▶ イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティドの特許一覧
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2022-09-20
(54)【発明の名称】可撓性基板に対する負荷測定を行う方法及び装置
(51)【国際特許分類】
G01N 3/20 20060101AFI20220912BHJP
G01N 3/34 20060101ALI20220912BHJP
【ＦＩ】
G01N3/20
G01N3/34 C
【審査請求】未請求
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2021576691
(86)(22)【出願日】2020-06-15
(85)【翻訳文提出日】2022-02-21
(86)【国際出願番号】 US2020037710
(87)【国際公開番号】W WO2020263606
(87)【国際公開日】2020-12-30
(31)【優先権主張番号】62/865,641
(32)【優先日】2019-06-24
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(31)【優先権主張番号】16/900,210
(32)【優先日】2020-06-12
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．ＴＨＵＮＤＥＲＢＯＬＴ
(71)【出願人】
【識別番号】591203428
【氏名又は名称】イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド
(74)【代理人】
【識別番号】100099759
【弁理士】
【氏名又は名称】青木 篤
(74)【代理人】
【識別番号】100123582
【弁理士】
【氏名又は名称】三橋 真二
(74)【代理人】
【識別番号】100153729
【弁理士】
【氏名又は名称】森本 有一
(74)【代理人】
【識別番号】100211177
【弁理士】
【氏名又は名称】赤木 啓二
(72)【発明者】
【氏名】フィリップ レベスク
(72)【発明者】
【氏名】アレクサンダー ティー．カーボーン
【テーマコード（参考）】
2G061
【Ｆターム（参考）】
2G061AA07
2G061AB05
2G061BA15
2G061CB01
2G061DA01
2G061EA01
2G061EB05
2G061EC07
(57)【要約】
可撓性基板試験システムであって、試験対象の可撓性基板の第１の部分を保持するように構成された第１の基板支持構造と、可撓性基板の第２の部分を保持するように構成された第２の基板支持構造と、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造をそれぞれの角度で動かし、可撓性基板を折り曲げるように構成された１つ以上のアクチュエータと、アクチュエータが第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造を動かす間、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造に対する負荷を測定するように構成されたロードセルとを備える、可撓性基板試験システム。
【選択図】図１Ａ
【選択図】図１Ａ
【特許請求の範囲】
【請求項1】
可撓性基板試験システムであって、試験対象の可撓性基板の第１の部分を保持するように構成された第１の基板支持構造と、
前記可撓性基板の第２の部分を保持するように構成された第２の基板支持構造と、
前記第１の基板支持構造及び前記第２の基板支持構造をそれぞれの角度で動かし、前記可撓性基板を折り曲げるように構成された１つ以上のアクチュエータと、
前記アクチュエータが前記第１の基板支持構造及び前記第２の基板支持構造を動かす間、該第１の基板支持構造及び該第２の基板支持構造に対する負荷を測定するように構成されたロードセルと、
を備える、可撓性基板試験システム。
【請求項2】
前記ロードセルからの負荷情報に基づいて前記可撓性基板に対する負荷を求めるように構成された制御回路部を更に備える、請求項１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項3】
前記１つ以上のアクチュエータは、前記第１の基板支持構造及び前記第２の基板支持構造を同時に動かすように構成される、請求項１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項4】
前記１つ以上のアクチュエータは、単一の入力シャフトを駆動することによって、前記第１の基板支持構造及び前記第２の基板支持構造を動かすように構成される、請求項３に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項5】
前記入力シャフトは、前記第１の基板支持構造を動かすように構成された第１の二次シャフト、及び前記第２の基板支持構造を動かすように構成された第２の二次シャフトに結合される、請求項４に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項6】
前記第１の二次シャフトは、前記第１の基板支持構造に、第１の歯車システムによって定義された第１の軸の周りを回転させるように構成された前記第１の歯車システムを介して前記第１の基板支持構造に結合され、前記第２の二次シャフトは、前記第２の基板支持構造に、第２の歯車システムによって定義された第２の軸の周りを回転させるように構成された前記第２の歯車システムを介して前記第２の基板支持構造に結合される、請求項５に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項7】
前記第１の歯車システム及び前記第２の歯車システムは、前記可撓性基板の前記第１の部分及び前記可撓性基板の前記第２の部分を同時にかつ比例して回転させるように構成される、請求項６に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項8】
前記第１の軸及び前記第２の軸は、前記基板内に複数の折り曲げ部を生成するように離間される、請求項６に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項9】
前記第１の基板支持構造は、第１の表面を有する第１のプレートを備え、前記第２の基板支持構造は、第２の表面を有する第２のプレートを備える、請求項１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項10】
前記可撓性基板試験システムは、折り曲げ及び展開中に、前記第１の表面の第１の面及び前記第２の表面の第２の面を鉛直方向に位置決めするように構成される、請求項９に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項11】
前記第１の基板支持構造を保持し、該第１の基板支持構造の前記第１の表面に対し平行な方向における該第１の基板支持構造の運動を制限するように構成された第１の並進リンク機構を更に備える、請求項９に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項12】
