特許7774412劣化診断装置、および劣化診断方法

発明の名称　劣化診断装置、および劣化診断方法

出願人　富士通テン株式会社　（識別番号 237592）

　　　　特許公開件数ランキング 147 位（226件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 206 位（150件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7774412

公報発行日　2025年11月21

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7774412

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