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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2025-03-04
(45)【発行日】2025-03-12
(54)【発明の名称】表示装置
(51)【国際特許分類】
G09G 3/3233 20160101AFI20250305BHJP
G09G 3/20 20060101ALI20250305BHJP
H10K 59/12 20230101ALI20250305BHJP
【ＦＩ】
G09G3/3233
G09G3/20 642P
G09G3/20 670K
G09G3/20 624A
H10K59/12
【請求項の数】
5
(21)【出願番号】P 2021124860
(22)【出願日】2021-07-30
(65)【公開番号】P2023019833
(43)【公開日】2023-02-09
【審査請求日】2024-03-21
(73)【特許権者】
【識別番号】000005049
【氏名又は名称】シャープ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100147304
【弁理士】
【氏名又は名称】井上 知哉
(74)【代理人】
【識別番号】100148493
【弁理士】
【氏名又は名称】加藤 浩二
(72)【発明者】
【氏名】田中 建悟
【審査官】公文代 康祐
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１３－１４２７７５（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００６－２６７１４９（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１８－００８５７８（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１９－０２３６７６（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１５－２１９３０６（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１１－１３７９１２（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０９Ｇ ３／００－ ３／３８
Ｈ０５Ｂ ３３／００－３３／２８
Ｈ０５Ｂ ４４／００
Ｈ０５Ｂ ４５／６０
Ｈ１０Ｋ ５０／００－９９／００
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
発光素子を含む複数の画素が設けられた表示パネルと、前記複数の画素のそれぞれに駆動電流を供給するための駆動回路と、
映像信号に応じた前記駆動電流が前記複数の画素のそれぞれに供給されるように前記駆動回路を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記複数の画素のうち、発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が所定値以上となった画素の有無を判定し、
前記劣化情報が前記所定値以上となった画素が有ると判定すると、
前記複数の画素のうち、前記劣化情報が前記所定値以上となった複数の画素の割合が所定の割合以上となった場合、前記劣化情報が前記所定値以上となった前記複数の画素のそれぞれに供給される前記駆動電流が、前記劣化情報が前記所定値以上になる前よりも小さくなるように前記駆動回路を制御する、表示装置。
【請求項2】
発光素子を含む複数の画素が設けられた表示パネルと、前記複数の画素のそれぞれに駆動電流を供給するための駆動回路と、
映像信号に応じた前記駆動電流が前記複数の画素のそれぞれに供給されるように前記駆動回路を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記複数の画素のうち、発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が所定値以上となった画素の有無を判定し、
前記劣化情報が前記所定値以上となった画素が有ると判定すると、
前記劣化情報が前記所定値以上となった画素の画素数を加算し、
さらに、前記複数の画素の画素数に対し、前記劣化情報が前記所定値以上となった複数の画素の画素数の割合が所定の割合以上となった場合、前記劣化情報が前記所定値以上となった前記複数の画素それぞれに供給される前記駆動電流が、前記劣化情報が前記所定値以上になる前よりも小さくなるように前記駆動回路を制御する、表示装置。
【請求項3】
発光素子を含む複数の画素が設けられた表示パネルと、前記複数の画素のそれぞれに駆動電流を供給するための駆動回路と、
映像信号に応じた前記駆動電流が前記複数の画素のそれぞれに供給されるように前記駆動回路を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記複数の画素のうち、発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が所定値以上となった画素の有無を判定し、
前記劣化情報が前記所定値以上となった画素が有ると判定すると、前記画素に供給される前記駆動電流が、前記劣化情報が前記所定値以上になる前よりも小さくなるように前記駆動回路を制御し、
前記制御部は、前記劣化情報が前記所定値以上となった前記画素の前記駆動電流を小さくするとき、前記劣化情報が前記所定値以上となった前記画素に隣接する画素に供給される前記駆動電流も小さくなるように前記駆動回路を制御する、表示装置。
【請求項4】
前記劣化情報は、前記複数の画素のそれぞれ毎に供給された消費電力の時間積算値である、請求項１から３の何れか１項に記載の表示装置。
【請求項5】