前記第２の基板支持構造を保持し、該第２の基板支持構造の前記第２の表面に対し平行な方向における該第２の基板支持構造の運動を制限するように構成された第２の並進リンク機構を更に備える、請求項１１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項13】
前記第１の並進リンク機構は、前記第１の基板支持構造に結合された第１の４バーリンク機構を含み、前記第２の並進リンク機構は、前記第２の基板支持構造に結合された第２の４バーリンク機構を含む、請求項１２に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項14】
前記第１の基板支持構造及び前記第２の基板支持構造は、０度よりも大きく３６０度以下の角度まで前記基板を折り曲げるように構成される、請求項１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項15】
前記第１の基板支持構造は、最大９０度まで回転するように構成され、前記第２の基板支持構造は、最大９０度まで回転して、最大１８０度の角度まで前記基板を折り曲げるように構成される、請求項１４に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項16】
前記可撓性基板の折り曲げ又は展開中に前記ロードセルによって測定される動的負荷に基づいて、前記可撓性基板に対する負荷を求めるように構成された制御回路部を更に備える、請求項１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項17】
前記可撓性基板の折り曲げ又は展開の完了時に前記ロードセルによって測定される静的負荷に基づいて、前記可撓性基板に対する前記負荷を求めるように構成された制御回路部を更に備える、請求項１に記載の可撓性基板試験システム。
【請求項18】
可撓性基板に対する負荷を測定する方法であって、アクチュエータを介して、試験対象の可撓性基板の第１の部分及び該可撓性基板の第２の部分を動かして、該可撓性基板を折り曲げるか又は展開することと、
前記動かした結果として生じる前記可撓性基板に対する負荷を測定することと、
を含む、方法。
【請求項19】
前記可撓性基板の前記第１の部分を動かすことは、該可撓性基板の該第１の部分を保持する第１の基板支持構造を回転させることを含み、前記可撓性基板の前記第２の部分を動かすことは、該可撓性基板の該第２の部分を保持する第２の基板支持構造を回転させることを含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項20】
可撓性基板試験システムであって、試験対象の可撓性基板の第１の側部を保持するように構成された第１の表面を備える第１のプレートと、
前記第１のプレートを保持し、該第１のプレートの前記第１の表面に対し平行な方向における前記第２のプレートの運動を制限するように構成された第１の並進リンク機構と、
前記可撓性基板の第２の側部を保持するように構成された第２の表面を備える第２のプレートと、
前記第２のプレートを保持し、該第２のプレートの前記第２の表面に対し平行な方向における前記第２のプレートの運動を制限するように構成された第２の並進リンク機構と、
前記第１のプレート及び前記第２のプレートをそれぞれの角度で動かして、前記基板を、０度よりも大きく１８０度以下の角度まで折り曲げるように構成された１つ以上のアクチュエータと、
前記アクチュエータが前記第１のプレート及び前記第２のプレートを動かす間、該第１のプレート及び該第２のプレートに対する負荷を測定するように構成されたロードセルと、
を備える、可撓性基板試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
［関連出願］
本出願は、「METHODS AND APPARATUS TO PERFORM LOAD MEASUREMENTS ON FLEXIBLE SUBSTRATES」と題する２０１９年６月２４日に出願された米国特許出願第６２／８６５，６４１号及び「METHODS AND APPARATUS TO PERFORM LOAD MEASUREMENTS ON FLEXIBLE SUBSTRATES」と題する２０２０年６月１２日に出願された米国特許出願第１６／９００，２１０号の利益を主張する。米国特許出願第６２／８６５，６４１号及び同第１６／９００，２１０号の全体は、引用することにより明確に本明細書の一部をなす。
本出願は、「METHODS AND APPARATUS TO PERFORM LOAD MEASUREMENTS ON FLEXIBLE SUBSTRATES」と題する２０１９年６月２４日に出願された米国特許出願第６２／８６５，６４１号及び「METHODS AND APPARATUS TO PERFORM LOAD MEASUREMENTS ON FLEXIBLE SUBSTRATES」と題する２０２０年６月１２日に出願された米国特許出願第１６／９００，２１０号の利益を主張する。米国特許出願第６２／８６５，６４１号及び同第１６／９００，２１０号の全体は、引用することにより明確に本明細書の一部をなす。
【0002】
本開示は、包括的には、材料試験に関し、より詳細には、可撓性基板に対する負荷測定を行う方法及び装置に関する。
【背景技術】
【0003】
組立体の信頼性試験、又は組立体の構成要素を動かすことは、構成要素の意図した及び／又は意図していない動きを繰り返し行って、定義された最小数の動きサイクルについて構成要素及び／又は組立体が確実に動作することを検証することを伴う場合がある。例えば、可撓性基板の信頼性試験は、デバイスの連続動作について試験し、及び／又は様々な故障モードをモニタリングしながら、１つ以上の方式で基板を繰り返し屈曲させることを伴う場合がある。
【発明の概要】
【0004】
可撓性基板に対する負荷測定を行う方法及び装置が、特許請求の範囲においてより完全に記載されるように、実質的に、図面のうちの少なくとも１つによって示され、これに関連して説明されるように開示される。
【0005】
本開示のこれらの特徴、態様、及び利点並びに他の特徴、態様、及び利点は、以下の詳細な説明が添付図面を参照して読まれるとより良好に理解され、図面を通して同様の参照符号は同様の部分を表す。
【図面の簡単な説明】
【0006】
【図1A】本開示の態様による、可撓性基板上で機械的特性試験を実行するための例示的な可撓性基板試験システムを示すブロック図である。
【図1B】本開示の態様による、可撓性基板上で機械的特性試験を実行するための例示的な可撓性基板試験システムを示すブロック図である。
【0007】
【図1C】基板上で複数の折り曲げを行うように構成された別の例示的な可撓性基板試験システムのブロック図である。
【0008】
【0009】
【0010】
【0011】
【0012】
【0013】
【0014】
【0015】
【0016】
【発明を実施するための形態】
【0017】
図面は、必ずしも正確な縮尺ではない。適切な場合は、同様の又は同一の参照番号を使用して、同様の又は同一の構成要素を指す。
【0018】
