(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2022-11-02
(54)【発明の名称】エッジ堆積測定法
(51)【国際特許分類】
B21C 47/26 20060101AFI20221026BHJP
B21C 51/00 20060101ALI20221026BHJP
C23C 2/20 20060101ALN20221026BHJP
【ＦＩ】
B21C47/26 A
B21C51/00 R
C23C2/20
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2022513174
(86)(22)【出願日】2019-08-29
(85)【翻訳文提出日】2022-04-22
(86)【国際出願番号】 IB2019057275
(87)【国際公開番号】W WO2021038278
(87)【国際公開日】2021-03-04
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】515214729
【氏名又は名称】アルセロールミタル
(74)【代理人】
【識別番号】110001173
【氏名又は名称】弁理士法人川口國際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】スローン，デイビッド
【テーマコード（参考）】
4E026
4K027
【Ｆターム（参考）】
4E026AA11
4E026BA14
4E026EA10
4K027AA05
4K027AC52
4K027AE23
4K027AE24
(57)【要約】
本発明は、巻回されている金属被覆コイルについて、被覆厚さの均一性を制御するための方法に関し、前記方法は、以下のステップ：
Ａ）第１の基準点とコイル面上の第１の点との間の第１の距離を測定するステップ、Ｂ）第２の基準点とコイル面上の第２の点との間の第２の距離を測定するステップであって、－ コイル上の前記第１及び第２の点がコイル幅に沿って異なる地点に配置されるステップ、Ｃ）前記第１の距離と前記第２の距離との間の差を計算するステップであって、前記差がΔ１２ｔｒｕｅと注記される、ステップ、Ｄ）前記差Δ１２ｔｒｕｅを保存するステップと、－ 閾値を定義するステップ、－ 各保存された差Δ１２ｔｒｕｅを前記閾値と比較、又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計を前記閾値と比較するステップ、－ 前記差Δ１２ｔｒｕｅ又は差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が前記閾値よりも高いときにアラートを発するステップを含む。
Ａ）第１の基準点とコイル面上の第１の点との間の第１の距離を測定するステップ、Ｂ）第２の基準点とコイル面上の第２の点との間の第２の距離を測定するステップであって、－ コイル上の前記第１及び第２の点がコイル幅に沿って異なる地点に配置されるステップ、Ｃ）前記第１の距離と前記第２の距離との間の差を計算するステップであって、前記差がΔ１２ｔｒｕｅと注記される、ステップ、Ｄ）前記差Δ１２ｔｒｕｅを保存するステップと、－ 閾値を定義するステップ、－ 各保存された差Δ１２ｔｒｕｅを前記閾値と比較、又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計を前記閾値と比較するステップ、－ 前記差Δ１２ｔｒｕｅ又は差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が前記閾値よりも高いときにアラートを発するステップを含む。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
巻回されている金属被覆コイルについて、被覆厚さの均一性を制御するための方法であって、以下のステップ、Ａ）第１の基準点Ｒ１とコイル面上の第１の点Ｃ１との間の第１の距離Ｄ１を測定するステップ、
Ｂ）第２の基準点Ｒ２とコイル面上の第２の点Ｃ２との間の第２の距離Ｄ２を測定するステップであって、
－ コイル上の前記第１及び第２の点がコイル幅に沿って異なる地点に配置される、ステップ、
Ｃ）前記第１の距離Ｄ１と前記第２の距離Ｄ２との間の差を計算するステップであって、前記差がΔ１２ｔｒｕｅと注記される、ステップ、
Ｄ）前記差Δ１２ｔｒｕｅを保存するステップ、
Ｅ）コイル幅全体の少なくとも１０分の１に沿って、コイル面上の第１の点又は第２の点の少なくとも一方を動かしながら、前記ステップＡ、Ｂ、Ｃ及びＤを繰り返すステップ、
