特許 7601022 発光装置の検査方法および発光装置の検査装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-12-09

(45)【発行日】2024-12-17

(54)【発明の名称】発光装置の検査方法および発光装置の検査装置

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/26 20200101AFI20241210BHJP

   H01L 33/00 20100101ALI20241210BHJP

【ＦＩ】

G01R31/26 F

H01L33/00 K

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2022019127

(22)【出願日】2022-02-09

(65)【公開番号】P2023116361

(43)【公開日】2023-08-22

【審査請求日】2024-02-28

(73)【特許権者】

【識別番号】000241463

【氏名又は名称】豊田合成株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000648

【氏名又は名称】弁理士法人あいち国際特許事務所

(74)【代理人】

【識別番号】100165962

【弁理士】

【氏名又は名称】一色 昭則

(74)【代理人】

【識別番号】100206357

【弁理士】

【氏名又は名称】角谷 智広

(72)【発明者】

【氏名】田部 哲夫

【審査官】田口 孝明

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１２－２０４１７６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０２０－０３８８５４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－０９８０５１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００８－０６０６０４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００２－１１１４６１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０００－１５１８９８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００９－１９８１９６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平２－０７８９７７（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１７／０１３１３４５（ＵＳ，Ａ１）

【文献】特表２００８－５１８４５９（ＪＰ，Ａ）

【文献】中国実用新案第２６７２５０９（ＣＮ，Ｙ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

ＩＰＣ Ｇ０１Ｒ ３１／２６－３１／２７、

Ｈ０１Ｌ ３３／００－３３／４６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

アノード端子とカソード端子とを有する発光素子と、
前記発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、
前記発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、
を有する発光装置の検査方法において、
反転入力端子と出力端子とを導通させたオペアンプを用い、
定電流源の定電流源正極端子および電圧計の電圧計正極端子と導通する第１端子と、
前記定電流源の定電流源負極端子および前記電圧計の電圧計負極端子と導通する第２端子と、
前記オペアンプの前記反転入力端子または非反転入力端子と導通する第３端子と、を用い、
前記第１端子を前記発光素子の前記アノード端子に接続し、
前記第２端子を前記発光素子の前記カソード端子に接続し、
前記第１端子または前記第２端子と、前記第３端子と、の間に前記第１抵抗器または前記迂回抵抗器の少なくとも一部の区間を挟むように、前記第３端子を接続し、
前記発光素子に定電流を流しながら前記発光素子の前記アノード端子と前記カソード端子との間の電圧を測定すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項2】

請求項１に記載の発光装置の検査方法において、
前記第２端子と前記第３端子との間に前記迂回抵抗器を配置するように前記第３端子を接続すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項3】

請求項１に記載の発光装置の検査方法において、
前記第１端子と前記第３端子との間に前記第１抵抗器を配置するように前記第３端子を接続すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項4】

請求項１に記載の発光装置の検査方法において、
前記発光装置の前記迂回抵抗器は、
第１迂回抵抗器と前記第１迂回抵抗器と直列に接続された第２迂回抵抗器とを有し、
前記第１端子と前記第３端子との間に前記第１迂回抵抗器を配置するように前記第３端子を接続すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項5】

請求項１に記載の発光装置の検査方法において、
前記発光装置の前記迂回抵抗器は、
第１迂回抵抗器と前記第１迂回抵抗器と直列に接続された第２迂回抵抗器とを有し、
前記第２端子と前記第３端子との間に前記第２迂回抵抗器を配置するように前記第３端子を接続すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項6】

発光装置の検査方法において、
前記発光装置は、
発光素子と、
前記発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、
前記発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有するものであり、
前記第１抵抗器または前記迂回抵抗器の少なくとも一部の区間の電位差を－１００μＶ以上１００μＶ以下に制御しつつ、
前記発光素子に定電流を流しながら前記発光素子のアノード端子とカソード端子との間の電圧を測定すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項7】

発光装置の検査方法において、
前記発光装置は、
発光素子と、
前記発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、
前記発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有するものであり、
前記第１抵抗器または前記迂回抵抗器の少なくとも一部の区間の電位差をゼロとなるように制御しつつ、
前記発光素子に定電流を流しながら前記発光素子のアノード端子とカソード端子との間の電圧を測定すること
を含む発光装置の検査方法。

