特許 7632158 測定システム及び測定方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2025-02-10

(45)【発行日】2025-02-19

(54)【発明の名称】測定システム及び測定方法

(51)【国際特許分類】

   G01D 5/353 20060101AFI20250212BHJP

【ＦＩ】

G01D5/353 B

【請求項の数】 4

(21)【出願番号】P 2021127582

(22)【出願日】2021-08-03

(65)【公開番号】P2023022608

(43)【公開日】2023-02-15

【審査請求日】2024-04-03

(73)【特許権者】

【識別番号】000006507

【氏名又は名称】横河電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110002147

【氏名又は名称】弁理士法人酒井国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】手塚 信一郎

(72)【発明者】

【氏名】松浦 聡

【審査官】藤澤 和浩

(56)【参考文献】

【文献】特開２０２１－２８６１７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平６－１０９５８９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００７－２４９０１８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１１－１９６７９４（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｄ ５／２６－５／３８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

長手方向において区画された複数のセグメントを含む光ファイバと、
パルス化されたポンプ光を前記光ファイバに送出し、前記光ファイバ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定する測定装置と、
前記複数のセグメントのうちの隣り合うセグメントどうしの間に設けられ、前記隣り合うセグメントどうしを光学的に接続するか又は切り離すスイッチと、
を備える測定システムであって、
前記測定装置による前記測定は、
前記スイッチを制御することにより、前記複数のセグメントのうち、前記測定装置に光学的に接続されるセグメントを選択することと、
選択したセグメント内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することと、
を含み、
前記スイッチは、前記測定装置側のセグメントを光学的に終端することにより、前記隣り合うセグメントどうしを切り離す、
測定システム。

【請求項2】

前記測定装置は、前記選択したセグメント全体の長さに応じて、前記ポンプ光の前記光ファイバへの送出間隔を設定する、
請求項１に記載の測定システム。

【請求項3】

前記測定装置は、前記セグメント全体の長さが短くなるにつれて前記送出間隔が短くなるように、前記送出間隔を設定する、
請求項２に記載の測定システム。

【請求項4】

パルス化されたポンプ光を光ファイバに送出し、前記光ファイバ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することを含む測定方法であって、
前記光ファイバは、長手方向において区画された複数のセグメントを含み、
前記複数のセグメントのうちの隣り合うセグメントどうしの間には、前記隣り合うセグメントどうしを光学的に接続するか又は切り離すスイッチが設けられ、
前記測定することは、
前記スイッチを制御することにより、前記複数のセグメントのうち、測定装置に接続されるセグメントを選択することと、
選択したセグメント内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することと、
を含み、
前記スイッチは、前記測定装置側のセグメントを光学的に終端することにより、前記隣り合うセグメントどうしを切り離す、
測定方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測定システム及び測定方法に関する。

【背景技術】

【0002】

パルス化されたポンプ光を光ファイバに送出し、これに応じて光ファイバ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することで、光ファイバの特性を測定する技術が知られている（例えば特許文献１を参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０１４－１５９９８７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ポンプ光の送出間隔は、ポンプ光が光ファイバを往復する時間よりも長くなるように設定される。光ファイバが長くなるほどポンプ光の送出間隔が長くなり、測定に要する時間も長くなる。

【0005】

本発明は、光ファイバの特性の測定に要する時間を短くすることを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

一側面に係る測定システムは、長手方向において区画された複数のセグメントを含む光ファイバと、パルス化されたポンプ光を光ファイバに送出し、光ファイバ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定する測定装置と、複数のセグメントのうちの隣り合うセグメントどうしの間に設けられ、隣り合うセグメントどうしを光学的に接続するか又は切り離すスイッチと、を備える測定システムであって、測定装置による測定は、スイッチを制御することにより、複数のセグメントのうち、測定装置に光学的に接続されるセグメントを選択することと、選択したセグメント内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することと、を含む。

【0007】

一側面に係る測定方法は、パルス化されたポンプ光を光ファイバに送出し、光ファイバ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することを含む測定方法であって、光ファイバは、長手方向において区画された複数のセグメントを含み、複数のセグメントのうちの隣り合うセグメントどうしの間には、隣り合うセグメントどうしを光学的に接続するか又は切り離すスイッチが設けられ、測定することは、スイッチを制御することにより、複数のセグメントのうち、測定装置に接続されるセグメントを選択することと、選択したセグメント内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定することと、を含む。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、光ファイバの特性の測定に要する時間を短くすることが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】実施形態に係る測定システムの概略構成の例を示す図である。