－ 閾値Ｍを定義するステップ、
－ 各保存された差Δ１２ｔｒｕｅを前記閾値Ｍと比較、又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計を前記閾値Ｍと比較するステップ、
－ 前記差Δ１２ｔｒｕｅ又は差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が前記閾値Ｍよりも高いときにアラートを発するステップ
を含む、方法。
【請求項2】
第１の距離Ｄ１及び第２の距離Ｄ２が、０．１５ｍから２．００ｍの間である、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記ステップＡ及びＢが、同時に行われる、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項4】
前記第１及び第２の距離Ｄ１及びＤ２の前記測定が、レーザ変位センサを用いて行われる、請求項１から３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項5】
前記レーザ変位センサが、３８０ｎｍから５００ｎｍの間に含まれる波長を有する光を発する、請求項４に記載の方法。
【請求項6】
前記基準点Ｒ１及びＲ２が、コイル回転軸線から同じ距離上にある、請求項１から５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項7】
コイル面上の前記第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２が、０＜ＤＣ１２＜０．５０Ｗである、コイル幅Ｗに沿って距離ＤＣ１２によって離隔される、請求項１から６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項8】
コイル面上の前記第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２が、コイル回転軸線に平行な軸線上にある、請求項１から７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項9】
前記閾値Ｍが、ラップ当たり０．１０μｍから３μｍの間にある、請求項１から８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項10】
コイル面上の前記第１の点及び／又は第２の点が、速度ＳＣＡＰＴＯＲＳで移動され、前記コイルが、幅Ｗを有し、ＳＣＡＰＴＯＲＳ＞Ｗ／ＴＣＯＩＬＩＮＧであるように時間ＴＣＯＩＬＩＮＧで巻かれる、請求項１から９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項11】
コイル幅に沿った堆積プロファイルが、前記計算された差Δ１２を用いることによって行われる、請求項１から１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項12】
前記被覆が、コイルが巻回される場所の上流の制御された位置を有する少なくとも１つのバッフルを備える払拭ステーションで払拭され、前記少なくとも１つのバッフル位置が、前記堆積プロファイルを用いて調整される、請求項１から１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項13】
巻回されている金属被覆コイルについて、被覆厚さの均一性を制御するコイル化ステーションであって、－ 第１の基準点Ｒ１とコイル面上の第１の点Ｃ１との間の第１の距離Ｄ１を測定できる第１の距離測定システムＭ１、
－ 第２の基準点Ｒ２とコイル面上の第２の点Ｃ２との間の第２の距離Ｄ２を測定できる第２の距離測定システムＭ２、
－ 少なくともコイル幅全体に沿って前記第１の距離測定システムＭ１及び／又は前記第２の距離測定システムＭ２を移動させるのを可能にする変位システムであって、
－ 前記第１及び第２の距離測定システムＭ１及びＭ２がコイル位置から０．１５ｍから２．００ｍの間の距離に位置することが可能である、変位システム、
－ 前記第１及び第２の距離測定システムＭ１及びＭ２に接続される計算手段、
－ 前記計算手段に接続されるアラーティング手段、
を具備する、コイル化ステーション。
【請求項14】
請求項１から１２の方法を実行する、請求項１３に記載のコイル化ステーション。
【請求項15】