前記制御部は、前記劣化情報に応じて前記駆動電流を小さくする量を変更するよう前記駆動回路を制御する、請求項１から３の何れか１項に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、表示装置に関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献１には、ＥＬ（electroluminescence）素子の累積点灯時間に応じて、ＥＬ素子に供給する電圧を増加させることにより、ＬＥ素子の劣化補正を行う照明装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【文献】特開２０１０－２４５０３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献１の照明装置によると、ＥＬ素子の累積点灯時間に応じて、ＥＬ素子に供給する電圧を増加させるため、ＥＬ素子の累積点灯時間が多くなる程、ＥＬ素子の焼き付きが発生しやすくなる。本開示の一態様では、自発光素子の焼き付きを抑制した表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本開示の一態様に係る表示装置は、発光素子を含む複数の画素が設けられた表示パネルと、前記複数の画素のそれぞれに駆動電流を供給するための駆動回路と、映像信号に応じた前記駆動電流が前記複数の画素のそれぞれに供給されるように前記駆動回路を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記複数の画素のうち、発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が所定値以上となった画素の有無を判定し、前記劣化情報が前記所定値以上となった画素が有ると判定すると、前記画素に供給される前記駆動電流が、前記劣化情報が前記所定値以上になる前よりも小さくなるように前記駆動回路を制御する。
【図面の簡単な説明】
【0006】
【図10】実施形態の変形例３に係る表示装置における画素の経過時間と劣化情報との関係を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【0007】
〔実施形態〕
図１は、実施形態に係る表示装置１の概略構成を表す図である。表示装置１は、表示パネル１０と、ソースドライバ（駆動回路）３０と、制御部４０と、記憶部５０とを備える。表示パネル１０は、複数の画素ＰＸと、ゲートドライバ１３と、複数のゲート線Ｇと、複数のデータ線Ｓとを有する。例えば、制御部４０は、劣化情報判定部４１と、表示制御部４２とを有する。
図１は、実施形態に係る表示装置１の概略構成を表す図である。表示装置１は、表示パネル１０と、ソースドライバ（駆動回路）３０と、制御部４０と、記憶部５０とを備える。表示パネル１０は、複数の画素ＰＸと、ゲートドライバ１３と、複数のゲート線Ｇと、複数のデータ線Ｓとを有する。例えば、制御部４０は、劣化情報判定部４１と、表示制御部４２とを有する。
【0008】
複数の画素ＰＸは、表示パネル１０のうち画像の表示領域１１にマトリクス状に設けられている。複数の画素ＰＸのそれぞれは、自発光する発光素子を備える。複数の画素ＰＸのそれぞれにおいては、図２等を用いて後述するように、発光素子に駆動電流が供給されることにより、発光素子が発光する。
【0009】
表示パネル１０は、例えば、複数の画素ＰＸが自発光することによって表示領域１１に画像を表示する。表示パネル１０としては、例えば、発光素子にＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）が用いられた有機ＥＬ（electro-luminescence）表示パネル、または、発光素子にＱＬＥＤ（Quantum dot Light Emitting Diode）が用いられたＱＬＥＤ表示パネルなどを用いることができる。なお、表示パネル１０は、複数の画素ＰＸのそれぞれ毎に発光素子を備える表示パネルであればよく、有機ＥＬ表示パネル、または、ＱＬＥＤ表示パネルに限定されるものではない。
【0010】
複数のゲート線Ｇと複数のデータ線Ｓとは、表示領域１１内において交差するように延びて設けられている。複数の画素ＰＸのそれぞれは、複数のデータ線Ｓと、複数のゲート線Ｇとが交差する部分に設けられている。
【0011】
ゲートドライバ１３には、複数のゲート線Ｇのそれぞれの一方の端部が接続されている。ゲートドライバ１３は、制御部４０から出力されたゲート制御信号に基づいて、複数のゲート線Ｇのそれぞれを、順に走査していく。すなわち、ゲートドライバ１３は、複数の画素ＰＸを行毎に選択するための走査信号を、複数のゲート線Ｇのそれぞれを介して複数の画素ＰＸのそれぞれへ出力していく。
【0012】
ソースドライバ３０には、複数のデータ線Ｓのそれぞれの一方の端部が接続されている。ソースドライバ３０は、制御部４０から出力されたソース制御信号に基づいて、複数のデータ線Ｓを介して複数の画素ＰＸのそれぞれを駆動する。図２を用いて後述するように、ソースドライバ３０は、複数の画素ＰＸのそれぞれに駆動電流を供給するための駆動回路である。
【0013】
例えば、ソースドライバ３０は、制御部４０から、画素ＰＸが発光すべき輝度値に応じた階調信号（デジタル信号）を取得すると、取得したデジタル信号をアナログ信号へ変換した階調電圧を生成し、データ線Ｓへ供給する。これにより、データ線Ｓに接続された画素ＰＸには、映像信号に基づく画素ＰＸが発光すべき輝度値に応じた駆動電流が流れる。
【0014】
制御部４０は、ゲートドライバ１３およびソースドライバ３０の動作を制御することにより、表示領域１１に画像を表示させる。制御部４０は、制御部４０の外部から入力された映像信号に応じた駆動電流が複数の画素ＰＸのそれぞれに供給されるようにソースドライバ３０およびゲートドライバ１３を制御する。例えば、制御部４０は、制御部４０の外部から入力された映像信号を補正し、複数の画素ＰＸのそれぞれが発光すべき輝度値に応じた、デジタル信号である階調信号を生成し、生成した階調信号をソースドライバ３０へ出力する。
【0015】
劣化情報判定部４１は、制御部４０に入力された映像信号に基づき、複数の画素ＰＸのそれぞれの発光効率の劣化度合いを示す劣化情報を生成し、生成した劣化情報を、劣化情報蓄積データ５１として記憶部５０に記憶する。
【0016】
劣化情報は、複数の画素ＰＸのそれぞれ毎に供給される消費電力の時間積算値である。複数の画素ＰＸのそれぞれ毎に供給された消費電力［ｍＷ］とは、映像信号に基づいて各画素ＰＸに供給される階調電圧［ｍＶ］と、その階調電圧が供給されたときに各画素ＰＸに流れる駆動電流［ｍＡ］との積で表される。劣化情報判定部４１は、入力された映像信号に基づいて、複数の画素ＰＸのそれぞれ毎に、それぞれに供給される消費電力［ｍＷ］と消費電力が供給される時間［ｈ］とを得ることで、複数の画素ＰＸのそれぞれ毎の劣化情報［ｍＷｈ］を得る。そして、劣化情報判定部４１は、得られた複数の画素ＰＸのそれぞれ毎の劣化情報を、劣化情報蓄積データ５１として記憶部５０に蓄積して記憶していく。
