特表2022-543072反射標本のマクロ検査のためのシステム、方法および装置

発明の名称　反射標本のマクロ検査のためのシステム、方法および装置

出願人　ナノトロニクス　イメージング　リミテッド　ライアビリティ　カンパニー　（識別番号 511289471）

　　　　特許公開件数ランキング 6922 位（2件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 2712 位（5件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2022-543072

公報発行日　2022年10月7

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_P1-2022-543072

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