特許 7633921 電子制御装置及び計数方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2025-02-12

(45)【発行日】2025-02-20

(54)【発明の名称】電子制御装置及び計数方法

(51)【国際特許分類】

   G06F 12/00 20060101AFI20250213BHJP

【ＦＩ】

G06F12/00 550Z

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2021190415

(22)【出願日】2021-11-24

(65)【公開番号】P2022083442

(43)【公開日】2022-06-03

【審査請求日】2024-04-12

(31)【優先権主張番号】P 2020194304

(32)【優先日】2020-11-24

(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】509186579

【氏名又は名称】日立Ａｓｔｅｍｏ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100129425

【弁理士】

【氏名又は名称】小川 護晃

(74)【代理人】

【氏名又は名称】西山 春之

(74)【代理人】

【識別番号】100168642

【弁理士】

【氏名又は名称】関谷 充司

(72)【発明者】

【氏名】鳥海 史

【審査官】後藤 彰

(56)【参考文献】

【文献】特開２００２－１９７８７４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００４－０３８９７１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０４－３７２２２４（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０６Ｆ １２／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

消去ブロック単位で各ビットに１を書き込んで消去するとともに、任意のビットに０を書き込んでデータを書き換える不揮発性メモリと、揮発性メモリと、を備えた電子制御装置であって、
前記不揮発性メモリの連続したアドレスには、第１のカウンタ及び第２のカウンタが順不同で割り当てられ、
計数要求に応答して、前記第１のカウンタの最上位ビット及び最下位ビットの一方から他方に向けて０を順次書き込み、前記第１のカウンタの全ビットが０になったとき、前記第２のカウンタの値を前記揮発性メモリに退避して前記第１のカウンタ及び前記第２のカウンタの値を消去するとともに、前記揮発性メモリに退避させた前記第２のカウンタの値に１を加算して前記第２のカウンタに復元する、
電子制御装置。

【請求項2】

計数のクリア要求に応答して、前記第２のカウンタの値を前記揮発性メモリに退避させ、前記第１のカウンタ及び前記第２のカウンタの値を消去し、前記揮発性メモリに退避させた前記第２のカウンタの値に１を加算して前記第２のカウンタに復元する、
請求項１に記載の電子制御装置。

【請求項3】

前記第１のカウンタ及び前記第２のカウンタの値を読み込み、『計数値＝（前記第１のカウンタのビット数）×前記第２のカウンタの値＋前記第１のカウンタにおいて０となっているビット数』という式により計数値を求める、
請求項１又は請求項２に記載の電子制御装置。

【請求項4】

前記不揮発性メモリの連続したアドレスには、前記第１のカウンタ及び前記第２のカウンタに加えて第３のカウンタが順不同で確保され、
前記第１のカウンタに対する１又は０の書き込み異常が発生すると、前記第１のカウンタ、前記第２のカウンタ及び前記第３のカウンタの値を前記揮発性メモリに退避させ、前記第１のカウンタ、前記第２のカウンタ及び前記第３のカウンタの値を消去し、前記揮発性メモリに退避させた前記第１のカウンタの値を訂正して前記第１のカウンタに復元するとともに、前記揮発性メモリに退避させた前記第２のカウンタ及び前記第３のカウンタの値に１を加算して前記第２のカウンタ及び前記第３のカウンタに夫々復元する、
請求項１又は請求項２に記載の電子制御装置。

【請求項5】

計数のクリア要求に応答して、前記第３のカウンタに前記第２のカウンタと同値を書き込む、
請求項４に記載の電子制御装置。

【請求項6】

前記第１のカウンタ、前記第２のカウンタ及び前記第３のカウンタの値を読み込み、『計数値＝（前記第１のカウンタのビット数）×（前記第２のカウンタの値－前記第３のカウンタの値）＋前記第１のカウンタにおいて０となっているビット数』という式により計数値を求める、
請求項４又は請求項５に記載の電子制御装置。