【0017】
また、詳細は、図３等を用いて後述するが、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が所定値以上となった画素ＰＸの有無を判定する。そして、表示制御部４２は、劣化情報が所定値以上となった画素ＰＸが有ると劣化情報判定部４１によって判定されると、劣化情報が所定値以上となった画素ＰＸに供給される駆動電流が、劣化情報が前記所定値以上になる前よりも小さくなるようにソースドライバ３０の駆動を制御する。
【0018】
制御部４０が備える劣化情報判定部４１および表示制御部４２は、集積回路（ＩＣチップ）等によって形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ソフトウェアによって実現してもよい。後者の場合、制御部４０が備える劣化情報判定部４１および表示制御部４２は、ＣＰＵ等によって実現できる制御部４０が記憶部５０に格納されたプログラムを不図示のメモリー等に読み出し、実行することで実現できる。
【0019】
記憶部５０は、上述のように、複数の画素ＰＸのそれぞれの発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が蓄積された劣化情報蓄積データ５１を記憶する。記憶部５０としては、例えば、フラッシュメモリーなどを用いることができる。なお、記憶部５０は、フラッシュメモリーに限定されず、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＳＳＤ（Solid State Drive）などの半導体メモリーであってもよいし、レジスターであってもよいし、ハードディスク装置（ＨＤＤ：Hard Disk Drive）等の磁気記憶装置であってもよいし、光学ディスク装置等の光学式記憶装置であってもよい。
【0020】
図２は、複数の画素ＰＸのそれぞれが有する画素回路２０の概略構成を表す図である。画素回路２０は、発光素子２１と、コンデンサＣ１と、選択トランジスタＴｒ１と、駆動トランジスタＴｒ２とを含む。
【0021】
発光素子２１は、例えば、ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）、または、ＱＬＥＤ（Quantum dot Light Emitting Diode）などの自発光素子である。なお、発光素子２１は、ＯＬＥＤまたはＱＬＥＤに限定されるものではない。
【0022】
コンデンサＣ１は、一方の端子がハイレベル電源線ＥＬＶＤＤおよび駆動トランジスタＴｒ２のドレイン端子と接続され、他方の端子は選択トランジスタＴｒ１のドレイン端子および駆動トランジスタＴｒ２のゲート端子と接続されている。
【0023】
選択トランジスタＴｒ１は、データ線Ｓと、コンデンサＣ１および駆動トランジスタＴｒ２のゲート端子との間に設けられている。選択トランジスタＴｒ１のうち、ゲート端子はゲート線Ｇ１と接続され、ソース端子はデータ線Ｓと接続され、ドレイン端子は駆動トランジスタＴｒ２のゲート端子およびコンデンサＣ１の他方の端子と接続されている。
【0024】
駆動トランジスタＴｒ２は、発光素子２１と直列に接続されている。駆動トランジスタＴｒ２のうち、ゲート端子は選択トランジスタＴｒ１のドレイン端子およびコンデンサＣ１の他方の端子と接続され、ドレイン端子はハイレベル電源線ＥＬＶＤＤおよびコンデンサの一方の端子と接続され、ソース端子は発光素子２１のアノードと接続されている。
【0025】
次に、図２を用いて、画素回路２０の動作について説明する。画像の表示期間、すなわち、階調電圧の書き込み期間においては、ゲートドライバ１３によってゲート線Ｇがアクティブ状態（選択された状態）とされことにより、選択トランジスタＴｒ１がオン状態となる。
【0026】
そして、制御部４０がソースドライバ３０へ供給した階調信号に応じて、ソースドライバ３０からデータ線Ｓへ階調電圧が供給される。これにより、供給された階調電圧に応じた電荷がコンデンサＣ１に充電される。そして、ゲートドライバ１３によってゲート線Ｇが非アクティブ状態（非選択の状態）とされることにより、選択トランジスタＴｒ１がオフ状態となる。そして、駆動トランジスタＴｒ２はオン状態となり、コンデンサＣ１に充電された電荷に応じて、駆動電流６１が、駆動トランジスタＴｒ２のドレイン端子およびソース端子間を通り、さらに発光素子２１のアノードおよびカソード間を流れる。これにより、発光素子２１が、目標輝度で発光する。
【0027】
【0028】
ここで、複数の画素のそれぞれが有する発光素子が発光することにより画像を表示する自発光の表示装置においては、長時間、高い階調電圧が供給され、大きな駆動電流が流れた画素は、画素の発光効率の劣化が進みやすい。そして、複数の画素の発光効率の劣化が進むと、いわゆる焼き付きが発生する場合がある。画素の焼き付きが発生した表示装置においては、表示された画像のうち、焼き付きが発生した画素を含む部分は変色したり、前フレーム期間に表示していた画像の一部が消えなかったりするなど、画像の表示品質が低下する原因となる。そこで、本実施形態に係る表示装置１では、画素ＰＸにおける焼き付きの発生を抑制した画像の表示制御が行われる。以下、具体的に説明していく。
【0029】
図３において、実線で示すデータＭ１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの劣化情報の変化の様子を表している。図３において、一点鎖線で示すデータＭ２は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸの劣化情報の変化の様子を表している。このように、劣化情報の上昇速度は、画素ＰＸによって異なる。
【0030】
図４において、実線で示すデータＮ１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの駆動電流の変化の様子を表している。図４において、一点鎖線で示すデータＮ２は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸの駆動電流の変化の様子を表している。
【0031】
例えば、画素ＰＸの発光効率の劣化が進行しているとみなす劣化情報の閾値である所定値Ａｔｈを、予め設定しておく。所定値Ａｔｈの一例としては、例えば、４００００［ｍＷｈ］とすることができる。なお、所定値Ａｔｈは４００００［ｍＷｈ］に限定されず、任意に設定可能である。
【0032】
