特許7762203質量分析の堅牢性を強化するためにバンドパスフィルタリング衝突セルを使用して高強度イオンビームのＭＳ／ＭＳを実施する方法

発明の名称　質量分析の堅牢性を強化するためにバンドパスフィルタリング衝突セルを使用して高強度イオンビームのＭＳ／ＭＳを実施する方法

出願人　ディーエイチ　テクノロジーズ　デベロップメント　プライベート　リミテッド　（識別番号 510075457）

　　　　特許公開件数ランキング 5132 位（3件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1351 位（13件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7762203

公報発行日　2025年10月29

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7762203

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