特許7913309IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

水質分析装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

水質分析装置において試料水を流す部分に汚れが蓄積した場合、試料水に含まれる測定対象物質の濃度を示す検出信号が変動してしまう。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の第1の態様においては、水質分析装置を提供する。水質分析装置はフローセルを備えてよい。いずれかの水質分析装置は光源を備えてよい。いずれかの水質分析装置は濃度測定部を備えてよい。いずれかの水質分析装置は汚れ検出部を備えてよい。いずれかの水質分析装置は汚れ補正部を備えてよい。いずれかの水質分析装置において、フローセルは、光を透過する壁部を有してよい。いずれかの水質分・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一つの水質分析装置100の一例を示す図である。
【図2】 測定対象物質の濃度の測定結果に対する補正を説明する図である。
【図3】 本発明の他の水質分析装置100の一例を示す図である。
【図4】 本発明の他の水質分析装置100の一例を示す図である。
【図5】 図4の実施例における水質分析装置100の動作例を示すフローチャートである。
【図6】 本発明の他の水質分析装置100の一例を示す図である。
【図7】 過去の光減衰量に基づいて、以後の光減衰量の予測を行っている図である。
【図8】 本発明の他の水質分析装置100の一例を示す図である。
【図9】 過去の光減衰量に基づいて、以後の光減衰量の予測を行う際の他の実施例を示す図である。
【図10】 本発明の他の水質分析装置100の一例を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

10・・・光源、20・・・フローセル、22・・・壁部、24・・・内部空間、30・・・濃度検出光学系、32・・・濃度検出信号処理部、36・・・濃度測定部、40・・・汚れ検出部、42・・・汚れ補正部、46・・・メモリ、50・・・洗浄部、60・・・光源光量モニタ、62・・・補正処理部、70・・・透過光検出光学系、72・・・透過光検出信号処理部、76・・・透過光検出部、80・・・散乱光検出光学系、82・・・散乱光信号処理部、86・・・散乱光量検出部、91・・・光、92・・・測定光、93・・・分岐光、94・・・透過光、96・・・散乱光、100・・・水質分析装置、102・・・近似線、104・・・近似線

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