特許7780410イオン源、質量分析計、及び、イオン源製造方法

発明の名称　イオン源、質量分析計、及び、イオン源製造方法

出願人　株式会社日立ハイテクソリューションズ　（識別番号 301078191）

　　　　特許公開件数ランキング 2072 位（9件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 3345 位（4件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7780410

公報発行日　2025年12月4

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7780410

知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、特許-7780410「イオン源、質量分析計、及び、イオン源製造方法」の公報全文を閲覧することができます。

ログインはこちら　ログイン・ユーザー登録