特許 7678932 テスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2025-05-08

(45)【発行日】2025-05-16

(54)【発明の名称】テスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラム

(51)【国際特許分類】

   G06F 11/36 20250101AFI20250509BHJP

   G06F 11/263 20060101ALI20250509BHJP

【ＦＩ】

G06F11/3668 184

G06F11/263

【請求項の数】 14

(21)【出願番号】P 2024510565

(86)(22)【出願日】2022-03-28

(86)【国際出願番号】 JP2022014870

(87)【国際公開番号】W WO2023187869

(87)【国際公開日】2023-10-05

【審査請求日】2024-03-07

(73)【特許権者】

【識別番号】000006013

【氏名又は名称】三菱電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100088672

【弁理士】

【氏名又は名称】吉竹 英俊

(74)【代理人】

【識別番号】100088845

【弁理士】

【氏名又は名称】有田 貴弘

(72)【発明者】

【氏名】藤井 菜摘子

(72)【発明者】

【氏名】加藤 潤二

【審査官】三坂 敏夫

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１５－２６２２２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平７－２１０４２４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－１３８８５１（ＪＰ，Ａ）

【文献】大橋 恭子 他，ビジネスアプリケーション開発における追跡可能性構築への取り組み，ソフトウェアエンジニアリング最前線２０１０，株式会社近代科学社，2010年08月31日，初版，第155頁-第160頁，ISBN978-4-7649-0394-4

【文献】テスト設計支援ツール ＴＥＳＴＲＵＣＴＵＲＥ －高品質テスト設計の決定版！，組込み総合技術展 関西 ＩｏＴ総合技術展 関西，株式会社ベリサーブ，2019年06月13日，第1頁-第2頁

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０６Ｆ １１／３６６８

Ｇ０６Ｆ １１／２６３

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援装置であって、
仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、前記変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、前記設計要素と前記設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する影響度付き変更影響箇所作成部と、
前記仕様情報、前記変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、前記設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、前記設計要素と前記テスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成するテスト観点マトリクス作成部と、
前記影響度付き変更影響箇所作成部が作成した前記影響度付き変更影響箇所情報と、前記テスト観点マトリクス作成部が作成した前記テスト観点マトリクスとに基づいて、前記変更仕様が前記設計要素と前記テスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、前記設計要素テスト観点ペアと前記設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度付きテスト観点マトリクス作成部と、
前記設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、前記影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、前記テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出するテストケース優先度作成部と、
前記影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスと、前記テストケース優先度作成部が算出した前記テストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う表示制御部と、
を備える、テスト支援装置。

【請求項2】

前記影響度付き変更影響箇所作成部は、前記ソースコードにおける前記設計要素間の依存強度に基づいて前記設計要素影響度を算出する、請求項１に記載のテスト支援装置。

【請求項3】

前記影響度付き変更影響箇所作成部は、前記トレーサビリティ情報に含まれる前記設計要素間のトレーサビリティに関する距離情報に基づいて前記設計要素影響度を算出する、請求項１または２に記載のテスト支援装置。

【請求項4】

前記影響度付き変更影響箇所作成部は、少なくとも前記仕様情報および前記テスト観点データベースに含まれるキーワードが予め定められたキーワードであるか否かを判定し、当該判定結果に基づいて前記影響度付きテスト観点マトリクスにおける前記設計要素テスト観点ペア影響度を調整する、請求項１から３のいずれか１項に記載のテスト支援装置。

【請求項5】

前記影響度付きテスト観点マトリクスにおける前記設計要素テスト観点ペア影響度の変更指示を受け付け、当該変更指示に従って前記設計要素テスト観点ペア影響度を調整して調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度調整部をさらに備える、請求項１から４のいずれか１項に記載のテスト支援装置。

【請求項6】

前記影響度調整部は、前記影響度付き変更影響箇所情報に含まれる前記設計要素影響度の変更指示を受け付け、当該変更指示に従って前記設計要素影響度を調整し、調整した前記設計要素影響度に基づいて前記設計要素テスト観点ペア影響度を再計算して前記調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する、請求項５に記載のテスト支援装置。

【請求項7】

前記影響度調整部は、前記テスト観点の優先度であるテスト観点優先度を受け付け、前記テスト観点優先度に基づいて前記設計要素テスト観点ペア影響度に重み付けをして前記調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する、請求項５に記載のテスト支援装置。

【請求項8】

前記影響度調整部は、前記設計要素の優先度である設計要素優先度を受け付け、前記設計要素優先度に基づいて前記設計要素テスト観点ペア影響度に重み付けをして前記調整済み影響度付きテスト観点マトリクスを作成する、請求項５に記載のテスト支援装置。

【請求項9】

前記影響度付きテスト観点マトリクスに基づいて、前記変更仕様が影響を及ぼす前記設計要素が対応する前記テスト観点の一覧と、前記変更仕様が対応する前記テスト観点の一覧とを比較し、両者間で差異がある箇所を整合性違反と判定する整合性判定部をさらに備える、請求項１から４のいずれか１項に記載のテスト支援装置。

【請求項10】

前記整合性判定部は、前記影響度付きテスト観点マトリクスおよび前記テスト情報に基づいて、前記設計要素テスト観点ペアに対応する前記テストケースが存在しない場合に前記整合性違反であると判定する、請求項９に記載のテスト支援装置。

【請求項11】

前記整合性判定部は、前記変更仕様情報を前記仕様情報にマージした改訂仕様情報に関するテスト情報である改訂仕様テスト情報に基づいて、前記変更仕様をテストするために設計されたテストケースが、前記変更仕様が影響を及ぼす設計要素以外の設計要素に対応している場合に前記整合性違反であると判定する、請求項９または１０に記載のテスト支援装置。

【請求項12】

前記整合性判定部は、前記変更仕様情報を前記仕様情報にマージした改訂仕様情報に関するテスト情報である改訂仕様テスト情報に基づいて、前記変更仕様をテストするために設計されたテストケースが、前記変更仕様が対応するテスト観点以外のテスト観点に対応している場合に前記整合性違反であると判定する、請求項９から１１のいずれか１項に記載のテスト支援装置。