従来の可撓性基板試験システムは、折り曲げ又は展開中の可撓性基板に対する負荷又は応力を測定しない。代わりに、従来の可撓性基板試験システムは、欠陥解析並びに他の静的試験及び解析等の試験を伴うことができる。
【0019】
開示される例示的な可撓性基板試験システム及び方法は、折り曲げ及び／又は展開等の変形中の可撓性基板に対する動的負荷及び／又は静的負荷の測定を含む、可撓性基板の応力試験を提供する。いくつかの開示される例示的なシステム及び方法は、可撓性基板試験システム自体によって可撓性基板に引き起こされる追加の応力を低減又は最小化する。例えば、いくつかの開示される可撓性基板試験システムは、可撓性表示スクリーン等の可撓性基板の反復的折り曲げ及び展開を提供する固定具を備える。開示される例は、基板の端部が合わせて折り曲げられるか又は展開される際に固定具が可撓性基板に対する更なる圧縮又は張力を引き起こさないように固定具を構成し、例えば可動部を誘導する。
【0020】
２つの９０度の屈曲を行う従来の可撓性基板試験システムと対照的に、開示される例示的な試験システムは、試験用取付具から試験対象の基板に対し生じる応力（例えば、折り曲げに起因して材料が自然にかつ必然的に受ける応力以外の応力）を低減又は阻止する。２つの９０度の屈曲を行ういくつかの従来の試験システムは、基板のセクションが、材料の張力及び圧縮に対する緩衝材として機能するように用いられるように材料を保持することによって、そのような応力を除去しようとする。
【0021】
従来の試験システムと対照的に、開示される例示的な試験システムは、基板が開位置又は展開した位置において完全に延びることができるが、試験用取付具の回転によって生じる引張応力を受けないように基板の一部分を回転させるように幾何学的に構成される。結果として、開示される例示的な試験システム及び可撓性基板の試験用取付具は、反復的応力測定中の可撓性基板に対する応力のより正確な測定値を提供する。
【0022】
開示される例示的な可撓性基板試験システムは、試験対象の可撓性基板の第１の部分を保持するように構成された第１の基板支持構造と、可撓性基板の第２の部分を保持するように構成された第２の基板支持構造と、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造をそれぞれの角度で動かし、可撓性基板を折り曲げるように構成された１つ以上のアクチュエータと、アクチュエータが第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造を動かす間、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造に対する負荷を測定するように構成されたロードセルとを備える。
【0023】
いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造は、０度よりも大きく３６０度以下の角度まで基板を折り曲げるように構成される。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の基板支持構造は、最大９０度まで回転するように構成され、第２の基板支持構造は、最大９０度まで回転して、最大１８０度の角度まで基板を折り曲げるように構成される。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、１つ以上のアクチュエータは、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造を同時に動かすように構成される。
【0024】
いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、１つ以上のアクチュエータは、単一の入力シャフトを駆動することによって、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造を動かすように構成される。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、入力シャフトは、第１の基板支持構造を動かすように構成された第１の二次シャフト、及び第２の基板支持構造を動かすように構成された第２の二次シャフトに結合される。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の二次シャフトは、第１の基板支持構造に、第１の歯車システムによって定義された第１の軸の周りを回転させるように構成された第１の歯車システムを介して第１の基板支持構造に結合され、第２の二次シャフトは、第２の基板支持構造に、第２の歯車システムによって定義された第２の軸の周りを回転させるように構成された第２の歯車システムを介して第２の基板支持構造に結合される。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の歯車システム及び第２の歯車システムは、可撓性基板の第１の部分及び可撓性基板の第２の部分を同時にかつ比例して回転させるように構成される。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の軸及び第２の軸は、基板内に複数の折り曲げ部を生成するように離間される。
【0025】
いくつかの例示的な可撓性基板試験システムは、ロードセルからの負荷情報に基づいて可撓性基板に対する負荷を求めるように構成された制御回路部を備える。
【0026】
いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の基板支持構造は、第１の表面を有する第１のプレートを備え、第２の基板支持構造は、第２の表面を有する第２のプレートを備える。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、可撓性基板試験システムは、折り曲げ及び展開中に、第１の表面の第１の面及び第２の表面の第２の面を鉛直方向に位置決めするように構成される。
【0027】
いくつかの例示的な可撓性基板試験システムは、第１の基板支持構造を保持し、第１の基板支持構造の第１の表面に対し平行な方向における第１の基板支持構造の運動を制限するように構成された第１の並進リンク機構を備える。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムは、第２の基板支持構造を保持し、第２の基板支持構造の第２の表面に対し平行な方向における第２の基板支持構造の運動を制限するように構成された第２の並進リンク機構を備える。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムにおいて、第１の並進リンク機構は、第１の基板支持構造に結合された第１の４バーリンク機構を含み、第２の並進リンク機構は、第２の基板支持構造に結合された第２の４バーリンク機構を含む。
【0028】
いくつかの例示的な可撓性基板試験システムは、可撓性基板の折り曲げ又は展開中にロードセルによって測定される動的負荷に基づいて、可撓性基板に対する負荷を求めるように構成された制御回路部を備える。いくつかの例示的な可撓性基板試験システムは、可撓性基板の折り曲げ又は展開の完了時にロードセルによって測定される静的負荷に基づいて、可撓性基板に対する負荷を求めるように構成された制御回路部を備える。