そして、例えば、図３のデータＭ１に示すように、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの劣化情報が、時間Ｔ２のときに、所定値Ａｔｈに到達したとする。すると、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が時間Ｔ２のときに所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸが有ると判定し、その劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸを特定する。図３のデータＭ１に示す例では、時間Ｔ１から時間Ｔ２にかけて劣化情報が上昇し、時間Ｔ２のときに劣化情報が所定値Ａｔｈに到達している。
【0033】
すると、図４のデータＮ１に示すように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達したと劣化情報判定部４１により特定された画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以降は、時間Ｔ２以前よりも少なくなるように、階調信号を生成し、ソースドライバ３０へ供給する。例えば、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以降は時間Ｔ２以前の所定の割合だけ減るようにするなど、予め流れる駆動電流を減らす所定の割合が設定されていてもよい。図４に示す例では、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる駆動電流を、時間Ｔ２において、電流値Ｂ３から電流値Ｂ１へ減らす例を示している。なお、表示制御部４２は、時間Ｔ２から所定期間かけて、駆動電流を、電流値Ｂ３から電流値Ｂ１へ減らしてもよい。
【0034】
これにより、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以降は時間Ｔ２以前よりも小さくなる。図４のデータＮ１に示す例では、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流は、時間Ｔ１から時間Ｔ２の間の電流値Ｂ３から、時間Ｔ２以降の時間Ｔ３までは電流値Ｂ１（Ｂ１＜Ｂ３）へ減っている。
【0035】
すると、これにより、図３のデータＭ１に示すように、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸの劣化情報の上昇速度は、時間Ｔ２以前の時間Ｔ１から時間Ｔ２までの上昇速度と比べて、時間Ｔ２のときの値である所定値Ａｔｈから時間Ｔ３のときの値Ａ２まで等、時間Ｔ２以降の上昇速度が小さくなる。これにより、時間Ｔ２以降は、時間Ｔ２以前と比べて、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの劣化情報の上昇速度を抑制することができる。言い換えると、時間Ｔ２以降は、時間Ｔ２以前と比べて、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの発光効率の劣化が進む速度を遅くすることができる。
【0036】
一方、例えば、図３のデータＭ２に示すように、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸの劣化情報は、時間Ｔ２のときには所定値Ａｔｈより小さい値Ａ１であり、時間Ｔ２より後の時間Ｔ３のときに所定値Ａｔｈに到達したとする。すると、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が時間Ｔ３のときに所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸが有ると判定し、その劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸを特定する。図３のデータＭ２に示す例では、時間Ｔ１から時間Ｔ３にかけて劣化情報が上昇し、時間Ｔ３のときに劣化情報が所定値Ａｔｈに到達している。
【0037】
すると、図４のデータＮ２に示すように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達したと劣化情報判定部４１により特定された画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ３以降は、時間Ｔ３以前よりも少なくなるように、階調信号を生成し、ソースドライバ３０へ供給する。例えば、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ３以降は時間Ｔ３以前の所定の割合だけ減るようにするなど、予め流れる駆動電流を減らす所定の割合が設定されていてもよい。図４に示す例では、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる駆動電流が、時間Ｔ３において、電流値Ｂ２から電流値Ｂ１へ減らす例を示している。なお、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる駆動電流を、時間Ｔ３から一定期間かけて、電流値Ｂ２から電流値Ｂ１となるよう減らしてもよい。
【0038】
これにより、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ３以降は時間Ｔ３以前よりも小さくなる。図４のデータＮ２に示す例では、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流は、時間Ｔ１から時間Ｔ３の間の電流値Ｂ２から減っている。
【0039】
すると、これにより、図３のデータＭ２に示すように、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸの劣化情報の上昇速度は、時間Ｔ３以前の時間Ｔ１から時間Ｔ３までの上昇速度と比べて、時間Ｔ３以降の上昇速度が小さくなる。これにより、時間Ｔ３以降は、時間Ｔ３以前と比べて、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸの劣化情報の上昇速度を抑制することができる。
【0040】
