特許7799255IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

積層体及びその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献1及び2の製造方法では、マグネリ相酸化物を形成するために複雑な処理が必要であり、また、マグネリ相酸化物で構成される層状体及びその製法についての開示は無い。また、表層部にマグネリ相酸化物で構成された層状体を有する積層体は知られていない。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明者らは、鋭意研究の結果、金属基板の表面を大気中で酸化し、その後、酸素分圧が低くなるように制御した環境下で熱処理すると、金属イオンが外方拡散し、表面に形成された金属酸化物層の組成が変化すると共に当該金属酸化物層の厚みが変化することから、マグネリ相酸化物で構成される金属酸化物の薄層化、及び薄層状のマグネリ相酸化物の組成制御を簡便な処理で実現でき、その結果表層部にマグネリ相金属酸化物層を有す・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、マグネリ相酸化物で構成される金属酸化物層を有する積層体を提供することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本積層体の断面を模式的に示す断面模式図である。
【図2】 本積層体であり、実施例1の試料の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図3】 本積層体であり、実施例1の試料の断面を示すTEM像である。
【図4】 Ti5O9の結晶粒の電子線回折像の一例である。
【図5】 図1の積層体の変形例を模式的に示す断面図である。
【図6】 図1の積層体の他の変形例を模式的に示す断面図である。
【図7】 図1の積層体の他の変形例を模式的に示す断面図である。
【図8】 本積層体の製造方法の第2工程の様子の一例を模式的に示す図である。
【図9】 実施例2の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図10】 実施例3~5の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図11】 比較例1~3の積層体のXRD測定結果である。
【図12】 比較例4~6の積層体のXRD測定結果である。
【図13】 比較例7の積層体のXRD測定結果である。
【図14】 比較例8及び9の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図15】 比較例10の積層体の薄膜GI-XRD測定結果である。
【図16】 比較例11の積層体のXRD測定結果である。
【図17】 実施例1の試料の断面を示すTEM像である。
【図18】 実施例2の試料の断面を示すTEM像である。
【図19】 比較例1の試料の断面を示すTEM像である。
【図20】 比較例2の試料の断面を示すTEM像である。
【図21】 実施例1の試料の領域Rd近傍の拡大図及び領域Rdの電子線回折像である。
【図22】 比較例1の試料の領域R1近傍の拡大図及び領域R1の電子線回折像である。
【図23】 実施例1の試料の領域RbのHAADF-STEM像及びその像をフーリエ変換した像である。
【図24】 実施例1の試料のHAADF-STEM像中のX-Y線のコントラスト強度を示す図及び領域Raの原子配列を示す図である。
【図25】 実施例1,比較例1,2及びルチル型白色TiO2粉末の反射率を示す図である。
【図26】 比較例12の熱重量曲線を示す図である。
【図27】 比較例12における状態cの試料の外観写真及びXRD測定結果を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

10:金属層、20:金属酸化物層、100,101,102,103:積層体、V:ボイド

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