前記高分子材料の組成の分析を前記ダブルショット法により行う場合、該高分子材料自体の熱分解により生成した気相成分混合物の分析のためには、前記スプリット比が小さい方が好ましい。しかし、前記スプリット比を小さくすると、前記分離カラムに導入される前記気相成分混合物の量が少なくなるので、前記高分子材料の熱脱着により生成した第１の気相成分混合物が該高分子材料に遊離状態で含有される成分由来であり、該遊離状態で含有される成分の該高分子材料全体に対する含有量が０．１質量％以下と少ないときには、十分な検出強度を得ることができず、前記高分子材料の熱脱着により生成した第１の気相成分混合物の分析ができなくなるという問題がある。

本出願人は、非分析対象成分による分離カラムや検出器の劣化を防止することができ、しかも優れた検出感度を得ることができる気相成分分析装置について、既に特許出願している（特願２０２０－２１５４２３参照）。前記特許出願記載の気相成分分析装置は、試料を加熱して気相成分混合物を生成させる加熱手段と、該加熱手段で生成した該気相成分混合物が導入される第１のカラムと、該加熱手段と第１のカラムとを接続する注入口・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る