特許7891206IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

歯牙構造測定装置及び歯牙構造測定方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

エナメル質層や象牙質層といった、歯牙を構成する各種の層(以下、歯質層と総称する。)の厚さを把握したい場合がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る歯牙構造測定装置は、 測定の対象とする対象歯牙に向けてテラヘルツパルス波を放射する放射部と、 前記対象歯牙に入射した前記テラヘルツパルス波の、前記対象歯牙における第1歯質層と前記第1歯質層の外方に位置する第2歯質層との界面である第1界面で反射した第1反射波と、前記対象歯牙の前記第2歯質層の表面に位置する第2界面で反射した第2反射波とをそれぞれ受波する受波部と、 前記第・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、テラヘルツパルス波を用いて、第2歯質層の厚さを表す指標を把握することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第1基礎実験で用いた伝播速度計測装置の構成を示す概念図。
【図2】 第1基礎実験で用いたテラヘルツ非破壊検査装置の仕様を示す図。
【図3】 第1基礎実験で用いた第1-第6サンプルの厚さに対するテラヘルツパルス波の伝播速度の依存性を示すグラフ。
【図4】 第1基礎実験で用いた第1-第6サンプルにおけるテラヘルツパルス波の伝播速度の、中央値、最大値、及び最小値を示す図。
【図5】 第2基礎実験で用いた第6サンプルとミラーとの界面からの反射波、及び第6サンプルと水との界面からの反射波の波形を示すグラフ。
【図6】 第2基礎実験で用いた第6サンプルの厚さに対する反射波の強度の依存性を示すグラフ。
【図7】 第1歯牙構造測定装置の機能を示す概念図。
【図8】 第1第1反射波から第3反射波の波形を示す概念図。
【図9】 第1計測本体部の構成を示す概念図。

代表図 図1本件の代表的な図

11…放射器、 12…受波器、 13…ミラー、 14…サンプル、 100…歯牙構造測定装置、 110…放射部、 120…受波部、 130…計測本体部、 130a…プロセッサ、 130b…入力装置、 130c…表示装置、 130d…記憶装置、 130e…歯牙構造測定プログラム、 131…反射間隔測定部、 132…歯質層別伝播速度データ、 133…指定部、 134…伝播速度設定部、 135…算出部、 136…出力部、 200…対象歯牙、 211…第1歯質層、 212…第2歯質層、 213…第3歯質層、 221…第1界面、 222…第2界面、 223…第3界面、 RA,RB…グラフ、 R1,R2,R3,RA1,RA2,RA3,RB1,RB2,RB3…波束、 RW1…第1反射波、 RW2…第2反射波、 RW3…第3反射波。

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