【請求項7】

前記第１のカウンタ、前記第２のカウンタ及び前記第３のカウンタは、電子制御装置の製造時に初期化される、
請求項４～請求項６のいずれか１つに記載の電子制御装置。

【請求項8】

消去ブロック単位で各ビットに１を書き込んで消去するとともに、任意のビットに０を書き込んでデータを書き換える不揮発性メモリと、揮発性メモリと、を備え、前記不揮発性メモリの連続したアドレスに第１のカウンタ及び第２のカウンタが順不同で割り当てられた電子制御装置のプロセッサが、計数要求に応答して、前記第１のカウンタの最上位ビット及び最下位ビットの一方から他方に向けて０を順次書き込み、前記第１のカウンタの全ビットが０になったとき、前記第２のカウンタの値を前記揮発性メモリに退避して前記第１のカウンタ及び前記第２のカウンタの値を消去するとともに、前記揮発性メモリに退避させた前記第２のカウンタの値に１を加算して前記第２のカウンタに復元する、
計数方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、不揮発性メモリの書換え回数など任意の回数を計数する、電子制御装置及び計数方法に関する。

【背景技術】

【0002】

不揮発性メモリを備えた電子制御装置では、不揮発性メモリの書換え回数に限度があることから、特開２００３－１４１８８０号公報（特許文献１）に記載されるように、書換え回数が保証回数に達したときに、予備記憶領域に切り換えて対応していた。このため、電子制御装置の不揮発性メモリには、電源遮断によって書換え回数が消失することを防止すべく、書換え回数を保持する記憶領域が確保されていた。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２００３－１４１８８０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところで、不揮発性メモリにおいては、データを書き換えるとき、消去ブロック単位で既存のデータを消去した後、消去ブロック単位よりも小さい書込ブロック単位で新たなデータを書き込む必要がある。従来の計数方法では、複数の記憶領域に書換え回数を順次書き込み、すべての記憶領域に書換え回数を書き込んだならば、すべての記憶領域を消去して書換え回数の計数を再開していた。しかしながら、不揮発性メモリの書換え回数に制限があることから、多くの書換え回数を計数するためには多くの記憶領域を確保する必要があり、例えば、他の用途で使用可能な記憶領域が小さくなるなどの弊害があった。

【0005】

そこで、本発明は、不揮発性メモリの記憶領域を使用して、任意の回数を効率的に計数可能な、電子制御装置及び計数方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

電子制御装置は、消去ブロック単位で各ビットに１を書き込んで消去するとともに、任意のビットに０を書き込んでデータを書き換える不揮発性メモリと、揮発性メモリと、を備えている。また、不揮発性メモリの連続したアドレスには、第１のカウンタ及び第２のカウンタが順不同で割り当てられている。そして、電子制御装置は、計数要求に応答して、第１のカウンタの最上位ビット及び最下位ビットの一方から他方に向けて０を順次書き込み、第１のカウンタの全ビットが０になったとき、第２のカウンタの値を揮発性メモリに退避して第１のカウンタ及び第２のカウンタの値を消去するとともに、揮発性メモリに退避させた第２のカウンタの値に１を加算して第２のカウンタに復元する。

【発明の効果】

【0007】

本発明によれば、不揮発性メモリの記憶領域を使用して、任意の回数を効率的に計数することができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】車両に搭載された電子制御システムの一例を示す概要図である。