前記変位システムが、少なくともコイル幅全体に沿って前記第１の距離測定システムＭ１及び前記第２の距離測定システムＭ２を移動させるのを可能にする、請求項１３又は１４に記載のコイル化ステーション。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、巻回されている金属被覆コイルについて、その幅方向に沿った被覆厚さの均一性を制御するための方法及び装置に関する。
【背景技術】
【0002】
近頃、スチールストリップは、一般に、それらの表面特性を高めるために、様々な被覆によって被覆される。それらの被覆は、通常、ストリップ面に付着／固着する被覆浴にスチールストリップを通すことによって行われる。前記被覆浴を出た後、被覆厚さは、払拭手段を用いて調整される。その後、ストリップは、通常、熱処理され、次いで、コイル化ステーションで巻かれる。
【0003】
前記払拭手段１は、一般に、図１に表わされたように、ストリップＳの両面に配置されるエアナイフ２と、その両側のバッフル３とを備えている。そのうえ、バッフル位置は、ストリップエッジの被覆品質、即ち、エッジの被覆厚さ及び均一性に非常に影響する。前記バッフル位置が正しく設定されていないとき、被覆の堆積（ｂｕｉｌｄ－ｕｐ）は、ストリップに、特に、エッジに形成される傾向がある。巻いたとき、ストリップエッジの被覆堆積は、重ね合わされ、最終的にそのエッジ５まわりがその中心６まわりよりも大きな円周を有するコイル４をもたらし、そのようなコイルが図２に表わされている。これは、ストリップエッジが伸張され、巻き出し中、波状エッジをもたらすことになることから、高品質製品にとって有害である。産業上、決定された堆積量だけが許容可能であり、例えば、コイル幅に沿って決定された円周の変動だけが許容可能である。この量を超えると、波状エッジは、除去されなければならない可能性があり、コイルは、グレード落ちされなければならず、経済的に有害である。
【0004】
ストリップ幅、所望の被覆厚さ、被覆組成、払拭手段の損耗、使用ガスの特性、及び、ストリップ速度、などの様々なパラメータに応じて、バッフル位置及び払拭手段位置などの払拭パラメータは、エッジ堆積を抑制するために調整されなければならない。その結果、バッフル位置は、１度で全てを設定できず、定期的に調整しなければならない。
【0005】
コイル化ステーションにおいて、幅方向に沿った被覆厚さ均一性は、一般に、幾つかの欠点を呈するオペレータによって手動で制御される。第１に、安全上の懸念が存在し、その理由は、オペレータがその巻き工程中に動いているストリップの近くにいなければならないからである。第２に、測定は、正確でなく、また、オペレータに依存する。第３に、遅延が、堆積測定と、バッフルが調整可能である時間との間に存在し、その理由は、測定に時間がかかり、データ転送が即時でないからである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明の目的は、巻回されているコイルの堆積測定を最適化するのを可能にする解決策を提供し、上述の課題を解決することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
この目的は、請求項１に係る方法を提供することによって達成される。方法は、請求項２から１２の任意の特徴を含むこともできる。この目的は、請求項１３から１５に係る装置を提供することによっても達成される。
【0008】
他の特徴及び利点は、本発明の次の詳細な説明から明らかになっていくことになる。
【0009】
本発明を例証するために、様々な実施形態は、特に、次の図面を参照して、説明されることになる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】エアナイフ及びバッフルを備える払拭手段によって払拭されているストリップを示す図である。
【図2】エッジ堆積をそのエッジに有するコイルを示す図である。
【図3】コイルと、コイル面上の３点と、それらのコイル回転軸線との距離とを示す図である。
【図4】２つの測定距離手段及びコイルを備える本発明の実施形態を示す図である。
【図5】コイル面上の第２の点に対するコイル面上の第１の点の４つの異なるケースを示す図である。
【図6】Δ１２ｔｒｕｅが何であるかを解説している３つの異なるケースを示す図である。
【図7】被覆堆積をより受けるコイル部分の実施形態を示す図である。
【図8】１層コイル（Ａ）と１００層コイル（Ｂ）との堆積差を示す図である。
【図9】測定手段及びコイルのスキーム（Ａ）と、コイル幅に沿った差Δ１２ｔｒｕｅのプロット（Ｂ）とを示す図である。
【図10】測定手段及びコイルのスキーム（Ａ）と、コイル幅に沿った合計差Δ１２ｔｒｕｅのプロット（Ｂ）とを示す図である。