【請求項8】

アノード端子とカソード端子とを有する発光素子と、前記発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、前記発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有する発光装置の検査装置において、
前記発光素子の前記アノード端子と接続するための第１端子と、
前記発光素子の前記カソード端子と接続するための第２端子と、
第３端子と、
前記第１端子と前記第２端子との間に定電流を流す定電流源と、
前記第１端子と前記第２端子との間の電圧を測定する電圧計と、
オペアンプと、
を有し、
前記定電流源は、
前記第１端子と導通する定電流源正極端子と、
前記第２端子と導通する定電流源負極端子と、を有し、
前記電圧計は、
前記第１端子と導通する電圧計正極端子と、
前記第２端子と導通する電圧計負極端子と、を有し、
前記オペアンプは、
正電源端子と、負電源端子と、非反転入力端子と、反転入力端子と、出力端子と、を有し、
前記オペアンプは、
前記出力端子と前記反転入力端子とが導通されており、
前記第１端子または前記第２端子と、前記第３端子と、の間に前記第１抵抗器または前記迂回抵抗器の少なくとも一部の区間を挟むように、前記第３端子を接続することが可能であること
を含む発光装置の検査装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書の技術分野は、発光装置の検査方法および発光装置の検査装置に関する。

【背景技術】

【0002】

ＬＥＤを搭載された発光装置は、製品製造時にＬＥＤの劣化を判定することがある。ＬＥＤを実装済みの回路基板において、ＬＥＤに微小電流を流し、ＬＥＤの両端子間の電圧を測定することによりＬＥＤの劣化を判定する。

【0003】

特許文献１には、ＬＥＤの順方向に１μＡ以下の第１定電流を流して第１の電圧を測定し、第１定電流の約１０倍の第２定電流をＬＥＤの順方向に流して第２の電圧を測定する検査方法が開示されている。第１の電圧が予め定められた一定基準電圧以上の発光装置を適正であると判断し、その後、第１電圧と第２電圧との差が予め定められた一定の範囲内にある発光装置を適正であると判断する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２００４－１７０３１１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

ところで、ＬＥＤを制御するために半導体スイッチが用いられることがある。半導体スイッチは、数μＡ程度の漏れ電流を発生させることがある。この漏れ電流により、ＬＥＤがわずかに点灯する。このＬＥＤの微点灯を防止するために、ＬＥＤに並列に迂回抵抗器を設けることがある。このような発光装置を検査する場合には、迂回抵抗器に迂回電流が流れ、ＬＥＤに流れる電流が迂回電流の分だけ定電流からずれてしまう。

【0006】

迂回電流を防止するために、ＬＥＤに直列にダイオードを発光装置に設けることがある。しかし、このダイオードはこの劣化検査のときにだけ必要な素子であり、発光装置の使用時には不要である。ダイオードによる電圧降下は比較的小さい。しかし、ダイオードが発光装置内に存在することにより、駆動電圧が上昇し、使用電力が上昇し、回路基板が複雑化する。

【0007】

本明細書の技術が解決しようとする課題は、ＬＥＤに並列な迂回電流抵抗器を有する発光装置の劣化を判定することができる発光装置の検査方法および発光装置の検査装置を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0008】

第１の態様における発光装置の検査方法は、アノード端子とカソード端子とを有する発光素子と、発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有する発光装置の検査方法である。この方法では、反転入力端子と出力端子とを導通させたオペアンプを用い、定電流源の定電流源正極端子および電圧計の電圧計正極端子と導通する第１端子と、定電流源の定電流源負極端子および電圧計の電圧計負極端子と導通する第２端子と、オペアンプの反転入力端子または非反転入力端子と導通する第３端子と、を用いる。第１端子を発光素子のアノード端子に接続する。第２端子を発光素子のカソード端子に接続する。第１端子または第２端子と、第３端子と、の間に第１抵抗器または迂回抵抗器の少なくとも一部の区間を挟むように、第３端子を接続する。発光素子に定電流を流しながら発光素子のアノード端子とカソード端子との間の電圧を測定する。