【図2】電子制御装置の内部構造の一例を示す概要図である。

【図3】不揮発性メモリに割り当てられたカウンタ１～３の説明図である。

【図4】計数処理の一例を示すフローチャートである。

【図5】カウンタ１の変化状態の説明図である。

【図6】カウンタ１及びカウンタ２の変化状態の説明図である。

【図7】計数クリア処理の一例を示すフローチャートである。

【図8】計数クリア要求に応じて変化するカウンタ２及び３の説明図である。

【図9】異常時処理の一例を示すフローチャートである。

【図10】書込み異常に応じて変化するカウンタ２及び３の説明図である。

【図11】カウンタ１～３による計数結果を求める方法の一例を示す説明図である。

【図12】カウンタ１～３による計数結果を求める方法の他の例を示す説明図である。

【図13】カウンタ１～３を使用してイグニッションスイッチがＯＦＦからＯＮに操作された回数を計数する一例を示す説明図である。

【図14】従来技術による計数の具体例を示す説明図である。

【図15】提案技術による計数の具体例を示す説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、添付された図面を参照し、本発明を実施するための実施形態について詳述する。
車両１００には、例えば、エンジン、自動変速機、アダプティブクルーズコントロールシステムなどを電子制御する、複数の電子制御装置２００が搭載されている。複数の電子制御装置２００は、例えば、ＣＡＮ（Controller Area Network）などの周知の車載ネットワーク３００を介して、任意のデータを送受信可能に接続されている。ここで、車両１００としては、乗用車、トラック、バス、建設機械などとすることができる。なお、図１に示す例では、車両１００に４つの電子制御装置２００が搭載されているが、電子制御装置２００の数は任意である。

【0010】

電子制御装置２００は、図２に示すように、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などのプロセッサ２１０と、不揮発性メモリ２２０と、揮発性メモリ２３０と、入出力回路２４０と、通信回路２５０と、これらを相互通信可能に接続する内部バス２６０と、を内蔵している。

【0011】

プロセッサ２１０は、アプリケーションプログラムに記述された命令セット（データの転送、演算、加工、制御、管理など）を実行するハードウエアであって、演算装置、命令やデータを格納するレジスタ、周辺回路などから構成されている。不揮発性メモリ２２０は、例えば、電源供給を遮断してもデータを保持可能なフラッシュＲＯＭ（Read Only Memory）などからなり、本実施形態を実装するためのアプリケーションプログラム（コンピュータプログラム）を保持する。揮発性メモリ２３０は、電源供給を遮断するとデータが消失するダイナミックＲＡＭ（Random Access Memory）などからなり、プロセッサ２１０の演算過程においてデータを一時的に格納する記憶領域を提供する。

【0012】

入出力回路２４０は、Ａ／Ｄコンバータ、Ｄ／Ａコンバータ、Ｄ／Ｄコンバータなどからなり、外部機器に対するアナログ信号及びデジタル信号の入出力機能を提供する。通信回路２５０は、例えば、ＣＡＮトランシーバなどからなり、車載ネットワーク３００に接続する機能を提供する。内部バス２６０は、各デバイス間でデータを交換するための経路であって、アドレスを転送するためのアドレスバス、データを転送するためのデータバス、アドレスバスやデータバスで実際に入出力を行うタイミングや制御情報を遣り取りするコントロールバスを含んでいる。

【0013】

電子制御装置２００の不揮発性メモリ２２０には、図３に示すように、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を計数するためのカウンタとして、連続したアドレスに、カウンタ１、カウンタ２及びカウンタ３が予め割り当てられている。カウンタ１～３のサイズ（ビット数）は、計数対象を考慮して適宜決定することができる。ここで、カウンタ１～３が、第１のカウンタ、第２のカウンタ及び第３のカウンタの一例として夫々挙げられる。なお、図３に示す一例では、不揮発性メモリ２２０の連続したアドレスにカウンタ１、カウンタ２及びカウンタ３がこの順序で割り当てられているが、その順序は任意（順不同）である。

【0014】

電子制御装置２００の不揮発性メモリ２２０は、消去ブロック単位で各ビットに「１」を書き込んで消去するとともに、任意のビットに「０」を書き込んでデータを書き換えることができる。従って、カウンタ１～３は、消去ブロック単位を考慮し、少なくとも１つの消去ブロックに含まれるように配置すべきである。ここで、カウンタ１はそのビット数に応じた回数を計数するカウンタ、カウンタ２はカウンタ１～３を含む消去ブロックの書換え回数を計数するカウンタ、カウンタ３は書き込み異常が発生した回数を計数するカウンタとして機能する。

【0015】

本実施形態においては、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、計数要求に応答して、カウンタ１の最上位ビット及び最下位ビットの一方から他方に向けて０を順次書き込む。そして、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、カウンタ１の全ビットが０になったとき、カウンタ２の値を揮発性メモリ２３０に退避してカウンタ１及び２の値を消去するとともに、揮発性メモリ２３０に退避させたカウンタ２の値に１を加算してカウンタ２に書き込んで復元する。

