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2026年 特許公開件数ランキング 35位 497件(※)
2026年 特許取得件数ランキング 11位 873件(※)
公報発行日 2026年10月7
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7931609 ログイン済みの方はこのURLへ
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本発明によれば、第1テストチャートの撮影画像からアライメントマークを検出し、アライメントマークの検出結果を用いて、理論位置と撮影位置との粗対応関係を取得する。粗い対応関係を用いてラインマークの中心位置を推定し、理論位置と撮影位置との詳細対応関係を取得する。ラインヘッドの記録素子の配置方向に対応する第1方向について、詳細対応関係を用いて第1方向における記録素子ごとの濃度値が把握され、第1方向における記録素子ごとの濃度値に基づき濃度ムラ補正データが作成される。これにより、高精度の濃度ムラ補正を実施し得る濃度ムラ補正データが作成される。
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