【0009】

この発光装置の検査方法は、迂回抵抗器の両端の端子間にかかる電圧をほとんどゼロに制御しつつ、発光素子に定電流を流しながら、発光素子の両端の端子間の電圧を測定する。測定の際に、迂回抵抗器に電流がほとんど流れないため、発光素子に流れる電流は定電流源が流す定電流にほぼ等しい。したがって、この発光装置の検査方法を用いることにより、漏れ電流を迂回するための迂回抵抗器を有する発光素子の劣化を正確に判定することができる。

【発明の効果】

【0010】

本明細書では、ＬＥＤに並列な迂回電流抵抗器を有する発光装置の劣化を判定することができる発光装置の検査方法および発光装置の検査装置が提供されている。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】第１の実施形態の検査対象である発光装置ＤＶ１の回路図である。

【図2】第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査装置１００の回路図である。

【図3】第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法を示す回路図（その１）である。

【図4】第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法を示す回路図（その２）である。

【図5】従来の発光装置の検査方法を示す回路図（その１）である。

【図6】従来の発光装置の検査方法を示す回路図（その２）である。

【図7】第２の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法を示す回路図である。

【図8】第３の実施形態の検査対象である発光装置ＤＶ２の回路図である。

【図9】第３の実施形態の発光装置ＤＶ２の検査方法を示す回路図である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

以下、具体的な実施形態について、発光装置の検査方法および発光装置の検査装置を例に挙げて図を参照しつつ説明する。しかし、本明細書の技術はこれらの実施形態に限定されるものではない。なお、実施形態において、所定の抵抗器の両端の端子間の電位差をゼロとなるように制御するが、実際には、完全にゼロとなるわけではなく、極めて小さい電位差が生じることがある。

【0013】

（第１の実施形態）
１．発光装置
図１は、第１の実施形態の検査対象である発光装置ＤＶ１の回路図である。発光装置ＤＶ１は、発光素子ＬＥＤ１と、抵抗器Ｒ１と、迂回抵抗器ＲＤ１と、半導体スイッチＳＷ１と、を有する。

【0014】

発光素子ＬＥＤ１は、電圧の印加により発光する半導体発光素子である。発光素子ＬＥＤ１は、アノード端子ＴＭ１とカソード端子ＴＭ２とを有する。

【0015】

抵抗器Ｒ１は、発光素子ＬＥＤ１と直列に接続されている電気抵抗である。抵抗器Ｒ１は単一の素子に限らず、発光素子ＬＥＤ１と直列に接続されている複数の素子等の抵抗を含めたものである。

【0016】

迂回抵抗器ＲＤ１は、半導体スイッチＳＷ１による漏れ電流を迂回させるための電気抵抗である。迂回抵抗器ＲＤ１は、発光素子ＬＥＤ１および抵抗器Ｒ１と並列に接続されている。迂回抵抗器ＲＤ１は単一の素子に限らず、発光素子ＬＥＤ１および抵抗器Ｒ１と並列に接続されている複数の素子等の抵抗を含めたものである。

【0017】

半導体スイッチＳＷ１は、発光素子ＬＥＤ１に電圧を印加するためのスイッチである。半導体スイッチＳＷ１は、発光素子ＬＥＤ１および抵抗器Ｒ１と、迂回抵抗器ＲＤ１と、直列に接続されている。半導体スイッチＳＷ１は、発光素子ＬＥＤ１と直列に接続されていれば、図１と異なる位置に配置されていてもよい。以降の図では、半導体スイッチＳＷ１を省略することがある。

【0018】

発光装置ＤＶ１は、端子ＴＭ３を有する。アノード端子ＴＭ１と端子ＴＭ３との間には抵抗器Ｒ１が配置されている。カソード端子ＴＭ２と端子ＴＭ３との間には迂回抵抗器ＲＤ１が配置されている。

【0019】

２．発光装置の検査装置
図２は、第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査装置１００の回路図である。検査装置１００は、定電流源Ａ１と、電圧計ＶＭ１と、正電圧電源ＢＰ１と、負電圧電源ＢＭ１と、オペアンプＯＡ１と、第１端子ＴＬ１と、第２端子ＴＬ２と、第３端子ＴＬ３と、を有する。