【図11】レーザ変位センサの実施形態を示す図である。
【図12】コイル、その回転軸線、及びその面上の２つの点（Ａ）と、その面上の点及びその回転軸線によって形成される角度の投影（Ｂ）とを示す図である。
【図13】コイル化ステーションの実施形態の２つの図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
本発明は、巻回されている金属被覆コイルについて、被覆厚さの均一性を制御するための方法に関し、前記方法は、以下のステップ：
Ａ）第１の基準点Ｒ１とコイル面上の第１の点Ｃ１との間の第１の距離Ｄ１を測定するステップ、
Ｂ）第２の基準点Ｒ２とコイル面上の第２の点Ｃ２との間の第２の距離Ｄ２を測定するステップであって、
－ コイル上の前記第１及び第２の点がコイル幅に沿って異なる点に配置される、ステップ、
Ｃ）前記第１の距離Ｄ１と前記第２の距離Ｄ２との間の差を計算するステップであって、前記差がΔ１２ｔｒｕｅと注記される、ステップ、
Ｄ）前記差Δ１２ｔｒｕｅを保存するステップ、
Ｅ）コイル幅全体の少なくとも１０分の１に沿って、コイル面上の第１の点又は第２の点の少なくとも一方を動かしながら、前記ステップＡ、Ｂ、Ｃ及びＤを繰り返すステップ、
Ｆ）閾値Ｍを定義するステップ、
Ｇ）各保存された差Δ１２ｔｒｕｅを前記閾値Ｍと比較、又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計を前記閾値Ｍと比較するステップ、
Ｈ）前記差Δ１２又は差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が前記閾値Ｍよりも高いときにアラートを発するステップ
を含む。
Ａ）第１の基準点Ｒ１とコイル面上の第１の点Ｃ１との間の第１の距離Ｄ１を測定するステップ、
Ｂ）第２の基準点Ｒ２とコイル面上の第２の点Ｃ２との間の第２の距離Ｄ２を測定するステップであって、
－ コイル上の前記第１及び第２の点がコイル幅に沿って異なる点に配置される、ステップ、
Ｃ）前記第１の距離Ｄ１と前記第２の距離Ｄ２との間の差を計算するステップであって、前記差がΔ１２ｔｒｕｅと注記される、ステップ、
Ｄ）前記差Δ１２ｔｒｕｅを保存するステップ、
Ｅ）コイル幅全体の少なくとも１０分の１に沿って、コイル面上の第１の点又は第２の点の少なくとも一方を動かしながら、前記ステップＡ、Ｂ、Ｃ及びＤを繰り返すステップ、
Ｆ）閾値Ｍを定義するステップ、
Ｇ）各保存された差Δ１２ｔｒｕｅを前記閾値Ｍと比較、又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計を前記閾値Ｍと比較するステップ、
Ｈ）前記差Δ１２又は差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が前記閾値Ｍよりも高いときにアラートを発するステップ
を含む。
【0012】
コイル幅に沿った被覆厚さの制御は、コイル幅に沿った種々の点でのコイル厚さの比較に基づく。コイル厚さは、コイル幅に沿った決定された点に関して、コイルまわりの任意の点について同じであると仮定される。これは、図３に表わされており、コイル面上の３点（７ａ、７ｂ、７ｃ）と、コイルの回転軸線９に対するそれらの距離（８ａ、８ｂ、８ｃ）と、が表わされ、巻回中に等しいと仮定される。コイル厚さは、コイルの層数、ストリップ厚さ、及び、被覆厚さなどの幾つかのパラメータに依存する。２つの最初のパラメータのコイル幅に沿ったコイル厚さへの影響は、無視できるものと考えられる。その結果、コイル幅に沿ったコイル厚さの変動は、コイル幅に沿った被覆厚さの変動に主として依存する。それで、先に解説されたように、払拭手段が正しく設定されていないとき、より多くの被覆が、スチールストリップの中央よりもエッジに存在する可能性があり、巻回したとき、エッジ堆積が形成されて、図２に表わされたものと同様のコイルをもたらす。より多くの被覆が、例えば、エアナイフが欠陥のある場合に、ストリップ幅に沿った別の部分に存在することもある。
【0013】
金属被覆コイルは、亜鉛ベースの被覆を有するスチールで作製でき、コイル化ステーションで巻回できる。
【0014】
図４に示されているように、第１のステップＡでは、第１の基準点Ｒ１と、コイル面上の第１の点Ｃ１との間の距離Ｄ１が、測定される。基準点Ｒ１は、前記距離Ｄ１を測定する第１の測定手段Ｍ１の先端として近似できる。それで、距離Ｄ１は、第１の測定手段Ｍ１と、コイル面上の点Ｃ１との間の距離である。
【0015】
