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特表2022-508090対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置
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  • 特表-対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置 図1
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2022-01-19
(54)【発明の名称】対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置
(51)【国際特許分類】
   B08B 5/00 20060101AFI20220112BHJP
   G01N 15/06 20060101ALI20220112BHJP
   B05B 1/14 20060101ALI20220112BHJP
【FI】
B08B5/00 A
G01N15/06 D
B05B1/14 Z
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2021525329
(86)(22)【出願日】2019-10-24
(85)【翻訳文提出日】2021-05-25
(86)【国際出願番号】 KR2019014062
(87)【国際公開番号】W WO2020105875
(87)【国際公開日】2020-05-28
(31)【優先権主張番号】10-2018-0146303
(32)【優先日】2018-11-23
(33)【優先権主張国・地域又は機関】KR
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】521200509
【氏名又は名称】キム,ジン ホ
(74)【代理人】
【識別番号】100091683
【弁理士】
【氏名又は名称】▲吉▼川 俊雄
(74)【代理人】
【識別番号】100179316
【弁理士】
【氏名又は名称】市川 寛奈
(72)【発明者】
【氏名】キム,ジン ホ
【テーマコード(参考)】
3B116
4F033
【Fターム(参考)】
3B116AB01
3B116BB22
3B116BB72
3B116BB88
3B116CC05
3B116CD41
4F033BA02
4F033EA03
4F033EA04
4F033EA05
4F033GA01
4F033LA04
4F033NA01
(57)【要約】
本発明は、内部空間を有するケーシング;ケーシングの一方に複数個のガスノズルが形成され、複数個のガスノズルは対称的に配置されて対象物と離隔して配置され、対象物にガスを噴射して対象物表面のパーティクルを取り除くガス噴射部;及びケーシングの他方に回収管が繋がって引き込まれて形成され、対象物から分離されたパーティクルを回収管に回収する回収部を含む対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置を提供する。
本発明によれば、ガスノズルが対称方向で互いに噴射して対象物の表面から分離されたパーティクルの拡散を防止し、対象物の汚染が発生することなく、パーティクルの正確な回収、検出及び計数可能な効果がある。
【選択図】 図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
内部空間を有するケーシング;
ケーシングの一方に複数個のガスノズルが形成され、複数個のガスノズルは対称的に配置されて対象物と離隔して配置され、対象物にガスを噴射して対象物表面のパーティクルを取り除くガス噴射部;
ケーシングの他方に回収管が繋がって引き込まれて形成され、対象物から分離されたパーティクルを回収管に回収する回収部;及び
ケーシングに形成されて対象物から分離されたパーティクルを望む方向へ誘導する方向誘導ノズルを含む対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置。
【請求項2】
内部空間を有するケーシング;
ケーシングの一方に複数個のガスノズルが形成され、複数個のガスノズルは対称的に配置されて対象物と離隔して配置され、対象物にガスを噴射して対象物表面のパーティクルを取り除くガス噴射部;
ケーシングの他方に回収管が繋がって引き込まれて形成され、対象物から分離されたパーティクルを回収管に回収する回収部;及び
ケーシングに繋がって内部へ清浄化ガスを注入して、異物の回収部への流入を防ぐガス注入部を含む対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置。
【請求項3】
内部空間を有するケーシング;
ケーシングの一方に複数個のガスノズルが形成され、複数個のガスノズルは対称的に配置されて対象物と離隔して配置され、対象物にガスを噴射して対象物表面のパーティクルを取り除くガス噴射部;
ケーシングの他方に回収管が繋がって引き込まれて形成され、対象物から分離されたパーティクルを回収管に回収する回収部;及び
対象物の裏面側に形成されて対象物から分離されたパーティクルを吸い込む第2回収部を含む対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置。
【請求項4】
回収部の回収管と繋がって吸い込まれたパーティクルの検出または計数が行われる粒子検出部をさらに含む、請求項1ないし3のいずれか一項に記載の対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置。
