＴ装置において、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を得る演算制御器が備えられてもよい。演算制御器は、第１のＦＰＮに基づいて第１の補正情報を取得しても良い。例えば、演算制御器は、第１の掃引周波数の場合において、第１の補正情報を用いて、スペクトル干渉信号に対して演算処理を行う。これにより、第１の掃引周波数の場合において、各波数成分のマッピング状態が補正される。例えば、サンプリングポイントと光の波数（２π／λ、λは光の波長）との対応関係が線形となるように、各波数成分のマッピング状態が補正される（図４参照）。
ＯＣＴ装置において、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を得る演算制御器が備えられてもよい。演算制御器は、第１のＦＰＮに基づいて第１の補正情報を取得しても良い。例えば、演算制御器は、第１の掃引周波数の場合において、第１の補正情報を用いて、スペクトル干渉信号に対して演算処理を行う。これにより、第１の掃引周波数の場合において、各波数成分のマッピング状態が補正される。例えば、サンプリングポイントと光の波数（２π／λ、λは光の波長）との対応関係が線形となるように、各波数成分のマッピング状態が補正される（図４参照）。
【0024】
同様に、演算制御器は、第２のＦＰＮに基づいて第２の補正情報を取得しても良い。また、演算制御器は、第２の掃引周波数の場合において、第２の補正情報を用いて、スペクトル干渉信号に対して演算処理を行う。これにより、第２の掃引周波数の場合において、各波数成分のマッピング状態が補正される。
【0025】
例えば、演算制御器は、被検眼のＯＣＴデータを取得するよりも前に、補正情報を予め取得してもよい。
【0026】
更に、例えば、ＦＰＮ生成光学系は、波長掃引光源が第１の掃引周波数の場合に、第３のＦＰＮを生成してもよく、波長掃引光源が第２の掃引周波数の場合に第４のＦＰＮを生成してもよい。例えば、掃引周波数を同条件として第１のＦＰＮの位置と、第３のＦＰＮの位置とを比較した時に、第１のＦＰＮの位置と第３のＦＰＮの位置が異なるように、第３のＦＰＮは生成されてもよい。また、第２のＦＰＮと第４のＦＰＮの関係についても同様である。
【0027】
この場合、例えば、演算制御器は、第１の補正情報を第１のＦＰＮに基づく各波数成分のマッピング情報と、第３のＦＰＮに基づく各波数成分のマッピング情報と、の差分情報に基づいて取得してもよい。また、第２の補正情報を第２のＦＰＮに基づく各波数成分のマッピング情報と、第４のＦＰＮに基づく各波数成分のマッピング情報と、の差分情報に基づいて取得してもよい。これによれば、各波数成分のマッピング状態に含まれる分散成分を補正することができる（図３参照）。
【0028】
また、演算制御器は、測定光が遮断された状態で補正情報を取得してもよい。この場合、例えば、ＯＣＴ光学系には測定光を遮断するための遮断部材が挿脱可能に備えられてもよい。例えば、演算制御器は、遮断部材がＯＣＴ光学系に挿入された状態で、第２の検出器が検出した第１のＦＰＮに基づいて、第１の補正情報を取得する。同様に、例えば、演算制御器は、遮断部材がＯＣＴ光学系に挿入された状態で、第２の検出器が検出した第２のＦＰＮに基づいて、第２の補正情報を取得する。
【0029】
上記構成によれば、例えば、波長掃引光源が掃引周波数を変えた場合であっても、ＦＰＮが検出される信号周波数を変更することで、適正にＦＰＮ信号を取得することができる。例えば、本実施例において、検出器と演算制御器との間には、演算制御器の保護のためにＤＣ成分をカットする電気的なフィルタが設けられている。本実施例では、この電気的なフィルタによってカットされる周波数の領域を、ゼロディレイ領域と称する。例えば、本実施例において、フーリエ変換した際に形成されるピークのエンベロープが、ゼロディレイ領域に入らないような信号周波数でＦＰＮを生成することができる。
【0030】
このため、生成されたＦＰＮを用いて良好に補正情報を取得することができる。よって、好適にＯＣＴデータを取得できる。
【0031】
更に、例えばＦＰＮ生成光学系は光強度調節器を備えていてもよい。例えば、光強度調節器は、ＦＰＮ生成光学系から出射される光の強度を、波長掃引光源の掃引周波数に基づいて調整する。例えば、光強度調節器はＦＰＮ信号が第１の検出器のダイナミックレンジ内に収まるように、光の強度を調整する。これによれば、掃引周波数が変更されて波長掃引光源からの光の強度が変化した場合でも、第１の検出器は適切にＦＰＮ信号を検出できる。
【0032】
＜第２実施形態＞
第２実施形態に係るＯＣＴ装置は、波長掃引光源が波長掃引するときの、時間と波数との対応ズレが適切に補正される。
第２実施形態に係るＯＣＴ装置は、波長掃引光源が波長掃引するときの、時間と波数との対応ズレが適切に補正される。
【0033】
第２実施形態に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光学系を備える。第１実施形態で説明したＯＣＴ光学系が、第２実施形態でも援用される。
【0034】
＜演算制御器＞
ＯＣＴ装置は、検出したスペクトル干渉信号を演算処理して被検眼のＯＣＴデータを取得する演算制御器を備えてもよい。また、演算制御器は、波長掃引光源から射出される光について、時間と波数との対応のズレ（以下、対応ズレ）を補正してもよい。例えば、対応ズレを補正することによって、各波数成分のマッピング状態のグラフの傾きが補正される（図１２（ａ）参照）。また、対応ズレを補正することによって、各波数成分のマッピング状態のグラフのシフト（平行移動）が補正される（図１２（ｂ）参照）。
ＯＣＴ装置は、検出したスペクトル干渉信号を演算処理して被検眼のＯＣＴデータを取得する演算制御器を備えてもよい。また、演算制御器は、波長掃引光源から射出される光について、時間と波数との対応のズレ（以下、対応ズレ）を補正してもよい。例えば、対応ズレを補正することによって、各波数成分のマッピング状態のグラフの傾きが補正される（図１２（ａ）参照）。また、対応ズレを補正することによって、各波数成分のマッピング状態のグラフのシフト（平行移動）が補正される（図１２（ｂ）参照）。
【0035】
＜較正光学系＞
ＯＣＴ装置は、対応ズレを補正するための較正光学系が備えられてもよい。較正光学系は、波長掃引光源の掃引範囲に含まれる光のうち、所定の波長の光を抽出する、波長選択的な波長抽出部材を有する。例えば、較正光学系は、波長掃引光源が掃引する光から所定の波長の光を、波長抽出部材を介することで検出する。
ＯＣＴ装置は、対応ズレを補正するための較正光学系が備えられてもよい。較正光学系は、波長掃引光源の掃引範囲に含まれる光のうち、所定の波長の光を抽出する、波長選択的な波長抽出部材を有する。例えば、較正光学系は、波長掃引光源が掃引する光から所定の波長の光を、波長抽出部材を介することで検出する。
【0036】
例えば、波長選択的な波長抽出部材は、較正光学系に挿脱可能に備えられていてもよい。例えば、本実施例において、波長抽出部材が較正光学系に挿入された状態で演算制御器によって検出されるスペクトル干渉信号を較正用干渉信号とする。演算制御器は、較正用干渉信号における所定の波長の検出タイミングに基づいて対応ズレを補正してもよい。
【0037】
なお、対応ズレを補正するために補正用干渉信号を取得するとき以外は、波長抽出部材は光軸に対して退避される。
【0038】
例えば、ＯＣＴ装置は、測定光を被検眼へ導光する導光光学系が備えられてもよい。
【0039】
例えば、ＦＰＮ生成光学系と、導光光学系と、の少なくとも一方と、較正光学系と、は光学系を一部兼用してもよい。その場合、ＦＰＮ生成光学系と導光光学系の少なくとも一方には、波長抽出部材が備えられる。
【0040】
例えば、較正光学系は、対応ズレを補正するために用いる較正用干渉信号を取得する。例えば、較正用干渉信号は、波長掃引光源が掃引を開始してから終了するまで検出器によって取得される、波長抽出部材を介した波長掃引光源からの光と参照光とによる、スペクトル干渉信号である。例えば、較正用干渉信号において、波長掃引光源が所定の波長の光を出射したタイミングと対応するサンプリングポイントに、所定の波長の光と、参照光と、によるスペクトル干渉信号が生じる。なお、例えば、較正光学系とＯＣＴ光学系との部材は一部兼用されてもよい。例えば、較正光学系に備えられた検出器と、ＯＣＴ光学系に備えられた検出器とが兼用されてもよい。その場合、較正光学系は、波長抽出部材を介した所定の波長の光を、ＯＣＴ光学系の前記検出器へ導く。
【0041】
＜対応ズレの除去（較正）＞
本実施例では、較正用干渉信号における、所定の波長の光と、参照光とによるスペクトル干渉信号が検出されるサンプリングポイントを、検出タイミングと称する。例えば、演算制御器は、較正用干渉信号を処理して検出タイミングを取得する。例えば、演算制御器は、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を、検出タイミングに基づいて較正する。例えば、演算制御器は、較正された補正情報を用いて演算処理を行って各波数成分のマッピング状態を補正することで、各波数成分のマッピング状態に含まれる対応ズレを補正する。なお、本開示において、補正情報を較正するための演算処理を較正処理と称する。
本実施例では、較正用干渉信号における、所定の波長の光と、参照光とによるスペクトル干渉信号が検出されるサンプリングポイントを、検出タイミングと称する。例えば、演算制御器は、較正用干渉信号を処理して検出タイミングを取得する。例えば、演算制御器は、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を、検出タイミングに基づいて較正する。例えば、演算制御器は、較正された補正情報を用いて演算処理を行って各波数成分のマッピング状態を補正することで、各波数成分のマッピング状態に含まれる対応ズレを補正する。なお、本開示において、補正情報を較正するための演算処理を較正処理と称する。
【0042】
例えば、較正光学系に備えられた、所定の波長の光を抽出する波長抽出部材は、所定の第１の波長の光と、第１の波長とは異なる第２の波長の光と、を抽出できる波長抽出部材であってもよい。この場合、演算制御器は、第１の波長の光が検出された検出タイミングと、第２の波長の光が検出された検出タイミングと、を用いて、補正情報を較正してもよい。これによれば、各波数成分のマッピング状態の補正が行われる場合に、対応ズレが補正されるように補正情報を較正できる。