図４に示されているように、第２のステップＢでは、第２の基準点Ｒ２と、コイル面上の第２の点Ｃ２との間の距離Ｄ２が、測定される。第２の基準点Ｒ２は、前記距離Ｄ２を測定する第２の測定手段Ｍ２の先端として近似できる。それで、距離Ｄ２は、第２の測定手段Ｍ２と、コイル面上の第２の点Ｃ２との間の距離である。
【0016】
両第１及び第２の距離Ｄ１及びＤ２は、優先的にそれらの基準点と前記コイルとの間の最短距離である。そのような配置は、Ｄ１及びＤ２の、したがって、Δ１２ｔｒｕｅの決定を容易にする。
【0017】
コイル上の第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２は、コイル幅に沿った種々の点に配置される。コイルと、その回転軸線と、第１及び第２の距離とは、４つの異なるケースに対して図５に表わされており、コイル面は、幅及び高さによって定義でき、前記高さは、円周に対応する：
Ａ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って同じ点上にあるが、コイル幅に沿って異なる点にある
Ｂ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って異なる点上にあるが、コイル幅に沿って異なる点にある
Ｃ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って異なる点上にあるが、コイル幅に沿って同じ点にある
Ｄ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って同じ点上にあり、コイル幅に沿って同じ点にあり、その結果、それらは同じ地点にある。
Ａ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って同じ点上にあるが、コイル幅に沿って異なる点にある
Ｂ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って異なる点上にあるが、コイル幅に沿って異なる点にある
Ｃ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って異なる点上にあるが、コイル幅に沿って同じ点にある
Ｄ）Ｃ１及びＣ２は、コイル高さに沿って同じ点上にあり、コイル幅に沿って同じ点にあり、その結果、それらは同じ地点にある。
【0018】
その結果、図５では、Ｃ１及びＣ２が、コイル幅に沿って異なる点に配置されるので、ケースＡ及びケースＢだけが特許請求されている方法に対応する。
【0019】
好ましくは、前記ステップＡ及びＢは、１秒以内に行われる。それは、測定についての層数の仮定がより現実に近づくことを可能にする。なお更、好ましくは、前記ステップＡ及びＢは、０．５秒以内に行われる。
【0020】
次いで、前記第１の距離Ｄ１と前記第２の距離Ｄ２との間の、Δ１２ｔｒｕｅと注記された差が、計算される。Δ１２ｔｒｕｅと注記された差は、第１及び第２の基準点に対するコイル直径への被覆堆積の影響を表わす。しかしながら、基準点Ｒ１及びＲ２が、コイル回転軸線からの、実際にはマンドレル上の、異なる距離にあり得るので、この差Δ１２ｔｒｕｅは、調整を必要とする可能性がある。Δ１２は、Ｄ１及びＤ２間の距離差である。
【0021】
図６は、３つの異なるシナリオを表わしており、Ｄ１及びＤ２は、それらの基準点と前記コイルとの間の最短距離である：
【0022】
Ａ）基準点Ｒ１及びＲ２は、コイル回転軸線９から同じ距離にあるが、単にエッジの堆積のために、距離Ｄ１及びＤ２は異なる。その場合、距離差は、Δ１２ｔｒｕｅに等しく、その特別なケースでは、Δ１２＝Δ１２ｔｒｕｅである。
【0023】
Ｂ）基準点Ｒ１及びＲ２は、コイル回転軸線から異なる距離にあり、コイル上に検出可能な堆積が存在せず、その結果、距離Ｄ１及びＤ２は、単にコイル回転軸線から離隔している基準点のために異なることになる。その場合、コイル回転軸線に対する各基準点の距離ΔＲ１Ｒ２及び／又は一方の基準点と他方との間の間隔を知ることで、算出された距離は、調整される必要がある。その場合、Δ１２ｔｒｕｅ＝Δ１２－ΔＲ１Ｒ２＝０である。
【0024】
Ｃ）基準点Ｒ１及びＲ２は、コイル回転軸線から異なる距離にあり、被覆堆積は、検出できる。それで、Ｄ１及びＤ２間の距離差Δ１２は、堆積及びコイル回転軸線に対する各基準点の距離によって影響を及ぼされる。その結果、Δ１２ｔｒｕｅ＝Δ１２－ΔＲ１Ｒ２≠０である。
【0025】
第４のステップでは、計算された差Δ１２ｔｒｕｅは、保存され、更なる使用のためにアクセス可能である。
【0026】