【請求項5】
回収管にメンブレンフィルターが取り付けられてパーティクルを採集できたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載の対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置。
【請求項6】
前記ガス噴射部の開閉バルブを制御してガスの噴射時間と噴射間隔を自動に調節する制御部をさらに含む請求項1ないし3のいずれか一項に記載の対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、パーティクル除去装置に係り、より詳しくは、クリーンルームなどで対象物の表面からパーティクルを効果的に取り除いて回収するための対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置に関する。
【背景技術】
【0002】
一般に、産業が高度化するほど事務環境のみならず生産現場で埃などのパーティクルを制御する必要性が増加し、生産現場を清潔な状態で維持することでパーティクルが製品に及ぼす悪影響を防ぐためにクリーンルームが導入された。
【0003】
このようなクリーンルームは、半導体、ディスプレイ、製薬、病院などの産業と科学研究室で導入して運営中であり、特に、半導体やLCDディスプレイ製造工程などナノレベルの高精密な工程が含まれた先端産業では製品を製造する現場での些細な環境条件までも製品品質に大きい影響を及ぼす可能性があるので、クリーンルームで要求する清浄度は段々強化されている成り行きである。例えば、半導体製造工程において自動化装置などから発振される粒子がウェハー表面に沈着して生じるパターンの欠陷が製品収率低下の主な原因として指摘されている。
【0004】
このように、先端産業で製品を製造する現場にパーティクルが存在する場合、製造工程中に製品に伝導して致命的な製品不良の原因になることがあり、このようなパーティクルは、製品を製造する現場の天井、壁面、底、生産及び計測設備、各種資材などに累積され、作業者の衣服にも附着し、ロボット、作業者、製品の移動及び空間的温度の不均衡によって気流の移動をもたらし、作業者や物体または隣接部分の表面に累積されていたパーティクルが伝導されて製品を汚染させることで製品不良をもたらすようになる。
【0005】
パーティクルを取り除くための従来の技術として、特許文献1には、スキャナを通してサンプルの表面をエアポンプで吸い込むと、パーティクルがレーザーダイオード光源計数機とフィルターを通してフィルタリングされる真空吸入方式による表面パーティクル計数装置が公開されている。
【0006】
しかし、真空吸入方式によってパーティクルを吸い込むことでサンプルの表面から粒子を分離する能力が落ちるので、最近、半導体及びディスプレイ産業で求める数μm以下の微小パーティクルを分離することができない問題がある。
【0007】
また、特許文献2には、基板が置かれている基板移送装置と、基板移送装置の上に一定角度で傾いてガスを噴射し、基板上に付いているパーティクルを分離するガス噴射器と、基板移送装置の上にガス噴射器と対向して一定角度で傾いて基板から分離されたパーティクルを吸い込む吸入器を含むガス噴射方式のパーティクル除去装置が公開されている。
【0008】
しかし、基板から分離されたパーティクルが噴射気体の気流によって周辺に拡散して汚染が発生し、噴射作業が終わった後も気流によって移送中の基板の別の位置にパーティクルがまた附着されて再汚染が発生することがあり、パーティクルの正確な回収、検出及び計数が困難であり、作業中に作業者が吸い込む危険が発生する問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0009】
【特許文献1】米国登録特許第5253538号明細書
【特許文献2】韓国公開特許第10-2008-0017768号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
本発明は、上述した問題を全て解決するために案出されたもので、ガスノズルが対称方向で互いに噴射して対象物の表面から分離されたパーティクルの拡散を防止し、対象物の汚染が発生することなく、パーティクルの正確な回収、検出及び計数可能な対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置の提供にその目的がある。
【課題を解決するための手段】
【0011】
前記課題を解決するために、本発明は、内部空間を有するケーシング;ケーシングの一方に複数個のガスノズルが形成され、複数個のガスノズルは対称的に配置されて対象物と離隔して配置され、対象物にガスを噴射して対象物表面のパーティクルを取り除くガス噴射部;及びケーシングの他方に回収管が繋がって引き込まれて形成され、対象物から分離されたパーティクルを回収管に回収する回収部を含む、対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置を提供する。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、ガスノズルが対称方向で互いに噴射して対象物の表面から分離されたパーティクルの拡散を防止し、対象物の汚染が発生することなく、パーティクルの正確な回収、検出及び計数可能な効果がある。
【0013】
また、本発明は、回収部に真空が形成されていない場合もパーティクルを所定距離送って回収することができ、対称方向で噴射された噴射ガスの圧力や噴射量に不均衡が発生したり、噴射ガスが対象物表面の様々な形態によって、衝突後に不規則に拡散してもパーティクルを望む方向へ誘導して回収することができる効果がある。