【0016】

図４は、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を計数するカウントイベント（計数要求）に応答して、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が実行する計数処理の一例を示している。ここで、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、不揮発性メモリ２２０に格納されているアプリケーションプログラムに従って計数処理を実行する。なお、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１～３は、例えば、電子制御装置２００の製造時に初期化される。具体的には、初期化として、カウンタ１の全ビットに「１」が書き込まれ、カウンタ２及び３の全ビットに「０」が書き込まれる。

【0017】

ステップ１（図４では「Ｓ１」と略記する。以下同様。）では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１を参照し、カウンタ１の全ビットが０であるか否かを判定する。そして、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウンタ１の全ビットが０であると判定すると（Ｙｅｓ）、処理をステップ２へと進める。一方、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウンタ１の全ビットが０でないと判定すると（Ｎｏ）、処理をステップ６へと進める。

【0018】

ステップ２では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、カウンタ２及び３の値を揮発性メモリ２３０に退避する。

【0019】

ステップ３では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、カウンタ１～３を含む少なくとも１つの消去ブロックに「１」を書き込んで消去する。

【0020】

ステップ４では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、ステップ２において揮発性メモリ２３０に退避したカウンタ２の値に「１」を加算して、これを不揮発性メモリ２２０のカウンタ２に書き込んで復元する。

【0021】

ステップ５では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、ステップ２において揮発性メモリ２３０に退避したカウンタ３の値をそのまま、不揮発性メモリ２２０のカウンタ３に書き込んで復元する。

【0022】

ステップ６では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１について、その最上位ビットから最下位ビットに向けて順次「０」を書き込んで更新する。要するに、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウントイベントに応答して、カウンタ１の最上位ビットから最下位ビットに向けて「１」に設定されたビットを走査し、そのビットに「０」を書き込んで更新する。なお、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウンタ１の最下位ビットから最上位ビットに向けて順次「０」を書き込んで更新してもよい。

【0023】

かかる計数処理によれば、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１は、図５に示すように、カウントイベントが発生するたびに、最上位ビットから最下位ビットに向けて「１」が順次「０」に書き換えられて更新される。即ち、カウンタ１の全ビットが「１」になっている状態（消去直後）においてカウントイベントが発生すると、最上位ビットが「０」に書き換えられる。これに続いてカウントイベントが発生すると、最上位ビットから２番目のビットが「０」に書き換えられる。そして、カウンタ１の全ビットが「０」になった状態においてカウントイベントが発生すると、カウンタ１の全ビットに「１」が書き込まれて消去され、最上位ビットに「０」が書き込まれて更新される。

【0024】

従って、カウンタ１は、そのビット数に応じたカウンタとして機能し、例えば、図５のように８ビットの長さを有する場合、８回計数するたびに消去される。要するに、カウンタ１は、その長さをＮビットとすると、Ｎ進数のカウンタとして機能する。

【0025】

不揮発性メモリ２２０のカウンタ２は、図６に示すように、カウンタ１の全ビットが「０」になった状態においてカウントイベントが発生すると、カウンタ２の値（図示の例では「０００１１００１（１０進数で２５）」）が揮発性メモリ２３０に退避され、カウンタ１と共に「１」が書き込まれて消去される。そして、カウンタ２の消去が完了すると、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ２の値に「１」が加算されて（図示の例では「０００１１０１０（１０進数で２６）」となり）、これが不揮発性メモリ２２０のカウンタ２に書き込まれて復元される。また、カウンタ１及び２が消去されたことにより、カウンタ１の最上位ビットに「０」が書き込まれる。

【0026】

従って、カウンタ１の全ビットが「０」になって消去されたとき、カウンタ２が「１」インクリメントされるカウンタが実装される。このため、例えば、図６に示すように、カウンタ１が８ビット（１バイト）、カウンタ２が８ビット（１バイト）のカウンタにおいては、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を８×２５５＝２０４０回計数することができる。