【0029】
可撓性基板に対する負荷を測定する、開示される例示的な方法は、アクチュエータを介して、試験対象の可撓性基板の第１の部分を動かすことと、及び、可撓性基板を折り曲げ、又は展開するように可撓性基板の第２の部分を動かすことと、動かした結果として生じる可撓性基板に対する負荷を測定することとを含む。
【0030】
いくつかの例示的な方法において、可撓性基板の第１の部分を動かすことは、可撓性基板の第１の部分を保持する第１の基板支持構造を回転させることを伴い、可撓性基板の第２の部分を動かすことは、可撓性基板の第２の部分を保持する第２の基板支持構造を回転させることを伴う。
【0031】
いくつかの他の開示される例示的な可撓性基板試験システムは、試験対象の可撓性基板の第１の側部を保持するように構成された第１の表面を備える第１のプレートと、第１のプレートを保持し、第１のプレートの第１の表面に対し平行な方向における第１のプレートの運動を制限するように構成された第１の並進リンク機構と、可撓性基板の第２の側部を保持するように構成された第２の表面を備える第２のプレートと、第２のプレートを保持し、第２のプレートの第２の表面に対し平行な方向における第２のプレートの運動を制限するように構成された第２の並進リンク機構と、第１のプレート及び第２のプレートをそれぞれの角度で動かして、基板を、０度よりも大きく１８０度以下の角度まで折り曲げるように構成された１つ以上のアクチュエータと、アクチュエータが第１のプレート及び第２のプレートを動かす間、第１のプレート及び第２のプレートに対する負荷を測定するように構成されたロードセルとを備える。
【0032】
図１Ａ及び図１Ｂは、可撓性基板１０２上で機械的特性試験を実行するための例示的な可撓性基板試験システム１００を示すブロック図である。図１Ａは、開位置、平坦な位置又は展開された位置にある可撓性基板試験システム１００を示す。図１Ｂは、閉位置又は折り曲げられた位置にある試験システム１００を示す。例示的な可撓性基板１０２は、可撓性表示スクリーン、又は他のデバイス、構造、材料、及び／又は任意の他の基板としてもよい。図１のシステム１００は、可撓性基板１０２の折り曲げ及び展開を繰り返し行い、基板１０２に対する応力（例えば、折り曲げ力）を測定するように構成される。
【0033】
例示的なシステム１００は、第１のプレート１０４、第２のプレート１０６、アクチュエータ１１０、第１のロードセル１１２ａ及び第２のロードセル１１２ｂ、並びに第１の並進リンク機構１１４ａ及び第２の並進リンク機構１１４ｂを備える。システム１００は、追加の特徴、例えば構造支持部若しくはフレーミング、処理回路部、通信及び／又は入力／出力（Ｉ／Ｏ）回路部、及び／又は任意の他の構成要素等を備えることができる。ロードセル１１２ａ、１１２ｂは、折り曲げ及び／又は展開中の負荷測定値（例えば、動的負荷の測定値）及び／又は折り曲げ及び／又は展開プロセスの終了時の負荷測定値（例えば、静的負荷の測定値）を出力することができる。
【0034】
可撓性基板１０２は、折り曲げられると、基板１０２における屈曲部１２０又は折り曲げ部の対向する端部に第１の側部１１６及び第２の側部１１８を有するとみなされる。第１の側部１１６及び第２の側部１１８。図１は、展開された又は平坦な位置（実線）及び折り曲げられた位置（点線）にある基板を示す。
【0035】
第１のプレート１０４は第１の基板支持構造であり、基板１０２の第１の側部１１６が取り付けられたか又は付着され、第１の表面１２２に対し静止状態で保持される第１の表面１２２を有する。第２のプレート１０６は第２の基板支持構造であり、基板１０２の第２の側部１１８が取り付けられたか又は付着され、第２の表面１２４に対し静止状態で保持される第２の表面１２４を有する。プレート１０４、１０６は、基板１０２が折り曲げられているときに曲線１２０を形成する基板１０２の部分によって架橋された間隙によって分離されている。
【0036】
図１Ａにおける第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造は、第１のプレート及び第２のプレートであるが、他の例において、第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造は異なっていてもよい。例えば、他の第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造は、基板１０２をプレートに取り付けることなく折り曲げを可能にするように基板１０２の一部分を保持するためのクリップ又はクランプを備えてもよい。
【0037】
アクチュエータ１１０は、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６に結合され、これらのプレート１０４、１０６を動かす。図１Ａ及び図１Ｂに示すように、アクチュエータ１１０は、基板１０２が展開される、開位置、平坦な位置又は展開された位置（図１Ａ）と、基板１０２が折り曲げられる、閉位置又は折り曲げられた位置（図１Ｂ）との間でプレート１０４、１０６を動かす。いくつかの例において、アクチュエータ１１０は、それぞれのリンク機構を介して第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６に取り付けられたモーターとすることができる。
【0038】
ロードセル１１２ａ、１１２ｂは、アクチュエータ１１０がプレート１０４、１０６を動かしている間、それぞれ第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６に対する負荷を測定する。特に、ロードセル１１２ａ、１１２ｂは、基板１０２の第１の側部１１６によって第１のプレート１０４に対し加えられる負荷、及び基板１０２の第２の側部１１８によって第２のプレート１０６に対し加えられる負荷を測定することによって、基板１０２が折り曲げられる際の基板１０２に対する応力を測定する。
【0039】
並進リンク機構１１４ａ、１１４ｂは、ロードセル１１２ａ、１１２ｂがそれぞれ第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６によって負荷をかけられる方向以外の方向における第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６の動きを制限する。例えば、ロードセル１１２ａが、第１の表面１２２の平面に対し垂直な方向における負荷を測定するように構成される場合、並進リンク機構１１４ａは、（例えば、第１のプレート１０４及び／又は基板１０２の表面に対し直交する方向において）負荷が第１のプレート１０４からロードセル１１２ａに伝達されることを可能にしながら、第１の表面１２２の平面に対し平行な方向における第１のプレート１０４の動きを制限する。同様に、ロードセル１１２ｂが、第２の表面１２４の平面に対し垂直な方向における負荷を測定するように構成される場合、並進リンク機構１１４ｂは、（例えば、第２のプレート及び／又は基板１０２に表面に対し直交する方向において）負荷が第２のプレート１０６からロードセル１１２ｂに伝達されることを可能にしながら、第２の表面１２４の平面に対し平行な方向における第２のプレート１０６の動きを制限する。
【0040】
