特表 2022-546113 顕微鏡を制御する制御装置、顕微鏡を制御するための方法、顕微鏡ならびにコンピュータプログラム製品

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2022-11-02

(54)【発明の名称】顕微鏡を制御する制御装置、顕微鏡を制御するための方法、顕微鏡ならびにコンピュータプログラム製品

(51)【国際特許分類】

   G02B 21/06 20060101AFI20221026BHJP

   G02B 21/26 20060101ALI20221026BHJP

【ＦＩ】

G02B21/06

G02B21/26

【審査請求】未請求

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2022513856

(86)(22)【出願日】2020-08-31

(85)【翻訳文提出日】2022-04-01

(86)【国際出願番号】 EP2020074238

(87)【国際公開番号】W WO2021043722

(87)【国際公開日】2021-03-11

(31)【優先権主張番号】19194952.8

(32)【優先日】2019-09-02

(33)【優先権主張国・地域又は機関】EP

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】511079735

【氏名又は名称】ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

【氏名又は名称原語表記】Ｌｅｉｃａ Ｍｉｃｒｏｓｙｓｔｅｍｓ ＣＭＳ ＧｍｂＨ

【住所又は居所原語表記】Ｅｒｎｓｔ－Ｌｅｉｔｚ－Ｓｔｒａｓｓｅ １７－３７， Ｄ－３５５７８ Ｗｅｔｚｌａｒ， Ｇｅｒｍａｎｙ

(74)【代理人】

【識別番号】100114890

【弁理士】

【氏名又は名称】アインゼル・フェリックス＝ラインハルト

(74)【代理人】

【識別番号】100098501

【弁理士】

【氏名又は名称】森田 拓

(74)【代理人】

【識別番号】100116403

【弁理士】

【氏名又は名称】前川 純一

(74)【代理人】

【識別番号】100134315

【弁理士】

【氏名又は名称】永島 秀郎

(74)【代理人】

【識別番号】100162880

【弁理士】

【氏名又は名称】上島 類

(72)【発明者】

【氏名】フローリアン ファールバッハ

【テーマコード（参考）】

2H052

【Ｆターム（参考）】

2H052AA07

2H052AC09

2H052AC15

2H052AC16

2H052AD18

(57)【要約】

本開示は、顕微鏡（１０１）、例えば斜面顕微鏡（１０２）またはＳＣＡＰＥ顕微鏡（１０３）を制御する制御装置（１００）およびこれを制御するための方法、このような顕微鏡（１０１）ならびにコンピュータプログラム製品に関する。当技術分野において、光学系（１１０）の視野（１１０ａ）よりも大きいサンプルを、サンプル容積（１０５）の高速または低速のいずれかで走査する場合がある。このため、サンプルの位置が変化しもしくはサンプルが損傷することさえあり、または測定時間が長くなることもある。本開示は、制御装置（１００）が顕微鏡（１０１）のサンプル容積（１０５）のサンプル容積速度（１０４）を顕微鏡（１０１）に対して調整し、サンプル容積速度（１０４）に応じて、顕微鏡（１０１）の光シート（１０７）の光シート速度（１０６）を顕微鏡（１０１）に対して調整するように構成されている点で、従来技術のソリューションを改善する。対応する顕微鏡は、光シート発生器、光学系、光シートアクチュエータ、サンプルアクチュエータ、検出ユニット、および本発明の制御装置（１００）を備える。

【特許請求の範囲】

【請求項1】

顕微鏡（１０１）、例えば斜面顕微鏡（１０２）またはＳＣＡＰＥ顕微鏡（１０３）を制御する制御装置（１００）であって、前記制御装置（１００）は、
－前記顕微鏡（１０１）のサンプル容積（１０５）のサンプル容積速度（１０４）を、前記顕微鏡（１０１）に対して調整し、
－前記サンプル容積速度（１０４）に応じて、前記顕微鏡（１０１）の光シート（１０７）の光シート速度（１０６）を、前記顕微鏡（１０１）に対して調整する、
ように構成されている、
制御装置（１００）。

【請求項2】

前記制御装置（１００）は、方向（１０４ａ，１０６ａ）および絶対値（１０４ｂ，１０６ｂ）のうちの少なくとも一方において、前記顕微鏡（１０１）に対する前記サンプル容積速度（１０４）とは異なるように、前記顕微鏡（１０１）に対する前記光シート速度（１０６）を調整するように構成されている、
請求項１記載の制御装置（１００）。