【請求項13】

ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援方法であって、
仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、前記変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、前記設計要素と前記設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成し、
前記仕様情報、前記変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、前記設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、前記設計要素と前記テスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成し、
作成した前記影響度付き変更影響箇所情報と、作成した前記テスト観点マトリクスとに基づいて、前記変更仕様が前記設計要素と前記テスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、前記設計要素テスト観点ペアと前記設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成し、
前記設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、前記テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出し、
作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスと、算出した前記テストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う、テスト支援方法。

【請求項14】

コンピュータを、ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援装置として機能させるためのテスト支援プログラムであって、
仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、前記変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、前記設計要素と前記設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する手順と、
前記仕様情報、前記変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、前記設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、前記設計要素と前記テスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成する手順と、
作成した前記影響度付き変更影響箇所情報と、作成した前記テスト観点マトリクスとに基づいて、前記変更仕様が前記設計要素と前記テスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、前記設計要素テスト観点ペアと前記設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する手順と、
前記設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、前記テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出する手順と、
作成した前記影響度付きテスト観点マトリクスと、算出した前記テストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う手順と、
を前記コンピュータに実行させる、テスト支援プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、ソフトウェア開発におけるテストを支援するテスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

近年、ソフトウェアの大規模化に伴いテストケースが増加しており、度重なるソフトウェアの変更開発において開発者が全てのテストケースの回帰試験を実施することは困難である。また、仕様の変更に伴い修正が必要となるテストケースを、開発者が手動で抽出することも困難である。

【0003】

テストケースがどのような目的および観点で設計されたものかを特定し易くするために、「テスト観点」と呼ばれる概念によってテストケースを分類する方法が提案されている。また、縦軸にソフトウェアの機能を示し、横軸にテスト観点を示した行列の表である「テスト観点マトリクス」を、テスト設計時に活用する技術がある。

【0004】

従来、ソフトウェアの仕様変更時の差分情報に基づいて、実施するテストケースまたは修正するテストケースを絞り込む技術が提案されている（例えば、特許文献１，２，３参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【文献】特許第６８６５９４２号公報

【文献】特開２０２０－１５４５６３号公報

【文献】特開２０１６－２１２６３３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

従来技術では、変更する仕様に直接対応付けられたテストケースを抽出する技術であるため、変更する仕様から間接的に影響を受ける仕様に対応付けられたテストケースを抽出することができない。間接的に影響を受ける仕様とは、例えば、ある仕様を変更することによってソフトウェアの実行のタイミングが変わり、それによって挙動が変わる恐れのある別の機能に関する仕様等である。

【0007】

また、変更内容に基づくキーワード検索等を使用してテストケースを抽出する技術を使用する場合、関連性が低いテストケースが大量に抽出される可能性、または表記ゆれによって必要なテストケースが抽出されない可能性が生じる。

【0008】

さらに、従来技術では、テストケース単位で抽出または優先度の付与を実施するため、大量に抽出されたテストケースの妥当性を開発者が目視で確認することは困難である。

【0009】

本開示は、このような問題を解決するためになされたものであり、ソフトウェア開発における試験設計工数および試験実施工数を削減することが可能なテスト支援装置、テスト支援方法、およびテスト支援プログラムを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0010】

上記の課題を解決するために、本開示によるテスト支援装置は、ソフトウェアの仕様を変更する際に実施するテストを支援するテスト支援装置であって、仕様情報、ソースコード、トレーサビリティ情報、および変更仕様情報に基づいて、変更仕様情報に含まれる変更仕様が設計要素に及ぼす影響度を示す設計要素影響度を算出し、設計要素と設計要素影響度との関係を示す影響度付き変更影響箇所情報を作成する影響度付き変更影響箇所作成部と、仕様情報、変更仕様情報、およびテスト観点データベースに基づいて、設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出し、設計要素とテスト観点との対応関係を示すテスト観点マトリクスを作成するテスト観点マトリクス作成部と、影響度付き変更影響箇所作成部が作成した影響度付き変更影響箇所情報と、テスト観点マトリクス作成部が作成したテスト観点マトリクスとに基づいて、変更仕様が設計要素とテスト観点とのペアである設計要素テスト観点ペアに及ぼす影響度を示す設計要素テスト観点ペア影響度を算出し、設計要素テスト観点ペアと設計要素テスト観点ペア影響度との関係を示す影響度付きテスト観点マトリクスを作成する影響度付きテスト観点マトリクス作成部と、設計要素テスト観点ペアとテストケースとの対応関係を示すテスト情報と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した影響度付きテスト観点マトリクスとに基づいて、テストケースの優先度であるテストケース優先度を算出するテストケース優先度作成部と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部が作成した影響度付きテスト観点マトリクスと、テストケース優先度作成部が算出したテストケース優先度とのうちの少なくとも一方を表示する制御を行う表示制御部とを備える。

【発明の効果】

【0011】

本開示によれば、ソフトウェア開発における試験設計工数および試験実施工数を削減することが可能となる。

【0012】

本開示の目的、特徴、態様、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】実施の形態１によるテスト支援装置の構成の一例を示すブロック図である。

【図2】実施の形態１によるテスト支援装置の動作を説明するための図である。

【図3】実施の形態１による仕様情報の一例を示す図である。

【図4】実施の形態１によるトレーサビリティ情報の一例を示す図である。

【図5】実施の形態１による変更仕様情報の一例を示す図である。

【図6】実施の形態１による影響度付き変更影響箇所情報の一例を示す図である。

【図7】実施の形態１によるテスト観点データベースの一例を示す図である。

【図8】実施の形態１によるテスト観点マトリクスの一例を示す図である。

【図9】実施の形態１による影響度付きテスト観点マトリクスの一例を示す図である。

【図10】実施の形態１によるテスト情報の一例を示す図である。

【図11】実施の形態１によるテストケース優先度情報の一例を示す図である。

【図12】実施の形態１によるテスト支援装置の構成の一例を示す図である。

【図13】実施の形態２によるテスト支援装置の構成の一例を示すブロック図である。

【図14】実施の形態２によるテスト支援装置の動作を説明するための図である。

【図15】実施の形態２による調整済み影響度付きテスト観点マトリクスの一例を示す図である。

【図16】実施の形態３によるテスト支援装置の構成の一例を示すブロック図である。

【図17】実施の形態３によるテスト支援装置の動作を説明するための図である。

【図18】実施の形態３による整合性判定結果の一例を示す図である。

【図19】実施の形態３による改訂仕様テスト情報の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0014】