【図2】制御部による設定の例を示す図である。

【図3】測定装置において実行される処理（測定方法）の例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、図面を参照しつつ実施形態について説明する。同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明は適宜省略する。

【0011】

図１は、実施形態に係る測定システムの概略構成の例を示す図である。測定システム１００は、ファイバ装置１と、測定装置２とを含む。

【0012】

ファイバ装置１は、光ファイバＦＵＴと、スイッチＳＷ（スイッチＳＷ１２等として図示）と、終端器Ｔとを含む。光ファイバＦＵＴの長手方向における任意の位置の特性が、測定装置２によって測定される。特性の例は、歪み、温度等の物理量である。光ファイバＦＵＴの長手方向における複数の位置それぞれの特性が測定されてよく、その場合には、光ファイバＦＵＴの長手方向における特性分布（歪み分布等）が測定される。

【0013】

光ファイバＦＵＴの端部のうち、測定装置２に光学的に接続される端部を、近端部ＮＥと称し図示する。近端部ＮＥとは反対側の端部を、遠端部ＦＥと称し図示する。光ファイバＦＵＴは、長手方向において区画された複数のセグメントＦＳを含む。複数のセグメントＦＳとして、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ４が例示される。

【0014】

セグメントＦＳ１は、測定装置２に光学的に接続される第１のセグメントである。セグメントＦＳ１の一端部（測定装置２側の端部）が、ファイバＦＵＴの近端部ＮＥを構成する。セグメントＦＳ２は、セグメントＦＳ１を挟んで測定装置２とは反対側（遠端部ＦＥ側）に位置する第２のセグメントである。セグメントＦＳ３は、セグメントＦＳ２を挟んでセグメントＦＳ１とは反対側に位置する第３のセグメントである。セグメントＦＳ４は、セグメントＦＳ３を挟んでセグメントＦＳ２とは反対側に位置する第４のセグメントである。セグメントＦＳ４における測定装置２側とは反対側の端部が、ファイバＦＵＴの遠端部ＦＥを構成する。

【0015】

スイッチＳＷは、隣り合うセグメントＦＳどうしの間に設けられる。複数のセグメントＦＳの数よりも１つだけ少ない数のスイッチＳＷ、すなわちこの例では３つのスイッチＳＷが設けられる。各スイッチＳＷを区別できるように、スイッチＳＷ１２、スイッチＳＷ２３及びスイッチＳＷ３４と称し図示する。スイッチＳＷ１２は、セグメントＦＳ１とセグメントＦＳ２との間に設けられる。スイッチＳＷ２３は、セグメントＦＳ２とセグメントＦＳ３との間に設けられる。スイッチＳＷ３４は、セグメントＦＳ３とセグメントＦＳ４との間に設けられる。

【0016】

スイッチＳＷは、スイッチＳＷを挟んで隣り合うセグメントＦＳどうしを光学的に接続するか、又は、切り離す。図１に示される例では、スイッチＳＷは、測定装置２側のセグメントＦＳを光学的に終端することにより、隣り合うセグメントＦＳどうしを切り離す。終端には、終端器Ｔが用いられる。終端器Ｔは、光終端器であり、セグメントＦＳに光学的に接続されることにより、そのセグメントＦＳを光学的に終端する。複数のセグメントＦＳの数と同じ数の終端器Ｔ、すなわちこの例では４つの終端器Ｔが設けられる。各終端器Ｔを区別できるように、終端器Ｔ１～終端器Ｔ４と称し図示する。

【0017】

スイッチＳＷの具体的な構成はとくに限定されず、種々の公知の光スイッチが用いられてよい。図１に示される例では、スイッチＳＷは、ポートＰ１～ポートＰ３を含む。ポートＰ１には、測定装置２側のセグメントＦＳが光学的に接続される。ポートＰ２には、測定装置２側とは反対側のセグメントＦＳが光学的に接続される。ポートＰ３には、終端器Ｔが光学的に接続される。スイッチＳＷは、ポートＰ１とポートＰ２とが光学的に接続される状態、及び、ポートＰ１とポートＰ３とが光学的に接続される状態の間で切り替わる。ポートＰ１とポートＰ２とが光学的に接続されることにより、隣り合うセグメントＦＳどうしが光学的に接続される。ポートＰ１とポートＰ３とが光学的に接続されることにより、測定装置２側のセグメントＦＳと終端器Ｔとが光学的に接続される。

