特許 7931645出願番号 特願 2022-181087
Ｘ線検査装置
出願人 株式会社ＩＨＩ（識別番号 99）
2026年 特許公開件数ランキング 300位 92件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 171位 141件（※）
出願人 株式会社ＩＨＩ検査計測（識別番号 198318）
2026年 特許公開件数ランキング 5944位 3件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 3572位 6件（※）
公報発行日 2026年10月7
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7931645 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
Ｘ線検査装置
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
スキャン撮影されたＸ線画像は一般にグレースケール画像として記録される。グレースケール画像の濃度は、ピクセルごとに数値化されている。グレースケール画像の各ピクセルに対応する濃度値は、検出されたＸ線の強度に対応している。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
課題を解決するために、本開示のＸ線検査装置は、
被写体にＸ線を照射することにより、前記被写体をスキャン撮影したＸ線画像を生成する撮影部と、
前記Ｘ線画像を補正する補正部と、
を備え、
前記撮影部は、
Ｘ線を照射するＸ線照射部と、
前記Ｘ線照射部に対向して配置されるＸ線検出部と、
前記被写体が前記Ｘ線照射部と前記Ｘ線検出部との間の撮影領域を通過するように、前記Ｘ線照・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本開示によれば、Ｘ線照射装置から照射されるＸ線の強度の変化に応じて、Ｘ線画像内における濃度を適切に補正することができる。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
図１は、本Ｘ線検査装置を示す概略図である。
【図2】
図２は、本スキャン撮影を説明するための概略図である。
【図3】
図３は、本Ｘ線画像を説明するための概略図である。
【図4】
図４は、本画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図5】
図５は、本設置当初のＸ線照射強度と基準Ｘ線画像の関係を説明する概略図である。
【図6】
図６は、本経年劣化発生時のＸ線照射強度とＸ線画像の関係を説明する概略図である。
【図7】
図７は、本Ｘ線検査方法を示すフローチャートである。
【図8】
図８は、本補正済Ｘ線画像の具体例を示す説明図である。
代表図 図1本件の代表的な図
１ Ｘ線検査装置
２ 被写体
３ 基準片
３ｄ 厚み
３ｓ 面
１０ Ｘ線撮影装置（撮影部）
１１ Ｘ線照射部
１２ Ｘ線検出部
１４ 搬送部
２０ 画像処理装置（補正部）
１００ Ｘ線
１０１ 撮影領域
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