＜実施の形態１＞
＜構成＞
図１は、実施の形態１によるテスト支援装置１０の構成の一例を示すブロック図である。

【0015】

テスト支援装置１０は、コンピュータによって実現される。テスト支援装置１０は、プロセッサ１１、メモリ１２、ストレージ１３、および通信インタフェース１４の各ハードウェアを備える。プロセッサ１１は、信号線を介して他のハードウェアに接続され、接続されたハードウェアを制御する。

【0016】

プロセッサ１１は、プロセッシングを行うＩＣ（Integrated Circuit）である。プロセッサ１１の具体例としては、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、およびＧＰＵ（Graphics Processing Unit）などが挙げられる。

【0017】

メモリ１２は、データを一時的に記憶する記憶装置である。メモリ１２の具体例としては、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）などが挙げられる。

【0018】

ストレージ１３は、データを保管する記憶装置である。ストレージ１３の具体例としては、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などが挙げられる。なお、ストレージ１３は、ＳＤ（Secure Digital、登録商標）メモリカード、ＣＦ（CompactFlash、登録商標）、ＮＡＮＤフラッシュ、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ブルーレイ（登録商標）ディスク、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）などの可搬記憶媒体であってもよい。

【0019】

通信インタフェース１４は、外部の装置と通信するためのインタフェースである。通信インタフェース１４の具体例としては、Ethernet（登録商標）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ＨＤＭＩ（High-Definition Multimedia Interface、登録商標）などのポートが挙げられる。

【0020】

テスト支援装置１０は、機能構成要素として、影響度付き変更影響箇所作成部２１と、テスト観点マトリクス作成部２２と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３と、テストケース優先度作成部２４と、表示制御部２５とを備えている。影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能は、ソフトウェアによって実現される。

【0021】

ストレージ１３には、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を実現するプログラムが記憶されている。これらのプログラムは、プロセッサ１１によってメモリ１２に読み込まれ、プロセッサ１１によって実行される。これにより、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能が実現される。

【0022】

図１では、テスト支援装置１０が１つのプロセッサ１１を備える場合について示している。しかし、テスト支援装置１０は、プロセッサ１１を代替する複数のプロセッサを備えてもよい。これら複数のプロセッサは、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を実現するプログラムの実行を分担する。各プロセッサは、プロセッサ１１と同様、プロセッシングを行うＩＣである。

【0023】

＜動作＞
実施の形態１によるテスト支援装置１０の動作について、図２を参照して説明する。

【0024】

実施の形態１によるテスト支援装置１０の動作は、実施の形態１によるテスト支援方法に相当する。また、実施の形態１によるテスト支援装置１０の動作は、実施の形態１によるテスト支援プログラムの処理に相当する。

【0025】

＜影響度付き変更影響箇所作成部２１の処理＞
影響度付き変更影響箇所作成部２１は、通信インタフェース１４を介して、仕様情報３１、ソースコード３２、トレーサビリティ情報３３、および変更仕様情報３４の入力を受け付けてメモリ１２に書き込む。そして、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、仕様情報３１、ソースコード３２、トレーサビリティ情報３３、および変更仕様情報３４を加工し、影響度付き変更影響箇所情報３５を作成する。

【0026】

仕様情報３１は、例えば、要求仕様書およびソフトウェア設計書などの仕様書、あるいは当該仕様書内に記載された記述の一部である。仕様情報３１は、例えば、各要求および機能の標題と、それらの詳細に関する記述とをリスト化したものである。図３は、実施の形態１で具体例として使用する仕様情報３１を示す図である。図３に示す要求において、例えば２行目には要求Ｉという標題の要求の詳細が記述されている。

【0027】

トレーサビリティ情報３３は、例えば、各設計要素（要求、機能、関数など）が、隣接する上位仕様または下位仕様のどの設計要素と対応付くかをリスト化したものである。隣接する仕様とは、例えば、要求設計工程、機能設計工程、関数設計工程、および試験設計工程が、それぞれ一つ前の工程の成果物を入力としてシーケンスを実施する場合に、隣接する設計工程から出力される各設計要素のことを示す。例えば、先の例の場合、要求の隣接する下位仕様は機能であり、機能の隣接する上位仕様は要求である。設計要素が対応付くとは、２つまたは２つ以上の設計要素が関連を持つことを意味している。例えば、ある要求を達成するためにある機能が設計された場合、これらの要求と機能とは対応付くといえる。図４は、実施の形態１で具体例として使用するトレーサビリティ情報３３を示す図である。図４に示す要求において、例えば２行目と３行目は、要求Ｉが機能Ａおよび機能Ｂによって達成されることを示している。トレーサビリティ情報３３は、手動で作成してもよく、ツールまたはスクリプトを使用して自動で作成してもよい。

【0028】

変更仕様情報３４は、例えば、変更開発のために作成される変更仕様書、または当該変更仕様書内に記載された記述の一部である。変更仕様情報３４は、例えば、各変更仕様の標題とその詳細に関する記述とをリスト化したものである。図５は、実施の形態１で具体例として使用する変更仕様情報３４を示す図である。図５において、例えば２行目は、変更αという標題の変更仕様の詳細と、変更対象が機能Ｂであることを示している。変更対象とは、関連する仕様情報３１に記載されている設計要素のうち、変更仕様が変更の対象としている設計要素である。変更対象には、機能の他に、要求または関数が記載されていてもよく、要求および関数の両方が記載されていてもよい。変更対象には、複数の設計要素が記載されていてもよい。変更開発において新規に機能を作成する場合等、関連する仕様情報３１に変更対象が無い場合は空白でもよい。

【0029】

影響度付き変更影響箇所情報３５は、例えば、仕様情報３１の各設計要素について、変更仕様情報３４に記載されている変更仕様から受ける影響度（以下、「設計要素影響度」という）をリスト化したものである。設計要素影響度とは、変更仕様の通りに変更対象の内容を変更した場合に、各設計要素が受ける影響の度合いである。影響とは、例えば、各設計要素の仕様の変更が必要になる可能性、または各設計要素に関する対象ソフトウェアの動作が変更される可能性等を意味する。図６は、実施の形態１で具体例として使用する影響度付き変更影響箇所情報３５を示す図であり、変更αに関する設計要素影響度を示すリストである。図６において、例えば２行目は、変更αの設計要素影響度が最も大きい「０」であることを示している。また、例えば３行目は、要求Ｉが変更αから設計要素影響度「２」の影響を受けることを示す。図６では、設計要素影響度の数値が小さいほど影響が大きいことを示しており、変更αの変更対象である機能Ｂの影響が最も大きく、要求ＩＩおよび第４関数の影響が最も小さいことを示している。