【0027】

よって、図示の例のような短い２バイトのカウンタであっても、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を低減させつつ、より多くの回数を計数することができる。なお、図示の例は、あくまで本実施形態を簡単かつ理解容易に説明するためのものであり、実際には、カウンタ１及び２は目標計数回数に応じた長さを有していることに留意されたい。

【0028】

図７は、外部からの計数のクリア要求に応答して、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が実行する計数クリア処理の一例を示している。なお、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、不揮発性メモリ２２０に格納されたアプリケーションプログラムに従って、計数クリア処理を実行する。

【0029】

ステップ１１では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、不揮発性メモリ２２０のカウンタ２の値を揮発性メモリ２３０に退避する。

【0030】

ステップ１２では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、カウンタ１～３を含む少なくとも１つの消去ブロックに「１」を書き込んで消去する。

【0031】

ステップ１３では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、揮発性メモリ２３０に退避したカウンタ２の値に「１」を加算し、これを不揮発性メモリ２２０のカウンタ２及び３に書き込んで復元する。

【0032】

かかる計数クリア処理によれば、外部から計数のクリア要求があると、カウンタ２の値が揮発性メモリ２３０に退避された状態で、図８に示すように、カウンタ１～３を含む少なくとも１つの消去ブロックに「１」が書き込まれて消去される。また、カウンタ１～３の消去後、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ２の値に「１」が加算されて、不揮発性メモリ２２０のカウンタ２及び３に夫々書き込まれて復元される。要するに、外部から計数のクリア要求があると、カウンタ１～３の消去後、カウンタ３にカウンタ２と同値が書き込まれる。従って、この状態では、カウンタ２及び３が同じ値を有するため、これらを参照して比較することで、計数がクリアされたことを判断することができる。

【0033】

図９は、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１に対する「１」又は「０」に書き込み異常が発生したことを契機として、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が実行する異常時処理の一例を示している。ここで、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、例えば、カウンタ１に書き込んだデータをカウンタ１から読み出したデータと比較することで、書き込み異常が発生したか否かを特定することができる。なお、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、不揮発性メモリ２２０に格納されたアプリケーションプログラムに従って異常時処理を実行する。

【0034】

ステップ２１では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１～３の値を揮発性メモリ２３０に退避する。

【0035】

ステップ２２では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１～３を含む少なくとも１つの消去ブロックに「１」を書き込んで消去する。

【0036】

ステップ２３では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、揮発性メモリ２３０に退避したカウンタ１の値を正しい値に訂正して、不揮発性メモリ２２０のカウンタ１に書き込んで復元する。ここで、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウンタ１のどのビットに「１」又は「０」を書き込んだときに書き込み異常が発生したかを把握しているので、これを利用してカウンタ１の値を正しい値に訂正することができる。

【0037】

ステップ２４では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、揮発性メモリ２３０に退避したカウンタ２の値に「１」を加算して、これを不揮発性メモリ２２０のカウンタ２に書き込んで復元する。要するに、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウンタ１への書き込みが異常となった場合、カウンタ１～３を含む消去ブロックが消去されたため、書換え回数を計数するカウンタ２を「１」インクリメントする。

【0038】

ステップ２５では、電子制御装置２００のプロセッサ２１０が、揮発性メモリ２３０に退避したカウンタ３の値に「１」を加算して、これを不揮発性メモリ２２０のカウンタ３に書き込んで復元する。要するに、電子制御装置２００のプロセッサ２１０は、カウンタ１への書き込みが異常となった場合、その異常回数を計数するカウンタ３を「１」インクリメントする。

【0039】

かかる異常時処理によれば、カウンタ１への書き込みに異常が発生すると、図１０に示すように、カウンタ１～３の値が揮発性メモリ２３０に退避され、カウンタ１～３を含む少なくとも１つの消去ブロックに「１」が書き込まれて消去される。そして、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ１の値が正しい値に訂正され、これが不揮発性メモリ２２０のカウンタ１に書き込まれて復元される。また、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ２及び３の値に「１」が夫々加算され、これらが不揮発性メモリ２２０のカウンタ２及び３に書き込まれて復元される。従って、カウンタ２によって書換え回数が計数されるとともに、カウンタ３によって書き込み異常の発生回数が計数される。

