特許7889653IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

結晶化ガラス、結晶化ガラスを用いた高周波用基板およびその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、非特許文献1に示す結晶化ガラスは、1200℃を超える高温で結晶化処理を行う必要があった。 以上の背景を踏まえ、本発明では低温焼成可能な結晶化ガラスを提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明では、Ba-Si-Oのみからなる結晶相を有する結晶化ガラスを提供する。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によると、低温焼成可能な結晶化ガラス、及びそれを用いた高周波用基板を得ることができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図1は、実験例におけるBaSi2O5およびBa2Si4O10の結晶化度合計と誘電正接tanδの関係を示した図である。
【図2】 図2は、実験例における組成HにおけるLi2Si2O5の結晶化度と、誘電正接tanδの関係を示した図である。
【図3】 図3は、実験例におけるBaSi2O5およびBa2Si4O10の格子定数の差分の二乗総和と誘電正接tanδの関係を示した図である。
【図4】 図4は、指標2のBaSi2O5およびBa2Si4O10の{400}面、{020}面、{002}面での歪みの合計値と結晶化度の合計値の積と、結晶化ガラスの誘電正接tanδの関係を示した図である。
【図5】 図5は、XLi2O-(30-X)BaO-70SiO2組成においてX=0.2、0.5、1.0、2.0、3.0、5.0と変化させた際の結晶化開始温度を示したDSCの測定結果である。

代表図 図1本件の代表的な図

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