【0030】

以下では、図２～６を参照して、影響度付き変更影響箇所作成部２１の処理について説明する。

【0031】

まず、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、仕様情報３１を元に、設計要素の一覧を作成し、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の１列目の３行目以降に記載する。

【0032】

次に、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、変更仕様情報３４を元に、変更仕様の一覧を作成し、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の１列目の２行目に記載する。

【0033】

次に、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、ソースコード３２およびトレーサビリティ情報３３を元に、各変更仕様が各設計要素に与える設計要素影響度を算出する。設計要素影響度の算出には、ソースコード３２内の関数同士の依存関係の情報、およびトレーサビリティ情報３３に含まれている距離情報を使用する。

【0034】

具体的には、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、トレーサビリティ情報３３を元に、各設計要素間の関連度合い（以下、「設計要素間関連度合い」という）を算出する。例えば、変更αは機能Ｂを変更する変更仕様であるため、変更αと機能Ｂとの設計要素間関連度合いは「１」とする。また、機能Ｂは要求Ｉと直接対応付けられているため、機能Ｂと要求Ｉとの設計要素間関連度合いは「１」とする。変更αと要求Ｉとの設計要素間関連度合いは、変更αと機能Ｂとの設計要素間関連度合いと、機能Ｂと要求Ｉとの設計要素間関連度合いとを加算して「２」とする。影響度付き変更影響箇所作成部２１は、このようにして算出した変更αから各設計要素への設計要素間関連度合いを、設計要素影響度として図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の２列目に記載する。もし変更αから関連を辿ることのできない設計要素がある場合は、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５の表の８行目のように、影響なしを意味する「―」を記載してもよい。

【0035】

影響度付き変更影響箇所作成部２１は、設計要素影響度を算出する際にソースコード３２の情報を使用してもよい。例えば、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、静的解析技術等を用いてソースコード３２内の各関数間の依存強度を算出する。例えば、第３関数と第５関数との間に関数呼び出し等の依存関係がある場合、第３関数と第５関数との設計要素間関連度合いを「１」または依存強度の逆数等とする。その結果、変更αと第５関数との設計要素間関連度合いは、変更αと第３関数との設計要素間関連度合いである「２」と、第３関数と第５関数との設計要素間関連度合いである「１」とを加算して「３」となる。影響度付き変更影響箇所作成部２１がソースコード３２内の各関数間の依存強度を元に設計要素間関連度合いを算出する場合、トレーサビリティ情報３３に含まれる設計要素間のトレーサビリティに関する距離情報を元に、設計要素間の経路を辿り設計要素間関連度合いを加算するように関数間の依存関係の経路を辿り、設計要素間関連度合いを加算してもよい。例えば、第３関数と第６関数とに依存関係があり、かつ第６関数と第４関数とに依存関係がある場合、第３関数と第４関数との設計要素間関連度合いは、第３関数と第６関数との設計要素間関連度合いと、第６関数と第４関数との設計要素間関連度合いを加算した「２」となる。

【0036】

トレーサビリティ情報３３の経路がループしている等の場合、各項目間の経路が複数発生する可能性がある。例えば、第３関数と第６関数とに依存関係があり、かつ第６関数と第４関数とに依存関係があり、第３関数と第４関数との設計要素間関連度合いである「２」を考慮する場合、変更αから機能Ｃへの経路は、機能Ｂ、要求Ｉ、機能Ａ、および第２関数を辿る経路（経路β）、または、機能Ｂ、第３関数、第６関数、および第４関数を辿る経路（経路γ）が存在する。この場合、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、例えば、変更αと機能Ｃとの設計要素間関連度合いを算出する際、経路βにおける変更αと機能Ｃとの設計要素間関連度合いと、経路γにおける変更αと機能Ｃとの設計要素間関連度合いとのうちの小さい方の値を設計要素影響度としてもよい。

【0037】

影響度付き変更影響箇所作成部２１は、さらにテスト観点データベース３６を入力とし、設計要素の記述、関数コメント、テスト観点の記述、またはテストケースの記述等に関して、ソフトウェアが組み込まれる製品または機能の弱点キーワードが含まれるか否かを判定し、影響度付きテスト観点マトリクス３８（図９参照）内の影響度（以下、「機能テスト観点ペア影響度（設計要素テスト観点ペア影響度）」という）の値を調整してもよい。具体的には、例えば、弱点キーワードとして「割込みタイミング」が設定されており、テスト観点データベース３６内のテスト観点ｂの記述に「割込みタイミング」というキーワードが含まれている場合、影響度付き変更影響箇所作成部２１は、影響度付きテスト観点マトリクス３８のテスト観点ｂに関する機能テスト観点ペア影響度の値から任意の値を減算する。

【0038】

影響度付き変更影響箇所作成部２１は、作成した影響度付き変更影響箇所情報３５をメモリ１２に書き込む。

【0039】

＜テスト観点マトリクス作成部２２の処理＞
テスト観点マトリクス作成部２２は、通信インタフェース１４を介して、仕様情報３１、変更仕様情報３４、およびテスト観点データベース３６の入力を受け付け、メモリ１２に書き込む。

【0040】

次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、仕様情報３１、変更仕様情報３４、およびテスト観点データベース３６を元に、テスト観点マトリクス３７を作成する。

【0041】

テスト観点データベース３６は、テスト観点の標題とその詳細に関する記述とをリスト化したものである。図７は、実施の形態１で具体例として使用するテスト観点データベース３６を示す図である。図７において、例えば２行目には、テスト観点ａという標題のテスト観点の詳細が記述されている。テスト観点とは、テストを実施する目的またはテストで確認する対象等の分類であり、例えば、「通信データ」および「画面表示」等の機能要件、または「効率性」、「信頼性」、および「保守性」等の非機能要件である。