【0043】
なお、例えば、補正情報の較正は、被検眼のＯＣＴデータを取得する前に行われてもよい。この場合、被検眼のＯＣＴデータが取得されるよりも前に、ＦＰＮに基づく補正情報の取得と、検出タイミングに基づく補正情報の較正が行われてもよい。
【0044】
例えば、ＯＣＴ装置は、測定光が通過する測定光路と、参照光が通過する参照光路と、の光路長差を所定の第１の光路長差と第２の光路長差との間で変更する変更手段を備えてもよい。
【0045】
例えば、変更手段はＦＰＮ生成光学系の光路長を変更してもよい。また、変更手段は、参照光学系の光路長を変更してもよい。例えば、変更手段は、ＦＰＮ生成光学系の光路長と、参照光学系の光路長のうち、少なくとも一方の光路長を変更することで、光路長差を変更する。
【0046】
例えば、演算制御器は、光路長差が第１の光路長差の場合の所定の波長の検出タイミングと、光路長差が第２の光路長差の場合の所定の波長の検出タイミングと、に基づいて対応ズレを補正してもよい。例えば、演算制御器は、光路長差が第１の光路長差の場合において取得される干渉信号と、光路長差が第２の光路長差の場合において取得される干渉信号と、を加算する。これによれば、所定の波長の検出タイミングに生じるスペクトル干渉信号の信号強度が増加する。このため、演算制御器は、より正確に所定の波長の検出タイミングを取得できる。
【0047】
すなわち、演算制御器は、光路長差が第１光路長差のときに検出器が検出する較正用干渉信号と、光路長差が第２光路長差のときに検出器が検出する較正用干渉信号と、を用いて較正処理を行うことで、対応ズレを補正してもよい。
【0048】
上記構成によれば、例えば、波長掃引光源の光について、時間と波数との対応のズレを適切に補正することができるため、好適に被検眼のＯＣＴデータを取得することができる。
【0049】
【0050】
＜ＯＣＴ光学系＞
本実施例では、ＯＣＴ装置１として、図１に示される光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）装置が用いられる。本実施例に係るＯＣＴ装置１は、例えば、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ－ＯＣＴ：ＳＷＥＰＴ Ｓｏｕｒｃｅ－ＯＣＴ）を基本的構成とし、波長掃引光源１０２、ＯＣＴ光学系１００、演算制御器（演算制御部、以下制御部）７０、を含む。その他、ＯＣＴ装置１には、メモリ７２、表示部７５、図示無き正面像観察系及び固視標投影系が備えられる。制御部７０は、波長掃引光源１０２、ＯＣＴ光学系１００、メモリ７２、表示部７５に接続されている。
本実施例では、ＯＣＴ装置１として、図１に示される光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）装置が用いられる。本実施例に係るＯＣＴ装置１は、例えば、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ－ＯＣＴ：ＳＷＥＰＴ Ｓｏｕｒｃｅ－ＯＣＴ）を基本的構成とし、波長掃引光源１０２、ＯＣＴ光学系１００、演算制御器（演算制御部、以下制御部）７０、を含む。その他、ＯＣＴ装置１には、メモリ７２、表示部７５、図示無き正面像観察系及び固視標投影系が備えられる。制御部７０は、波長掃引光源１０２、ＯＣＴ光学系１００、メモリ７２、表示部７５に接続されている。
【0051】
ＯＣＴ光学系１００は、導光光学系１５０によって測定光を被検眼Ｅに導く。ＯＣＴ光学系１００は、参照光学系１１０に参照光を導く。ＯＣＴ光学系１００は、被検眼Ｅによって反射された測定光と参照光との干渉、によって取得される干渉信号光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。さらに、本実施例のＯＣＴ光学系１００は、ＦＰＮ生成光学系２００を備える（詳細は後述する）。また、ＯＣＴ光学系１００は、較正光学系３００を備える（詳細は後述する）。なお、本実施例において、ＦＰＮ生成光学系２００と較正光学系３００は兼用される。なお、ＯＣＴ光学系１００は、図示無き筐体（装置本体）内に搭載され、ジョイスティック等の操作部材を介して周知のアライメント移動機構により被検眼Ｅに対して筐体を３次元的に移動させることによって被検眼Ｅに対するアライメントが行われてもよい。
【0052】
ＯＣＴ光学系１００には、ＳＳ－ＯＣＴ方式が用いられ、波長掃引光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）が用いられる。波長掃引光源１０２は、例えば、レーザ媒体、共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタが挙げられる。
【0053】
また、本実施例において、波長掃引光源１０２は、掃引周波数を変更できる。本実施例において、掃引周波数とは単位時間あたりに掃引が行われる回数を示す。例えば、波長掃引光源１０２は、所定の第１の掃引周波数Ｈ１（例えば、２００ｋＨｚ）と、所定の第２の掃引周波数Ｈ２（例えば、２５ｋＨｚ）との間で掃引周波数を変更できる。なお、変更可能な掃引周波数の数は２つに限定されない。
【0054】
例えば、波長掃引光源１０２の掃引周波数が変更されることで、ＯＣＴ装置１の撮影範囲が深さ方向に関して変更される。
【0055】
カップラ（スプリッタ）１０４は、光分割器として用いられ、波長掃引光源１０２から出射された光を測定光路と参照光路に分割する。カップラ１０４は、例えば、波長掃引光源１０２からの光を測定光路側の光ファイバ１０５に導光すると共に、参照光路側の参照光学系１１０に導光する。
【0056】
カップラ（スプリッタ）１３０は、光ファイバ１０５からの光（測定光）を、導光光学系１５０の光路とＦＰＮ生成光学系２００の光路に分割する。つまり、測定光路には、導光光学系１５０とＦＰＮ生成光学系２００が備えられている。カップラ（スプリッタ）１３０は、ビームスプリッタであってもよいし、サーキュレータであってもよい。
【0057】
＜導光光学系＞
導光光学系１５０は、測定光を被検眼Ｅに導くために備えられる。導光光学系１５０には、例えば、光ファイバ１５２、カップラ１５３、コリメータレンズ１５４、光スキャナ１５６、及び対物レンズ系１５８が順次備えられてもよい。この場合、測定光は、光ファイバ１５２、カップラ１５３を介して、コリメータレンズ１５４によって平行ビームとなり、光スキャナ１５６に向かう。光スキャナ１５６を通過した光は、対物レンズ系１５８を介して、被検眼Ｅに照射される。測定光は、前眼部及び後眼部の両方に照射され、各組織にて散乱・反射される。
導光光学系１５０は、測定光を被検眼Ｅに導くために備えられる。導光光学系１５０には、例えば、光ファイバ１５２、カップラ１５３、コリメータレンズ１５４、光スキャナ１５６、及び対物レンズ系１５８が順次備えられてもよい。この場合、測定光は、光ファイバ１５２、カップラ１５３を介して、コリメータレンズ１５４によって平行ビームとなり、光スキャナ１５６に向かう。光スキャナ１５６を通過した光は、対物レンズ系１５８を介して、被検眼Ｅに照射される。測定光は、前眼部及び後眼部の両方に照射され、各組織にて散乱・反射される。
【0058】
光スキャナ１５６は、被検眼Ｅ上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させてもよい。光スキャナ１５６は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構によって任意に調整される。波長掃引光源１０２から出射された光束は、その反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。光スキャナ１５６としては、例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられてもよい。
【0059】
この場合、測定光による被検眼Ｅからの散乱光（反射光）は、対物レンズ系１５８、光スキャナ１５６、コリメータレンズ１５４、カップラ１５３、光ファイバ１５２～カップラ１３０、光ファイバ１１２を経て、カップラ３５０に達する。散乱光は、カップラ３５０にて参照光と合波されて干渉する。
【0060】
また、例えば、導光光学系１５０は、シャッター１５１が光軸に対して挿脱可能に備えられてもよい。例えば、シャッター１５１は、後述する補正情報が取得される際に光軸に対して挿入される。
【0061】
なお、シャッター１５１は、導光光学系１５０由来の光を遮断するための遮断部材の一例であり、これに限定されない。例えば、遮断手段として、光吸収部材が備えられていてもよい。その場合、例えば、制御部７０が光スキャナ１５６を制御し、導光光学系１５０に入射した光（又は、被検眼からの戻り光）を光吸収部材に導くことで、導光光学系１５０由来の光を遮断できる。
【0062】
＜参照光学系＞
参照光学系１１０は、被検眼Ｅでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０を経由した参照光は、カップラ３５０にて測定光路からの光と合波されて干渉する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。
参照光学系１１０は、被検眼Ｅでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０を経由した参照光は、カップラ３５０にて測定光路からの光と合波されて干渉する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。
【0063】
なお、測定光路と参照光路の少なくともいずれかには、測定光と参照光との光路長差を調整するための光学部材が配置されてもよい。例えば、コリメータレンズ１５４とカップラ１５３とが一体的に移動されることで、測定光の光路長が調整され、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。もちろん、参照光路に配置された光学部材が移動されることによって、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。
【0064】
＜検出器＞
検出器１２０は、測定光路からの光と参照光路からの光による干渉を検出するために備えられている。検出器１２０としては、平衡検出を行ってもよい。この場合、検出器１２０は、複数の受光素子を備え、第１受光素子からの干渉信号と第２受光素子からの干渉信号との差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減する。各受光素子は、受光部が一つのみからなるポイントセンサであって、例えば、アバランシェ・フォト・ダイオードが用いられる。