【請求項3】

前記制御装置（１００）は、前記サンプル容積速度（１０４）に応じた前記光シート速度（１０６）および前記サンプル容積速度（１０４）のうちの１つを調整することにより、前記光シート（１０７）の走査速度（１０８）が一定となるように調整するように構成されており、
前記走査速度（１０８）は、前記サンプル容積（１０５）に対する前記光シート（１０７）の速度である、
請求項１または２記載の制御装置（１００）。

【請求項4】

前記制御装置（１００）は、前記サンプル容積速度（１０４）が上昇した場合に前記光シート速度（１０６）を低下させること、および、前記サンプル容積速度（１０４）が低下した場合に前記光シート速度（１０６）を上昇させること、のうちの少なくとも一方を行うように構成されている、
請求項１から３までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項5】

前記制御装置（１００）は、前記サンプル容積速度（１０４）の方向（１０４ａ）である第１の方向が前記光シート速度（１０６）の方向（１０６ａ）である第２の方向とは反対方向を向くように、前記サンプル容積速度（１０４）を調整するように構成されている、
請求項１から４までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項6】

前記制御装置（１００）は、前記サンプル容積速度（１０４）の方向（１０４ａ）である第１の方向が前記光シート速度（１０６）の方向（１０６ａ）である第２の方向に等しくなるように、前記サンプル容積速度（１０４）を調整するように構成されている、
請求項１から４までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項7】

前記制御装置（１００）は、調整範囲（１２９）内の光シート（１０７）の位置に応じて前記サンプル容積速度（１０４）を調整するように構成されている、
請求項１から６までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項8】

前記制御装置（１００）は、前記光シート（１０７）が前記調整範囲（１２９）の限界の所定の領域に位置する場合、前記第１の方向（１０４ａ）が前記第２の方向（１０６ａ）と等しくなるように、前記サンプル容積速度（１０４）を調整するように構成されている、
請求項７記載の制御装置（１００）。

【請求項9】

前記制御装置（１００）は、前記第２の方向（１０６ａ）に対する前記第１の方向（１０４ａ）の向きを、平行な向きから反平行な向きへ、かつ／または、反平行な向きから平行な向きへ変化させるように構成されている、
請求項５から８までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項10】

前記制御装置（１００）は、前記サンプル容積（１０５）の加速度に応じて、前記光シート（１０７）の加速度を調整するように構成されている、
請求項１から９までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項11】

前記制御装置（１００）は、前記サンプル容積速度（１０４）、前記光シート速度（１０６）および前記走査速度（１０８）のうちの少なくとも１つを測定または決定するように構成されている、
請求項１から１０までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項12】

前記制御装置（１００）は、前記光シート（１０７）を、前記光シート（１０７）に対して垂直な方向に移動させるように構成されている、
請求項１から１１までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項13】

前記制御装置（１００）は、前記光シート速度（１０６）および前記サンプル容積速度（１０４）のうちの一方を調整して、前記光シート（１０７）を前記調整範囲（１２９）の中央に位置させるように構成されている、
請求項７から１２までのいずれか１項記載の制御装置（１００）。

【請求項14】

顕微鏡（１０１）、例えば斜面顕微鏡（１０２）またはＳＣＡＰＥ顕微鏡（１０３）であって、前記顕微鏡（１０１）は、
－前記顕微鏡（１０１）のサンプル容積（１０５）内に光シートを発生させる光シート発生器と、
－光（１０７ｂ）を前記サンプル容積（１０５）内に透過させる光学系（１１０）と、
－光シート速度（１０６）を調整する光シートアクチュエータ（１０７ｃ）と、
－前記サンプル容積（１０５）のサンプル容積速度（１０４）を調整するサンプルアクチュエータ（１１５）と、
－前記光シート（１０７）により発生される、前記サンプル容積（１０５）内の光分布（１１３）を検出する検出ユニット（１１２）と、
－前記光シート速度（１０６）および前記サンプル容積速度（１０４）のうちの少なくとも一方を制御する制御装置（１００）と、
を備え、
前記制御装置（１００）は、請求項１から１３までのいずれか１項記載の制御装置（１００）である、
顕微鏡（１０１）。

【請求項15】

前記顕微鏡（１０１）は、前記サンプル容積速度（１０４）、前記光シート速度（１０６）、および、前記サンプル容積速度（１０４）と前記光シート速度（１０６）との重ね合わせ、のうちの少なくとも１つを決定する速度検出器ユニット（１００ｂ）をさらに備える、
請求項１４記載の顕微鏡（１０１）。