【0020】

定電流源Ａ１は、第１端子ＴＬ１と第２端子ＴＬ２との間にある素子に定電流を流すための電流源である。定電流源Ａ１は、第１端子ＴＬ１と導通する定電流源正極端子と、第２端子ＴＬ２と導通する定電流源負極端子と、を有する。実際には、定電流源Ａ１は、発光装置ＤＶ１のアノード端子ＴＭ１とカソード端子ＴＭ２との間に定電流を流す。定電流源Ａ１が流す電流の向きは、アノード端子ＴＭ１からカソード端子ＴＭ２の向きである。つまり、発光素子ＬＥＤ１のアノードからカソードに向かって電流Ｉ_ＬＥＤが順方向に流れる。電流Ｉ_ＬＥＤは、例えば、０．１μＡ以上１０μＡ以下である。

【0021】

電圧計ＶＭ１は、第１端子ＴＬ１と第２端子ＴＬ２との間の電圧を測定するための計測器である。電圧計ＶＭ１は、第１端子ＴＬ１と導通する電圧計正極端子と、第２端子ＴＬ２と導通する電圧計負極端子と、を有する。実際には、電圧計ＶＭ１は、発光装置ＤＶ１のアノード端子ＴＭ１とカソード端子ＴＭ２との間の電圧を測定する。これにより、電圧計ＶＭ１は、発光素子ＬＥＤ１の端子間の電圧を測定することができる。

【0022】

オペアンプＯＡ１は、正電源端子と負電源端子と非反転入力端子と反転入力端子と出力端子とを有する。

【0023】

正電源端子は正電圧電源ＢＰ１に接続されている。負電源端子は負電圧電源ＢＭ１に接続されている。

【0024】

非反転入力端子は、第３端子ＴＬ３と導通している。反転入力端子および出力端子は、第２端子ＴＬ２と導通している。

【0025】

オペアンプＯＡ１はボルテージフォロワ回路を構成している。すなわち、反転入力端子と出力端子とを導通させるネガティブフィードバックが実現されている。

【0026】

正電圧電源ＢＰ１は、オペアンプＯＡ１の正電源端子に正の電圧を入力する。正電圧電源ＢＰ１は、オペアンプＯＡ１の正電源端子に電気的に接続されている。

【0027】

負電圧電源ＢＭ１は、オペアンプＯＡ１の負電源端子に負の電圧を入力する。負電圧電源ＢＭ１は、オペアンプＯＡ１の負電源端子に電気的に接続されている。

【0028】

第１端子ＴＬ１は、発光素子ＬＥＤ１のアノード端子ＴＭ１と接続させるための端子である。第１端子ＴＬ１は、定電流源Ａ１の定電流源正極端子および電圧計ＶＭ１の電圧計正極端子と導通している。

【0029】

第２端子ＴＬ２は、発光素子ＬＥＤ１のカソード端子ＴＭ２と接続させるための端子である。第２端子ＴＬ２は、定電流源Ａ１の定電流源負極端子および電圧計ＶＭ１の電圧計負極端子と導通している。

【0030】

第３端子ＴＬ３は、オペアンプＯＡ１の反転入力端子または非反転入力端子と導通させるための端子である。

【0031】

検査装置１００は、第１端子ＴＬ１または第２端子ＴＬ２と、第３端子ＴＬ３と、の間に抵抗器Ｒ１または迂回抵抗器ＲＤ１の少なくとも一部の区間を挟むように、第３端子ＴＬ３を接続することが可能である。

【0032】

３．発光装置の検査方法
図３は、第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法を示す回路図（その１）である。図３に示すように、検査装置１００を用いる。

【0033】

第１端子ＴＬ１は定電流源Ａ１の定電流源正極端子および電圧計ＶＭ１の電圧計正極端子と導通している。第２端子ＴＬ２は定電流源Ａ１の定電流源負極端子および電圧計ＶＭ１の電圧計負極端子と導通している。