検出器１２０は、測定光路からの光と参照光路からの光による干渉を検出するために備えられている。検出器１２０としては、平衡検出を行ってもよい。この場合、検出器１２０は、複数の受光素子を備え、第１受光素子からの干渉信号と第２受光素子からの干渉信号との差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減する。各受光素子は、受光部が一つのみからなるポイントセンサであって、例えば、アバランシェ・フォト・ダイオードが用いられる。
【0065】
＜ＦＰＮ生成光学系＞
ＦＰＮ生成光学系２００は、ＦＰＮ信号を生成する。ＦＰＮ信号は、各波数成分のマッピング情報を補正するために利用される。本実施例では、ＦＰＮ生成光学系によって、第１のＦＰＮ信号、第２のＦＰＮ信号、第３のＦＰＮ信号及び第４のＦＰＮ信号が生成される。
ＦＰＮ生成光学系２００は、ＦＰＮ信号を生成する。ＦＰＮ信号は、各波数成分のマッピング情報を補正するために利用される。本実施例では、ＦＰＮ生成光学系によって、第１のＦＰＮ信号、第２のＦＰＮ信号、第３のＦＰＮ信号及び第４のＦＰＮ信号が生成される。
【0066】
図１に示すように、本実施例において、ＦＰＮ生成光学系２００は、カップラ（スプリッタ）１３０から、導光光学系１５０と分岐した位置に配置されている。
【0067】
例えば、ＦＰＮ生成光学系２００は、ＦＰＮを発生させるためのＦＰＮ生成部材２０４と、ＦＰＮ生成部材２０４の位置を光軸方向に移動させる駆動部２０５と、ＦＰＮを検出する検出器１２１とを備える。なお、ＦＰＮ生成部材２０４は、ＦＰＮを発生させるための光学部材であり、例えば金ミラーである。また、ＦＰＮを検出する検出器１２１は、ＯＣＴ光学系１００に備えられた検出器１２０と兼用される。
【0068】
例えば、ＦＰＮ生成光学系２００に入射し、ＦＰＮ生成部材２０４を経由した光が参照光と干渉することで、ＦＰＮ信号が生成される。生成されたＦＰＮ信号は検出器１２０によって検出される。また、後述する制御部７０（画像処理器を兼ねる）はＦＰＮ信号に基づいてＯＣＴ画像上にＦＰＮを生成する。
【0069】
例えば、本実施例において、ＦＰＮ生成光学系２００は、ＯＣＴ画像上においてＦＰＮが生成される深さ方向の位置を変更することができる。
【0070】
例えば、駆動部２０５は、ＦＰＮ生成部材２０４を光軸と平行方向に移動する。これにより、原点位置Ｐ０から、ＦＰＮ生成部材２０４までの光学的距離が変更される。なお、原点位置Ｐ０とは、本実施例において、ＦＰＮ生成部材２０４を配置した場合にＯＣＴ画像上におけるゼロディレイ位置にＦＰＮが生成される、光学系上の位置のことである。
【0071】
駆動部２０５がＦＰＮ生成部材２０４の位置を変更することによって、ＦＰＮ生成光学系２００の光路長が変更されるため、参照光学系１１０とＦＰＮ生成光学２００との光路長差が変更される。ＦＰＮがＯＣＴ画像上に生成される深さ方向の位置は、参照光路とＦＰＮ生成光学系の光路長差によって変化する。このことから、駆動部２０５は、ＦＰＮ生成部材２０４の位置を変更することで、ＦＰＮが生成される深さ方向の位置を変更できる。
【0072】
なお、後述の［変容例］（図１５参照）と比較して、ＦＰＮ生成光学系２００について、光路を分割せずに光路長を変更できることから、それぞれのＦＰＮ信号が強く、検出が容易である可能性がある。また、複数のＦＰＮ信号が同時にＯＣＴ画像上に生じないため、制御部７０が行う演算処理が容易である可能性がある。
【0073】
例えば、本実施例においてＦＰＮ生成光学系２００によって、少なくとも４つの異なる深さ位置にＦＰＮ信号を生成することができる。なお、ＦＰＮ信号は、後述する各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を取得する場合に用いられる。
【0074】
＜較正光学系＞
本実施例において、較正光学系３００は、波長掃引光源１０２の波長と時間との対応のズレを補正するために用いられる。なお、本実施例において、波長掃引光源１０２の波数と時間との対応のズレを対応ズレと称する。
本実施例において、較正光学系３００は、波長掃引光源１０２の波長と時間との対応のズレを補正するために用いられる。なお、本実施例において、波長掃引光源１０２の波数と時間との対応のズレを対応ズレと称する。
【0075】
図１に示すように、例えば、較正光学系３００は、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２を光軸に対して挿脱可能に備える。なお、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は、波長掃引光源１０２の掃引範囲に含まれる所定の波長の光を抽出する、波長選択的な波長抽出部材の一例である。
【0076】
例えば、バンドパスフィルタ３０１は、前述の所定の波長を含む波長帯域の光を通過させる。例えば、ノッチフィルタ３０２は、バンドパスフィルタ３０１が通過させる波長帯域のうちの一部の波長帯域の光を減衰させる。例えば、ノッチフィルタ３０２によって、バンドパスフィルタ３０１を通過した光のうち、所定の波長の光を除く波長の光が減衰される。よって、バンドパスフィルタ３０１とノッチフィルタ３０２を組み合わせて用いることにより、所定の波長の光が選択的に抽出される。
【0077】
また、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は、所定の波長の光を抽出するための波長抽出部材の一例であり、これに限定されない。例えば、所定の波長の光を抽出するための波長抽出部材として、ファイバブラッググレーティングを用いることでも、同様の効果が得られる。なお、その場合、ファイバブラッググレーティングが備えられた光路と、備えられていない光路とが切り替えられることで、所定の波長の光が抽出されるか否かが切り替えられる。
【0078】
例えば、本実施例において、波長掃引光源１０２が掃引を行った場合に、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２によって、所定の第１の波長の光と、第１の波長の光とは異なる第２の波長の光と、が抽出される。
【0079】
例えば、本実施例において、ＦＰＮ生成光学系２００と較正光学系３００は兼用される。これに代えて、較正光学系３００は導光光学系１５０と兼用されてもよく、その場合、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は導光光学系１５０に挿脱可能に備えられる。
【0080】
例えば、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は、後述する較正用干渉信号を取得する際に光軸に対して挿入される。例えば、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は、較正用干渉信号を取得する際以外は光軸に対して退避されている。
【0081】
なお、較正光学系３００は、他の光学系と独立した光路に備えられてもよい。その場合、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は必ずしも挿脱可能に備えられる必要はない。
【0082】
＜制御部＞
図１に示すように、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備えてもよい。例えば、制御部７０のＣＰＵは、ＯＣＴ装置１の制御を司ってもよい。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、ＯＣＴ装置１の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されてもよい。
図１に示すように、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備えてもよい。例えば、制御部７０のＣＰＵは、ＯＣＴ装置１の制御を司ってもよい。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、ＯＣＴ装置１の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されてもよい。
【0083】
制御部７０には、不揮発性メモリ（以下、メモリに省略する）７２、表示部７５等が電気的に接続されてもよい。メモリ７２には、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体が用いられてもよい。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および、ＯＣＴ装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等をメモリ７２として使用することができる。メモリ７２には、ＯＣＴデータの取得及びＯＣＴ画像の撮影を制御するための制御プログラムが記憶されてもよい。また、メモリ７２には、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像の他、撮影に関する各種情報が記憶されてもよい。表示部７５は、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像を表示してもよい。
【0084】
例えば、制御部７０は、ＦＰＮ生成光学系２００に備えられた駆動部２０５を駆動し、ＦＰＮ生成部材２０４の位置を制御してもよい。
【0085】
例えば、制御部７０は、波長掃引光源１０２と接続されていてもよい。例えば、制御部７０は、波長掃引光源１０２の掃引周波数を、第１の掃引周波数Ｈ１と、第２の掃引周波数Ｈ２との間で変更してもよい。
【0086】
例えば、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１のとき、被検眼Ｅの眼底の断層画像が撮影される。例えば、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２のとき、被検眼Ｅの全眼球の断層画像が撮影される。なお、掃引周波数に応じて深さ方向の撮影範囲を変更する方法については、特開２０１２－７５６４０号公報に記載の方法を用いることができる。