例示的な並進リンク機構１１４ａ、１１４ｂは、それぞれ、ロードセル１１２ａ、１１２ｂに対し固定されたフレームに結合された１つ以上の４バーリンク機構を備えることができる。いくつかの例において、並進リンク機構１１４ａ、１１４ｂは、ロードセル１１２ａ、１１２ｂの過負荷を阻止するように、ロードセル１１２ａ、１１２ｂに向かう方向において更に制限される。例えば、停止点は、この停止点を越えてロードセル１１２ａに向かう４バーリンク機構（複数の場合もある）及び第１のプレート１０４の動きを阻止するように、フレームに取り付けることができる。
【0041】
動作時に、例示的なロードセル１１２ａ、１１２ｂは、試験測定値から予荷重を減算するために、基板１０２を第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６に固定した後にバイアス又はオフセットすることができる。例えば、ロードセル１１２ａ、１１２ｂにおける予荷重は、プレート１０４、１０６の重量、並進リンク機構１１４ａ、１１４ｂの重量、並びに第１のプレート１０４における基板１０２の第１の側部１１６の重量及び第２のプレート１０６における基板１０２の第２の側部の重量に起因して生じる場合がある。ロードセル１１２ａ、１１２ｂにおける予荷重を求めることによって、ロードセル１１２ａ、１１２ｂは、折り曲げ及び展開中に基板１０２にかかる応力を測定するように較正又はオフセットすることができる。
【0042】
いくつかの例において、試験システム１００は、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６が鉛直方向に位置決めされ、これらのプレート１０４、１０６が水平方向に動かされるように位置決めされる。例えば、プレート１０４、１０６の回転軸は、鉛直である、すなわち上下方向に真っ直ぐであり、プレート１０４、１０６の重量は、ロードセル１１２ａ、１１２ｂに向けられていない。
【0043】
固定具に起因して基板１０２に対し応力を発生させることを低減又は阻止するために、回転軸１２６ａ、１２６ｂ（例えば、旋回点）は基板１０２からオフセットされる。オフセットの長さは、例えば、基板１０２の折り曲げ半径ｒに基づくことができる。基板１０２が開位置に展開されるとき、プレート１０４、１０６間の距離（例えば、基板１０２によって架橋された距離）もこの半径に基づくことができ、約３．１４＊ｒの距離等であり、これは、折り曲げられた位置又は閉位置にある基板１０２の折り曲げられた部分の外周に概ね等しい。さらに又は代替的に、軸１２６ａ、１２６ｂとプレート１０４、１０６との間のオフセットは、プレート１０４、１０６間の距離が約２＊ｒとなるように半径に基づいて構成することができる。軸１２６ａ、１２６ｂを構成し、静止軸１２６ａ、１２６ｂ及び所望の折り曲げ半径に基づいてプレート１０４、１０６を構成することによって、試験システム１００は、基板１０２が展開されたときに完全に延び、折り曲げに起因して基板１０２に対し張力又は圧縮応力を引き起こすことなく、所望の折り曲げ半径まで折り曲げられることを可能にする。いくつかの例では、折り曲げ半径は、基板１０２の早期故障を引き起こす場合があり、これは試験の一部として測定することができる。
【0044】
図１Ａの例において、ロードセル１１２ａ、１１２ｂによって出力される測定値は、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６の重量、及び／又は第１のプレート１０４の慣性負荷、及び／又は第２のプレート１０６の慣性負荷について補償され、可撓性基板１０２に対する力、応力又は負荷の測定値が提供される。例えば、結果としてロードセル１１２によって測定可能な力が生じる、第２のプレート１０６の重量の一部分及び第２のプレート１０６の慣性負荷の一部分は、折り曲げ運動中に連続的に変化する場合がある。処理システム（例えば、以下で開示されるプロセッサ２０３）は、第１のプレート１０４、第２のプレート１０６及び／又はアクチュエータ１１０の特性、折り曲げ方向、折り曲げ速度及び／又は折り曲げ経路、及び／又は、折り曲げ及び／又は展開プロセス中に生じる任意の他の動的力に基づいて、ロードセル１１２ａ、１１２ｂから受信した測定値を補償するように構成することができる。
【0045】
図１Ｃは、基板１０２上で複数の折り曲げを行うように構成された別の例示的な可撓性基板試験システム１５０のブロック図である。図１Ｃの例示的な可撓性基板試験システム１５０は、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６を備え、第３のプレート等の第３の基板支持構造１５２を更に備える。
【0046】
図１Ｃの例において、軸１２６ａ、１２６ｂは、基板１０２における複数の折り曲げ（例えば、三重以上の折り曲げ）を生じさせるように十分オフセットされる。例えば、基板１０２の中心部分等の基板１０２の第３の部分１５４は、静止した支持構造１５２に固定されるのに対し、プレート１０４、１０６は、軸１２６ａ、１２６ｂに対応する複数の軸に沿って折り曲げを行うように作動される。
【0047】
さらに又は代替的に、単一折り曲げ軸及び二重折り曲げ軸が上記で開示されているが、他の例は、対応する基板支持構造（例えば、プレート）、及び基板支持構造の回転を制御する対応する歯車システムを用いて、三重以上の折り曲げ軸を有してもよい。さらに、図１Ｃの例は、第３のセクション１５４の同じ側部に向けて基板の双方のセクション１１６、１１８を折り曲げるように構成されるが、他の例では、プレート１０４、１０６及び軸１２６ａ、１２６ｂは、第３のセクション１５４の対向する側部に向かってセクション１１６、１１８を折り曲げるように構成される（例えば、Ｕ字型の折り曲げではなくＺ字型の折り曲げ）。
【0048】
【0049】
例示的なコンピューティングデバイス２０２は、汎用コンピューター、ラップトップコンピューター、タブレットコンピューター、モバイルデバイス、サーバー、オールインワンコンピューター、及び／又は他の任意のタイプのコンピューティングデバイスとしてもよい。図２のコンピューティングデバイス２０２は、プロセッサ２０３を備え、プロセッサ２０３は、汎用中央処理装置（ＣＰＵ：central processing unit）とすることができる。いくつかの例において、プロセッサ２０３は、ＦＰＧＡ、ＡＲＭコアを有するＲＩＳＣプロセッサ、画像処理装置、デジタル信号プロセッサ、及び／又はシステムオンチップ（ＳｏＣ）等の１つ以上の専用処理装置を含むことができる。プロセッサ２０３は、プロセッサにおいて（例えば、内蔵キャッシュ又はＳｏＣに）、ランダムアクセスメモリ２０６（又は他の揮発性メモリ）に、リードオンリーメモリ２０８（又はフラッシュメモリ等の他の不揮発性メモリ）に、及び／又はマスストレージデバイス２１０にローカルに記憶することができる機械可読命令２０４を実行する。例示的なマスストレージデバイス２１０は、ハードドライブ、ソリッドステートストレージドライブ、ハイブリッドドライブ、ＲＡＩＤアレイ、及び／又は他の任意のマスデータストレージデバイスとしてもよい。バス２１２は、プロセッサ２０３、ＲＡＭ２０６、ＲＯＭ２０８、マスストレージデバイス２１０、ネットワークインターフェース２１４、及び／又は入力／出力インターフェース２１６間の通信を可能にする。
