特表2022-543294処理ユニット並びにプログラム及び／又はデータメモリを含む被試験デバイスをテストするための自動試験機器、テストコントローラ、被試験デバイスへの１又は複数のインターフェース、共有メモリを含む自動試験機器、並びに被試験デバイスをテストするための方法

発明の名称　処理ユニット並びにプログラム及び／又はデータメモリを含む被試験デバイスをテストするための自動試験機器、テストコントローラ、被試験デバイスへの１又は複数のインターフェース、共有メモリを含む自動試験機器、並びに被試験デバイスをテストするための方法

出願人　株式会社アドバンテスト　（識別番号 390005175）

　　　　特許公開件数ランキング 514 位（49件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 826 位（24件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2022-543294

公報発行日　2022年10月11

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_P1-2022-543294

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