また、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸから順に、流れる駆動電流が、所定値Ａｔｈに到達前よりも小さくしているため、複数の画素ＰＸのそれぞれ間で、劣化情報の差を抑制することができる。具体的には、例えば、図３の時間Ｔ２におけるデータＭ１に示す画素ＰＸの劣化情報の値である所定値Ａｔｈと、データＭ２に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ１との差よりも、図３の時間Ｔ３におけるデータＭ１に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ２と、データＭ２に示す画素ＰＸの劣化情報の値である所定値Ａｔｈとの差が小さくなっている。
【0041】
図５は、実施形態に係る表示装置１における制御部４０の処理の流れを表す図である。ステップＳ１において、劣化情報判定部４１は、制御部４０が取得した映像信号に基づいて、複数の画素ＰＸのそれぞれ毎に劣化情報を生成し、生成した複数の画素ＰＸのそれぞれ毎の劣化情報を、記憶部５０に劣化情報蓄積データ５１として蓄積していく。
【0042】
次に、ステップＳ２において、劣化情報判定部４１は、記憶部５０に記憶された劣化情報蓄積データ５１を参照し、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸの有無を判定する。ステップＳ２において、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸは無いと判定すると（ステップＳ２のＮｏの場合）、ステップＳ１の処理へ戻る。
【0043】
また、ステップＳ２において、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸが有ると判定すると（ステップＳ２のＹｅｓの場合）、次に、ステップＳ３において、表示制御部４２は、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となったと劣化情報判定部４１によって判定された画素ＰＸに供給される駆動電流を、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくする。
【0044】
なお、図５に示す制御部４０の処理の流れの例では、表示制御部４２は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸを、順次、駆動電流を、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくしていく例を示している。このように、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸを順次、駆動電流を、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくすることにより、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸが有する発光素子２１を、速やかに焼き付きを抑制することができる。
【0045】
このように、本実施形態に係る表示装置１においては、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、発光効率の劣化度合いを示す劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸの有無を判定する。そして、劣化情報判定部４１が、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸが有ると判定すると、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸに供給される駆動電流が、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上になる前よりも小さくなるようにソースドライバ３０を制御する。
【0046】
言い換えると、例えば、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸに供給される駆動電流が、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上になる前よりも小さくなるように、ソースドライバ３０に供給する階調信号が示す輝度値を表す値を減らす。
【0047】
これにより、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸの劣化が進んで焼き付きが発生してしまうことを抑制することができる。これにより、発光素子２１の焼き付きを抑制した表示装置１を提供することができる。
【0048】
加えて、図３を用いて説明したように、複数の画素ＰＸのそれぞれ同士の劣化度合いのバラツキを抑制することができる。例えば、図３の時間Ｔ２におけるデータＭ１に示す画素ＰＸの劣化情報の値である所定値Ａｔｈと、データＭ２に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ１との差よりも、時間Ｔ３におけるデータＭ１に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ２と、データＭ２に示す画素ＰＸの劣化情報の値である所定値Ａｔｈとの差を小さくすることができる。このため、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い一部の画素ＰＸだけが焼き付いてしまうことを抑制することができる。これにより、表示装置１が有する複数の画素ＰＸのそれぞれで劣化度合いのバラツキを抑えることができ、表示する画像の表示品質の低下を抑制することができる。
【0049】
図６は、実施形態の変形例１に係る表示装置１における画素ＰＸの経過時間と劣化情報との関係を表す図である。図７は、実施形態の変形例１に係る表示装置１における画素ＰＸの経過時間と駆動電流との関係を表す図である。例えば、表示制御部４２は、劣化情報に応じて、画素ＰＸに流れる駆動電流を小さくする量を変更してもよい。
【0050】
例えば、図６のデータＭ１に示すように、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの劣化情報が、時間Ｔ２のときに、所定値Ａｔｈに到達したとする。すると、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が時間Ｔ２のときに所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸが有ると判定し、その劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸを特定する。図６のデータＭ１に示す例では、時間Ｔ１から時間Ｔ２にかけて劣化情報が上昇し、時間Ｔ２のときに劣化情報が所定値Ａｔｈに到達している。