【0042】

テスト観点マトリクス３７は、設計要素とテスト観点との関係をリスト化したものである。図８は、実施の形態１で具体例として使用するテスト観点マトリクス３７を示す図である。図８において、例えば２行目は、機能Ａがテスト観点ａおよびテスト観点ｂに対応することを示している。機能がテスト観点に対応するとは、例えば、該当するテスト観点に関する設計記述が仕様書内に記載されていること、または、該当するテスト観点に関するテストの実施が推奨されていることを示している。

【0043】

以下では、図２，７，８を参照して、テスト観点マトリクス作成部２２の処理について説明する。

【0044】

まず、テスト観点マトリクス作成部２２は、仕様情報３１を元に、設計要素の一覧を作成し、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１列目の２行目以降に記載する。このとき、設計要素は任意の粒度に限定してもよい。図８の例では、機能に限定して記載している。以下では、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１列目の記載項目を機能に限定することを前提に説明するが、機能を他の粒度に置き換えてもよい。

【0045】

次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、変更仕様情報３４を元に、変更仕様の一覧を作成し、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１列目の末尾に記載する。

【0046】

次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、テスト観点データベース３６を元に、テスト観点の一覧を作成し、図８に示すテスト観点マトリクス３７の表の１行目の２列目以降に記載する。

【0047】

次に、テスト観点マトリクス作成部２２は、仕様情報３１の各設計要素の標題と記述、および変更仕様情報３４の変更仕様の標題と記述を元に、各設計要素とテスト観点との対応の有無を抽出する。テスト観点マトリクス作成部２２は、ある設計要素とあるテスト観点との間に対応がある場合、テスト観点マトリクス３７の設計要素とテスト観点とが交差するセルに「○」を記載する。テスト観点マトリクス作成部２２は、ある設計要素とあるテスト観点との間に対応が無い場合、テスト観点マトリクス３７の設計要素とテスト観点とが交差するセルに「―」を記載する。設計要素とテスト観点との対応の有無の抽出には、標題および記述に対してキーワード検索等の手法を使用する。設計要素とテスト観点との対応の有無の抽出は、作業者が手動で実施してもよい。

【0048】

テスト観点マトリクス作成部２２は、作成したテスト観点マトリクス３７をメモリ１２に書き込む。

【0049】

＜影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３の処理＞
影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、影響度付き変更影響箇所作成部２１が作成した影響度付き変更影響箇所情報３５と、テスト観点マトリクス作成部２２が作成したテスト観点マトリクス３７とを元に、影響度付きテスト観点マトリクス３８を作成する。

【0050】

影響度付きテスト観点マトリクス３８は、テスト観点マトリクス３７内のセルに示した「○」を機能テスト観点ペア影響度の数値で置き換えたリストである。機能テスト観点ペア影響度とは、ある機能とあるテスト観点との組合せである機能テスト観点ペア（設計要素テスト観点ペア）が、任意の変更仕様からどの程度影響を受けるかを示す度合いである。図９は、実施の形態１で具体例として使用する影響度付きテスト観点マトリクス３８を示す図である。図９において、例えば２行目は、機能Ａとテスト観点ａとの組合せが、変更αから機能テスト観点ペア影響度「３」を受けることを示し、機能Ａとテスト観点ｂとの組合せが、変更αから機能テスト観点ペア影響度「３」を受けることを示している。

【0051】

以下では、図２，９を参照して、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３の処理を説明する。

【0052】

まず、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、テスト観点マトリクス３７の内容を影響度付きテスト観点マトリクス３８にコピーする。

【0053】

次に、影響度付き変更影響箇所情報３５を元に、図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の１列目に記載の各設計要素の設計要素影響度を、該当する行の「○」のセルに、機能テスト観点ペア影響度として記載する。例えば、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５に機能Ａの設計要素影響度は「３」であり、図８に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の機能Ａが該当する２行目についてセルの値が「○」である列は２列目と３列目であるため、図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の２行目の２列目と３列目に機能テスト観点ペア影響度「３」を記載する。

【0054】

このとき、ある設計要素の設計要素影響度が任意の設計要素閾値よりも大きい場合、該当する設計要素が変更の影響をほとんど受けないと考えるのであれば、影響度付きテスト観点マトリクス３８の該当する設計要素の行には機能テスト観点ペア影響度を記載しない処理としてもよい。設計要素閾値とは、設計要素影響度の有意性を判断するための閾値である。例えば、設計要素閾値を設計要素影響度「３」以下に設定した場合、図６に示す影響度付き変更影響箇所情報３５における機能Ｃの設計要素影響度は「５」であるため、設計要素閾値よりも大きい。そのため、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の機能Ｃが該当する４行目について、機能テスト観点ペア影響度を記載せずに「○」のままとする。

【0055】

影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３は、作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８をメモリ１２に書き込む。

【0056】

＜テストケース優先度作成部２４の処理＞
テストケース優先度作成部２４は、通信インタフェース１４を介してテスト情報３９の入力を受け付け、メモリ１２に書き込む。テストケース優先度作成部２４は、テスト情報３９と、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８とを元に、テストケース優先度情報４０を作成する。

【0057】

テスト情報３９は、設計要素とテスト観点とテストケースとの対応が記載されたものであり、例えば、機能、テスト観点、テストケースの標題、およびテストケースの記述をリスト化したものである。テストケースとは、ある機能についてあるテスト観点における動作または性能を確認するために実施するテストに関して、前提条件、一連の手順および期待結果等を示したものである。図１０は、実施の形態１で具体例として使用するテスト情報３９を示す図である。図１０において、例えば２行目は、機能Ａとテスト観点ａとの組合せに対応するテストケースとして、第１テストケースという標題のテストケースの詳細が記述されている。

【0058】

テストケース優先度情報４０は、テストケースの標題とその優先度（以下、「テストケース優先度」という）とをリスト化したものである。テストケース優先度とは、変更仕様の通りに変更対象の内容を変更した場合に、どのテストケースを優先してテスト実施またはテスト設計を実施すべきかを示す度合いである。図１１は、実施の形態１で具体例として使用するテストケース優先度情報４０を示す図である。図１１において、例えば２行目には第１テストケースのテストケース優先度が「３」であることが示されており、６行目には第５テストケースのテストケース優先度が「１」であることが示されている。このことから、第５テストケースよりも第１テストケースを優先すべきであることが分かる。

