特表2022-544342高性能電子顕微鏡のための方法

発明の名称　高性能電子顕微鏡のための方法

出願人　ザ　ボード　オブ　リージェンツ　オブ　ザ　ユニヴァーシティー　オブ　テキサス　システム　（識別番号 500027910）

　　　　特許公開件数ランキング 2302 位（8件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 25341 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2022-544342

公報発行日　2022年10月17

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_P1-2022-544342

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