【0051】
すると、図７のデータＮ１に示すように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達したと劣化情報判定部４１により特定された画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以降は、時間Ｔ２以前よりも少なくなるように、階調信号を生成し、ソースドライバ３０へ供給する。例えば、図７に示す例では、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる電流値Ｂ４である駆動電流を、時間Ｔ２から時間Ｔ４にかけて少なくする量を増加させながら減らし、時間Ｔ４において、電流値Ｂ２で一定になるようにしている。このように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以前の電流値Ｂ４から、時間Ｔ２以降は所定の割合だけ減らした電流値Ｂ２となるようにしてもよい。
【0052】
すると、これにより、図６のデータＭ１に示すように、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸの劣化情報の上昇速度は、時間Ｔ２以前の時間Ｔ１から時間Ｔ２までの上昇速度と比べて、時間Ｔ２以降の上昇速度は小さくなる。図６に示す例では、時間Ｔ２における値である所定値Ａｔｈから時間Ｔ４における値Ａ３までは、劣化情報の上昇速度が小さくなる量が増加しており、時間Ｔ４以降は、一定の割合で劣化情報が上昇している。このように、図６のデータＭ１に示す例では、時間Ｔ２から時間Ｔ４までは、劣化情報の上昇速度を速やかに小さくすることができる。言い換えると、時間Ｔ２から時間Ｔ４において、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸの発光効率の劣化が進む速度を、速やかに遅くすることができる。
【0053】
一方、例えば、図６のデータＭ２に示すように、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸの劣化情報は、時間Ｔ２のときには所定値Ａｔｈより小さい値Ａ１であり、時間Ｔ２より後の時間Ｔ３のときに所定値Ａｔｈに到達したとする。すると、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が時間Ｔ３のときに所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸが有ると判定し、その劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸを特定する。図６のデータＭ２に示す例では、時間Ｔ１から時間Ｔ３にかけて劣化情報が上昇し、時間Ｔ３のときに劣化情報が所定値Ａｔｈに到達している。
【0054】
すると、図７のデータＮ２に示すように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達したと劣化情報判定部４１により特定された画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ３以降は、時間Ｔ３以前よりも少なくなるように、階調信号を生成し、ソースドライバ３０へ供給する。例えば、図７に示す例では、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる電流値Ｂ３である駆動電流を、時間Ｔ３から時間Ｔ５にかけて少なくする量を増加させながら減らし、時間Ｔ５において、電流値Ｂ１で一定になるようにしている。このように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ３以前の電流値Ｂ３から、時間Ｔ３以降は所定の割合だけ減らした電流値Ｂ１となるようにしてもよい。
【0055】
すると、これにより、図６のデータＭ２に示すように、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸの劣化情報の上昇速度は、時間Ｔ３以前の時間Ｔ１から時間Ｔ３までの上昇速度と比べて、時間Ｔ３以降の上昇速度が小さくなる。図６に示す例では、時間Ｔ３における値である所定値Ａｔｈから時間Ｔ５における値Ａ２までは、劣化情報の上昇速度が小さくなる量が増加しており、時間Ｔ５以降は、一定の割合で劣化情報が上昇している。このように、図６のデータＭ２に示す例では、時間Ｔ３から時間Ｔ５までは、劣化情報の上昇速度を速やかに小さくすることができる。言い換えると、時間Ｔ３から時間Ｔ５において、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸの発光効率の劣化が進む速度を、速やかに遅くすることができる。
【0056】
なお、上述した例では、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる電流の量を一定期間（例えば、時間Ｔ２から時間Ｔ４、または、時間Ｔ３から時間Ｔ５）、減少させる量を増加させることにより、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸの劣化情報の上昇速度が小さくなる量が一定期間（例えば、時間Ｔ２から時間Ｔ４、または、時間Ｔ３から時間Ｔ５）だけ増加する例を説明した。
【0057】
しかし、反対に、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸに流れる電流の量を一定期間（例えば、時間Ｔ２から時間Ｔ４、または、時間Ｔ３から時間Ｔ５）、減少させる量を減少させることにより、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸの劣化情報の上昇速度が小さくなる量が一定期間（例えば、時間Ｔ２から時間Ｔ４、または、時間Ｔ３から時間Ｔ５）だけ減少するようにしてもよい。
【0058】
このように、表示制御部４２は、劣化情報に応じて駆動電流を小さくする量を変更するようソースドライバ３０を制御するようにしてもよい。これによっても、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸの劣化が進んで焼き付きが発生してしまうことを抑制することができる。これにより、発光素子２１の焼き付きを抑制した表示装置１を提供することができる。