【0018】

スイッチＳＷ１２のポートＰ１には、セグメントＦＳ１の他端部（近端部ＮＥと反対側の端部）が光学的に接続される。スイッチＳＷ１２のポートＰ２には、セグメントＦＳ２の一端部が光学的に接続される。スイッチＳＷ１２のポートＰ３には、終端器Ｔ１が光学的に接続される。

【0019】

スイッチＳＷ２３のポートＰ１には、セグメントＦＳ２の他端部が光学的に接続される。スイッチＳＷ２３のポートＰ２には、セグメントＦＳ３の一端部が光学的に接続される。スイッチＳＷ２３のポートＰ３には、終端器Ｔ２が光学的に接続される。

【0020】

スイッチＳＷ３４のポートＰ１には、セグメントＦＳ３の他端部が光学的に接続される。スイッチＳＷ３４のポートＰ２には、セグメントＦＳ４の一端部が光学的に接続される。スイッチＳＷ３４のポートＰ３には、終端器Ｔ３が光学的に接続される。また、セグメントＦＳ４の他端部（遠端部ＦＥ）には、終端器Ｔ４が光学的に接続される。

【0021】

測定装置２について説明する。測定装置２は、ファイバ装置１の光ファイバＦＵＴの特性を測定する。以下では、測定方式として、時間ゲート法ＢＯＣＤＲ（Brillouin Optical Correlation Domain Reflectometry）法を例に挙げて説明する。

【0022】

測定装置２は、ポンプ光を生成し、光ファイバＦＵＴに送出する（入射させる）。ポンプ光の生成及び光ファイバＦＵＴへの入射に関する要素として、測定装置２は、光源２１と、変調器２２と、カプラ２３と、パルス化部２４と、遅延器２５と、サーキュレータ２６と、端子２７とを含む。

【0023】

光源２１は、光を出力する。光源２１は、例えばＬＤ（Laser Diode）を含んで構成される。変調器２２は、光源２１が出力する光に対して周波数変調を行うＦＭ変調器である。周波数変調された後の光を、変調光Ｌ_ＦＭと称し図示する。

【0024】

カプラ２３は、光源２１からの変調光Ｌ_ＦＭを２つに分岐させる。分岐した２つの光のうち、一方の光を、引き続き変調光Ｌ_ＦＭとして図示する。他方の光を、参照光Ｌ_ＲＥＦと称し図示する。変調光Ｌ_ＦＭは、パルス化部２４に送られる。参照光Ｌ_ＲＥＦは、後述のミキサ２８に送られる。

【0025】

パルス化部２４は、カプラ２３からの変調光Ｌ_ＦＭをパルス化する。パルス化部２４は、例えば偏光依存型半導体光増幅器(ＢＯＡ等とも称される)を含んで構成される。パルス化された変調光Ｌ_ＦＭを、ポンプ光Ｌ_Ｐと称し図示する。

【0026】

遅延器２５は、ポンプ光Ｌ_Ｐに遅延を与える。遅延器２５は、例えば所望の遅延を与える長さを有する光ファイバ（遅延光ファイバ）を含んで構成される。遅延が与えられることにより、変調周波数の掃引によっても位置変化しない０次相関ピークが光ファイバＦＵＴの外部に位置するようになる。

【0027】

サーキュレータ２６は、遅延器２５を通過したポンプ光Ｌ_Ｐを、端子２７に導く。端子２７には、光ファイバＦＵＴの近端部ＮＥが光学的に接続される。ポンプ光ＬＰは、端子２７から光ファイバＦＵＴに送出される。

【0028】

端子２７から光ファイバＦＵＴに送出されたポンプ光Ｌ_Ｐは、光ファイバＦＵＴ内の各位置で散乱されるとともに、光ファイバＦＵＴを往復して端子２７に戻る。端子２７に戻った光を、戻り光Ｌ_Ｓと称し図示する。戻り光Ｌ_Ｓは、ブリルアン散乱光を含む。戻り光Ｌ_Ｓは、サーキュレータ２６を介して後述のミキサ２８に送られる。

