特許7761709半導体デバイスに対する試験用トレイ及び試験用トレイが用いられるテスト装置

発明の名称　半導体デバイスに対する試験用トレイ及び試験用トレイが用いられるテスト装置

出願人　アテコ・インコーポレイテッド　（識別番号 523249308）

　　　　特許公開件数ランキング 2796 位（6件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 3250 位（4件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7761709

公報発行日　2025年10月28

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7761709

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