次いで、コイル幅全体の少なくとも１０分の１に沿って、コイル面上の第１又は第２の点の少なくとも一方を動かしながら、第４の第１のステップが繰り返される。好ましくは、コイル面上の点の変位は、コイル幅に沿って関連付けされる測定手段の変位を介して行われる。そのような変位は、コイル幅に沿って幾つかの円周差を測定すること、したがってコイル幅の少なくとも１０分の１を制御するのを可能にし、好ましくは全体コイル幅Ｗの前記少なくとも１０分の１は、このコイル部分が縞模様ゾーンによって図７に表わされたように被覆堆積をより受けるので、コイル先端に配置される。好ましくは、コイル幅全体に沿って、コイル面上の第１又は第２の点の少なくとも一方を動かしながら、前記ステップＡ、Ｂ、Ｃ、及びＤが繰り返される。
【0027】
別のステップでは、閾値Ｍが、定義される。そのような閾値は、コイルにとって許容可能である最大円周変化と定義できる。前記閾値は、被覆厚さの不均一性が重畳される可能性があるので、コイルの被覆スチールの層数、又は、マンドレルによってなされる回転に応じて定義できる。例えば、ストリップのエッジとその中心との間の被覆厚さ差が常に０．１ｍｍ存在する場合に、コイル層数、例えば、マンドレル回転数にもよるが、堆積１０は、図８に示されているように、１層コイル（Ａ）と１００層コイル（Ｂ）に関して異なることになる。例えば、厚さ０．３８ｍｍのライトゲージに許容される最大堆積は、０．１５μｍと定義される場合がある。一般に、それらのコイルは、約２０００のラップを有し、その結果、許容される最大円周差は、０．３ｍｍ（０．１５μｍ×２０００）である。対して、厚さ２ｍｍのヘビーゲージに許容される最大堆積は、２．６μｍと定義できる。一般に、それらのコイルは、約３８０のラップを有し、その結果、許容される最大円周差は、０．９ｍｍ（２．６μｍ×３８０）である。最後のケースでは、閾値Ｍは、Ｍ＝２．６μｍ×ラップと定義できる。それで、１００マンドレル回転の後又はコイルが１００ラップを有するとき、閾値は、０．２６ｍｍと定義されることになる。
【0028】
その後、閾値は、各保存された差Δ１２ｔｒｕｅ、又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計、と比較される。比較を容易にするために、閾値は、各保存された差Δ１２ｔｒｕｅの絶対値、及び／又は、差Δ１２ｔｒｕｅの合計、と比較できる。ある比較は、必要とされる制御に応じて、及び、幅方向の面上の２つの点Ｃ１及びＣ２間の間隔に応じて、別の比較より好まれる場合がある。閾値が絶対値と比較されないケースでは、閾値は、正の値Ｍと、負の値－Ｍとで作られ、その結果、差Δ１２ｔｒｕｅが負の閾値－Ｍよりも小さい場合に、アラートが発せられる。このアラートのトリガは、後で詳述される。好ましくは、閾値は、各保存された差Δ１２ｔｒｕｅ、及び、差Δ１２ｔｒｕｅの合計と比較される。
【0029】
例えば、閾値は、幅に沿ったコイル面上の２つの点間の最大円周変化差であると定義される場合に、Ｃ１Ｃ２と注記されるＣ１及びＣ２間の間隔に応じて、検出できるか又はできないかである。図９に示されているように、面上の２つの点Ｃ１及びＣ２間の間隔が小さいケースでは、Δ１２ｔｒｕｅは、閾値よりも小さいことがある。図９では、コイル幅に沿ってΔ１２ｔｒｕｅがプロットされており、その結果、コイル幅に沿ったこの位置のコイルの円周Ｃｉｒｃ１を代表する点Ｃ１と、コイル幅に沿ったこの位置のコイルの円周Ｃｉｒｃ２を代表する点Ｃ２とにおけるコイル厚さの差がプロットされている。その結果、たとえ幅に沿ったコイル面上の２つの点間の円周差が閾値Ｍより高くても、その場合検出されないが、その理由は、２つの周囲が、又は、前記閾値Ｍよりも大きな差を有するＣ１Ｃ２の離隔されたコイル厚さが、存在しないからである。
【0030】
その結果、コイル幅上の１つの点からコイル幅上の別の点までの差Δ１２ｔｒｕｅを合計することが可能である。この技術は、閾値よりも大きな差を有する少なくとも２つの円周又は２つの堆積が存在する場合を知ることと、コイルプロファイルを得ることとを可能にする。図１０では、図９に関してと同じコイルに関するコイル幅に沿った差の合計がプロットされている。したがってコイルのプロファイルが得られる。
【0031】
最後に、前記差Δ１２ｔｒｕｅ又は差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が、前記閾値Ｍよりも高いとき、アラートが発せられる。アラートは、限定されないが、視覚的アラートや音響アラート或いはそれらの組合せにできる。視覚的アラートは、スクリーン及び／又はヒューマンマシンインターフェース（ＨＭＩ）に表示でき、また、欠陥を含むゾーンをハイライト化できる。可聴的アラートは、クラクション音のようにできる。好ましくは、前記差Δ１２ｔｒｕｅ及び差Δ１２ｔｒｕｅの前記合計が、前記閾値Ｍよりも高いとき、アラートが発せられる。