【0034】

ボルテージフォロワを構成するオペアンプＯＡ１を用いる。オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第３端子ＴＬ３に導通させる。オペアンプＯＡ１の反転入力端子および出力端子を第２端子ＴＬ２に導通させる。このように、第２端子ＴＬ２と第３端子ＴＬ３との間に迂回抵抗器ＲＤ１を配置するように第３端子を接続する。

【0035】

ネガティブフィードバックによりボルテージフォロワを構成しているため、オペアンプＯＡ１の反転入力端子の電位と、オペアンプＯＡ１の非反転入力端子の電位とは、原理的に等しい。このため、第２端子ＴＬ２と第３端子ＴＬ３との間の電位差は、ネガティブフィードバックの精度の範囲内においてゼロである。

【0036】

第１端子ＴＬ１を発光素子ＬＥＤ１のアノード端子ＴＭ１に接続する。第２端子ＴＬ２を発光素子ＬＥＤ１のカソード端子ＴＭ２に接続する。第３端子ＴＬ３と第１端子ＴＬ１との間に抵抗器Ｒ１を挟むように第３端子ＴＬ３を配置する。

【0037】

迂回抵抗器ＲＤ１の正極側端子は、第３端子ＴＬ３に接続されており、迂回抵抗器ＲＤ１の負極側端子は、第２端子ＴＬ２に接続されている。このとき、迂回抵抗器ＲＤ１の両端の電位は等しい。すなわち、迂回抵抗器ＲＤ１には電圧が印加されず、迂回抵抗器ＲＤ１には電流が流れない。

【0038】

図４は、第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法を示す回路図（その２）である。図４には、回路に流れる電流が示されている。図４に示すように、定電流源Ａ１が定電流Ｉ１を流す。これにより、発光素子ＬＥＤ１に素子電流Ｉ_ＬＥＤが流れる。このとき、抵抗器Ｒ１および迂回抵抗器ＲＤ１は、発光素子ＬＥＤ１に並列に接続された状態となっている。抵抗器Ｒ１および迂回抵抗器ＲＤ１に流れる電流を仮想的に電流Ｉ_Ｒとする。

【0039】

上記の電流は次式を満たす。
Ｉ_ＬＥＤ ＝ Ｉ１ － Ｉ_Ｒ ………（１）

【0040】

ここで、迂回抵抗器ＲＤ１の両端の端子間の電圧がゼロである。このため、迂回抵抗器ＲＤ１には電流は流れない。また、抵抗器Ｒ１にも電流は流れない。したがって、電流Ｉ_Ｒはゼロである。これにより、次式が成り立つ。
Ｉ_ＬＥＤ ＝ Ｉ１ ………（２）

【0041】

この場合には、発光素子ＬＥＤ１に所望の定電流Ｉ１を流すことができる。つまり、発光素子ＬＥＤ１に定電流Ｉ１を流しながら、発光素子ＬＥＤ１の両端の端子間の電圧を測定することができる。

【0042】

電圧計ＶＭ１が測定した発光素子ＬＥＤ１の電圧が予め定められた閾値電圧以上であれば、その発光素子ＬＥＤ１を良品であると判断する。電圧計ＶＭ１が測定した発光素子ＬＥＤ１の電圧が予め定められた閾値電圧未満であれば、その発光素子ＬＥＤ１を不良品であると判断する。ここで、良品とは、劣化しておらず好適に発光する発光素子を意味している。このように、検査装置１００は、発光素子ＬＥＤ１の電圧を正確に測定することができる。

【0043】

第１の実施形態では、迂回抵抗器ＲＤ１の両端の端子間の電位差をゼロとなるように制御している状態で、定電流源Ａ１が発光素子ＬＥＤ１のアノード端子ＴＭ１とカソード端子ＴＭ２との間に定電流を流しながら、電圧計ＶＭ１が発光素子ＬＥＤ１のアノード端子ＴＭ１とカソード端子ＴＭ２との間の電圧を測定する。

【0044】

４．従来技術との比較
４－１．従来の場合
図５は、従来の発光装置の検査方法を示す回路図（その１）である。この場合には、電流Ｉ_Ｒがゼロでなく、式（２）が成り立たない。このため、定電流源Ａ１が流す電流Ｉ１と、電圧計ＶＭ１が測定する電圧とが対応していない。すなわち、発光素子ＬＥＤ１の電圧を正確に測定することができない。