【0014】
また、清浄化ガスを注入して異物の回収部への流入を防止してパーティクルに対するより正確な検出と計数が可能であり、対象物表面の形態に合う噴射時間と噴射間隔を設定して自動に制御可能であり、パーティクルの円滑な採集と回収ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【0015】
図1】本発明の一実施例によるパーティクル除去装置と附帯設備を一緒に図示した図面である。
図2】本発明の一実施例によるパーティクル除去装置を図示した斜視図である。
図3】a~dは本発明の一実施例によるガスノズルの配置を示す平面図で、eは側面図である。
図4】本発明の一実施例による対象物の表面から分離されたパーティクルの回収作用を図示した図面である。
図5】本発明の一実施例による第2回収部をさらに含む概路図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、図面を参考して本発明による対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置を実施するための具体的内容について実施例を中心に詳細に説明する。
【0017】
本発明による対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置は、クリーンルームなどで対象物の表面からパーティクルを効果的に取り除いて回収するためのもので、図1を参考すれば、ケーシング100、ガス噴射部200、回収部300を含み、第2回収部400、方向誘導ノズル500、ガス注入部600、粒子検出部700、制御部800を選択的にさらに含むことができる。
【0018】
図2を参考すれば、前記ケーシング100は内部空間を持ち、垂直または水平方向に設置されてもよく、対象物の表面から分離されたパーティクルPが回収部300へ誘導される空間を提供する。
【0019】
前記ガス噴射部200は、ケーシング100の一方にノズルブロック210が形成され、ノズルブロック210は中央部が貫通されたリングや帯状からなって対象物Mの表面がガスノズル220へ露出された状態となり、対象物Mは支持台の上に安着して支持されてもよい。
【0020】
ノズルブロック210は円形リングまたは四角リングなどの形状からなってもよいが、その形状に特に制限はない。
【0021】
ノズルブロック210はガス供給管230と繋がってガス供給管230から供給されたガスがノズルブロック210を通して複数個のガスノズル220に配分される。ガス供給管230はエアコンプレッサー260と繋がって圧縮されたガスの供給を受け、制御部800によって自動開閉制御される開閉バルブ240と、エアフィルター250が取り付けられている。
【0022】
図3を参考すれば、ノズルブロック210に沿って複数個のガスノズル220が設置され、複数個のガスノズル220は互いに対称されるように設置され、対象物Mに向かって所定角度で傾いて対象物Mと離隔して配置され、対象物Mにガスを噴射して対象物Mの表面に附着されたパーティクルPを分離させる。
【0023】
一般に、対称には点対称、線対称、面対称などがあるが、対称の要素には対称中心、対称軸、対称面があって、対称中心は対称中心を通して繋がる線が対称中心によって等分される点を言い、対称軸は1個の垂直線を軸にして物体を360度回転させた時、2回以上同じ形になる軸を言い、2回対称軸、3回対称軸、4回対称軸、8回対称軸などがある。対称面は2面を鏡面にして物体の二つの半分が全く同じ模様になる面を言う。
【0024】
例えば、2個のガスノズルが互いに対称されるようにノズルブロック210に設置されてもよく、図3aに図示された3個のガスノズル220は3回対称軸によって対称されるようにノズルブロック210に設置されたものであり、図3bに図示された4個のガスノズル220は4回対称軸によって対称されるようにノズルブロック210に設置されたものであり、図3cは8回対称軸によって対称されるようにノズルブロック210に設置されたものであり、図3dはノズルブロックが四角いリング状に形成されて4個のガスノズル220が4回対称軸によって対称されるように配置されたものであり、図3eはこのように対称的に配置されたガスノズルの配置と作用を示す側面図である。
【0025】
このように対称的に配置されたガスノズル220は、対称された状態で同一圧力で同一量の気体を対象物Mに向かって所定角度で噴射するが、図4を参考すれば、対称噴射されたガスは対象物Mの表面にぶつかって対象物MからパーティクルPを分離した後、互いに衝突して分離されたパーティクルPと一緒にノズルブロック210の中央部から上方に上昇する。このように、対称方向で互いに噴射されたガスによって対象物Mの表面から分離されたパーティクルが周辺に拡散されるのが防止され、対象物Mの汚染が発生することなく、パーティクルが回収部 300へ誘導されて正確な回収、検出及び計数が可能になる。
【0026】
前記回収部300は、ケーシング100の他方、すなわち、ノズルブロック210の反対側に回収管310が繋がって形成され、回収管310の一部はケーシング100の内部に引き込まれた状態となり、回収管の端部に管の入口にあたる回収口が形成され、この時、回収口は端部へ行くほど直径が徐々に増加するように形成されてもよく、ガスノズル220から対称噴射されたガスによって対象物Mから分離されたパーティクルPが回収口を通して回収管310の経路に回収される。
【0027】
