特許7930247IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

デバイスの製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献1に記載の技術では、電極パッド上のシリコン酸化膜を除去した際に、振動部の周囲に配置され、共振周波数の補正に用いられるシリコン酸化膜も除去してしまうことから、振動素子の共振周波数のバラツキが大きくなるという課題がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

デバイスの製造方法は、素子と、前記素子を駆動するための素子電極と、前記素子の周囲に配置された枠部と、前記枠部に配置され前記素子電極に接続された電極パッドと、を有する素子基板と、前記素子基板の一方面側に接合された支持基板と、を備えたデバイスの製造方法であって、エッチング液に耐性を有し、前記素子の外形と前記枠部との間の第1開口部と、前記電極パッド上の第2開口部と、を有する保護膜を、前記枠部の他方・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 振動デバイスの構成を示す平面図。
【図2】 図1に示す振動デバイスのA-A線に沿う断面図。
【図3】 振動デバイスの製造方法を示す断面図。
【図4】 振動デバイスの製造方法を示す断面図。
【図5】 振動デバイスの製造方法を示す断面図。
【図6】 振動デバイスの製造方法を示す断面図。
【図7】 振動デバイスの製造方法を示す断面図。
【図8】 振動デバイスの製造方法を示す断面図。

代表図 図1本件の代表的な図

10…素子基板、10a…シリコン層、11…基部、12a…熱酸化膜(素子調整層)、12b…酸化シリコン膜(素子調整層)、12c…酸化シリコン膜、20…支持基板、20a…シリコン層、30…BOX層、30a…酸化シリコン層、40…SOI基板、50…素子、60…圧電駆動部、61…第1素子電極、61a…モリブデン膜、62…第2素子電極、62a…モリブデン膜、63…圧電体層、63a…窒化アルミニウム膜、70…枠部、80…電極パッド、80a…アルミニウム合金膜、80b…窒化チタン膜、81…下部電極パッド、82…上部電極パッド、90…空間、100…振動デバイス、200…保護膜、201…第1開口部、202…第2開口部。

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