特許 7931696出願番号 特願 2023-45846
造形システムおよび測定装置
公報発行日 2026年10月7
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※ 共同出願を含む
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技術分野
造形システムおよび測定装置
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
製造条件のフィードバック時間を短縮できる造形システムおよび測定装置を提供する。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
測定装置は、背景像と、前記背景像を撮像する撮像部と、前記背景像と前記撮像部との間に位置する測定対象部材を通過する光を介して前記背景像を撮像した第１乃至第３像データを前記撮像部から取得する測定制御部と、を備える。前記第１像データは、前記背景像が前記撮像部および前記測定対象部材に対する第１相対位置にある第１時点における撮像により生成され、前記第２像データは、前記背景像が前記撮像部お・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
第１測定装置を示す模式図である。
【図2】
第１測定装置の動作を示す模式図である。
【図3】
第１測定装置の動作を示す別の模式図である。
【図4】
第１測定装置の測定制御部を示すブロック図である。
【図5】
第２造形システムを示すブロック部である。
【図6】
第２測定装置の動作を示すグラフである。
【図7】
第２造形システムの動作を示すフローチャートである。
代表図 図1本件の代表的な図
１０…背景像、 １０Ｄ…位置変更部、 １１Ｄ…背景像制御部、 １５Ｄ…測定対象部材制御部、 １８ａ…光源、 ４０…放射型温度計、 ５０…撮像部、 ５１Ｄ…撮像制御部、 ６０…環境温度制御部、 ７０…測定制御部、 ７１…データ取得部、 ７２…演算部、 ７８…撮像位置制御部、 １００…測定装置、 １２０…造形装置、 １２３…金型、 １２５…温度制御部、 １３０…造形物搬出機、 １４０…造形制御装置、 １４５…入力部、 １５０…記憶装置、 ２００…造形システム、 Ｄｄ…演算データ、 Ｄｉ１…第１像データ、 Ｄｉ２…第２像データ、 Ｄｉ３…第３像データ、 Ｒｉ１～Ｒｉ６…画像領域、 ＷＰ…測定対象部材、 Δλ１、Δλ２、Δλａｖ…画像差分、 Δｘ１…相対移動量、
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