発明の名称 多面撮像システム並びにそれを用いた外観検査システム及び外観検査方法
出願人 株式会社ヴイ・エス・テクノロジ− (識別番号 506225949)
特許公開件数ランキング 3040 位(1件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 2387 位(1件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7795231
公報発行日 2026年1月7
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7795231
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