【0029】

測定装置２は、戻り光Ｌ_Ｓに含まれるブリルアン散乱光に基づいて、光ファイバＦＵＴの特性を測定する。特性測定に関するに関する要素として、測定装置２は、ミキサ２８と、スペクトラムアナライザ２９と、算出部３０とを含む。

【0030】

ミキサ２８は、カプラ２３からの参照光Ｌ_ＲＥＦと、サーキュレータ２６からの戻り光Ｌ_Ｓとを混合し、電気信号に変換（Ｏ－Ｅ変換）する。周波数変調された参照光Ｌ_ＲＥＦ及び戻り光Ｌ_Ｓの位相差が２πの整数倍となる条件で、それぞれの光の位相が揃って互いに強め合う。変調周波数に応じた光ファイバＦＵＴ内の位置（相関ピーク位置）からの戻り光Ｌ_Ｓに対応する電気信号が、選択的に受信される。電気信号は、ＧＨｚ帯域のＲＦ信号である。

【0031】

スペクトラムアナライザ２９は、ミキサ２８によって選択的に受信された電気信号に基づいて、戻り光Ｌ_Ｓに含まれるブリルアン散乱光のスペクトルを測定する。スペクトラムアナライザ２９は、電気スペクトラムアナライザ（ＥＳＡ：Electrical Spectrum Analyzer）である。上述の相関ピーク位置、すなわち光ファイバＦＵＴ内の測定位置からの戻り光ＬＳの伝搬時間（戻り時間）に基づき、スペクトラムアナライザ２９に入力される電気信号が時間的に選別される。光ファイバＦＵＴ内の測定位置で発生したブリルアン散乱光のスペクトルが測定される。このように測定されるブリルアン散乱光のスペクトルは、ＢＧＳ（Brillouin Gain Spectrum）と称される。本開示におけるブリルアン散乱光のスペクトルは、このＢＧＳのことである。

【0032】

算出部３０は、ＢＧＳにおいて強度が最大となるピーク周波数の周波数シフト量を算出する。この周波数シフト量は、ＢＦＳ（Brillouin Frequency Shift）と称される。ＢＦＳは光ファイバＦＵＴの物理量すなわち歪みや温度の値等に比例する。算出されたＢＦＳから、測定位置における光ファイバＦＵＴの歪みや温度等が求められる。このようにして、光ファイバＦＵＴの特性が測定される。

【0033】

測定装置２についてさら説明すると、測定装置２は、制御部３１を含む。制御部３１は、測定装置２の各要素を制御することによって測定装置２の全体制御を行う。制御は、例えば制御信号等を用いて行われる。いくつかの制御の例について述べる。

【0034】

例えば、制御部３１は、変調器２２を制御することによって、変調光Ｌ_ＦＭの変調周波数を設定する。上述のように、変調周波数に応じて、光ファイバＦＵＴ内の測定位置が変化する。より具体的に、制御部３１は、変調周波数を掃引する。変調周波数の掃引により、光ファイバＦＵＴの長手方向における複数の異なる位置それぞれでの光ファイバＦＵＴの特性（分布特性）が測定される。制御部３１は、変調器２２を制御することにより、変調周波数の掃引速度、掃引範囲等を設定してもよい。

【0035】

制御部３１は、パルス化部２４を制御することによって、ポンプ光Ｌ_Ｐのパルス間隔、すなわちポンプ光Ｌ_Ｐの光ファイバＦＵＴへの送出間隔を設定する。上述のように変調周波数が掃引され、異なる変調周波数で変調されたポンプ光Ｌ_Ｐが、設定されたパルス間隔で順次光ファイバＦＵＴに送出される。他にも、制御部３１は、パルス化部２４を制御することによって、ポンプ光ＬＰのパルス強度、パルス幅等を設定する。

【0036】

制御部３１は、ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔を、測定待ち時間よりも長い間隔に設定する。測定待ち時間は、光ファイバＦＵＴのうち、測定装置２に光学的に接続された部分をポンプ光Ｌ_Ｐが往復するのに要する時間である。ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔を測定待ち時間よりも長く設定するのは、異なる相関ピークに対応する異なる位置で発生したブリルアン散乱光が同時に受光され、クロストーク等に起因する測定誤差等が生じるのを防ぐためである。

