特許7931072IP Force 特許公報全文掲載

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撮像ユニット及び測定装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

特許文献１に記載されたダイクロイックミラーは、ある波長を基準にして該波長よりも短い波長の光と長い波長の光とを分離するものであり、概ね、透過率が波長によらず１００％又は０％である。このようなダイクロイックミラーを用いる場合、例えば波長幅が狭い光を分離しようとすると、波長に応じて所望の分離ができないことが考えられる。このような波長幅が狭い光の分離にも対応する構成として、波長の変化に応じて透過率（及び反射率）が変化する波長帯の幅が広い（エッジ変移幅を有した）ダイクロイックミラーがある。エッジ変移幅を有したダイクロイックミラーは、波長幅が狭い光についても適切に分離することができる。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一態様に係る撮像ユニットは、対象物からの光を波長に応じて透過又は反射することにより分離し、波長の変化に応じて透過率及び反射率が変化する波長帯の幅であるエッジ変移幅が所定の幅を有する分離光学素子と、分離光学素子において透過又は反射された光の一方を反射する反射光学素子と、分離光学素子において透過又は反射された光の他方を第１の撮像領域で撮像すると共に、反射光学素子において反射された光を第１・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、光の波長を正確に導出し適切な画像を取得することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の測定装置を模式的に示した平面図である。
【図2】 図１の測定装置に含まれるカメラシステムを模式的に示した側面図である。
【図3】 光のスペクトル及び傾斜ダイクロイックミラーの特性を説明する図である。
【図4】 補正ユニットを模式的に示す図である。
【図5】 計算波長の補正を説明するためのグラフである。
【図6】 補正方法のフローチャートである。
【図7】 変形例に係る傾斜ダイクロイックミラーの特性を説明する図である。
【図8】 変形例に係るカメラシステムを模式的に示した図である。
【図9】 変形例に係るカメラシステムを模式的に示した図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１…測定装置（撮像ユニット）、１１，２１，３１…傾斜ダイクロイックミラー（分離光学素子）、１２，２２，３２…全反射ミラー（反射光学素子）、１４，２４，３４…撮像素子（撮像部）、８０…制御装置（処理部，解析部）。

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