【0040】

上記のようなカウンタ１～３から不揮発性メモリ２２０の書換え回数を求める場合、「書換え回数＝カウンタ１のサイズ（ビット数）×（カウンタ２の値－カウンタ３の値）＋カウンタ１において「０」となっているビット数」という式から求めることができる。

【0041】

例えば、図１１に示すように、カウンタ１の最上位ビットから最下位ビットに向けて２つのビットが「０」になっており、カウンタ２が「２５」を示し、カウンタ３が「３」を示す場合を考える。この場合、上記の式に各値を代入することで、不揮発性メモリ２２０の書換え回数＝８×（２５－３）＋２＝１７８回と求めることができる。

【0042】

また、計数クリア要求に応答して、図１２に示すように、カウンタ１の全ビットが「１」、カウンタ２の値が「２５」、カウンタ３の値が「２５」になった場合を考える。この場合、上記の式に各値を代入することで、不揮発性メモリ２２０の書換え回数＝８×（２５－２５）＋０＝０回と求めることができる。従って、カウンタ２の値によって不揮発性メモリ２２０の実際の書換え回数を保持しつつ、カウンタ１～３の全体から求められる書換え回数をクリアすることができる。

【0043】

ここで、カウンタ１～３の適用対象の一例として、図１３を参照し、イグニッションスイッチがＯＦＦからＯＮに操作された操作回数を計数する方法について説明する。なお、カウンタ１～３はそれぞれ８ビットで構成され、また、初期状態では、カウンタ１が消去されて全ビットが「０」になっているとともに、カウンタ２及び３の全ビットが「０」になっているものとする。なお、カウンタ２及び３の値は、例えば、出荷検査によって更新され、必ずしも「０」になっていないことに留意されたい。

【0044】

イグニッションスイッチが操作されるたびに、カウンタ１の最上位ビットから最下位ビットに向けて「１」が順次「０」に書き換えられて更新される。この場合、イグニッションスイッチの操作回数は、「操作回数＝カウンタ１のサイズ（ビット数）×（カウンタ２の値－カウンタ３の値）＋カウンタ１において「０」となっているビット数」という式から求めることができる。従って、第１回目の計数では、操作回数＝８×（０－０）＋１＝１、第２回目の計数では、操作回数＝８×（０－０）＋２＝２、第３回目の計数では、操作回数＝８×（０－０）＋２＝２というように、イグニッションスイッチの操作回数を計数することができる。

【0045】

そして、カウンタ１の全ビットが「０」になった状態でイグニッションスイッチが操作されると、カウンタ１～３が消去されて全ビットが「１」になった後に、カウンタ１の最上位ビットが「１」から「０」に書き換えられて更新される。また、カウンタ２の値に「１」が加算されて「１」となるとともに、カウンタ３の値がそのまま維持される。ここで、カウンタ３は、書き込み異常が発生した回数を計数するカウンタであるため、書き込み異常が発生しない限り、以前の値が維持される。この状態では、カウンタ１において「０」となっているビット数が「１」、カウンタ２及び３の値が夫々「１」及び「０」であるので、操作回数＝８×（１－０）＋１＝９というように、イグニッションスイッチの操作回数を計数することができる。その後、イグニッションスイッチが操作されるたびに、カウンタ１の最上位ビットから最下位ビットに向けて「１」が順次「０」に書き換えられて更新される。

【0046】

カウンタ１への書き込みに異常が発生、例えば、最上位ビットから３番目のビットを「１」から「０」に書き換える際に４番目のビットも「１」から「０」に書き換えられると、カウンタ１～３の値が揮発性メモリ２３０に退避され、カウンタ１～３が消去されて全ビットが「１」になる。そして、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ１の値が正しい値に訂正され、これがカウンタ１に書き込まれて復元される。また、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ２及び３の値に「１」が夫々加算され、これらがカウンタ２及び３に書き込まれて復元される。この状態では、カウンタ１において「０」となっているビット数が「３」、カウンタ２の値が「２」、カウンタ３の値が「１」となっているため、操作回数＝８×（２－１）＋３＝１１というように、イグニッションスイッチの操作回数を求めることができる。

