特許7811906測定される断層撮影データの評価

発明の名称　測定される断層撮影データの評価

出願人　コーニンクレッカ　フィリップス　エヌ　ヴェ　（識別番号 590000248）

　　　　特許公開件数ランキング 138 位（31件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 43 位（60件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7811906

公報発行日　2026年2月6

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7811906

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