【0087】
例えば、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１で撮影するモードを第１の撮影モード、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２で撮影するモードを第２の撮影モード、としてもよい。その場合、制御部７０は撮影モードを選択する選択手段を兼ねてもよい。例えば、操作者が図示なき入力手段（例えば、スイッチ）を介して制御部７０に入力した信号に基づいて、制御部７０は撮影モードを選択してもよい。
【0088】
なお、撮影モードとは、掃引周波数ごとに撮影範囲が変更されるモードに限らない。例えば、波長掃引光源１０２の掃引周波数が変更されることで、撮影時間や、撮影の感度が変更される場合がある。例えば、撮影モードは、標準の感度で撮影を行う第１の撮影モードと、第１の撮影モードよりも高感度で撮影を行う第２の撮影モードであってもよい。例えば、撮影モードは、標準の時間で撮影を行う第１の撮影モードと、第１の撮影モードよりも短時間で撮影を行う第２の撮影モードであってもよい。
【0089】
また、制御部７０は、シャッター１５１の挿脱を制御してもよい。さらにまた、制御部７０は、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２の挿脱を制御してもよい。
【0090】
また、制御部７０は、検出器１２０が検出するスペクトル干渉信号を演算処理して、ＯＣＴデータを取得し、ＯＣＴ画像を生成する画像処理器として用いられてもよい。
【0091】
例えば制御部７０は、ＯＣＴデータ上のＦＰＮ信号に基づいて補正情報を求める演算制御器を兼ねてもよい（詳細は［動作］で説明する）。その場合、メモリ７２には、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を得る演算処理プログラムが記憶されてもよい。
【0092】
また、例えば、制御部７０は、較正用干渉信号に基づいて、補正情報を較正する演算制御器を兼ねてもよい（詳細は［動作］で説明する）。その場合、メモリ７２には、補正情報を較正するための較正処理プログラムが記憶されてもよい。
【0093】
［動作］
以上のような構成を備えるＯＣＴ装置１は、各波数成分のマッピング状態と、対応ズレとを補正するために、キャリブレーションを行う。例えば、キャリブレーションが行われる場合の制御部７０の制御を、図２を用いて説明する。なお、図２はキャリブレーションが行われる場合における制御部７０の行う制御のフローチャート図である。
以上のような構成を備えるＯＣＴ装置１は、各波数成分のマッピング状態と、対応ズレとを補正するために、キャリブレーションを行う。例えば、キャリブレーションが行われる場合の制御部７０の制御を、図２を用いて説明する。なお、図２はキャリブレーションが行われる場合における制御部７０の行う制御のフローチャート図である。
【0094】
本実施例において、キャリブレーションとして、ＦＰＮを用いた補正情報の取得（ステップＳ１１０）と、較正用干渉信号を用いた補正情報の較正（ステップＳ１２０）が行われる。
【0095】
例えば、キャリブレーションは被検眼ＥのＯＣＴデータが取得されるよりも前に実行される。その場合、キャリブレーションによって得られる後述の補正情報は、メモリ７２に保持されてもよい。これによれば、撮影の際にキャリブレーションを行う時間を省くことができるため、より短時間で補正されたＯＣＴデータを取得できる。
【0096】
以下に、本実施例におけるキャリブレーションの詳細について説明する。
【0097】
＜Ｓ１１０：補正情報の取得＞
本実施例において、制御部７０は、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成されたＦＰＮに基づいて取得する。例えば、キャリブレーション後に被検眼ＥのＯＣＴデータを得る場合において、補正情報を用いて演算処理を行うことで、各波数成分のマッピング状態が補正されたＯＣＴデータが取得される。
本実施例において、制御部７０は、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成されたＦＰＮに基づいて取得する。例えば、キャリブレーション後に被検眼ＥのＯＣＴデータを得る場合において、補正情報を用いて演算処理を行うことで、各波数成分のマッピング状態が補正されたＯＣＴデータが取得される。
【0098】
なお、本実施例において、各波数成分のマッピング状態の補正とは、ＯＣＴデータにおいて、サンプリングポイントと光の波数（２π／λ）との対応関係が線形となるように補正することを含む。
【0099】
また、本実施例において、各波数成分のマッピング状態の補正とは、ＯＣＴデータに含まれる分散成分が除去されるように補正することを含む。
【0100】
図３は、ＦＰＮ信号に基づいて求められる各波数成分のマッピング情報の一例である。図３（ａ）は、第１のＦＰＮ信号に基づいて求められる各波数成分のマッピング情報である。図３（ｂ）は、第３のＦＰＮ信号に基づいて求められる各波数成分のマッピング情報である。図４は、各波数成分の波数マッピング状態が、補正情報に基づいて補正されることを説明する図である。
【0101】
例えば、波長掃引光源１０２の掃引周波数が変化すると、各波数成分のマッピング状態及び信号成分に含まれる分散成分が変化する可能性がある。
【0102】
本実施例において、掃引周波数が変更された場合でも適切に各波数成分のマッピング状態を補正するために、制御部７０は、掃引周波数ごとに補正情報を求める。例えば、制御部７０は、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１の場合における各波数成分のマッピング状態を補正するために第１の補正情報を求め、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２の場合における各波数成分のマッピング状態を補正するために第２の補正情報を求める。
【0103】
第１の補正情報及び第２補正情報を取得する場合に制御部７０が行う制御について、図５のフローチャート図に基づいて説明する。図５は、補正情報の取得（ステップＳ１１０）として制御部７０が行う制御のフローチャート図である。
【0104】
＜Ｓ１１１：第１の補正情報の取得＞
例えば、制御部７０は、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成されるＦＰＮのうち、少なくとも２つのＦＰＮを用いて、補正情報を取得する。また、制御部７０は、波長掃引光源１０２の掃引周波数ごと補正情報を取得する。本実施例において、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１の場合において、制御部７０は第１のＦＰＮ信号と、第３のＦＰＮ信号とに基づいて演算処理を行うことで、第１の補正情報を取得する。この場合におけるＦＰＮ生成光学系２００と、生成されるＦＰＮ信号について、図６、図７を用いて説明する。図６は、ＦＰＮ生成光学系２００のＦＰＮ生成部材２０４の配置を説明する図である。図７は、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成されるＦＰＮ信号を説明する図である。
例えば、制御部７０は、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成されるＦＰＮのうち、少なくとも２つのＦＰＮを用いて、補正情報を取得する。また、制御部７０は、波長掃引光源１０２の掃引周波数ごと補正情報を取得する。本実施例において、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１の場合において、制御部７０は第１のＦＰＮ信号と、第３のＦＰＮ信号とに基づいて演算処理を行うことで、第１の補正情報を取得する。この場合におけるＦＰＮ生成光学系２００と、生成されるＦＰＮ信号について、図６、図７を用いて説明する。図６は、ＦＰＮ生成光学系２００のＦＰＮ生成部材２０４の配置を説明する図である。図７は、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成されるＦＰＮ信号を説明する図である。
【0105】
本実施例において、駆動部２０５がＦＰＮ生成部材２０４を光軸方向に移動させ、原点位置Ｐ０からＦＰＮ生成部材２０４までの光学的距離を変更する。例えば、ＦＰＮ生成部材２０４が第１の距離Ｄ１に配置された場合、第１のＦＰＮ信号が生成される。同様に、ＦＰＮ生成部材２０４が第２の距離Ｄ２に配置された場合は第２のＦＰＮ信号が、ＦＰＮ生成部材２０４が第３の距離Ｄ３に配置された場合は第３のＦＰＮ信号が、ＦＰＮ生成部材２０４が第４の距離Ｄ４に配置された場合は第４のＦＰＮ信号が生成される。
【0106】
なお、第１の距離Ｄ１、第２の距離Ｄ２、第３の距離Ｄ３、第４の距離Ｄ４は予め実験的に定められている位置である。
【0107】
まず、制御部７０は、駆動部２０５を制御し、ＦＰＮ生成部材２０４の位置を、原点位置Ｐ０からの距離が所定の第１の距離Ｄ１となるよう移動させる（図６参照）。
【0108】
例えば、本実施例において第１のＦＰＮ信号の信号周波数を第１信号周波数ｆ１とする。第１信号周波数ｆ１は、例えば、第１のＦＰＮ信号をフーリエ変換した際に、ゼロディレイ位置に入らない程度で、かつ、より低周波であることが望ましい。これは、スペクトル干渉信号からＦＰＮ信号を検出する場合において、ＦＰＮの信号は低周波であるほど、ノイズが少なく精度よく解析できるためである。
【0109】
ＦＰＮ生成部材２０４の位置が第１の距離Ｄ１に配置されると、波長掃引光源１０２から第１の掃引周波数Ｈ１で光が出射され、検出器１２０は第１のＦＰＮ信号を含むスペクトル干渉信号を検出する。
【0110】
制御部７０は、生成されたＯＣＴ画像を解析することで、第１のＦＰＮに対応する位置でのスペクトル干渉信号におけるφ（ｋ）を求める。ｋは波数、φ（ｋ）は、掃引波長（波数）に応じたスペクトル干渉信号の位相φの変化を示す。例えば、波数マッピング情報とは、ｋとφ（ｋ）の対応を表す情報である。
【0111】
φ（ｋ）は、横軸：波数ｋ、縦軸：位相φである関数で表されてもよい。信号強度（振幅）の大きい波数ｋ領域でのφ（ｋ）に関して多項式フィッティングを行い、信号強度が小さい波数ｋ領域でのφ（ｋ）を外挿又は内挿によって求めてもよい。例えば、φ（ｋ）は、ＦＰＮに対応する深さ位置におけるフーリエ変換値（強度値）Ｆの実数部RealＦと虚数部ImagＦの比のArc Tangent（逆正接）から求められてもよい。ここで、Arc Tangent処理によってフーリエ変換値の実数部と虚数部の比の逆正接が算出され、φ（ｋ）が得られる。
