特許7790057IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

評価治具及び評価治具の取り付け方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

半導体装置の特性評価を実施するにあたり、半導体装置に対して評価治具を堅固に、確実に取り付ける必要がある。半導体装置に評価治具が堅固に取り付けられていない場合、半導体装置と評価治具との間に隙間が生じると、評価治具に対して半導体装置がぐらつき、半導体装置の特性評価を適切に実施することができない場合がある。評価治具に対して半導体装置がぐらつくと、半導体装置が損傷を受けてしまうおそれがある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一観点によれば、平面視で矩形状の冷却装置を底部に備える半導体装置に対して取り付けられ、底板と枠部とを含み、前記底板は、平板状であって、前記冷却装置がおもて面に配置され、前記枠部は、平面視で前記冷却装置の四方の全体を前記底板の四方の全体と共にそれぞれ取り囲む、評価治具が提供される。 また、評価治具を半導体装置に取り付ける評価治具の取り付け方法が提供される。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

開示の技術によれば、半導体装置が損傷を受けることなく、確実に取り付けられて、安定した評価を行うことができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第1の実施の形態における評価構造体の平面図である。
【図2】 第1の実施の形態における評価構造体の側断面図である。
【図3】 半導体装置の断面図である。
【図4】 半導体装置に含まれる冷却装置の斜視図である。
【図5】 半導体装置に含まれる冷却装置の分解図である。
【図6】 半導体装置に含まれる冷却装置の裏面図である。
【図7】 第1の実施の形態における評価治具の平面図である。
【図8】 第1の実施の形態における評価治具の側断面図である。
【図9】 第1の実施の形態における評価治具の裏面図である。
【図10】 第1の実施の形態における評価治具の分解図である。
【図11】 第1の実施の形態における評価治具に含まれる底板の裏面側の斜視図である。
【図12】 第1の実施の形態における評価治具に含まれる側枠部の斜視図(その1)である。
【図13】 第1の実施の形態における評価治具に含まれる側枠部の斜視図(その2)である。
【図14】 第1の実施の形態における枠部の接続箇所の断面図である。
【図15】 第1の実施の形態における評価治具の取り付け方法のフローチャートである。
【図16】 第1の実施の形態における評価治具の取り付け方法のシート配置工程を示す図である。
【図17】 第1の実施の形態における評価治具の取り付け方法の装置配置工程を示す図である。
【図18】 第1の実施の形態における評価治具の取り付け方法の枠部取り付け工程を示す図である。
【図19】 第2の実施の形態における評価治具の取り付け方法の枠部取り付け工程(取り付け前)を示す図である。
【図20】 第2の実施の形態における評価治具の取り付け方法の枠部取り付け工程(取り付け後)を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

1 評価構造体 2 半導体装置 3 評価治具 10 半導体モジュール 11 絶縁回路基板 11a 絶縁板 11b 回路パターン 11c 金属板 12 半導体チップ 13,14 接合部材 20 冷却装置 20a,20c 長辺 20b,20d 短辺 20e,35a,35b 締結孔 20e1 締結補強部 21 天板 21a 流路領域 21b 冷却領域 21c,21d 連通領域 21e,21f 外縁領域 22 側壁 22a 窪み部 23 冷却底板 23a 流入口 23b 流出口 24 流路部 24a 冷却部 24b,24c 連通部 24f 放熱フィン 25 ケース 26 封止部材 30 底板 30a,30b,30c,30d 第1,第2,第3,第4辺 31,32,33,34 第1,第2,第3,第4溝部 31a,32a,33a,34a 第1,第2,第3,第4挿通孔 31b1 第1側部挿通孔 40 枠部 41,42,43,44 第1,第2,第3,第4側枠部 41a,42a,43a,44a 第1,第2,第3,第4部材 41a1 嵌合部 41b,42b,43b,44b 第1,第2,第3,第4支持部 41b1,44b1 第1,第4先端支持部 41b2 第1支軸部 41c,42c,43c,44c 第1,第2,第3,第4突起部 41c1,43c1 第1,第3突起裏面 41e1,41e2,44e1,44e2 挿通孔 42d,44d 第2,第4取っ手 45 ピン 50 カーボンシート 51a 流入開口部 51b 流出開口部 52a,52b 締結開口部

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