【0045】

４－２．従来の場合（ダイオード）
図６は、従来の発光装置の検査方法を示す回路図（その２）である。この場合には、発光素子ＬＥＤ１に直列にダイオードＤ１が配置されている。このため、式（２）が成り立つ。しかし、ダイオードＤ１は、この検査のときにだけ必要な素子である。発光装置の使用時には不要である。ダイオードＤ１による電圧降下は約０．７Ｖ程度である。ダイオードＤ１が発光装置ＤＶ１内に存在することにより、駆動電圧が上昇し、使用電力が上昇し、回路基板が複雑化する。

【0046】

５．第１の実施形態の効果
第１の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法は、検査装置１００を用いる。これにより、迂回抵抗器ＲＤ１の両端の端子間にかかる電圧をゼロに制御しつつ、発光素子ＬＥＤ１に定電流を流しながら、発光素子ＬＥＤ１の両端の端子間の電圧を測定する。測定の際に、迂回抵抗器ＲＤ１に電流が流れないため、発光素子ＬＥＤ１に流れる電流は定電流Ｉ１である。これにより、漏れ電流を迂回するための迂回抵抗器を有する発光素子ＬＥＤ１の劣化を正確に判定することができる。

【0047】

６．変形例
６－１．端子の接続状態
前述のように、非反転入力端子の電位と反転入力端子の電位とは等しくなるように制御されている。このため、非反転入力端子と反転入力端子とを入れ替えてもよい。つまり、図３において、オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第２端子ＴＬ２に接続し、オペアンプＯＡ１の反転入力端子を第３端子ＴＬ３に接続してもよい。このように、第２端子ＴＬ２と第３端子ＴＬ３との間に迂回抵抗器ＲＤ１を配置するように第３端子を接続する。

【0048】

６－２．接地
検査装置１００のいずれかの箇所を接地してもよい。

【0049】

６－３．電位差
迂回抵抗器ＲＤ１の両端の端子間の電位差を－１００μＶ以上１００μＶ以下に制御してもよい。

【0050】

６－４．組み合わせ
上記の変形例を組み合わせてもよい。

【0051】

（第２の実施形態）
第２の実施形態について説明する。第２の実施形態において検査する発光素子ＬＥＤ１および検査装置１００は第１の実施形態のものと同様である。したがって、第１の実施形態と異なる点について説明する。

【0052】

１．発光装置の検査方法
図７は、第２の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法を示す回路図である。図７に示すように、検査装置１００を用いる。定電流源Ａ１および電圧計ＶＭ１の接続状態は、第１の実施形態と同様である。オペアンプＯＡ１の接続状態は、第１の実施形態と異なっている。

【0053】

オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第１端子ＴＬ１に導通させる。オペアンプＯＡ１の反転入力端子および出力端子を第３端子ＴＬ３に導通させる。このように、第１端子ＴＬ１と第３端子ＴＬ３との間に抵抗器Ｒ１を配置するように第３端子を接続する。

【0054】

このため、抵抗器Ｒ１および迂回抵抗器ＲＤ１に電流Ｉ_Ｒが流れない。

【0055】

２．第２の実施形態の効果
第２の実施形態の発光装置ＤＶ１の検査方法は、検査装置１００を用いる。これにより、抵抗器Ｒ１の両端の端子間にかかる電圧をゼロに制御しつつ、発光素子ＬＥＤ１に定電流を流しながら、発光素子ＬＥＤ１の両端の端子間の電圧を測定する。測定の際に、抵抗器Ｒ１に電流が流れないため、発光素子ＬＥＤ１に流れる電流は定電流Ｉ１である。これにより、漏れ電流を迂回するための迂回抵抗器を有する発光素子ＬＥＤ１の劣化を正確に判定することができる。

【0056】

３．変形例
３－１．端子の接続状態
非反転入力端子と反転入力端子とを入れ替えてもよい。つまり、図７において、オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第３端子ＴＬ３に接続し、オペアンプＯＡ１の反転入力端子を第１端子ＴＬ１に接続してもよい。このように、第１端子ＴＬ１と第３端子ＴＬ３との間に抵抗器Ｒ１を配置するように第３端子を接続する。

