特許7796566試験片把持構造、試験片把持具および材料試験方法

発明の名称　試験片把持構造、試験片把持具および材料試験方法

出願人　日本発條株式会社　（識別番号 4640）

　　　　特許公開件数ランキング 165 位（28件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 304 位（12件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7796566

公報発行日　2026年1月9

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7796566

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