【0050】
例示的なネットワークインターフェース２１４は、コンピューティングデバイス２０１を、インターネット等の通信ネットワーク２１８に接続するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、ネットワークインターフェース２１４は、通信を送信及び／又は受信するために、ＩＥＥＥ ２０２．Ｘ準拠無線及び／又は有線通信ハードウェアを含むことができる。
【0051】
図２の例示的なＩ／Ｏインターフェース２１６は、プロセッサ２０３に入力を提供する及び／又はプロセッサ２０３から出力を提供するために、１つ以上の入力／出力デバイス２２０をプロセッサ２０３に接続するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、Ｉ／Ｏインターフェース２１６は、ディスプレイデバイスとインターフェース接続する画像処理装置、１つ以上のＵＳＢ準拠デバイスとインターフェース接続するユニバーサルシリアルバスポート、ＦｉｒｅＷｉｒｅ（登録商標）、フィールドバス、及び／又は他の任意のタイプのインターフェースを含んでもよい。例示的な伸び計システム１００は、Ｉ／Ｏインターフェース２１６に結合されたディスプレイデバイス２２４（例えば、ＬＣＤスクリーン）を備える。他の例示的なＩ／Ｏデバイス（複数の場合もある）２２０は、キーボード、キーパッド、マウス、トラックボール、ポインティングデバイス、マイクロフォン、オーディオスピーカー、ディスプレイデバイス、光メディアドライブ、マルチタッチタッチスクリーン、ジェスチャー認識インターフェース、磁気メディアドライブ、及び／又は他の任意のタイプの入力及び／又は出力デバイスを含んでもよい。
【0052】
コンピューティングデバイス２０２は、Ｉ／Ｏインターフェース２１６及び／又はＩ／Ｏデバイス（複数の場合もある）２２０を介して非一時的機械可読媒体２２２にアクセスすることができる。図２の機械可読媒体２２２の例は、光ディスク（例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）、デジタルバーサタイル／ビデオディスク（ＤＶＤ）、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標）ディスク等）、磁気メディア（例えば、フロッピー（登録商標）ディスク）、ポータブル記憶媒体（例えば、ポータブルフラッシュドライブ、セキュアデジタル（ＳＤ）カード等）、及び／又は他の任意のタイプの取り外し可能及び／又はインストール済み機械可読媒体を含む。
【0053】
試験用取付具２０１は、コンピューティングデバイス２０２に結合される。図２の例において、試験用取付具２０１は、ＵＳＢポート、Ｔｈｕｎｄｅｒｂｏｌｔポート、ＦｉｒｅＷｉｒｅ（登録商標）（ＩＥＥＥ １３９４）ポート、及び／又は他の任意のタイプのシリアル又はパラレルデータポート等のＩ／Ｏインターフェース２１６を介して、コンピューティングデバイスに結合される。いくつかの例において、試験用取付具２０１は、直接又はネットワーク２１８を介して、有線又は無線接続（例えば、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）、Ｗｉ－Ｆｉ等）を介してネットワークインターフェース２１４及び／又はＩ／Ｏインターフェース２１６に結合される。
【0054】
試験用取付具２０１は、フレーム２２８と、ロードセル２３０と、材料固定具２３６と、制御プロセッサ２３８とを備える。フレーム２２８は、試験を行う試験用取付具２０１の他の構成要素に剛体の構造支持体を提供する。ロードセル２３０は、図１Ａのロードセル１１２を実装することができ、把持部２４８（例えば、プレート１０４、１０６）を介してアクチュエータ２４６によって試験対象の材料（例えば、基板１０２）に加えられた力を測定する。
【0055】
アクチュエータ２４６は、把持部２４８が試験対象の材料を把持するか又は他の形でアクチュエータ２４６に結合している間、試験対象の材料に力を加え、及び／又は試験対象の材料の変位を強制する。
【0056】
試験用取付具２０１の構成要素に力及び／又は運動を与えるのに用いることができる例示的なアクチュエータは、電気モーター、空気圧アクチュエータ、油圧アクチュエータ、圧電アクチュエータ、中継器及び／又はスイッチを含む。例示的な試験用取付具２０１は、サーボモーター又は直接駆動リニアモーター等のモーターを用いるが、他のシステムは、異なるタイプのアクチュエータを用いてもよい。例えば、システムの要件に基づいて、油圧アクチュエータ、空気圧アクチュエータ、及び／又は任意の他のタイプのアクチュエータを用いてもよい。
【0057】
例示的な把持部２４８は、試験されている機械的特性及び／又は試験対象の材料に依拠して、プラテン、クランプ及び／又は他のタイプの固定具を含む。把持部２４８は、手動入力により手動で構成、制御し、及び／又は制御プロセッサ２３８によって自動的に制御することができる。
【0058】
試験システム１００は、１つ以上の入力デバイス２５２を含む１つ以上の制御パネル２５０を更に備えることができる。入力デバイス２５２は、オペレーター制御パネル上に位置するボタン、スイッチ及び／又は他の入力デバイスを含むことができる。例えば、入力デバイス２５２は、把持部２４８を所望の位置まで押す（jog）（例えば、位置決めする）ようにアクチュエータ２４６を制御するボタン、把持部２４８を（例えば、別のアクチュエータを介して）開閉するように制御するスイッチ（例えば、フットスイッチ）、及び／又は、試験用取付具２０１の動作を制御する任意の他の入力デバイスを備えてもよい。
【0059】
例示的な制御プロセッサ２３８は、コンピューティングデバイス２０２と通信して、例えばコンピューティングデバイス２０２から試験パラメータを受信し、及び／又は、測定値及び／又は他の結果をコンピューティングデバイス２０２に報告する。例えば、制御プロセッサ２３８は、コンピューティングデバイス２０２との通信を可能にする１つ以上の通信及び／又はＩ／Ｏインターフェースを備えることができる。制御プロセッサ２３８は、所与の方向に動き、及び／又はアクチュエータ２４６の速度を制御するようにアクチュエータ２４６を制御し、試験対象の材料を把持又は解放するように固定具（複数の場合もある）２３６を制御し、及び／又は、変位トランスデューサ２３２、ロードセル２３０及び／又は他のトランスデューサから測定値を受信することができる。いくつかの例において、制御プロセッサ２３８は、アクチュエータ２４６のモータエンコーダーをモニタリングして、折り曲げ角をモニタリングし、これを用いてパルスあたりの折り曲げの度合いの比を確立することができる。
【0060】
例示的な制御プロセッサ２３８は、試験標本（例えば、基板１０２）が試験用取付具２０１における試験を受ける反復運動試験プロセスを実施するように構成される。例えば、一連の折り曲げ及び展開運動中又はその後の基板１０２に対する応力を測定するために、制御プロセッサ２３８は、ロードセル２３０をモニタリングして基板１０２に対する応力を測定しながら、アクチュエータ２４６を、把持部２４８（例えば、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６）を動かすように制御する。