【0037】

本実施形態では、制御部３１は、ファイバ装置１のスイッチＳＷを制御することにより、複数のセグメントＦＳのうち、測定装置２に光学的に接続されるセグメントＦＳを選択する。例えば、制御部３１は、スイッチＳＷ１２、スイッチＳＷ２３及びスイッチＳＷ３４それぞれに、制御信号を送信する。各スイッチＳＷが個別に制御される。選択されたセグメントＦＳ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルが測定される。

【0038】

留意すべきことは、選択されたセグメントＦＳ全体の長さ（以下、「選択セグメント長」とも称する。）に応じて、上述の測定待ち時間が変化することである。選択セグメント長が長いほど、測定待ち時間は長くなる。選択セグメント長が短いほど、測定待ち時間は短くなる。

【0039】

一実施形態において、制御部３１は、選択セグメント長に応じて、ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔を設定する。例えば、制御部３１は、選択セグメント長が短くなるにつれて送出間隔が短くなるように、ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔を設定する。送出間隔が短くなる分、分布特性の測定に要する時間を短くすることができる。以後、分布特性の測定に要する時間を、単に「測定時間」ともいう。

【0040】

制御部３１は、送出間隔の設定に応じて、変調周波数の掃引速度や掃引範囲も設定してよい。例えば、制御部３１は、送出間隔が短くなる分、掃引速度を速くしたり、掃引範囲を狭くしたりする。掃引速度が速くなったり掃引範囲が狭くなったりする分、測定時間を短くすることができる。

【0041】

図２は、制御部による設定の例を示す図である。セグメントＦＳ１だけを選択する場合、制御部３１は、スイッチＳＷ１２によってセグメントＦＳ１と終端器Ｔ１とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ１２を制御する。スイッチＳＷ２３及びスイッチＳＷ３４は任意に制御されてよい。ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔は、第１の送出間隔に設定される。第１の送出間隔は、セグメントＦＳ１に対応する測定待ち時間、すなわちポンプ光Ｌ_ＰがセグメントＦＳを往復する時間を下回らない範囲内で（例えばなるべく短くなるように）設定される。

【0042】

セグメントＦＳ１及びセグメントＦＳ２が選択される場合、セグメントＦＳ１とセグメントＦＳ２とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ１２が制御される。セグメントＦＳ２と終端器Ｔ２とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ２３が制御される。スイッチＳＷ３４は、任意に制御される。ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔は、第２の送出間隔に設定される。第２の送出間隔は、セグメントＦＳ１及びセグメントＦＳ２に対応する測定待ち時間を下回らない範囲内で設定される。

【0043】

セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ３が選択される場合、セグメントＦＳ１とセグメントＦＳ２とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ１２が制御される。セグメントＦＳ２とセグメントＦＳ３とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ２３が制御される。セグメントＦＳ３と終端器Ｔ３とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ３４が制御される。ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔は、第３の送出間隔に設定される。第３の送出間隔は、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ３に対応する測定待ち時間を下回らない範囲内で設定される。

【0044】

セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ４が選択される場合、セグメントＦＳ１とセグメントＦＳ２とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ１２が制御される。セグメントＦＳ２とセグメントＦＳ３とが光学的に接続されるようにスイッチＳＷ２３が制御される。セグメントＦＳ３とセグメントＦＳ４とが光学的に接続されるように、スイッチＳＷ３４が制御される。ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔は、第４の送出間隔に設定される。第４の送出間隔は、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ４に対応する測定待ち時間を下回らない範囲内で設定される。

【0045】

第１の送出間隔～第４の送出間隔を比較すると、第３の送出間隔は、第４の送出間隔よりも短い。従って、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ３だけを選択することで、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ４（すなわち光ファイバＦＵＴ全体）を選択する場合よりも、測定時間を短くすることができる。第２の送出間隔は、第３の送出間隔よりも短い。従って、セグメントＦＳ１及びセグメントＦＳ２だけを選択することで、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ３を選択する場合よりも、測定時間を短くすることができる。第１の送出間隔は、第２の送出間隔よりも短い。従って、セグメントＦＳ１だけを選択することで、セグメントＦＳ１及びセグメントＦＳ２を選択する場合よりも、測定時間を短くすることができる。

