特許7768533抵抗変化型素子を備えた記憶回路とそのテスト装置

発明の名称　抵抗変化型素子を備えた記憶回路とそのテスト装置

出願人　国立大学法人東北大学　（識別番号 504157024）

　　　　特許公開件数ランキング 391 位（188件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 235 位（188件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7768533

公報発行日　2025年11月12

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7768533

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