【0112】
なお、ＦＰＮからφ（ｋ）を求める方法、及びＦＰＮから各波数成分のマッピング情報を求める方法としては、特開２０１３－１５６２２９号公報、特開２０１５－６８７７５号公報に記載の方法が利用できる。
【0113】
例えば、本実施例では、制御部７０は、第１のＦＰＮを処理して第１の波数マッピング情報φ１（ｋ）を求める（図３（ａ）参照）。
【0114】
次いで、制御部７０はＦＰＮ生成部材２０４を第３の距離Ｄ３に移動させる（図６参照）。
【0115】
ここで、第３の距離Ｄ３におかれたＦＰＮ生成部材２０４によって生成される第３のＦＰＮ信号の信号周波数を、第３信号周波数ｆ３とする。第３信号周波数ｆ３は、第１信号周波数ｆ１とは異なる信号周波数である。例えば、第３信号周波数ｆ３による第３のＦＰＮは、被検眼Ｅの断層画像よりも深さ方向に深い位置に生成される。このため、被検眼Ｅの断層画像と第３のＦＰＮとが重ならず、精度よくＦＰＮ信号を取得できる。なお、第３信号周波数ｆ３はこれに限られない。例えば、シャッター１５１によって導光光学系１５０からの戻り光が遮断されている場合、ＯＣＴ画像上に被検眼Ｅの断層画像が生じない。このため、必ずしも被検眼Ｅの断層画像よりも深さ方向に深い位置にＦＰＮを生じさせる必要はない。
【0116】
例えば、第３のＦＰＮは、制御部７０が各波数成分のマッピング情報を求める際に、第１のＦＰＮと区別可能な位置に生成されればよい。例えば、第３のＦＰＮは、第１のＦＰＮから深さ方向に１ｍｍ以上離れた位置に生成される。
【0117】
ＦＰＮ生成部材２０４が第３の距離Ｄ３に配置されると、波長掃引光源１０２から第１の掃引周波数Ｈ１で光が出射され、検出器１２０は第３のＦＰＮ信号を含むスペクトル干渉信号を取得する。その後、制御部７０は第１のＦＰＮと同様に第３のＦＰＮを処理して、第３の波数マッピング情報φ３（ｋ）を求める（図３（ｂ）参照）。
【0118】
次いで、制御部７０は、第１の補正情報として、第１の波数マッピング情報φ１（ｋ）と、第３の波数マッピング情報φ３（ｋ）と、の間の差分情報Δφ１－３（ｋ）を求める（図４参照）。なお、差分情報は、各波数成分の位相差情報として求められてもよい。差分情報Δφ（ｋ）を得る場合、第３のＦＰＮの方が位相の進みが早いので、Δφ１－３（ｋ）＝φ３（ｋ）－φ１（ｋ）にて差分情報が得られてもよい。差分情報を求めることで、各波数成分のマッピング情報に含まれる分散成分をキャンセルできる。
【0119】
制御部７０は、波長掃引光源１０２が第１の掃引周波数Ｈ１で波長を掃引する場合において、第１の補正情報に基づいて各波数成分のマッピング状態を補正する（図４参照）。なお、波数成分のマッピング情報の差分情報から各波数成分のマッピング状態を補正する方法については、特開２０１８－１２４１８８号公報に記載の方法が利用できる。
【0120】
＜Ｓ１１２：第２の補正情報の取得＞
前述の通り、本実施例において、制御部７０は、波長掃引光源１０２が第２の掃引周波数Ｈ２で波長を掃引する場合の各波数成分のマッピング状態を補正するために、第２の補正情報を求める。
前述の通り、本実施例において、制御部７０は、波長掃引光源１０２が第２の掃引周波数Ｈ２で波長を掃引する場合の各波数成分のマッピング状態を補正するために、第２の補正情報を求める。
【0121】
ここで、第２の掃引周波数Ｈ２で波長が掃引されると、第１のＦＰＮ信号が適切に取得できない場合がある。この理由について、図８を用いて詳細に説明する。図８は、ＦＰＮ信号が検出される信号周波数が掃引周波数ごとに変化することを説明する図である。図８（ａ）は、第１の掃引周波数Ｈ１の場合における、第１のＦＰＮ信号のフーリエ変換を示す。また、図８（ｂ）は、第２の掃引周波数Ｈ２の場合における、第１のＦＰＮ信号のフーリエ変換を示す。
【0122】
例えば、掃引周波数が変化するとＦＰＮが検出される信号周波数も変化する。
【0123】
例えば、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１（説明のために、２００ｋＨｚとする）の場合に、第１のＦＰＮ信号が１００ＭＨｚの信号周波数の干渉信号として検出されるとする。
【0124】
ここで、例えば、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２（説明のために、２５ｋＨｚとする）に変更されると、掃引周波数は２５／２００＝１／８倍となる。このため、第２の掃引周波数Ｈ２の場合において、第１のＦＰＮ信号は、１００ＭＨｚ×１／８＝１２．５ＭＨｚの信号周波数の干渉信号として検出される。なお、計算に用いた数値は説明のために便宜的に用いた値であり、これに限定されない。
【0125】
上記の例のように、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１から、第１の掃引周波数Ｈ１より低周波な第２の掃引周波数Ｈ２に変更された場合、ＦＰＮが検出される信号周波数は低くなる。
【0126】
例えば、第１の掃引周波数Ｈ１において第１信号周波数ｆ１で検出された第１のＦＰＮ信号は、第２の掃引周波数Ｈ２において、第１信号周波数ｆ１をＨ２／Ｈ１倍した信号周波数で検出される（図７参照）。また、同様に、第１の掃引周波数Ｈ１において第３信号周波数ｆ３で検出された第３のＦＰＮ信号は、第２の掃引周波数Ｈ２において、第３信号周波数ｆ３に対応する信号周波数をＨ２／Ｈ１倍した信号周波数で検出される。
【0127】
前述の通り、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１である場合において、第１信号周波数ｆ１は低周波であるほど解析が容易である。その一方で、例えば、第１信号周波数ｆ１が低周側であるほど、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２にされた場合に、第１のＦＰＮ信号のピークのエンベロープＥＶ１はより低周波側に生じる。このため、第１のＦＰＮ信号のピークのエンベロープＥＶ１がゼロディレイ領域に入る可能性が増加する（図８（ｂ）参照）。ゼロディレイ領域について、以下に説明する。
【0128】
本実施例において、検出器１２０と制御部７０の間には、フィルタ７１が備えられる。このフィルタ７１は、制御部７０の保護のために、電気的なＤＣ成分を除去する。例えば、フィルタ７１は、ゼロディレイから所定の周波数（例えば、１０ＭＨｚ）までの領域の信号を除去する。本実施例において、フィルタ７１によって除去される領域を、ゼロディレイ領域と称する。
【0129】
例えば、本実施例において、第２の掃引周波数Ｈ２の場合に第１のＦＰＮ信号のピークのエンベロープＥＶ１は、ゼロディレイ領域に入り、フィルタ７１によってカットされる可能性がある。この場合、第１のＦＰＮ信号から適切な補正情報を求めることは難しい。
【0130】
以上説明したように、第２の補正情報を取得する場合において、第１のＦＰＮ信号が適切に取得できない場合がある。また、同様に、第２の補正情報を取得する場合において、第３のＦＰＮ信号が適切に取得できない場合がある。
【0131】
このため、本実施例において、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２の場合において、制御部７０は第２のＦＰＮ信号と、第４のＦＰＮ信号とに基づいて演算処理を行うことで、第２の補正情報を取得する。
【0132】
例えば、制御部７０は、ＦＰＮ生成部材２０４の位置を第２の距離Ｄ２に変更し、第２のＦＰＮ信号を生成する。本実施例において、第２のＦＰＮ信号は、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２にされた場合に、フィルタ７１によってカットされない信号周波数である。図９は、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２である場合における、第２のＦＰＮ信号のフーリエ変換を示す。
【0133】
例えば、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２である場合において、第２のＦＰＮ信号が検出される信号周波数は、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１の場合に第１のＦＰＮ信号が検出される信号周波数（例えば、１００ＭＨｚ）である（図７参照）。なお、第２のＦＰＮ信号が検出される信号周波数はこれに限定されず、第２のＦＰＮ信号をフーリエ変換した際に形成されるピークのエンベロープＥＶ２が、ゼロディレイ領域よりも高周波側に存在すればよい。
【0134】
ＦＰＮ生成部材２０４の位置が第２の距離Ｄ２に変更されると、波長掃引光源１０２から光が出射され、検出器１２０は第２のＦＰＮ信号を含むスペクトル干渉信号を取得する。その後、制御部７０はステップＳ１１１と同様にして、第２のＦＰＮ信号を処理して、第２の波数マッピング情報φ２（ｋ）を求める。
【0135】
次いで、制御部７０は、第４のＦＰＮが生じるように、駆動部２０５を駆動してＦＰＮ生成部材２０４を第４の距離Ｄ４に移動させる。例えば、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２である場合において、第４のＦＰＮ信号が検出される信号周波数は、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１の場合に第３のＦＰＮ信号が検出される信号周波数である（図７参照）。なお、第４のＦＰＮ信号が検出される信号周波数はこれに限定されず、第４のＦＰＮ信号をフーリエ変換した際に形成されるピークのエンベロープが、ゼロディレイ領域よりも高周波側に存在すればよい。
【0136】
その後、制御部７０はステップＳ１１１と同様にして、第４のＦＰＮ信号を処理して、第４の波数マッピング情報φ４（ｋ）を求める。
【0137】
また、制御部７０は、第２の補正情報として、第２の波数マッピング情報φ２（ｋ）と、第４の波数マッピング情報φ４（ｋ）と、の間の差分情報Δφ２－４（ｋ）を求める。
【0138】
制御部７０は、波長掃引光源１０２が第２の掃引周波数Ｈ２で波長を掃引する場合において、第２の補正情報に基づいて各波数成分のマッピング状態を補正する。
【0139】