【0046】

図１に戻り、制御部３１は、図示しない操作盤やディスプレイを制御することによって、測定装置２の操作に関する情報をユーザに表示したり、ユーザ操作を受け付けたりしてよい。ユーザ操作には、上述のセグメントＦＳの選択に関する情報の入力が含まれ得る。例えば、測定位置情報が入力される。測定位置情報の例は、測定位置を含むセグメントＦＳの情報、光ファイバＦＵＴにおける位置情報（例えば近端部ＮＥからの距離等）等である。複数の測定位置（例えば測定範囲）に関する情報が入力されてもよい。制御部３１は、入力された測定位置情報に基づいて、上述のようにセグメントＦＳを選択してよい。また、制御部３１は、算出部３０の算出結果、より具体的には光ファイバＦＵＴの特性の測定結果を操作表示部に表示させる。測定結果は、測定位置情報とともに表示されてよい。なお、上述の操作盤やディスプレイは、測定装置２内に設けられてもよいし、測定装置２と図示しないネットワーク等を介して通信可能に接続された外部の装置内に設けられてもよい。

【0047】

例えば以上のようにして、光ファイバＦＵＴの特性が測定される。なお、図１に示される測定装置２の構成は、一例に過ぎない。例えば、いくつかの要素の間には、図示しない増幅器、フィルタ等が設けられてよい。また、種々の公知の構成が採用されてもよい。

【0048】

図３は、測定システム１００、より具体的には測定装置２において実行される処理（測定方法）の例を示すフローチャートである。

【0049】

ステップＳ１において、測定位置情報が入力される。例えば、制御部３１が、先に述べた操作表示部を介して、操作位置情報を受け付ける。以下では、測定位置情報に示される測定位置がセグメントＦＳ２に含まれる場合を例に挙げて説明する。

【0050】

ステップＳ２において、スイッチが制御されセグメントが選択される。制御部３１は、スイッチＳＷを制御して、先のステップＳ１で入力された測定位置情報に対応するセグメントＦＳを選択する。この例では、スイッチＳＷ１２がセグメントＦＳ１とセグメントＦＳ２とを光学的に接続し、スイッチＳＷ２３がセグメントＦＳ２と終端器Ｔ２とを光学的に接続するように、スイッチＳＷ１２及びスイッチＳＷ２３が制御される。セグメントＦＳ１及びセグメントＦＳ２が選択される。

【0051】

ステップＳ３において、ポンプ光の送出間隔等が設定される。制御部３１は、先のステップＳ２で選択したセグメントＦＳに対応する送信間隔を、ポンプ光Ｌ_Ｐの送信間隔として設定する。第２の送信間隔が、ポンプ光Ｌ_Ｐの送信間隔として設定される。変調周波数の掃引速度や掃引範囲も設定される。

【0052】

ステップＳ４において、ブリルアン散乱光のスペクトルが測定され、光ファイバの特性が測定される。変調器２２は、設定された掃引速度や掃引範囲で、変調周波数を掃引する。パルス化部２４は、先のステップＳ３で設定された送出間隔で、ポンプ光Ｌ_Ｐを光ファイバＦＵＴに送出する。スペクトラムアナライザ２９は、各測定位置からの戻り光Ｌ_Ｓに含まれるブリルアン散乱光のスペクトルを測定する。算出部３０は、スペクトラムアナライザ２９によって測定されたブリルアン散乱光のスペクトルに基づいて、各測定位置でのピーク周波数のシフト量を算出する。すなわち、光ファイバＦＵＴの分布特性が測定される。

【0053】

例えば以上のようにして、光ファイバＦＵＴの特性が測定される。なお、図３には図示しないが、ステップＳ４での測定結果が表示等される。

【0054】

以上、開示される技術の一実施形態について説明したが、開示される技術は上記実施形態に限定されない。例えば、上記実施形態では時間ゲート法ＢＯＣＤＲを例に挙げて説明したが、ポンプ光Ｌ_Ｐを光ファイバＦＵＴに送出し、ブリルアン散乱光を測定することを含む他のさまざまな手法が用いられてよい。他の手法の例は、ＢＯＴＤＲ（Brillouin Optical Time Domain Reflectometry）法である。