【0059】
加えて、図６を用いて説明したように、複数の画素ＰＸのそれぞれ同士の劣化度合いのバラツキを抑制することができる。例えば、図６の時間Ｔ２におけるデータＭ１に示す画素ＰＸの劣化情報の値である所定値Ａｔｈと、データＭ２に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ１との差よりも、時間Ｔ５におけるデータＭ１に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ３と、時間Ｔ５データにおけるデータＭ２に示す画素ＰＸの劣化情報の値Ａ２との差を小さくすることができる。このため、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い一部の画素ＰＸだけが焼き付いてしまうことを抑制することができる。これにより、表示装置１が有する複数の画素ＰＸのそれぞれで劣化度合いのバラツキを抑えることができ、表示する画像の表示品質の低下を抑制することができる。
【0060】
図８は、実施形態の変形例２に係る表示装置１における制御部４０の処理の流れを表す図である。表示制御部４２は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった複数の画素ＰＸの数が所定の割合以上になってから、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった複数の画素ＰＸのそれぞれの駆動電流を、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくしてもよい。
【0061】
図８に示すように、劣化情報判定部４１は、図５を用いて説明した、ステップＳ１、ステップＳ２の処理を順に経る。ステップＳ２において、劣化情報判定部４１は、記憶部５０に記憶された劣化情報蓄積データ５１を参照し、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸの有無を判定する。ステップＳ２において、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸは無いと判定すると（ステップＳ２のＮｏの場合）、ステップＳ１の処理へ戻る。
【0062】
また、ステップＳ２において、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、蓄積された劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸが有ると判定すると（ステップＳ２のＹｅｓの場合）、次に、ステップＳ１１において、劣化情報判定部４１は、劣化情報が所定値以上となった画素の画素数を加算する。なお、劣化情報判定部４１は、加算した画素数を、記憶部５０または図示しないメモリーに記憶してもよい。
【0063】
次に、ステップＳ１２において、劣化情報判定部４１は、表示パネル１０に設けられた複数の画素ＰＸの画素数に対し、劣化情報が所定値以上となった複数の画素ＰＸの画素数が所定の割合（例えば、全画素ＰＸのうち９０％など）以上になったか否かを判定する。ステップＳ１２において、劣化情報判定部４１は、表示パネル１０に設けられた複数の画素ＰＸの画素数に対し、劣化情報が所定値以上となった複数の画素ＰＸの画素数が所定の割合以上になっていないと判定すると（ステップＳ１２のＮｏの場合）、ステップＳ１の処理へ戻る。
【0064】
また、ステップＳ１２において、劣化情報判定部４１は、表示パネル１０に設けられた複数の画素ＰＸの画素数に対し、劣化情報が所定値以上となった複数の画素ＰＸの画素数が所定の割合以上になったと判定すると（ステップＳ１２のＹｅｓの場合）、ステップＳ１３において、表示制御部４２は、表示パネル１０に設けられた複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となったと劣化情報判定部４１によって判定された複数の画素ＰＸに供給される駆動電流をそれぞれ、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくなるようにソースドライバ３０を制御する。言い換えると、例えば、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった複数の画素ＰＸに供給される駆動電流が、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上になる前よりも小さくなるように、ソースドライバ３０に供給する階調信号が示す輝度値を表す値を減らす。
【0065】
このように、劣化情報判定部４１は、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸが有ると判定すると、さらに、表示パネル１０に設けられた複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった複数の画素ＰＸの割合が所定の割合以上となった場合、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった複数の画素ＰＸのそれぞれに供給される駆動電流が、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上になる前よりも小さくなるようにソースドライバ３０を制御する。
【0066】
これにより、表示パネルに設けられた複数の画素のうち、劣化情報が所定値以上となった画素を、順次、駆動電流を、劣化情報が所定値以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくする場合と比べて、制御部４０における処理の負荷を抑制することができる。これにより、制御部４０における処理速度の低下を抑制することができる。
【0067】
図９は、実施形態の変形例３に係る表示装置１の概略構成を表す図である。表示制御部４２は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸの駆動電流を、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となる前に供給されていた駆動電流よりも小さくするとき、併せて、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸに隣接する少なくとも１つの画素ＰＸの駆動電流を小さくしてもよい。図９に示すように、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸａと、劣化情報の上昇速度が相対的に遅い画素ＰＸｂとが隣接するとする。
