特許7607923薄膜密着強度評価方法、薄膜密着強度評価装置及び試験用基板

発明の名称　薄膜密着強度評価方法、薄膜密着強度評価装置及び試験用基板

出願人　学校法人　中央大学　（識別番号 599011687）

　　　　特許公開件数ランキング 1128 位（30件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1541 位（15件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7607923

公報発行日　2025年1月6

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7607923

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