特許7873741IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

本発明に係るトレンチキャパシタ構造の製造方法及びトレンチキャパシタ、又は誘電体層スタックの製造方法及び誘電体層スタックを有するトレンチキャパシタ

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

以下、添付図面を参照して、本発明に係る実施形態について更に詳しく説明する。
【図1a】 トレンチキャパシタ構造を製造するための方法の本発明の実施形態のブロック図である。
【図1b】 トレンチキャパシタ構造を製造するための方法の本発明の実施形態の方法ステップの概略図である。
【図2】 酸窒化物層を伴う誘電体層構造を製造するための方法の本発明の実施形態の方法ステップの概略図である。
【図3】 複数のON層対を伴うトレンチキャパシタ構造の本発明の実施形態の概略図である。
【図4】 それぞれが酸窒化物層を更に備える複数のON層対を伴うトレンチキャパシタ構造の本発明の実施形態の概略図である。
【図5】 その二酸化ケイ素層が乾式化学酸化によって堆積されたスナバデバイスの本発明の実施形態の特性曲線と、その二酸化ケイ素層がLPCVD堆積によって堆積されたスナバデバイスの特性曲線とを伴う図である。
【図6】 その二酸化ケイ素層が乾式化学酸化によって堆積されたスナバデバイスの本発明の実施形態の特性曲線と、二酸化ケイ素層が湿式化学酸化によって堆積されたスナバデバイスの本発明の実施形態の特性曲線とを伴う図である。
【図7】 その二酸化ケイ素層が乾式化学酸化によって堆積されたスナバデバイスの本発明の実施形態の特性曲線と、無応力窒化物層を有するスナバデバイスの特性曲線とを伴う図である。

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