【0055】

上記実施形態では、光ファイバＦＵＴが、セグメントＦＳ１～セグメントＦＳ４の４つのセグメントＦＳを含む例について説明した。ただし、セグメントＦＳの数は４つに限定されない。セグメントＦＳの数は、２以上の任意の整数であってよい。

【0056】

上記実施形態では、複数のセグメントＦＳそれぞれが終端器Ｔによって終端される例について説明した。ただし、複数のセグメントＦＳは、終端されなくてもよく、その場合は、終端器Ｔは無くてもよい。

【0057】

以上で説明した技術は、例えば次のように特定される。開示される技術の１つは、測定システムである。図１～図３を参照して説明したように、測定システム１００は、光ファイバＦＵＴと、測定装置２と、スイッチＳＷと、を備える。光ファイバＦＵＴは、長手方向において区画された複数のセグメントＦＳを含む。測定装置２は、パルス化されたポンプ光Ｌ_Ｐを光ファイバＦＵＴに送出し、光ファイバＦＵＴ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定する。スイッチＳＷは、複数のセグメントＦＳのうちの隣り合うセグメントＦＳどうしの間に設けられ、隣り合うセグメントＦＳどうしを光学的に接続するか又は切り離す。測定装置２による測定は、スイッチＳＷを制御することにより、複数のセグメントＦＳのうち、測定装置２に光学的に接続されるセグメントＦＳを選択すること（ステップＳ２）と、選択したセグメントＦＳ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定すること（ステップＳ４）と、を含む。

【0058】

上記の測定システム１００では、測定装置２に光学的に接続されるセグメントＦＳが選択され、選択されたセグメントＦＳ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルが測定される。一部のセグメントＦＳだけが測定装置２に光学的に接続されるようにすることで、すべてのセグメントＦＳすなわち光ファイバＦＵＴ全部が測定装置２に光学的に接続される場合よりも、測定装置２に光学的に接続されている光ファイバＦＵＴの部分の長さを短くすることができる。従って、光ファイバの特性の測定に要する時間を短くすることができる。

【0059】

測定装置２は、選択したセグメントＦＳ全体の長さ（選択セグメント長）に応じて、ポンプ光Ｌ_Ｐの光ファイバＦＵＴへの送出間隔を設定してよい。この場合、測定装置２は、選択セグメント長が短くなるにつれて送出間隔が短くなるように、送出間隔を設定してよい。ポンプ光Ｌ_Ｐの送出間隔が短くなる分、測定時間を短くすることができる。

【0060】

スイッチＳＷは、測定装置２側のセグメントＦＳを光学的に終端することにより、隣り合うセグメントＦＳどうしを切り離してよい。例えばこのようにして隣り合うセグメントＦＳどうしを光学的に切り離すことができる。

【0061】

図３等を参照して説明した測定方法も、開示される技術の１つである。測定方法は、パルス化されたポンプ光Ｌ_Ｐを光ファイバＦＵＴに送出し、光ファイバＦＵＴ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定すること（ステップＳ４）を含む。光ファイバＦＵＴは、長手方向において区画された複数のセグメントＦＳを含む。複数のセグメントＦＳのうちの隣り合うセグメントＦＳどうしの間には、隣り合うセグメントＦＳどうしを光学的に接続するか又は切り離すスイッチＳＷが設けられる。測定することは、スイッチＳＷを制御することにより、複数のセグメントＦＳのうち、測定装置２に光学的に接続されるセグメントＦＳを選択すること（ステップＳ２）と、選択したセグメントＦＳ内で発生したブリルアン散乱光のスペクトルを測定すること（ステップＳ４）と、を含む。この測定方法によっても、これまで説明したように、光ファイバの特性の測定に要する時間を短くすることができる。

【符号の説明】

【0062】

１００ 測定システム
１ ファイバ装置
２ 測定装置
２１ 光源
２２ 変調器
２３ カプラ
２４ パルス化部
２５ 遅延器
２６ サーキュレータ
２７ 端子
２８ ミキサ
２９ スペクトラムアナライザ
３０ 算出部
３１ 制御部
ＦＵＴ 光ファイバ
ＦＳ セグメント
ＳＷ スイッチ

【図1】

【図2】

【図3】