【0059】

以下では、図２，１０，１１を参照して、テストケース優先度作成部２４の処理について説明する。

【0060】

まず、テストケース優先度作成部２４は、テスト情報３９を元に、テストケースの一覧を作成し、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の１列目の２行目以降に記載する。

【0061】

次にテストケース優先度作成部２４は、テスト情報３９を元に各テストケースの対応する機能とテスト観点とを抽出し、影響度付きテスト観点マトリクス３８において該当するセルの機能テスト観点ペア影響度をテストケース優先度として、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の２列目に記載する。例えば、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の２行目の第１テストケースは、図１０に示すテスト情報３９の２行目によると機能Ａおよびテスト観点ａに対応する。図９に示す影響度付きテスト観点マトリクス３８の表の２行目の２列目によると、機能Ａとテスト観点ａとの機能テスト観点ペア影響度は「３」である。そのため、テストケース優先度作成部２４は、図１１に示すテストケース優先度情報４０の表の２行目の２列目にテストケース優先度「３」を記載する。テストケース優先度作成部２４は、テストケース優先度の値の大小に応じてテストケースを並び替えてもよい。

【0062】

テストケース優先度作成部２４は、作成したテストケース優先度情報４０をメモリ１２に書き込む。

【0063】

＜表示制御部２５の処理＞
表示制御部２５は、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８、またはテストケース優先度作成部２４が作成したテストケース優先度情報４０のいずれか一方、あるいはその両方を、通信インタフェース１４を介して図示しない表示装置に表示するように制御する。

【0064】

表示制御部２５は、中間成果物であるテスト情報３９、影響度付き変更影響箇所情報３５、およびテスト観点マトリクス３７のうちの少なくとも１つを、通信インタフェース１４を介して表示装置に表示させてもよい。

【0065】

＜効果＞
以上のように、実施の形態１によるテスト支援装置１０は、ソフトウェアの仕様変更における試験に関わる各テストケースのテスト実施、およびテスト設計の優先順位を決定する。

【0066】

実施の形態１によれば、テスト設計者は、変更影響を受ける可能性の高い順にテストケースの変更、および新規作成の要否を判断することができるようになり、試験設計工数の削減を図ることができる。また、テスト実施者は、変更影響を受ける可能性の高いテストケースに絞り込んでテストを実施すれば良いため、試験実施工数の削減を図ることができる。さらに、テスト設計者およびテスト実施者は、テスト観点の粒度でテストケースの優先度を確認することができるようになり、テストケースの優先度の妥当性の確認の容易化を図ることができる。

【0067】

＜変形例１＞
実施の形態１では、テスト支援装置１０が備える影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がソフトウェアで実現される場合について説明した。

【0068】

変形例１では、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がハードウェアで実現される場合について説明する。以下では、変形例１について、実施の形態１と異なる点を説明する。

【0069】

以下では、図１２を参照して、変形例１によるテスト支援装置１０の構成について説明する。

【0070】

影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がハードウェアで実現される場合、テスト支援装置１０は、プロセッサ１１、メモリ１２、およびストレージ１３に代えて、処理回路１５を備える。処理回路１５は、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、表示制御部２５、メモリ１２、およびストレージ１３の各機能を実現する専用の電子回路である。

【0071】

処理回路１５は、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ロジックＩＣ、ＧＡ（Gate Array）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field－Programmable Gate Array）が想定される。

【0072】

影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を１つの処理回路１５で実現してもよく、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能を複数の処理回路１５に分散させて実現してもよい。

【0073】

＜変形例２＞
変形例１では、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５の各機能がハードウェアで実現される場合について説明したが、一部の機能がハードウェアで実現され、他の機能がソフトウェアで実現されてもよい。

【0074】

すなわち、変形例２として、影響度付き変更影響箇所作成部２１、テスト観点マトリクス作成部２２、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３、テストケース優先度作成部２４、および表示制御部２５のうち、一部の機能がハードウェアで実現され、他の機能がソフトウェアで実現されてもよい。

【0075】

プロセッサ１１、メモリ１２、ストレージ１３、および処理回路１５を総称して「プロセッシングサーキットリー」という。すなわち、各機能構成要素の機能は、プロセッシングサーキットリーによって実現される。

【0076】

＜実施の形態２＞
実施の形態２は、設計要素影響度または機能テスト観点ペア影響度の値を調節する点が実施の形態１と異なる。実施の形態２では、この異なる点を説明し、同一の点については説明を省略する。

【0077】

＜構成＞
図１３を参照して、実施の形態２によるテスト支援装置１６の構成について説明する。

【0078】

テスト支援装置１６は、プロセッサ１７が影響度調整部２６を備える点が、図１に示すテスト支援装置１０と異なる。影響度調整部２６は、他の機能構成要素と同様にソフトウェアによって実現される。また、影響度調整部２６は、他の機能構成要素と同様に一部または全部をハードウェアによって実現されてもよい。

【0079】

＜動作＞
図１４を参照して、実施の形態２に係るテスト支援装置１６の動作について説明する。

【0080】

実施の形態２によるテスト支援装置１６の動作は、実施の形態２によるテスト支援方法に相当する。また、実施の形態２によるテスト支援装置１０の動作は、実施の形態２によるテスト支援プログラムの処理に相当する。

【0081】

＜影響度調整部２６の処理＞
影響度調整部２６は、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８に対して、作業者から設計要素影響度の値または機能テスト観点ペア影響度の値の変更指示を受け付けて値を変更し、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を作成する。

【0082】

調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１は、影響度付きテスト観点マトリクス３８内の機能テスト観点ペア影響度の値を作業者からの変更指示の通りに変更したリストである。図１５は、実施の形態２で具体例として使用する調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を示す図である。

【0083】

テストケース優先度作成部２４は、影響度付きテスト観点マトリクス３８ではなく、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を元に、テストケース優先度情報４０を作成する。

【0084】

以下では、図１４，１５を参照して、影響度調整部２６の処理について説明する。

【0085】

まず、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して、影響度付きテスト観点マトリクス３８を表示装置に表示させる。

【0086】

次に、影響度調整部２６は、影響度付きテスト観点マトリクス３８の内容を、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１にコピーする。影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して作業者からの機能テスト観点ペア影響度の値の変更指示を受け付け、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の該当する値を変更する。具体的には、例えば、作業者は通信インタフェース１４を介して「機能Ａとテスト観点ｂとの機能テスト観点ペア影響度を１減少させる」等の指示を送る。影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ａとテスト観点ｂとの機能テスト観点ペア影響度に対応する２行目の３列目のセルの値を、「３」から「２」に変更する。