【0047】

その後、カウンタ１において「０」となっているビット数が「２」、カウンタ２の値が「２５」、カウンタ３の値が「３」の状態で、外部からクリア要求があると、カウンタ１～３の値が揮発性メモリ２３０に退避され、カウンタ１～３が消去されて全ビットが「１」になる。そして、揮発性メモリ２３０に退避されたカウンタ２の値「２５」に「１」が加算されて「２６」となり、これがカウンタ２及び３に書き込まれて復元される。従って、図示の例では、クリア要求があると、カウンタ２及び３の値が同値「２６」になるので、操作回数＝８×（２６－２６）＋０＝０と求めることができる。

【0048】

このように、書き込み異常又はクリア要求があっても、正確なイグニッションスイッチの操作回数を計数することができることを理解できるであろう。また、カウンタ２の値を参照することで、不揮発性メモリ２２０の寿命を確認することもできる。

【0049】

ここで、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を計数するカウンタとして、例えば、不揮発性メモリ２２０に３２バイトの領域を確保した場合について、従来技術と提案技術とを比較する。

【0050】

従来技術においては、図１４に示すように、３２バイトの領域を８つに分割して４バイトのカウンタを構成する場合、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を８回計数するたびに、３２バイトの領域が消去される。このため、例えば、書き込み保証回数が１０万回の不揮発性メモリ２２０であれば、８×１０万回＝８０万回ほど、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を計数することができる。なお、図１３に示す一例では、各バイトの値は１６進数で表されている（以下同様）。

【0051】

一方、本提案技術において、図１５に示すように、３２バイトの領域のうち２４バイトをカウンタ１に、４バイトをカウンタ２及び３に夫々割り当てると、カウンタ１によって１９２回の計数がなされるたびに、カウンタ１～３が消去される。このため、例えば、書き込み保証回数が１０万回の不揮発性メモリ２２０であれば、１９２×１０万回＝１９２０万回ほど、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を計数することができる。従って、本提案技術では、同一の領域を使用して、従来技術に比べて２４倍の回数を計数することが可能となり、少ない不揮発性メモリ２２０の記憶領域を使用して書換え回数を効率的に計数可能となる。

【0052】

本実施形態は、特に、セルフシャットダウン機能を有しない電子制御装置において有用である。即ち、セルフシャットダウン機能を有しない電子制御装置では、例えば、車輪速センサのエッジ数、走行距離、起動時間などの高頻度で発生するカウントイベントに応答する場合、従来に比して膨大な数を計数する必要がある。しかしながら、本実施形態を適用すれば、少ない不揮発性メモリの記憶領域によってより多くの回数を計数することが可能となるため、不揮発性メモリの記憶領域の消費を抑制しつつ所望の回数を計数することができるようになる。

【0053】

なお、当業者であれば、様々な上記実施形態の技術的思想について、その一部を省略したり、その一部を適宜組み合わせたり、その一部を周知技術に置換したりすることで、新たな実施形態を生み出せることを容易に理解できるであろう。

【0054】

その一例を挙げると、電子制御装置２００の不揮発性メモリ２２０に２つのカウンタ領域を確保することで、カウンタ１～３に対するデータ書き込み中に電源が遮断されても、いずれかのカウンタ領域が正常であるため、これに対処することができる。また、本実施形態により実装されるカウンタは、不揮発性メモリ２２０の書換え回数に限らず、任意の回数を計数する用途に使用してもよい。

【0055】

さらに、不揮発性メモリ２２０に割り当てられたカウンタは、カウンタ１～３のみに限らず、カウンタ１及び２だけであってもよい。この場合、「書換え回数＝カウンタ１のサイズ（ビット数）×カウンタ２の値＋カウンタ１において「０」となっているビット数」という式から、不揮発性メモリ２２０の書換え回数を求めることができる。

【符号の説明】

【0056】

２００…電子制御装置 ２１０…プロセッサ ２２０…不揮発性メモリ ２３０…揮発性メモリ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】