回収管310は真空ポンプ330と繋がって真空吸入方式によってパーティクルPを吸い込み、排気管340を通して排気することができ、回収管310の回収経路にメンブレンフィルター320が取り付けられて回収されたパーティクルPを採集することができる。同時に、回収管310にメンブレンフィルター320などのパーティクル採取機が設置され、パーティクルPを採集して汚染可否及びその度合いを確認することができる。
【0028】
また、図5を参考すれば、対象物Mに孔(hole)が形成されている場合、対象物Mの裏面側にも第2回収部400を追加設置して、ガスノズル220から対称的に噴射されたガスによって対象物Mから分離されたパーティクルPをガスと一緒に第2回収管410を通して回収し、孔を通過した対象物Mの表面から分離されたパーティクルとガスが周辺に拡散されることを防ぐことができる。この時、第2回収管410の端部に管の入口にあたる回収口が形成され、この時、回収口は端部へ行くほど直径が徐々に増加するように形成されてもよい。
【0029】
前記方向誘導ノズル500は方向誘導管510に繋がってケーシング100の中間に形成され、回収部300の回収管310に向かって方向誘導ガスを噴射し、対象物Mから分離されたパーティクルPを望む方向へ誘導する役目をする。この時、方向誘導管510はエアコンプレッサー260と繋がって圧縮されたガスの供給を受け、制御部800によって自動開閉制御される開閉バルブ520と、エアフィルター530が設置されている。
【0030】
前記方向誘導ノズル500は、回収管310に真空が形成されていない場合も回収管310の入口に向かって方向誘導ガスを噴射して対象物Mから分離されたパーティクルを回収管310へ誘導して所定距離を送って回収することができ、ガスノズル220の対称方向から噴射された噴射ガスの圧力や噴射量に不均衡が発生したり、噴射ガスが対象物表面の様々な形態によって衝突後に不規則に拡散されても回収管310の入口に向かって方向誘導ガスを噴射して対象物Mから分離されたパーティクルPを望む方向へ誘導して回収することができる。
【0031】
前記ガス注入部600は、ケーシング100の他方、すなわち、ノズルブロック210の反対側にガス注入管610が繋がって、ガス注入管610はエアコンプレッサー260と繋がって圧縮されたガスの供給を受け、制御部800によって自動開閉制御される開閉バルブ620と、エアフィルター630が設置されている。この時、前記ガス注入部500から注入される清浄化ガスは、回収管310の外側に沿ってケーシング100の内部の長手方向に移動する。
【0032】
すなわち、ガスノズル220から所定圧力を持つガスが対象物Mの表面に向かって噴射されれば、ガスノズル220周辺の気体の一部がノズルブロック210の中央部へ一緒に流されるようになって、この時、周りに存在していた異物も一緒に移動して回収管310に流入されることで対象物Mから分離されたパーティクルPと一緒に混ざった状態になるので、回収部300と繋がった粒子検出部700による検出と、計数する時の正確な測定が困難となる。
【0033】
ここで、前記ガス注入管610を通してケーシング100の内部、より詳しくは、回収管310の周辺に沿って清浄化ガスを所定圧力で注入すれば、パーティクルP以外の異物が回収部300へ流入されることが防止され、これによって対象物Mから分離されたパーティクルPに対するより正確な検出と計数が可能となる。この時、清浄化ガスは回収部300に流入されるパーティクルPの方向と反対される方向に注入される。
【0034】
前記粒子検出部700は、吸入口710が回収部300の回収管310と繋がって回収管310の回収経路上を移動するパーティクルPを吸入して検出または計数が行われる。このようなパーティクルPの検出と計数によってパーティクルPの数、大きさ、分布などを測定することで、クリーンルームでの汚染可否とその度合いを容易且つ早く確認することができ、さらに製品不良を防ぐことができる。
【0035】
前記制御部800はガス噴射部200の開閉バルブ240を制御してガスの噴射時間と噴射間隔を自動に調節することができると同時に、開閉バルブ520、620も自動に制御して開閉させることで、方向誘導ノズル500とガス注入管610へ噴射される方向誘導ガス及び清浄化ガスの噴射時間と噴射量も調節することができる。
【0036】
ガスノズル220からガスが持続的に噴射されると、噴射量が大幅に増加してガスが目的とする距離以上に進めるようになり、回収部300の規模がそれほど増大されなければならない問題がある。ここで、回収管310の大きさ、吸入力など回収部300の規模に合うように、制御部800が予め保存されていた設定にしたがって開閉バルブ240を制御してガスが間歇的に噴射されるようにすることで、パーティクルPの回収と採集が円滑に行われるようにした。例えば、回収部300がガスノズル220の1秒間のガス噴射量を10秒後に回収することができれば、制御部800は開閉バルブ240を制御して1秒間ガスノズル220がガスを噴射した後、10秒の休止時間を有する。
【0037】
本発明において、前記実施形態は一例であって、本発明はこれに限定されるものではない。本発明の特許請求範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を持って同一な作用効果を示すことは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【0038】
本発明による対称ガス噴射を利用したパーティクル除去装置は、ガスノズルが対称方向で互いに噴射して対象物の表面から分離されたパーティクルの拡散を防止し、対象物の汚染が発生することなく、パーティクルの正確な回収、検出及び計数が可能なので、産業上の利用可能性がある。
図1
図2
図3
図4
図5
【国際調査報告】