以上のステップＳ１１１及びステップＳ１１２によれば、掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１の場合に各波数成分のマッピング状態を補正するための第１の補正情報と、掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２の場合に各波数成分のマッピング情報を補正するための第２の補正情報と、が取得される。
【0140】
制御部７０は、ＯＣＴデータを取得する際に、第１の補正情報、又は第２の補正情報に基づいて演算処理を行うことで、各波数成分のマッピング状態について、各波数成分の非線形性と、分散成分と、が補正できる（図４参照）。
【0141】
なお、補正情報を取得する場合において、制御部７０は、導光光学系１５０にシャッター１５１を挿入してもよい。これによれば、導光光学系１５０由来の光が補正情報に影響を与えることを抑制できるため、好適に補正情報を取得できる。なお、導光光学系１５０由来の光とは、例えば、被検眼Ｅからの散乱光（戻り光）である。
【0142】
＜Ｓ１２０：補正情報の較正＞
次いで、制御部７０は、較正光学系３００を用いて対応ズレを補正する。なお、本実施例において対応ズレとは、前述の通り、波長掃引光源１０２の波長掃引時に出射される光についての時間と波数との対応のズレを指す。例えば、対応ズレは、経年変化や温度などの環境要因によって発生する可能性がある。
次いで、制御部７０は、較正光学系３００を用いて対応ズレを補正する。なお、本実施例において対応ズレとは、前述の通り、波長掃引光源１０２の波長掃引時に出射される光についての時間と波数との対応のズレを指す。例えば、対応ズレは、経年変化や温度などの環境要因によって発生する可能性がある。
【0143】
例えば、ステップＳ１１０で取得された補正情報には、この対応ズレが存在する状態で取得されたＦＰＮに基づいて求められている可能性がある。この場合、検出器１２０が取得するスペクトル干渉信号において、補正情報と波長（または波数）の値がズレてしまうため、適切に補正を行うことが難しい。
【0144】
例えば、本実施例において、制御部７０は、補正情報に対して較正を行う。例えば、本実施例において被検眼のＯＣＴデータを取得する際に、制御部７０が、較正された補正情報を用いて演算処理を行う。これにより、各波数成分のマッピング状態に含まれる対応ズレが補正される。なお、本開示において、補正情報を較正するための演算処理を較正処理と称する。
【0145】
補正情報を較正するための制御部７０の制御について、図１０、図１１及び図１２を用いて説明する。図１０は、補正情報の較正（ステップＳ１２０）として制御部７０が行う制御のフローチャート図である。図１１は、較正された補正情報よって各波数成分のマッピング状態の対応ズレが補正されることを説明する図である。図１１には、較正前の補正情報を用いて演算処理を行った場合の各波数成分のマッピング情報と、較正後の補正情報を用いて演算処理を行った場合の各波数成分のマッピング情報と、が示されている。図１２は、較正を行うことによって波数マッピング状態に含まれる対応ズレが補正されることを説明する図である。
【0146】
なお、例えば、本実施例において対応ズレによって、図１２（ａ）に示す、較正前の補正情報に基づく各波数成分のマッピング情報のグラフと、較正後の補正情報に基づく各波数成分のマッピング情報のグラフとにおける、グラフの傾きの変化が生じる。例えば、本実施例において対応ズレによって、図１２（ｂ）に示す、較正前の補正情報に基づく各波数成分のマッピング情報のグラフと、較正後の補正情報に基づく各波数成分のマッピング情報のグラフとにおける、グラフのシフト（平行移動）が生じる。
【0147】
＜Ｓ１２１：バンドパスフィルタの挿入＞
まず、制御部７０は、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２を較正光学系３００（ＦＰＮ生成光学系２００と兼用されている）の光軸に対して挿入する。
まず、制御部７０は、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２を較正光学系３００（ＦＰＮ生成光学系２００と兼用されている）の光軸に対して挿入する。
【0148】
本実施例において、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２によって、波長掃引光源１０２の掃引範囲に含まれる所定の第１の波長の光と、第１の波長とは異なる第２の波長の光と、が選択的に抽出される。
【0149】
＜Ｓ１２２：較正用干渉信号の取得＞
バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２が較正光学系３００に挿入されている状態で、波長掃引光源１０２が第１の掃引周波数Ｈ１で掃引を行うと、掃引された光は較正光学系３００を通過し、第１の波長の光と、第２の波長の光が抽出される。
バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２が較正光学系３００に挿入されている状態で、波長掃引光源１０２が第１の掃引周波数Ｈ１で掃引を行うと、掃引された光は較正光学系３００を通過し、第１の波長の光と、第２の波長の光が抽出される。
【0150】
抽出された光は、参照光とカップラ３５０で合波され、スペクトル干渉信号として検出器１２０により検出される。本実施例において、抽出された光と、参照光と、によるスペクトル干渉信号を較正用干渉信号と称する。例えば、波長掃引光源の掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１で掃引した場合に抽出された光と、参照光と、によるスペクトル干渉信号を第１の較正用干渉信号と称する。例えば、第１の較正用干渉信号は、第１の波長の光と、参照光と、による較正用干渉信号Ｇ１と、第２の波長の光と、参照光と、による較正用干渉信号Ｇ２とが含まれる。
【0151】
なお、本実施例において、較正用干渉信号を取得する場合以外では、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２はＦＰＮ生成光学系２００の光軸に対して退避される。
【0152】
【0153】
第１の較正用干渉信号として、波長掃引光源１０２が第１の波長の光を出射したタイミングに対応したサンプリングポイント（第１の検出タイミング）Ｔ１に、第１の波長の光と、参照光とによる較正用干渉信号Ｇ１が検出される。
【0154】
例えば、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２によって、第１の波長の光のみを抽出することは技術的に難しい。このため、較正用干渉信号Ｇ１は、第１の波長の光と参照光とによる干渉信号の成分に加えて、第１の波長以外の光と、参照光と、による干渉信号の成分も含まれる。
【0155】
例えば、本実施例において、第１の波長に近い波長の光であるほど、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２を通過しやすい。このため、例えば、較正用干渉信号Ｇ１は、第１の波長の光と参照光とによる干渉信号をピークとする、山形の波形の干渉信号となる。
【0156】
同様に、波長掃引光源１０２が第２の波長の光を出射したタイミングに対応したサンプリングポイント（第２の検出タイミング）Ｔ２において、第２の波長の光と、参照光とによる較正用干渉信号Ｇ２が検出される。
【0157】
なお、第１の較正用干渉信号を取得する場合において、例えばＦＰＮ生成光学系２００のＦＰＮ生成部材２０４は、第１の距離Ｄ１に配置されているとする。本実施例では、ＦＰＮ生成部材２０４が第１の距離Ｄ１に配置されている場合の、較正光学系３００の光路長と、参照光学系１１０の光路長と、の光路長差を第１の光路長差とする。また、なお、第１の距離Ｄ１はＦＰＮ生成部材２０４の位置の一例であり、これに限定されない。
【0158】
制御部７０は、第１の較正用干渉信号を取得すると、次いで第２の較正用干渉信号を取得する。例えば、制御部７０は、駆動部２０５を駆動させてＦＰＮ生成部材２０４を第１の距離Ｄ１から別の距離に移動させる。例えば、制御部７０は、第２の距離Ｄ２にＦＰＮ生成部材２０４を移動させる。
【0159】
例えば、本実施例では、ＦＰＮ生成部材２０４が第２の距離Ｄ２にある場合の較正光学系３００の光路長と、参照光学系１１０の光路長と、の光路長差を第２の光路長差とする。なお、第２の距離Ｄ２はＦＰＮ生成部材２０４を配置する距離の一例であり、これに限定されない。
【0160】
例えば、本実施例において、駆動部２０５は、参照光路と測定光路との光路長差を変更する変更手段を兼ねる。
【0161】
ＦＰＮ生成部材２０４の位置が第２の距離Ｄ２に移動されると、波長掃引光源１０２が、第１の掃引周波数Ｈ１で掃引を行う。これにより、検出器１２０は第１の較正用干渉信号と同様に、第２の較正用干渉信号を検出する。
【0162】
ここで、第２の較正用干渉信号を検出する場合において、第１の較正用干渉信号を得る場合と同じ第１の掃引周波数Ｈ１で波長を掃引しているため、第１の波長の光が出射されるタイミングも同じである。このため、第２の較正用干渉信号上には、第１の較正用干渉信号と同じ第１検出タイミングＴ１で、第1の較正用干渉信号とは異なる波形の、較正用干渉信号Ｇ１が生じる。同様に、第２の較正用干渉信号上には、第１の較正用干渉信号と同じ検出タイミングで、第１の較正用干渉信号とは異なる波形の、較正用干渉信号Ｇ２が生じる。
【0163】
なお、本実施例において、制御部７０は、較正用干渉信号の取得を完了した場合にバンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２を較正光学系３００から退避される。
【0164】
【0165】
本実施例において、波長掃引光源１０２は、掃引を開始したタイミングで掃引開始信号を制御部７０に対して出力している。例えば、制御部７０は、掃引開始信号が波長掃引光源１０２から入力されたタイミングにおける、検出器１２０のサンプリングポイントを、掃引開始のサンプリングポイントＴ０として対応させる。
【0166】
本実施例において、例えば、第１検出タイミングＴ１と、第２検出タイミングＴ２は、掃引開始のサンプリングポイントＴ０を基準として求められる。
【0167】