【0061】
例示的なプロセッサ２０３は、可撓性基板１０２の折り曲げ又は展開の終了時にロードセル２３０によって測定される負荷に基づいて、可撓性基板１０２における静的負荷を求めることができる。静的負荷測定は、基板１０２が折り曲げ又は展開プロセスに続いて弛緩することを可能にするように、弛緩時間を満了させた後に行うことができる。さらに又は代替的に、例示的なプロセッサ２０３は、可撓性基板１０２の折り曲げ又は展開中にロードセル２３０によって測定される負荷に基づいて、可撓性基板１０２における動的負荷を求めてもよい。例示的なプロセッサ２０３は、負荷測定値からの第１のプレート１０４の重量及び／又は第２のプレート１０６の重量及び慣性負荷の影響の除去等の、ロードセル（複数の場合もある）２３０からの測定値の補償を行うことができる。
【0062】
図３は、開位置又は平坦な位置における第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６を示す、図１Ａの可撓性基板試験システム１００の例示的な実施態様の斜視図である。図４は、開位置又は平坦な位置にある、第１のプレート及び第２のプレートを省いた図３の例示的な可撓性基板試験システム１００の斜視図である。図５は、中間位置（例えば、開位置と閉位置との間）にある、図３の例示的な可撓性基板試験システム１００の斜視図である。図６は、中間位置にある、図３の例示的な可撓性基板試験システムの別の斜視図である。図７は、閉位置又は折り曲げられた位置にある、図３の例示的な可撓性基板試験システム１００の斜視図である。図８は、閉位置又は折り曲げられた位置にある、図３の例示的な可撓性基板試験システム１００の側面図である。
【0063】
例示的な並進リンク機構１１４ａ、１１４ｂはそれぞれ、第１の４バーリンク機構３０２ａ、３０２ｂ、第２の４バーリンク機構３０４ａ、３０４ｂ、及びフレーム３０６ａ、３０６ｂを備える。フレーム３０６ａ及びロードセル１１２ａは、回転組立体３１０ａへの取付によって互いに対し静止している。フレーム３０６ｂ及びロードセル１１２ｂは、回転組立体３１０ｂへの取付けによって互いに対し静止している。第１の４バーリンク機構３０２ａ、３０２ｂ及び第２の４バーリンク機構３０４ａ、３０４ｂは、それぞれ、最も内側のリンクを介して第１のプレート１０４又は第２のプレート１０６に取り付けられるように構成される。第１の４バーリンク機構３０２ａ及び第２の４バーリンク機構３０４ａは、第１のプレート１０４からの負荷が、第１のプレート１０４の表面に対し垂直な方向において（例えば、ロードセル１１２ａに結合された拡張ポスト３０８により）ロードセル１１２ａに伝達されることを可能にしながら、基板１０２が装着される第１のプレート１０４の表面に対し平行な方向（図３において方向Ｘ及びＹとして示される）における第１のプレート１０４の動きを制限する。
【0064】
ロードセル１１２ａ、１１２ｂの過負荷を回避するために、フレーム３０６ａ、３０６ｂは、第１の４バーリンク機構３０２及び第２の４バーリンク機構３０４及び／又は第１のプレート１０４又は第２のプレート１０６が停止点を越えてロードセル１１２ａ、１１２ｂに向かって進むことを阻止するように構成された停止点を備える。停止点は、例えば、第１の４バーリンク機構３０２ａ、３０２ｂ及び／又は第２の４バーリンク機構３０４ａ、３０４ｂの下側に接触するように構成されたピン又は他の剛体の締結具と、フレーム３０６ａ、３０６ｂの上面と、フレーム３０６ａ、３０６ｂの上面に結合されたバンパー又は剛体のオフセットとを用いて実装され、第１のプレート１０４又は第２のプレート１０６との接触及び／又は任意の他の技法により停止点を提供してもよい。
【0065】
回転アーム３０１ａ、３０１ｂは、基板１０２の折り曲げ及び展開を行うために、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６を回転及び並進させるように構成される。回転アーム３０１ａ、３０１ｂは、回転軸３１２ａ、３１２ｂ（例えば、旋回点）に結合される。アクチュエータは、入力シャフト３１４を駆動することによって、回転アーム３０１ａ、３０１ｂの双方を同時に回転させることができる。入力シャフト３１４は、回転アーム３０１ａ、３０１ｂに結合されたそれぞれの歯車システム３１８ａ、３１８ｂを駆動する二次シャフト３１６ａ、３１６ｂに結合される。いくつかの例において、ギア比は、双方のプレート１０４、１０６を同時にかつ比例して折り曲げさせるように入力シャフト３１４と回転アーム３０１ａとの間、及び入力シャフト３１４と回転アーム３０１ｂとの間で同じである。
【0066】
図３の例は、基板１０２の折り曲げ経路を定義する歯車システム３１８ａ、３１８ｂを含むが、他の例では、ガイドは異なっていてもよい。例えば、他のガイドは、複数のギアを有することを含んでもよく、ここで、第１のギアは自由に回転し、基板１０２の第１の側部の縁部と位置合わせされ、第２のギアは、第１のギアと噛み合わされ、基板１０２の第２の半分に対し固定される。他の例示的なガイドは、互いに対し垂直に配置された２つの線形アクチュエータの組み合わせを含むことができ、組み合わせにおける一方の線形アクチュエータが他方の線形アクチュエータに装着されている。第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６は、アクチュエータの組み合わせのそれぞれに取り付けられ、ｘ－ｙ平面において自由に動き、折り曲げ経路を描くことができる。複数の線形アクチュエータが、ガイドが異なる半径の折り曲げ部及び／又は非円形の折り曲げ部を含む様々なタイプの経路を実施することを可能にすることができる。いくつかの他の例示的なガイドが、折り曲げ経路を画定する一連のリンク機構を備えることができる。
【0067】
図９は、図４～図８の並進リンク機構の部分展開図である。特に、例示的な並進リンク機構１１４ａは、それぞれ中間リンク機構９０６、９０８、９１０、９１２と別個の４バーリンク機構３０２、３０４の内側リンク機構９０２、９０４と共に示される。中間リンク機構９０６～９１２は、内側リンク機構９０２、９０４をフレーム３０６に結合する。フレーム３０６は、４バーリンク機構３０２、３０４の一部分としての役割を果たす。
【0068】
図１０は、図１Ａ～図１１の例示的な可撓性基板試験システムによって行うことができる、可撓性基板に対する負荷を測定する例示的な方法１０００を表すフローチャートである。例示的な方法１０００は、以下で図１Ａ及び図２を参照して開示される。
【0069】
ブロック１００２において、プロセッサ２０３及び／又は制御プロセッサ２３８は、ロードセル１１２、２３０を較正して、第１の基板支持構造及び／又は第２の基板支持構造（複数の場合もある）（例えば、第１のプレート１０４、第２のプレート１０６）、並進リンク機構１１４の重量、及び／又はロードセル１１２、２３０による測定に影響を及ぼす任意の他の力を補償する。
【0070】
ブロック１００４において、第１の基板支持構造（例えば、第１のプレート１０４）は、可撓性基板１０２の第１の部分を静止状態に保持する。ブロック１００６において、第２の基板支持構造（例えば、第２のプレート１０６）は、可撓性基板１０２の第２の部分を保持する。
【0071】