【0032】
その結果、本発明は、巻回されているコイルの堆積測定を最適化するのを可能にする。この最適化は、コイル幅に沿った被覆厚さを評価して被覆欠陥を検出するのを可能にするコイルの円周プロファイルを確立する可能性を含む。
【0033】
好ましくは、コイル面上の前記第１及び／又は第２の点の払拭中の前記コイル化ステーションの上流の払拭ステーションの少なくとも１つの払拭パラメータは、保存される。好ましくは、前記少なくとも１つの払拭パラメータは、その対応するΔ１２ｔｒｕｅと関連付けされる。そのような払拭パラメータは、払拭手段形式（エアナイフ、他の可能性）、バッフル位置及び設計、ストリップ幅に沿ったエアジェット速度、特性及び再配分、被覆性質及び所望厚さ、ストリップ速度、払拭手段摩耗、にすることができる。前記払拭パラメータは、先に述べたパラメータに限定されず、払拭に影響を及ぼす全てのパラメータは、払拭パラメータと考えられる。そのような関連性は、払拭パラメータと最終被覆との間のリンクを確立するのを可能にする。
【0034】
好ましくは、前記ステップＡ及びＢは、同時に行われる。それは、測定での振動の影響を低減させるので、測定品質を改善するのを可能とする。
【0035】
好ましくは、第１の距離Ｄ１及び第２の距離Ｄ２は、０．１５ｍから２．００ｍの間である。振動のために、前記距離が０．１５メートルより下である場合、コイルデュー（ｃｏｉｌ ｄｕｅ）は、概ね距離測定手段の点である基準点と抵触することがあり、したがって距離測定手段を損傷させることになる。距離が２メートルより大きい場合、大きい自由空間が必要とされ、したがってコイル化ステーションのサイズに否定的な影響を及ぼす。
【0036】
好ましくは、前記第１及び第２の距離Ｄ１及びＤ２の前記測定は、レーザ変位センサ１２を用いて行われる。そのようなセンサは、非接触、高速、及び正確であるので有利である。図１１に示されているように、そのようなレーザ変位センサ１１は、レーザ１２、送信レンズ１３、受信レンズ１４、及び、受光素子１５を備える。前記レーザは、コイル面１６上の点を照準する。受光素子とコイル面上の点との間の距離は、基準点とコイル面上の点との間の距離と考えることができる。その場合、基準点は、受光素子である。
【0037】
好ましくは、前記レーザ変位センサは、３８０ｎｍから５００ｎｍの間に含まれる波長を有する光を発する。そのような光は、少ないスペックルを提供し、信号ノイズを低減し、したがって測定を改善させる。
【0038】
好ましくは、前記基準点Ｒ１、Ｒ２は、コイル回転軸線から同じ距離にある。そのような配置決めは、Δ１２ｔｒｕｅ＝Δ１２の決定を容易にする。
【0039】
好ましくは、コイル面上の前記第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２は、コイル幅Ｗに沿った距離ＤＣ１２、０＜ＤＣ１２＜０．５０ｘＷ、によって離隔される。スペーシングがコイル幅の半分を超えると、コイル幅に沿った被覆厚さの部分は、推定できない。
【0040】
好ましくは、コイルの回転軸線、コイル面上の第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２がコイル側に平行なディスク上に投影される場合に、投影された回転軸線及びコイル上の第１の点からの線と、投影された回転軸線及びコイル上の第２の点からの線とによって形成される角度は、０度から３０度の間に含まれる。図１２Ａは、コイル４、その回転軸線９、コイル面上の第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２を表わす。図１２Ｂは、コイルの投影と、Ｃ１、回転軸線９、及び、Ｃ２によって形成される角度αを例証する。それは、測定時の振動の影響が低減され、仮定がより現実に近いので、測定精度を改善するのを可能にする。
【0041】
好ましくは、コイルの回転軸線、コイル面上の第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２がコイル側部に平行なディスク上に投影される場合に、投影された回転軸線及びコイル上の第１の点からの線と、投影された回転軸線及びコイル上の第２の点からの線とによって形成される角度は、０度から１０度の間に含まれる。