【0057】

（第３の実施形態）
第３の実施形態について説明する。第２の実施形態において検査に用いる検査装置１００は第１の実施形態のものと同様である。したがって、第１の実施形態と異なる点について説明する。

【0058】

１．発光装置
図８は、第３の実施形態の検査対象である発光装置ＤＶ２の回路図である。発光装置ＤＶ２は、発光素子ＬＥＤ１と、抵抗器Ｒ１と、迂回抵抗器ＲＤ２、ＲＤ３と、半導体スイッチＳＷ１と、を有する。

【0059】

迂回抵抗器ＲＤ２、ＲＤ３は、半導体スイッチＳＷ１による漏れ電流を迂回させるための迂回抵抗器である。迂回抵抗器ＲＤ２、ＲＤ３は、発光素子ＬＥＤ１と並列に接続されている抵抗成分である。迂回抵抗器ＲＤ２、ＲＤ３は単一の素子に限らず、発光素子ＬＥＤ１と並列に接続されている複数の素子等の抵抗を含めたものである。

【0060】

迂回抵抗器ＲＤ２と迂回抵抗器ＲＤ３とは直列に接続されている。迂回抵抗器ＲＤ２は、迂回抵抗器ＲＤ３よりもアノード側に配置されている。迂回抵抗器ＲＤ２の電気抵抗値と迂回抵抗器ＲＤ３の電気抵抗値との間の大小関係はいずれであってもよい。

【0061】

迂回抵抗器ＲＤ２、ＲＤ３は、抵抗器Ｒ１に直列に接続されている。

【0062】

２．発光装置の検査方法
図９は、第３の実施形態の発光装置ＤＶ２の検査方法を示す回路図である。図９に示すように、検査装置１００を用いる。定電流源Ａ１および電圧計ＶＭ１の接続状態は、第１の実施形態と同様である。オペアンプＯＡ１の接続状態は、第１の実施形態と異なっている。

【0063】

オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第１端子ＴＬ１に導通させる。オペアンプＯＡ１の反転入力端子および出力端子を第３端子ＴＬ３に導通させる。このように、第１端子ＴＬ１と第３端子ＴＬ３との間に迂回抵抗器ＲＤ２を配置するように第３端子を接続する。

【0064】

このため、抵抗器Ｒ１に電流が流れず、迂回抵抗器ＲＤ２、ＲＤ３に電流Ｉ_Ｒが流れない。

【0065】

３．第３の実施形態の効果
第３の実施形態の発光装置ＤＶ２の検査方法は、検査装置１００を用いる。これにより、迂回抵抗器ＲＤ２の両端の端子間にかかる電圧をゼロに制御しつつ、発光素子ＬＥＤ１に定電流を流しながら、発光素子ＬＥＤ１の両端の端子間の電圧を測定する。測定の際に、迂回抵抗器ＲＤ２に電流が流れないため、発光素子ＬＥＤ１に流れる電流は定電流Ｉ１である。これにより、漏れ電流を迂回するための迂回抵抗器を有する発光素子ＬＥＤ１の劣化を正確に判定することができる。

【0066】

４．変形例
４－１．端子の接続状態
非反転入力端子と反転入力端子とを入れ替えてもよい。つまり、図９において、オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第３端子ＴＬ３に接続し、オペアンプＯＡ１の反転入力端子を第１端子ＴＬ１に接続してもよい。このように、第１端子ＴＬ１と第３端子ＴＬ３との間に迂回抵抗器ＲＤ２を配置するように第３端子を接続する。

【0067】

４－２．抵抗器
オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第２端子ＴＬ２に導通させ、オペアンプＯＡ１の反転入力端子および出力端子を第３端子ＴＬ３に導通させてもよい。このように、第２端子ＴＬ２と第３端子ＴＬ３との間に迂回抵抗器ＲＤ３を配置するように第３端子を接続する。

