特許7638233光学スペクトル測定システムおよび光学スペクトル測定方法

発明の名称　光学スペクトル測定システムおよび光学スペクトル測定方法

出願人　大塚電子株式会社　（識別番号 206967）

　　　　特許公開件数ランキング 4781 位（1件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1389 位（4件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7638233

公報発行日　2025年3月3

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7638233

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