ブロック１００８において、プロセッサ２０３及び／又は制御プロセッサ２３８は、可撓性基板１０２を折り曲げるか否かを判断する。例えば、プロセッサ２０３は、折り曲げサイクル（例えば、折り曲げ及び展開）が行われるか否かを判断することができる。折り曲げが行われない場合（ブロック１００８）、制御はブロック１００８を反復し、折り曲げを待機する。
【0072】
折り曲げが行われる場合（ブロック１００８）、ブロック１０１０において、プロセッサ２０３及び／又は制御プロセッサ２３８は、可撓性基板１０２を折り曲げる折り曲げ方向において第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造（例えば、第１のプレート１０４及び第２のプレート１０６）を動かすようにアクチュエータ１１０を制御する。いくつかの例において、歯車システム又は他のガイドを用いて、折り曲げ中の可撓性基板１０２の曲げ半径及び／又は折り曲げ経路を制御することができる。ブロック１０１２において、ロードセル１１２ａ、１１２ｂ、２３０は、折り曲げ中の可撓性基板１０２に対する動的負荷（複数の場合もある）を測定し、及び／又は折り曲げ後の可撓性基板１０２に対する静的負荷（複数の場合もある）を測定する。
【0073】
ブロック１０１４において、プロセッサ２０３及び／又は制御プロセッサ２３８は、可撓性基板１０２を展開するか否かを判断する。展開が行われない場合（ブロック１０１４）、制御はブロック１０１４を反復し、展開を待機する。
【0074】
展開が行われる場合（ブロック１０１４）、ブロック１０１６において、プロセッサ２０３及び／又は制御プロセッサ２３８は、可撓性基板１０２を展開する展開方向において第１の基板支持構造及び第２の基板支持構造を動かすようにアクチュエータ１１０を制御する。いくつかの例において、歯車システム又は他のガイドを用いて、展開中の可撓性基板１０２の曲げ半径及び／又は折り曲げ経路を制御することができる。ブロック１０１８において、ロードセル１１２、２３０は、展開中の可撓性基板１０２に対する動的負荷（複数の場合もある）を測定し、及び／又は展開後の可撓性基板１０２に対する静的負荷（複数の場合もある）を測定する。
【0075】
ブロック１０２０において、プロセッサ２０３及び／又は制御プロセッサ２３８は、折り曲げサイクルを繰り返すか否かを判断する。例えば、可撓性基板１０２は、複数の折り曲げサイクルを伴う試験プロセスを受ける場合がある。折り曲げサイクルが繰り返される場合（ブロック１０２０）、制御はブロック１００８に戻る。折り曲げサイクルが繰り返されない場合（ブロック１０２０）、例示的な方法１０００は終了する。
【0076】
本方法及びシステムは、ハードウェア、ソフトウェア、及び／又はハードウェア及びソフトウェアの組み合わせで実現することができる。本方法及び／又はシステムは、少なくとも１つのコンピューティングシステムにおいて集中的に、又はいくつかの相互接続されたコンピューティングシステムにわたって異なる要素が分散される分散的に、実現することができる。本明細書に記載した方法を実行するように適合された任意の種類のコンピューティングシステム又は他の装置が適している。ハードウェア及びソフトウェアの典型的な組み合わせは、汎用コンピューティングシステムを、ロードされ実行されるとコンピューティングシステムを本明細書に記載した方法を実行するように制御するプログラム又は他のコードとともに、含むことができる。別の典型的な実施態様は、特定用途向け集積回路又はチップを含むことができる。いくつかの実施態様は、非一時的機械可読（例えば、コンピューター可読）媒体（例えば、フラッシュドライブ、光ディスク、磁気記憶ディスク等）を含むことができ、そうした非一時的機械可読媒体は、機械によって実行可能なコードの１つ以上のラインを記憶し、それにより、機械に、本明細書に記載したようなプロセスを実施させる。本明細書において使用される場合、「非一時的機械可読媒体」という用語は、全てのタイプの機械可読記憶媒体を含み、伝播信号を排除するように定義される。
【0077】
本明細書において使用される場合、「回路」及び「回路類」という用語は、物理的な電子構成要素（すなわち、ハードウェア）と、ハードウェアを構成することができ、ハードウェアが実行することができ、及び／又は他の方法でハードウェアに関連付けることができる、任意のソフトウェア及び／又はファームウェア（「コード」）とを指す。本明細書において使用される場合、例えば特定のプロセッサ及びメモリは、コードの第１の１つ以上のラインを実行しているとき、第１の「回路」を含むことができ、コードの第２の１つ以上のラインを実行しているとき、第２の「回路」を含むことができる。本明細書において使用される場合、「及び／又は」は、「及び／又は」によって連結されるリストにおける項目のうちの任意の１つ以上の項目を意味する。一例として、「ｘ及び／又はｙ」は、３つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｘ，ｙ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ及び／又はｙ」は、「ｘ及びｙのうちの一方又は両方」を意味する。別の例として、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、７つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｚ），（ｘ，ｙ），（ｘ，ｚ），（ｙ，ｚ），（ｘ，ｙ，ｚ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、「ｘ、ｙ及びｚのうちの１つ以上」を意味する。本明細書において使用される場合、「例示的な」という用語は、非限定的な例、事例又は例証としての役割を果たすことを意味する。本明細書において使用される場合、「例えば」という用語は、１つ以上の非限定的な例、事例又は例証のリストを開始する。本明細書において使用される場合、回路類は、或る機能を実施するために必要なハードウェア及びコード（いずれかが必要である場合）を含む場合はいつでも、その機能の実施が（例えば、ユーザーが構成可能な設定、工場トリム等により）無効にされる又は有効にされていないか否かにかかわらず、回路類はその機能を実行するように「動作可能」である。
【0078】
本方法及び／又はシステムを、或る特定の実施態様を参照して記載してきたが、当業者であれば、本方法及び／又はシステムの範囲から逸脱することなく、種々の変更を行うことができること及び均等物に置き換えることができることを理解するであろう。例えば、開示した例のブロック及び／又は構成要素を、組み合わせ、分割し、再配置し、及び／又は他の方法で変更することができる。加えて、本開示の範囲から逸脱することなく、本開示の教示に対して特定の状況又は材料を適合させるように多くの改変を行うことができる。したがって、本方法及び／又はシステムは、開示されている特定の実施態様に限定されない。代わりに、本方法及び／又はシステムは、字義どおりにでも均等論のもとにおいても、添付の特許請求の範囲内に入る全ての実施態様を含む。
【図1A】
【図1B】
【図1C】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【国際調査報告】