【図1】
本積層体の断面を模式的に示す断面模式図である。
【図2】
本積層体であり、実施例1の試料の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図3】
本積層体であり、実施例1の試料の断面を示すTEM像である。
【図4】
Ti5O9の結晶粒の電子線回折像の一例である。
【図5】
図1の積層体の変形例を模式的に示す断面図である。
【図6】
図1の積層体の他の変形例を模式的に示す断面図である。
【図7】
図1の積層体の他の変形例を模式的に示す断面図である。
【図8】
本積層体の製造方法の第2工程の様子の一例を模式的に示す図である。
【図9】
実施例2の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図10】
実施例3~5の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図11】
比較例1~3の積層体のXRD測定結果である。
【図12】
比較例4~6の積層体のXRD測定結果である。
【図13】
比較例7の積層体のXRD測定結果である。
【図14】
比較例8及び9の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図15】
比較例10の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図16】
比較例11の積層体のXRD測定結果である。
【図17】
実施例1の試料の断面を示すTEM像である。
【図18】
実施例2の試料の断面を示すTEM像である。
【図19】
比較例1の試料の断面を示すTEM像である。
【図20】
比較例2の試料の断面を示すTEM像である。
【図21】
実施例1の試料の領域Rd近傍の拡大図及び領域Rdの電子線回折像である。
【図22】
比較例1の試料の領域R1近傍の拡大図及び領域R1の電子線回折像である。
【図23】
実施例1の試料の領域RbのHAADF-STEM像及びその像をフーリエ変換した像である。
【図24】
実施例1の試料のHAADF-STEM像中のX-Y線のコントラスト強度を示す図及び領域Raの原子配列を示す図である。
【図25】
実施例1,比較例1,2及びルチル型白色TiO2粉末の反射率を示す図である。
【図26】
比較例12の熱重量曲線を示す図である。
【図27】
比較例12における状態cの試料の外観写真及びXRD測定結果を示す図である。