【0087】

なお、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して影響度付き変更影響箇所情報３５を表示装置に表示し、作業者から設計要素影響度の値の変更指示を受け付け、影響度付き変更影響箇所情報３５内の設計要素影響度の値を変更してもよい。その際、影響度調整部２６は、変更した設計要素影響度の値を元に、機能テスト観点ペア影響度の値を再計算し、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を作成する。

【0088】

また、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して作業者からテスト観点優先度を受け付け、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１内の機能テスト観点ペア影響度の値を変更してもよい。テスト観点優先度とは、指定のテスト観点に与えられる優先度の値である。具体的には、例えば、作業者は通信インタフェース１４を介して「テスト観点ｂのテスト観点優先度は１」等の指示を送る。影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表におけるテスト観点ｂに対応する２行目の３列目のセルの値を、「３」から１減算して「２」に変更する。同様に、影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表におけるテスト観点ｂに対応する３行目の３列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。テスト観点優先度を用いた機能テスト観点ペア影響度の値の変更は、減算および除算等の四則演算でも、その他の算出方法でもよい。このように、影響度調整部２６は、テスト観点優先度に基づいて機能テスト観点ペア影響度に重み付けをして調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１を作成する。

【0089】

また、影響度調整部２６は、通信インタフェース１４を介して作業者から設計要素優先度を受け付け、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１内の機能テスト観点ペア影響度の値を変更してもよい。設計要素優先度とは、指定の設計要素に与えられる優先度の値である。具体的には、例えば、作業者は通信インタフェース１４を介して「機能Ｂの設計要素優先度は１」等の指示を送る。影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ｂに対応する３行目の２列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。同様に、影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ｂに対応する３行目の３列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。同様に、影響度調整部２６は、図１５に示す調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１の表における機能Ｂに対応する３行目の４列目のセルの値を、「１」から１減算して「０」に変更する。設計要素優先度を用いた機能テスト観点ペア影響度の値の変更は、減算および除算等の四則演算でも、その他の算出方法でもよい。

【0090】

次に、影響度調整部２６は、調整済み影響度付きテスト観点マトリクス４１をメモリ１２に書き込む。

【0091】

＜効果＞
以上のように、実施の形態２によるテスト支援装置１６は、作業者が設計要素影響度または機能テスト観点ペア影響度の値を任意に調整した結果を、各テストケースのテスト実施およびテスト設計の優先順位に反映する。

【0092】

実施の形態２によれば、テスト設計者は、弱点箇所に関するテストケースの変更および新規作成の要否を優先して判断することができるようになり、試験設計工数の削減を図ることができる。また、テスト実施者は、弱点箇所に関するテストケースに絞り込んでテストを実施すれば良いため、試験実施工数の削減を図ることができる。弱点箇所とは、例えば、過去に不具合が発生した機能またはテスト観点等、または、不具合が発生しやすいと考えられる機能またはテスト観点等である。

【0093】

＜実施の形態３＞
実施の形態３は、影響度付きテスト観点マトリクスの整合性を判定する点が実施の形態１と異なる。実施の形態３では、この異なる点を説明し、同一の点については説明を省略する。

【0094】

＜構成＞
図１６を参照して、実施の形態３によるテスト支援装置１８の構成を説明する。

【0095】

テスト支援装置１８は、プロセッサ１９が整合性判定部２７を備える点が、図１に示すテスト支援装置１０と異なる。整合性判定部２７は、他の機能構成要素と同様にソフトウェアによって実現される。また、整合性判定部２７は、他の機能構成要素と同様に一部または全部をハードウェアによって実現されてもよい。

【0096】

＜動作＞
図１７を参照して、実施の形態３によるテスト支援装置１８の動作について説明する。

【0097】

実施の形態３によるテスト支援装置１８の動作は、実施の形態３によるテスト支援方法に相当する。また、実施の形態３によるテスト支援装置１８の動作は、実施の形態３によるテスト支援プログラムの処理に相当する。

【0098】

＜整合性判定部２７の処理＞
整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス作成部２３が作成した影響度付きテスト観点マトリクス３８と、テスト情報３９と、改訂仕様テスト情報４３とに対して、記載内容間の矛盾の有無を確認して整合性を判定し、矛盾のある個所を整合性違反として検出し、整合性判定結果４２を作成する。

【0099】

整合性判定結果４２は、整合性違反に関する箇所と内容を記載したリストである。図１８は、実施の形態３で具体例として使用する整合性判定結果４２を示す図であり、例えば２行目は変更αの整合性違反として、変更αとテスト観点ｃとが対応していないことを示している。

【0100】

改訂仕様テスト情報４３は、変更仕様情報を仕様情報にマージした改訂仕様情報に関するテスト情報である。変更仕様情報のマージとは、変更開発の完了後に、変更前の仕様情報とは別に作成した変更仕様情報を、変更前の仕様情報に反映する作業である。図１９は、実施の形態３で具体例として使用する改訂仕様テスト情報４３を示す図であり、例えば１２行目は、図１０に示すテスト情報３９では変更αのテストケースとして設計されていた第１１テストケースが、機能Ｂの第１１テストケースとして整理されたことを示している。

【0101】

表示制御部２５は、整合性判定部２７が作成した整合性判定結果４２を、通信インタフェース１４を介して表示装置に表示する制御を行う。

【0102】

以下では、図９，１５を参照して、整合性判定部２７の処理について説明する。

【0103】

まず、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が対応するテスト観点のリストを抽出する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更αが対応するテスト観点として、テスト観点ａとテスト観点ｂとを抽出する。

【0104】

次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が影響を及ぼす設計要素の一覧を抽出する。このとき、該当する設計要素影響度の数値が設計要素閾値よりも大きい設計要素、または該当する機能テスト観点ペア影響度が機能テスト観点ペア閾値よりも大きい機能テスト観点ペアを除外して抽出してもよい。機能テスト観点ペア閾値とは、機能テスト観点ペア影響度の有意性を判断するための閾値である。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更αが影響を及ぼす設計要素として、機能テスト観点ペア影響度の数値が記載されている機能Ａと機能Ｂとを抽出する。なお、機能Ｃは設計要素影響度が設計要素閾値である「３」よりも大きいため、機能テスト観点ペア影響度の数値は記載されていない。そのため、整合性判定部２７は、抽出する機能に機能Ｃを含めない。