例えば、制御部７０は、第１の較正用干渉信号と、第２の較正用干渉信号と、に基づいて、較正用干渉信号Ｇ１が検出されるサンプリングポイント（第１検出タイミング）Ｔ１を求める。例えば、第１検出タイミングＴ１は、較正用干渉信号Ｇ１のピークが存在するサンプリングポイントである。例えば、第１検出タイミングＴ１は、第１の波長の光と参照光とによる干渉信号が存在するサンプリングポイントである。
【0168】
ここで、参照光路と測定光路との光路長差によっては、較正用干渉信号Ｇ１の信号強度が低い場合がある。例えば、この場合における較正用干渉信号Ｇ１を、較正用干渉信号Ｇ１．１とする（図１４参照）。例えば、第１の波長の光と参照光とによるスペクトル干渉信号の信号強度が低い場合、ピークの検出が難しい場合がある。この場合、ピークが適切に検出できないため、制御部７０は第１検出タイミングＴ１を精度よく求められない可能性がある。
【0169】
このため、本実施例において、制御部７０は複数の較正用干渉信号を処理することで、第１の波長の光と参照光とによるスペクトル干渉信号の信号強度を増加させる。
【0170】
例えば、本実施例では、第１の較正用干渉信号及び第２の較正用干渉信号について、絶対値をとり、その後平均化する。これによれば、較正用干渉信号Ｇ１の信号強度が累積加算される。よって、制御部７０は精度よくピークを検出できる。よって、制御部７０は第１検出タイミングＴ１を正確に取得できる。
【0171】
なお、較正処理に用いる較正用干渉信号は、第１の較正用干渉信号と、第２の較正用干渉信号に限定されない。例えば、較正処理に用いる較正用干渉信号の数が多いほど、第１の波長の光と参照光とによるスペクトル干渉信号の信号強度を増加させることができるため、よりピークの検出が容易になり、精度よく第１検出タイミングＴ１を求めることができる。
【0172】
例えば、第１検出タイミングＴ１を求める方法はこれに限定されない。例えば、干渉信号の信号強度が所定の値以上増加したときのサンプリングポイントを、第１検出タイミングＴ１としてもよい。すなわち、第１の較正用干渉信号における、ピークが立ち上がるサンプリングポイントを、第１検出タイミングＴ１としても良い。なお、干渉信号の信号強度が所定の値以上減少したときのサンプリングポイントであってもよい。すなわち、較正用干渉信号における、ピークが立ち下がるサンプリングポイントを、第１検出タイミングＴ１としても良い。
【0173】
また、第１検出タイミングＴ１と同様にして、制御部７０は、較正用干渉信号Ｇ２が検出されるサンプリングポイント（第２検出タイミング）Ｔ２を検出する。
【0174】
＜Ｓ１２４：対応ズレの取得＞
制御部７０は、対応ズレを検出し、第１検出タイミングＴ１と、第２検出タイミングＴ２と、の間に含まれるサンプリングポイントの数ΔＴ１－２を求める（図１３参照）。
制御部７０は、対応ズレを検出し、第１検出タイミングＴ１と、第２検出タイミングＴ２と、の間に含まれるサンプリングポイントの数ΔＴ１－２を求める（図１３参照）。
【0175】
例えば、制御部７０は、このΔＴ１－２の値と、予め求められていた値との変化量を求める。例えば、予め求められていた値とは、ＯＣＴ装置１が工場出荷されるときに求められたΔＴ１－２の値である。なお、予め求められていた値としては、この例に限られず、このキャリブレーション以前に取得されていたΔＴ１－２の値であればよい。
【0176】
例えば、ΔＴ１－２の値が減少していた場合は、第１の波長の光が出射されてから、第２の波長の光が出射されるまでの時間が短くなっている。このため、波長掃引光源１０２の掃引周波数が、所期する掃引周波数から上昇していると考えられる。また、ΔＴ１－２の値が増加していた場合は、波長掃引光源１０２の掃引周波数が、所期する掃引周波数から低下していると考えられる。
【0177】
例えば、制御部７０が、ΔＴ１－２の値について補正することで、波長掃引光源１０２の掃引周波数のズレを補正できる。図を用いて説明すると、各波数成分のマッピング状態のグラフの傾きが補正される（図１２（ａ）参照）。
【0178】
また、例えば、制御部７０は、掃引周波数について補正を終えた後に、掃引が開始されたサンプリングポイントＴ０から、サンプリングポイントＴ１までの間のサンプリングポイント数ΔＴ０－１の値と、予め求められていた値との変化量を求める。これによれば、掃引周波数が補正された上で、所定の波数の光が検出されるタイミングの差が求められる。このため、波長掃引光源１０２が掃引を開始する波長（波数）の変化を求めることができる。
【0179】
例えば、掃引速度が補正された状態でΔＴ０－１の値が減少していた場合は、波長掃引開始時の波長が増加していると考えられる。例えば、掃引速度が補正された状態でΔＴ０－１の値が増加していた場合は、波長掃引開始時の波長（波数）が減少していると考えられる。
【0180】
例えば、制御部７０が、ΔＴ０－１の変化量を補正することで、波長掃引光源１０２が掃引を開始する際の波長のズレを補正できる。図を用いて説明すると、各波数成分のマッピング状態のグラフのシフト（平行移動）が補正される（図１２（ｂ）参照）。なお、ΔＴ０－１に限らず、サンプリングポイントＴ０からサンプリングポイントＴ２までの間のサンプリングポイント数ΔＴ０－２を用いて演算を行っても、同様に波長掃引光源１０２が掃引を開始する波長（波数）の変化を求めることができる。
【0181】
＜Ｓ１２５：対応ズレの補正＞
制御部７０は、ΔＴ１－２の値と、予め求められていた値との変化量が補正されるように、第１の補正情報を補正する。これによれば、各波数成分のマッピング状態のグラフの傾きが補正される（図１２（ａ）参照）。
制御部７０は、ΔＴ１－２の値と、予め求められていた値との変化量が補正されるように、第１の補正情報を補正する。これによれば、各波数成分のマッピング状態のグラフの傾きが補正される（図１２（ａ）参照）。
【0182】
また、制御部７０は、ΔＴ０－１の値と、予め求められていた値との変化量が補正されるように、第１の補正情報を補正する。これによれば、各波数成分のマッピング状態のグラフのシフト（平行移動）が補正される。
【0183】
これにより、後述の撮影（Ｓ２００）において、対応ズレが補正された各波数成分のマッピング状態が取得できる（図１１参照）。
【0184】
また、制御部７０は、第２の補正情報についても、第１の掃引周波数Ｈ１を第２の掃引周波数Ｈ２に置き換えてステップＳ１２１からステップＳ１２５を実行することで、対応ズレを補正する。
【0185】
以上ステップＳ１２０により、各波数成分のマッピング状態について、対応ズレが補正される（図１１参照）。
【0186】
また、制御部７０は、波長掃引光源１０２の波長掃引の経時変化を、ＯＣＴ画像などを介さず直接的にスペクトル干渉信号を解析することで取得することができるため、精度よくズレを補正できる。
【0187】
以上説明したように、本実施例において、制御部７０はステップＳ１１０及びステップＳ１２０を実行することで、キャリブレーションを行う。これによって、較正された補正情報が、掃引周波数ごとに取得される。制御部７０は、この較正された補正情報を用いて演算処理を行うことで、被検眼のＯＣＴデータを取得する。
【0188】
例えば、制御部７０は、シャッター１５１を光軸に対して退避させた上で、被検眼Ｅの撮影を行う。例えば、［構成］で説明したように、波長掃引光源１０２の掃引周波数ごとに、撮影する範囲が変更される。例えば、波長掃引光源１０２から光が出射されると、参照光と被検眼Ｅからの戻り光とのスペクトル干渉信号が、検出器１２０によって検出される。
【0189】
例えば、第１の補正情報は、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１である場合に得られるスペクトル干渉信号への演算処理に用いられる。また、第２の補正情報は、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２である場合に得られるスペクトル干渉信号への演算処理に用いられる。
【0190】
具体的には、例えば、制御部７０は、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第１の掃引周波数Ｈ１である場合、ステップＳ１１０で求められ、また、ステップＳ１２０で較正された第１の補正情報に基づいてＯＣＴデータを取得する。また、制御部７０は、波長掃引光源１０２の掃引周波数が第２の掃引周波数Ｈ２である場合、ステップＳ１１０で求められ、また、ステップＳ１２０で較正された第２の補正情報に基づいてＯＣＴデータを取得する。
【0191】
これにより、波長掃引光源１０２の掃引周波数に応じて、適切に各波数成分のマッピング状態を補正することができるため、好適にＯＣＴデータを取得することができる。
【0192】
なお、スペクトル干渉信号への演算処理に補正情報を適用し、ＯＣＴデータを取得する方法については、特開２０１８－１２４１８８号公報に記載の方法を用いることができる。
【0193】
［変形例］
例えば、本実施例においてバンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２はＦＰＮ生成光学系２００に備えられる場合を説明したが、例えば、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は導光光学系１５０に備えられてもよい。この場合、較正光学系３００は導光光学系１５０と兼用される。また、この構成で較正用干渉信号を求める場合において、検出器１２０は、較正光学系３００（導光光学系１５０）由来の光と、ＦＰＮ生成光学系２００の光と、参照光と、に由来する干渉信号を検出する。このため、制御部７０がＦＰＮ生成光学系２００のＦＰＮ生成部材２０４の位置を変更することで、第１の較正用干渉信号と、第２の較正用干渉信号と、が取得できる。
例えば、本実施例においてバンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２はＦＰＮ生成光学系２００に備えられる場合を説明したが、例えば、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２は導光光学系１５０に備えられてもよい。この場合、較正光学系３００は導光光学系１５０と兼用される。また、この構成で較正用干渉信号を求める場合において、検出器１２０は、較正光学系３００（導光光学系１５０）由来の光と、ＦＰＮ生成光学系２００の光と、参照光と、に由来する干渉信号を検出する。このため、制御部７０がＦＰＮ生成光学系２００のＦＰＮ生成部材２０４の位置を変更することで、第１の較正用干渉信号と、第２の較正用干渉信号と、が取得できる。