【0042】
好ましくは、コイル面上の前記第１及び第２の点Ｃ１及びＣ２は、コイル回転軸線に平行な軸線上にある。そのような整列は、測定に関する振動の影響が低減され、仮定がより現実に近いので、測定精度を改善するのを可能にする。
【0043】
好ましくは、前記閾値Ｍは、ラップ当たり０．１０μｍから３μｍの間にある／その間に含まれる。
【0044】
好ましくは、前記閾値Ｍは、０．１ｍｍから０．３ｍｍの間にある／その間に含まれる。そのような範囲は、幾つかのスチールグレードのために被覆堆積を検出するのを可能にする。
【0045】
好ましくは、コイル面上の第１の点及び／又は第２の点は、速度ＳＣＡＰＴＯＲＳで移動され、前記コイルは、幅Ｗを有し、時間ＴＣＯＩＬＩＮＧで、ＳＣＡＰＴＯＲＳ＞Ｗ／ＴＣＯＩＬＩＮＧであるように、巻かれる。そのような速度は、堆積を検出してコイル化が行われる前に訂正行動を起こすのを可能にし、コイルの被覆品質を向上させるのを可能にする。
【0046】
好ましくは、コイル幅に沿った堆積プロファイルは、前記計算された差Δ１２ｔｒｕｅを用いて行われる。前記堆積プロファイルは、コイル幅上の１点から他点までの計算された差の全部を合計することによって作製できる。前記堆積プロファイルは、必須ではないが、コイル幅上の一端から他端までプロットされる場合がある。
【0047】
好ましくは、前記被覆は、コイルが巻回される場所の上流の制御された位置を有する少なくとも１つのバッフルを備える払拭ステーションで払拭され、前記少なくとも１つのバッフル位置は、前記堆積プロファイルを用いて調整される。
【0048】
図１３に示されているように、本発明は、巻回されている金属被覆コイル４について、被覆厚さの均一性を制御するコイル化ステーション１７にも関し、前記コイル化ステーション１７は、
－ 第１の基準点Ｒ１とコイル面上の第１の点Ｃ１との間の第１の距離Ｄ１を測定できる第１の距離測定システムＭ１、
－ 第２の基準点Ｒ２とコイル面上の第２の点Ｃ２との間の第２の距離Ｄ２を測定できる第２の距離測定システムＭ２であって、
－ コイル上の前記第１及び第２の点が、コイル幅に沿って異なる地点に配置されており、
－ 少なくともコイル幅全体に沿って、前記第１の距離測定システムＭ１及び／又は前記第２の距離測定システムＭ２を移動させるのを可能にする変位システム１８であって、
－ 前記第１及び第２の距離測定システムＭ１及びＭ２がコイル位置から０．１５ｍから２．００ｍの間の距離に位置することが可能である、変位システム１８、
－ 前記第１及び第２の距離測定システムＭ１及びＭ２に接続される計算手段１９、
－ 前記計算手段に接続されるアラーティング手段２０
を備える。
－ 第１の基準点Ｒ１とコイル面上の第１の点Ｃ１との間の第１の距離Ｄ１を測定できる第１の距離測定システムＭ１、
－ 第２の基準点Ｒ２とコイル面上の第２の点Ｃ２との間の第２の距離Ｄ２を測定できる第２の距離測定システムＭ２であって、
－ コイル上の前記第１及び第２の点が、コイル幅に沿って異なる地点に配置されており、
－ 少なくともコイル幅全体に沿って、前記第１の距離測定システムＭ１及び／又は前記第２の距離測定システムＭ２を移動させるのを可能にする変位システム１８であって、
－ 前記第１及び第２の距離測定システムＭ１及びＭ２がコイル位置から０．１５ｍから２．００ｍの間の距離に位置することが可能である、変位システム１８、
－ 前記第１及び第２の距離測定システムＭ１及びＭ２に接続される計算手段１９、
－ 前記計算手段に接続されるアラーティング手段２０
を備える。
【0049】
変位システムは、図１３に示されているように、測定システム毎の変位システムで構成でき、変位システム１８は、測定システムＭ２を移動でき、変位システム１８’は、測定システムＭ１を移動できる。
【0050】
好ましくは、前記コイル化ステーション１７は、請求項１から１２の方法を実行する。
【0051】
好ましくは、前記コイル化ステーション１７及び前記変位システム１８は、少なくともコイル幅Ｗ全体に沿って前記第１の距離測定システムＭ１及び前記第２の距離測定システムＭ２を移動させるのを可能にする。
【0052】
本発明は、現時点で実用的でより好ましいと考えられる実施形態について説明されてきた。しかしながら、本発明が、本明細書に開示された実施形態に限定されず、また、添付された特許請求の範囲及び本明細書全体から読むことのできる本発明の主旨又は精神から逸脱しない範囲内で適切に修正できることを理解されたい。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【国際調査報告】