【0105】

次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様の影響を受ける設計要素が対応するテスト観点のリストを抽出する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、先ほど抽出した機能Ａと機能Ｂとが対応するテスト観点として、テスト観点ａとテスト観点ｂとテスト観点ｃとを抽出する。

【0106】

次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が対応するテスト観点のリストと、変更仕様が影響を及ぼす設計要素の対応するテスト観点のリストとを比較する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様が対応するテスト観点であるテスト観点ａとテスト観点ｂとのリストと、機能Ａと機能Ｂとが対応するテスト観点であるテスト観点ａとテスト観点ｂとテスト観点ｃとのリストを比較し、変更仕様が対応するテスト観点の側にのみテスト観点ｃが含まれていないことを検出する。

【0107】

次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、変更αの整合性違反として、テスト観点ｃが対応していないことを記載する。

【0108】

また、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様および各設計要素が対応する機能-テスト観点ペアのリストを抽出する。このとき、整合性判定部２７は、機能テスト観点ペア影響度が機能テスト観点ペア閾値よりも大きい機能テスト観点ペアを除外してもよい。具体的には、機能テスト観点ペア閾値が「２」である場合、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様および各設計要素が対応する機能テスト観点ペアとして、機能Ｂとテスト観点ａとのペア、機能Ｂとテスト観点ｂとのペア、機能Ｂとテスト観点ｂとのペア、変更αとテスト観点ａとのペア、および変更αとテスト観点ｂとのペアを抽出する。

【0109】

次に、整合性判定部２７は、テスト情報３９を元に、先ほど抽出した機能テスト観点ペアに対応するテストケースの有無を確認する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更αとテスト観点ｂとのペアに対応するテストケースが存在しないことを検出する。

【0110】

次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、変更αの整合性違反として、変更αとテスト観点ｂとのペアに対応するテストケースが存在しないことを記載する。

【0111】

また、整合性判定部２７は、テスト情報３９と改訂仕様テスト情報４３とを比較し、変更仕様に関するテストケースがどのように仕様情報に反映されたかを抽出する。テスト情報３９のテストケースと改訂仕様テスト情報４３のテストケースとの同一性の判定は、テストケースの名称の一致、またはテストケースの記述の類似性等を元に判定する。具体的には、図１９の例では、整合性判定部２７は、第１１テストケースが機能Ｂとテスト観点ｃとのペアのテストケースとして整理されたこと、および、第１２テストケースが機能Ｃとテスト観点ａとのペアのテストケースとして整理されたことを抽出する。

【0112】

次に、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が影響を及ぼす設計要素のリストを抽出する。このとき、整合性判定部２７は、機能テスト観点ペア影響度が機能テスト観点ペア閾値以下である機能テスト観点ペアを持つ設計要素に限定してもよい。具体的には、機能テスト観点ペア閾値が「４」である場合、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様が影響を及ぼす設計要素として、機能Ａおよび機能Ｂを検出する。

【0113】

次に、整合性判定部２７は、整理されたテストケースに新たに対応付けられた機能が、先ほど抽出した変更仕様が影響を及ぼす設計要素のリストに含まれるか否かを判定する。具体的には、図１９の例では、第１２テストケースが、変更仕様の影響を及ぼす設計要素のリストに含まれない機能に対応していることを検出する。

【0114】

次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、第１２テストケースの整合性違反として、変更仕様が影響を及ぼす設計要素のリストに含まれない機能Ｃに対応していることを記載する。

【0115】

また、整合性判定部２７は、影響度付きテスト観点マトリクス３８を元に、変更仕様が対応するテスト観点のリストを抽出する。具体的には、図９の例では、整合性判定部２７は、変更仕様が対応するテスト観点として、テスト観点ａとテスト観点ｂとを抽出する。

【0116】

次に、整合性判定部２７は、整理されたテストケースに新たに対応づけられたテスト観点が、先ほど抽出した変更仕様が対応するテスト観点のリストに含まれるか否かを判定する。具体的には、図１９の例では、第１１テストケースが、変更仕様が対応するテスト観点のリストに含まれないテスト観点に対応していることを検出する。

【0117】

次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２に、第１１テストケースの整合性違反として、変更仕様が対応するテスト観点のリストに含まれないテスト観点ｃに対応していることを記載する。

【0118】

次に、整合性判定部２７は、整合性判定結果４２をメモリ１２に書き込む。

【0119】

＜効果＞
以上のように、実施の形態３によるテスト支援装置１８は、変更仕様に関する整合性違反を検出する。

【0120】

実施の形態３によれば、仕様設計者は、変更開発における変更仕様に関する仕様漏れ、および変更開発を適用する変更前の仕様に関する仕様漏れの可能性を発見することができる。テスト設計者は、テストケースの設計漏れの可能性を発見することができる。また、テスト設計者は、変更仕様を変更前の仕様にマージする際のテストケース再設計のミスの可能性を発見することができる。

【0121】

なお、本開示の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。

【0122】

本開示は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての態様において、例示であって、限定的なものではない。例示されていない無数の変形例が想定され得るものと解される。

【符号の説明】

【0123】

１０ テスト支援装置、１１ プロセッサ、１２ メモリ、１３ ストレージ、１４ 通信インタフェース、１５ 処理回路、１６ テスト支援装置、１７ プロセッサ、１８ テスト支援装置、１９ プロセッサ、２１ 影響度付き変更影響箇所作成部、２２ テスト観点マトリクス作成部、２３ 影響度付きテスト観点マトリクス作成部、２４ テストケース優先度作成部、２５ 表示制御部、２６ 影響度調整部、２７ 整合性判定部、３１ 仕様情報、３２ ソースコード、３３ トレーサビリティ情報、３４ 変更仕様情報、３５ 影響度付き変更影響箇所情報、３６ テスト観点データベース、３７ テスト観点マトリクス、３８ 影響度付きテスト観点マトリクス、３９ テスト情報、４０ テストケース優先度情報、４１ 調整済み影響度付きテスト観点マトリクス、４２ 整合性判定結果、４３ 改訂仕様テスト情報。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】