【0194】
例えば、本実施例において、ステップＳ１２０で対応ズレを補正するために、第１の較正用干渉信号と第２の較正用干渉信号が用いられたが、対応ズレを補正するために用いられる干渉信号は、第１の較正用干渉信号のみであってもよい。これによれば、対応ズレを補正するために要する時間が短縮される。
【0195】
また、対応ズレを補正するために、第１の較正用干渉信号と、第２の較正用干渉信号とに加えてさらに較正用干渉信号が用いられてもよい。その場合、例えば、ステップＳ１２２において、制御部７０は駆動部２０５を駆動させてＦＰＮ生成部材２０４の位置を変更した上で、波長掃引光源１０２によって波長が掃引されることで、較正用干渉信号が取得される。また、より多くの較正用干渉信号を用いることで、ステップＳ１２４において、より精度よくピークの位置を求めることができるため、精度よく対応ズレを補正すことができる。
【0196】
例えば、本実施例において、対応ズレを補正するために、較正用干渉信号に基づいて補正情報を較正したが、例えば、被検眼ＥのＯＣＴデータについて較正を行うことで、対応ズレを補正してもよい。その場合、例えば、制御部７０は、ステップＳ１２５で補正情報に対して行う較正処理と同様の処理を行う。被検眼ＥのＯＣＴデータに対して行ってもよい。また、その場合、被検眼ＥのＯＣＴデータが取得されてから、ＯＣＴ画像が生成されるまでの間にキャリブレーションが行われてもよい。
【0197】
例えば、本実施例において、異なる位置にＦＰＮを生成するために、駆動部２０５を駆動させることでＦＰＮ生成部材２０４の位置を変更する場合について説明したが、異なる位置にＦＰＮを生成する方法はこれに限られない。
【0198】
例えば、図１５に示すように、ＦＰＮ生成光学系２００に、複数のＦＰＮ生成部材を備えることで、異なる位置にＦＰＮを生成する構成であってもよい。例えば、４つのＦＰＮを生成する場合、本実施例における第１の距離Ｄ１に対応する位置にＦＰＮ生成部材２０４ａが、第２の距離Ｄ２に対応する位置にＦＰＮ生成部材２０４ｂが、第３の距離Ｄ３に対応する位置にＦＰＮ生成部材２０４ｃが、第４の距離Ｄ４に対応する位置にＦＰＮ生成部材２０４ｄが配置されてもよい。また、この場合において、ＦＰＮ生成部材それぞれに対して光を導くために、光路分割部材（例えば、ビームスプリッタ）２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃが備えられてもよい。
【0199】
また、例えば、参照光学系１１０の光路長を変更することで、ＦＰＮが生成される位置を変更してもよい。図１６は、参照光学系１１０に参照ミラー１１４が用いられる場合のＯＣＴ光学系である。この場合において、波長掃引光源１０２から出射された光は、カップラ（スプリッタ）１０４によって測定光路と参照光路とに分割される。参照光学系１１０に入射した光は、サーキュレータ１１３によって光ファイバ１１７に導かれ、参照ミラー１１４で反射して、カップラ３５１に入射する。また、測定光路に入射した光は、導光光学系１５０（及びＦＰＮ生成光学系２００）、光ファイバ１１２を経て、カップラ３５１に入射する。参照光路由来の光と、測定光路由来の光は、カップラ３５１で合波され、検出器１２０で干渉が検出される。
【0200】
例えば、駆動部１１５によって参照ミラー１１４が光軸方向に移動され、参照光学系１１０の光路長が変更される。これにより、参照光学系の光路長とＦＰＮ生成光学系２００の光路長との光路長差が変更され、ＦＰＮが生成される位置が変更される。なお、駆動部１１５は、前述の駆動部２０５と同様の構成であってもよい。
【0201】
例えば、この場合、原点位置Ｐ０とは、ＯＣＴ画像のゼロディレイの位置にＦＰＮが生じるような参照ミラーの位置である。
【0202】
また、例えば、駆動部１１５によって、原点位置Ｐ０から参照ミラー１１４までの光学的距離が、第１のＦＰＮ信号が生成される第１の距離Ｄ１、第２のＦＰＮ信号が生成される第２の距離Ｄ２、第３のＦＰＮ信号が生成される第３の距離Ｄ３、第４のＦＰＮ信号が生成される第４の距離Ｄ４との間で変更されてもよい。これによれば、参照光の光路長が変更される。
【0203】
なお、参照光路の光路長を変更する方法はこれに限られない。例えば、参照光路として長さの異なる複数の光ファイバが備えられ、通過する光ファイバの長さによって生成されるＦＰＮが変更されるような構成であってもよい。
【0204】
本実施例ではステップＳ１１０において、第１の掃引周波数Ｈ１に対応する第１の補正情報と、第２の掃引周波数に対応する第２の補正情報が取得される場合を説明したが、例えば、第１の補正情報と第２の補正情報は必ずしも同じキャリブレーション時に求められなくてもよい。
【0205】
また、例えば、第１の掃引周波数で撮影を行う第１の撮影モードが行われる場合に第１の補正情報が取得され、第２の掃引周波数で撮影を行う第２の撮影モードが行われる場合に第２の補正情報が取得される構成であってもよい。
【0206】
また、本実施例において、キャリブレーションとして、掃引周波数ごとの補正情報の取得（ステップＳ１１０）と、補正情報の較正（ステップＳ１２０）と、が一連の流れとして行われる場合について説明したが、掃引周波数ごとの補正情報の取得と、補正情報の較正と、は必ずしも同じキャリブレーション時に行われなくてもよい。例えば、キャリブレーションとして補正情報の取得を行い、補正情報の較正が行われなくてもよい。同様に、キャリブレーションとして補正情報の較正が行われ、補正情報の取得は行われなくてもよい。この場合、制御部７０は、補正情報の較正として、そのキャリブレーションが行われる前に取得されている補正情報（例えば、工場出荷時に取得される補正情報）を較正してもよい。
【0207】
また、例えば、ＯＣＴ装置１が、掃引周波数ごとの補正情報の取得を行い、補正情報の較正を行わない構成である場合、較正光学系３００（バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２）が省略されてもよい。
【0208】
なお、補正情報を取得する場合において、制御部７０は、導光光学系１５０にシャッター１５１を挿入してもよい。これによれば、導光光学系１５０由来の光が補正情報に影響を与えることを抑制できるため、好適に補正情報を取得できる。なお、導光光学系１５０由来の光とは、例えば、被検眼Ｅからの散乱光（戻り光）である。
【0209】
また、本実施例において、補正情報を取得する場合に、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２がＦＰＮ生成光学系２００の光軸に対して退避される。これにより、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２の影響を受けずにＦＰＮ信号を取得できるため、補正情報を取得できる。
【0210】
波長掃引光源１０２から出射される光の強度は、掃引周波数に基づいて変化する。
【0211】
例えば、図１７に示すようにＦＰＮ生成光学系２００に光強度調節器２０９が備えられてもよい。光強度調節器２０９は、ＦＰＮ生成光学系２００由来の光の強度を所定の範囲に含まれるように調整する。例えば、光強度調節器２０９は、ＦＰＮ生成光学系２００由来の光による干渉信号（すなわちＦＰＮ信号）が、検出器１２０が信号を検出できる信号強度の範囲（ダイナミックレンジ）に含まれるように、光の強度を調整する。
【0212】
これによれば、波長掃引光源１０２から出射される光の強度が、掃引周波数が変更された場合に変化しても、検出器１２０は適切にＦＰＮ信号を取得できる。
【0213】
例えば、光強度調節器２０９は、レンズと、レンズを光軸方向に駆動させる駆動部から構成される。例えば、光強度調節器２０９は、光を減衰させるフィルタと、フィルタを光軸に対して挿脱させる挿脱部と、から構成されてもよい。また、例えば、光強度調節器は、アッテネータであってもよい。
【0214】
例えば、光強度調節器２０９の動作は、掃引周波数ごとに予め定められている。また、光強度調節器２０９の動作は、検出器１２０が検出した信号の信号強度に基づいて制御されてもよい。
【0215】
本実施例において、バンドパスフィルタ３０１及びノッチフィルタ３０２が組み合わせられることで、第１の較正用干渉信号として、較正用干渉信号Ｇ１と、較正用干渉信号Ｇ２と、が含まれる干渉信号が取得される場合を説明した。
【0216】
例えば、較正光学系３００には、バンドパスフィルタ３０１、ノッチフィルタ３０２の代わりに、較正用干渉信号Ｇ１を取得するための第１のバンドパスフィルタと、較正用干渉信号Ｇ２を取得するための第２のバンドパスフィルタが備えられていてもよい。なお、第１のバンドパスフィルタは、第１の波長の光を選択的に通過させる。第２のバンドパスフィルタは、第２の波長の光を選択的に通過させる。
【0217】
この場合、第１のバンドパスフィルタと、第２のバンドパスフィルタのいずれか一方が選択的に光軸に対して挿入された状態で波長が掃引され、較正用干渉信号が取得される。
【0218】
例えば、第１のバンドパスフィルタが光軸に対して挿入され、第２のバンドパスフィルタが光軸に対して脱離された状態で波長が掃引されると、第１の検出タイミングＴ１に、較正用干渉信号Ｇ１が生じた干渉信号Ａが取得される。
【0219】
例えば、第２のバンドパスフィルタが光軸に対して挿入され、第１のバンドパスフィルタが光軸に対して脱離された状態で波長が掃引されると、第２の検出タイミングＴ２に、較正用干渉信号Ｇ２が生じた干渉信号Ｂが取得される。
【0220】
例えば、制御部７０は、それぞれ取得された、干渉信号Ａと、干渉信号Ｂとを重ね合わせることで、第１の較正用干渉信号を取得してもよい。
【0221】
もちろん、第２の較正用干渉信号についても、同様にして求めることができる。
【符号の説明】
【0222】
１ ＯＣＴ装置
７０ 演算制御器
１００ ＯＣＴ光学系
１０２ 波長掃引光源
１１０ 参照光学系
１２０ 検出器
１５０ 導光光学系
２００ ＦＰＮ生成光学系
２０４ ＦＰＮ生成部材
２０５ 駆動部
３００ 較正光学系
３０１ バンドパスフィルタ
３０２ ノッチフィルタ
７０ 演算制御器
１００ ＯＣＴ光学系
１０２ 波長掃引光源
１１０ 参照光学系
１２０ 検出器
１５０ 導光光学系
２００ ＦＰＮ生成光学系
２０４ ＦＰＮ生成部材
２０５ 駆動部
３００ 較正光学系
３０１ バンドパスフィルタ
３０２ ノッチフィルタ
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】