【0068】

オペアンプＯＡ１の非反転入力端子を第３端子ＴＬ３に導通させ、オペアンプＯＡ１の反転入力端子および出力端子を第２端子ＴＬ２に導通させてもよい。

【0069】

（付記）
第１の態様における発光装置の検査方法は、アノード端子とカソード端子とを有する発光素子と、発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有する発光装置の検査方法である。この方法では、反転入力端子と出力端子とを導通させたオペアンプを用い、定電流源の定電流源正極端子および電圧計の電圧計正極端子と導通する第１端子と、定電流源の定電流源負極端子および電圧計の電圧計負極端子と導通する第２端子と、オペアンプの反転入力端子または非反転入力端子と導通する第３端子と、を用いる。第１端子を発光素子のアノード端子に接続する。第２端子を発光素子のカソード端子に接続する。第１端子または第２端子と、第３端子と、の間に第１抵抗器または迂回抵抗器の少なくとも一部の区間を挟むように、第３端子を接続する。発光素子に定電流を流しながら発光素子のアノード端子とカソード端子との間の電圧を測定する。

【0070】

第２の態様における発光装置の検査方法においては、第２端子と第３端子との間に迂回抵抗器を配置するように第３端子を接続する。

【0071】

第３の態様における発光装置の検査方法においては、第１端子と第３端子との間に第１抵抗器を配置するように第３端子を接続する。

【0072】

第４の態様における発光装置の検査方法においては、発光装置の迂回抵抗器は、第１迂回抵抗器と第１迂回抵抗器と直列に接続された第２迂回抵抗器とを有する。第１端子と第３端子との間に第１迂回抵抗器を配置するように第３端子を接続する。

【0073】

第５の態様における発光装置の検査方法においては、発光装置の迂回抵抗器は、第１迂回抵抗器と第１迂回抵抗器と直列に接続された第２迂回抵抗器とを有する。第２端子と第３端子との間に第２迂回抵抗器を配置するように第３端子を接続する。

【0074】

第６の態様における発光装置の検査方法においては、発光装置は、発光素子と、発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有する。この方法では、第１抵抗器または迂回抵抗器の少なくとも一部の区間の電位差を－１００μＶ以上１００μＶ以下に制御しつつ、発光素子に定電流を流しながら発光素子のアノード端子とカソード端子との間の電圧を測定する。

【0075】

第７の態様における発光装置の検査方法においては、発光装置は、発光素子と、発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有する。この方法では、第１抵抗器または迂回抵抗器の少なくとも一部の区間の電位差をゼロとなるように制御しつつ、発光素子に定電流を流しながら発光素子のアノード端子とカソード端子との間の電圧を測定する。

【0076】

第８の態様における発光装置の検査装置は、アノード端子とカソード端子とを有する発光素子と、発光素子と直列に接続された第１抵抗器と、発光素子と並列に接続された迂回抵抗器と、を有する発光装置を検査する。検査装置は、発光素子のアノード端子と接続するための第１端子と、発光素子のカソード端子と接続するための第２端子と、第３端子と、第１端子と第２端子との間に定電流を流す定電流源と、第１端子と第２端子との間の電圧を測定する電圧計と、オペアンプと、を有する。定電流源は、第１端子と導通する定電流源正極端子と、第２端子と導通する定電流源負極端子と、を有する。電圧計は、第１端子と導通する電圧計正極端子と、第２端子と導通する電圧計負極端子と、を有する。オペアンプは、正電源端子と、負電源端子と、非反転入力端子と、反転入力端子と、出力端子と、を有する。オペアンプは、出力端子と反転入力端子とが導通されている。検査装置は、第１端子または第２端子と、第３端子と、の間に第１抵抗器または迂回抵抗器の少なくとも一部の区間を挟むように、第３端子を接続することが可能である。

【符号の説明】

【0077】

ＤＶ１、ＤＶ２…発光装置
ＬＥＤ１…発光素子
Ｒ１…抵抗器
ＲＤ１、ＲＤ２、ＲＤ３…迂回抵抗器
１００…検査装置
Ａ１…定電流源
ＶＭ１…電圧計
ＯＡ１…オペアンプ
ＴＬ１…第１端子
ＴＬ２…第２端子
ＴＬ３…第３端子

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】