【0068】
図１０は、実施形態の変形例３に係る表示装置１における画素ＰＸａ・ＰＸｂの経過時間と劣化情報との関係を表す図である。図１１は、実施形態の変形例３に係る表示装置１における画素ＰＸａ・ＰＸｂの経過時間と駆動電流との関係を表す図である。
【0069】
図１０において、実線で示すデータＭ１ａは、画素ＰＸａの劣化情報の変化の様子を表している。図１０において、一点鎖線で示すデータＭ２ｂは、画素ＰＸｂの劣化情報の変化の様子を表している。図１１において、実線で示すデータＮ１ａは、画素ＰＸａの駆動電流の変化の様子を表している。図１１において、一点鎖線で示すデータＮ２ｂは、画素ＰＸｂの駆動電流の変化の様子を表している。
【0070】
例えば、図１０のデータＭ１ａに示すように、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報の上昇速度が相対的に早い画素ＰＸａの劣化情報が、時間Ｔ２のときに、所定値Ａｔｈに到達したとする。すると、劣化情報判定部４１は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が時間Ｔ２のときに所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａが有ると判定し、その劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａを特定する。図１０のデータＭ１に示す例では、時間Ｔ１から時間Ｔ２にかけて劣化情報が上昇し、時間Ｔ２のときに劣化情報が所定値Ａｔｈに到達している。加えて、劣化情報判定部４１は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａに隣接する少なくとも１つの画素ＰＸを特定する。本変形例３では、劣化情報判定部４１は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａに隣接する画素ＰＸｂを特定する。
【0071】
そして、図１１のデータＮ１ａに示すように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達したと劣化情報判定部４１により特定された画素ＰＸａに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以降は、時間Ｔ２以前よりも少なくなるように、階調信号を生成し、ソースドライバ３０へ供給する。例えば、図１１に示す例では、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａに流れる電流値Ｂ４である駆動電流を、時間Ｔ２から時間Ｔ４にかけて少なくする量を増加させながら減らし、時間Ｔ３において、電流値Ｂ２で一定になるようにしている。
【0072】
加えて、図１１のデータＮ２ｂに示すように、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達したと劣化情報判定部４１により特定された画素ＰＸａに隣接する画素ＰＸｂに、映像信号に応じて流れる駆動電流が、時間Ｔ２以降は、時間Ｔ２以前よりも少なくなるように、階調信号を生成し、ソースドライバ３０へ供給する。例えば、図１１に示す例では、表示制御部４２は、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａに隣接する画素ＰＸｂに流れる電流値Ｂ３である駆動電流を、時間Ｔ２から時間Ｔ３にかけて少なくする量を増加させながら減らし、時間Ｔ３において、電流値Ｂ１で一定になるようにしている。
【0073】
すると、これにより、図１０のデータＭ１ａに示すように、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａの劣化情報の上昇速度は、時間Ｔ２以前の時間Ｔ１から時間Ｔ２までの上昇速度と比べて、時間Ｔ２以降の上昇速度は小さくなる。図１０に示す例では、データＭ１ａは、時間Ｔ２のときの値である所定値Ａｔｈから、時間Ｔ３のときの値Ａ３まで、劣化情報の上昇速度が小さくなる量が増加しており、時間Ｔ３以降は、一定の割合で劣化情報の値が上昇している。
【0074】
加えて、図１０のデータＭ２ｂに示すように、劣化情報が所定値Ａｔｈに到達した画素ＰＸａに隣接する画素ＰＸｂの劣化情報の上昇速度は、時間Ｔ２以前の時間Ｔ１から時間Ｔ２までの上昇速度と比べて、時間Ｔ２以降の上昇速度は小さくなる。図１０に示す例では、時間Ｔ２のときの値Ａ１から、時間Ｔ３のときの値Ａ２までは、劣化情報の上昇速度が小さくなる量が増加しており、時間Ｔ３以降は、一定の割合で劣化情報が上昇している。
【0075】
このように、表示制御部４２は、複数の画素ＰＸのうち、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸａの駆動電流を小さくするとき、劣化情報が所定値Ａｔｈ以上となった画素ＰＸａに隣接する画素ＰＸｂに供給される駆動電流も小さくなるようにソースドライバ３０を制御する。これにより、劣化が進みやすい画素ＰＸａの焼き付きを抑制するとともに、劣化が進みやすい画素ＰＸａに隣接する画素ＰＸｂの劣化が進むことを抑制することができる。加えて、互いに隣接する画素ＰＸａ・ＰＸｂのそれぞれに流れる駆動電流を小さくするため、それぞれの輝度に差が生じることを抑制することができる。この結果、表示装置１が表示する画像の表示品質の低下を抑制することができる。
【0076】
なお、前述した実施形態や変形例に登場した各要素を、矛盾が生じない範囲で、適宜に組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【0077】
１：表示装置、１０：表示パネル、１１：表示領域、１３：ゲートドライバ、２０：画素回路、２１：発光素子、３０：ソースドライバ（駆動回路）、４０：制御部、４１：劣化情報判定部、４２：表示制御部、５０：記憶部、５１：劣化情報蓄積データ、ＰＸ・ＰＸａ・ＰＸｂ：画素
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】