特許7854698IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

画像に基づいて検査対象の異常を検出する異常検出装置および異常検出方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

精密機器の製造ラインにおける品質管理では、目視ですぐにわかる異常だけでなく、小さな傷も含めて高い精度で検出しなくてはならない。ところが、小さな傷まで考慮すると、考えられる異常の外観は非常に多様である。一方、製造ラインにおいて意図的に様々な異常を生み出すことは難しい。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

かかる目的を達成するため、本発明の異常検出装置は、ニューラルネットワークを用いて、検査対象を撮影した検査用画像に基づき検査対象の異常を検出するものであって、検査用画像から検査用画像の大きさ、異常の検出精度及び要求される処理スピードに応じて予め決定された大きさ及び形状の欠損領域を有する欠損付与画像を複数生成する欠損付与画像生成部と、欠損付与画像を入力すると欠損領域が補間された補間画像を出力する・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、検査対象を撮影した画像に基づく検査対象の異常検出の精度を向上させることができる。また、学習済みモデルの作成に異常データを不要にすることができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の異常検出装置の一例を示すブロック図である。
【図2】 図1の学習済みモデルの作成を示すブロック図である。
【図3】 本発明の異常検出装置による異常検出の流れを示す概念図である。
【図4】 画像の処理を説明するための図で、(A)は検査対象に異常がない場合の検査用画像を示す図、(B)は検査対象に異常がない場合の欠損領域を示す図、(C)は検査対象に異常がない場合の補間画像を示す図、(D)は検査対象に異常がない場合の補間画像の欠損領域に対応する部分の拡大図、(E)は検査対象に異常がない場合の検査用画像の欠損領域に対応する部分の拡大図、(F)は検査対象に異常がある場合の検査用画像を示す図、(G)は検査対象に異常がある場合の欠損領域を示す図、(H)は検査対象に異常がある場合の補間画像を示す図、(I)は検査対象に異常がある場合の補間画像の欠損領域に対応する部分の拡大図、(J)は検査対象に異常がある場合の検査用画像の欠損領域に対応する部分の拡大図である。
【図5】 画像の処理を説明するための図で、(A)は検査対象に異常がない場合の検査用画像を示す図、(B)は検査対象に異常がない場合の再構成画像を示す図、(C)は検査対象に異常がない場合の差分画像を示す図、(D)は検査対象に異常がある場合の検査用画像を示す図、(E)は検査対象に異常がある場合の再構成画像を示す図、(F)は検査対象に異常がある場合の差分画像を示す図である。
【図6】 本発明の異常検出方法の処理の手順を示すフローチャートである。

代表図 図1本件の代表的な図

1 異常検出装置 2 検査用画像 3 欠損領域 4 欠損付与画像 5 欠損付与画像生成部 6 補間画像 7 学習済みモデル 8 補間画像生成部 9 再構成画像 10 再構成画像生成部 11 異常領域 12 異常判定部 13 平滑化処理部 14 差分画像 15 差分画像生成部 16 異常領域広さ判定部 17 データベース 18 訓練用画像 19 データベース 20 欠損付与画像生成部 21 補間画像

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