【請求項16】

前記顕微鏡（１０１）は、前記サンプル容積（１０５）から前記検出ユニット（１１２）に光を伝達するさらなる光学系を備え、前記光シートアクチュエータは、前記光シート（１０７）を前記さらなる光学系の光軸に対して平行な方向に平行移動させるように構成されている、
請求項１４または１５記載の顕微鏡（１０１）。

【請求項17】

顕微鏡（１０１）、例えば斜面顕微鏡（１０２）またはＳＣＡＰＥ顕微鏡（１０３）を制御するための方法であって、前記方法は、
－サンプル容積（１０５）のサンプル容積速度（１０４）を調整するステップと、
－前記サンプル容積速度（１０４）に応じて、光シート（１０７）の光シート速度（１０６）を調整するステップと、
を含む方法。

【請求項18】

コンピュータプログラムがプロセッサ上で実行される際に、請求項１７記載の方法を実行するためのプログラムコードを有する、コンピュータプログラム製品。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、顕微鏡、例えば斜面顕微鏡またはＳＣＡＰＥ顕微鏡を制御する制御装置、顕微鏡、例えば斜面顕微鏡またはＳＣＡＰＥ顕微鏡を制御するための方法、顕微鏡、例えば斜面顕微鏡またはＳＣＡＰＥ顕微鏡ならびにコンピュータプログラム製品に関する。

【背景技術】

【0002】

斜面顕微鏡の従来技術のソリューションでは、サンプルが静止した光シートに対して移動される。これらの従来技術のソリューションでは、通常、平行移動ステージが適用される。サンプルが対物レンズの光軸に沿って移動される場合、画像のスタックを斜面顕微鏡で記録することができる。

【0003】

ＳＣＡＰＥ顕微鏡では、光シートが、照明光路内および観察光路内に配置されたスキャナにより、サンプルを通過する走査範囲内で移動される。ＳＣＡＰＥでは、対物レンズの視野よりも広い大きなサンプル領域を記録することはさらに煩雑である。

【発明の概要】

【課題を解決するための手段】

【0004】

本発明は、制御装置が顕微鏡のサンプル容積のサンプル容積速度を顕微鏡に対して調整し、サンプル容積速度に応じて、顕微鏡の光シートの光シート速度を顕微鏡に対して調整するように構成されている点で、冒頭で言及した制御装置についての上記の問題を解決する。

【0005】

本発明は、顕微鏡のサンプル容積内に光シートを発生させる光シート発生器、光をサンプル容積内に透過させる光学系、光シート速度を調整する光シートアクチュエータ、サンプル容積のサンプル容積速度を調整するサンプルアクチュエータ、光シートにより発生される、サンプル容積内の光分布を検出する検出ユニット、および光シート速度およびサンプル容積速度のうちの少なくとも一方を制御する制御装置を備え、ここで、制御装置が本発明に係る制御装置である点で、冒頭に言及した顕微鏡についての上記の問題を解決する。

【0006】

さらに、本発明は、方法がサンプル容積のサンプル容積速度を調整することと、サンプル容積速度に応じて、光シートの光シート速度を調整することと、を含む点で、従来技術の顕微鏡を制御するための方法を改善する。

【0007】

サンプルの異なる部分がサンプルの移動によって記録される場合、サンプルに必要とされる加速が、高いスループットを得るために速く行われるか、または緩慢にかつ注意深く行われる場合がある。高速走査のための大きな加速ではサンプルに作用する大きな力がもたらされて、これによりサンプルが変形または再配置されてしまうことがあり、またサンプルの緩慢な移動ではサンプルの加速度に対して画像記録のフレームレートを採用する必要があるため、両アプローチとも不利である。このことにより、測定の完了に必要な時間がさらに長くなる場合がある。

【0008】

したがって、本発明の一態様は、適用される対物レンズの視野よりも大きいサンプル領域の記録を容易にする、制御装置、方法、および顕微鏡を提供することである。

【0009】

本コンピュータプログラム製品は、コンピュータプログラムがプロセッサ上で実行される際に、本発明の方法を実行するためのプログラムコードを含む。

【0010】

本発明の制御装置、方法、および顕微鏡を、以下に記載される追加の技術的特徴によってさらに改善することができる。これらの追加の技術的特徴は相互に任意に組み合わせることができ、また省略される技術的特徴によって得られる技術的効果が本発明に関連しない場合には省略されてもよい。

【0011】

好ましくは、光シート速度は、サンプル容積速度に適応化される。これは、光シート速度を（変化する）サンプル容積速度に応じて迅速かつ容易に調整することができるという利点を有する。例えば本発明の顕微鏡における顕微鏡の光シートアクチュエータにより光シート速度を調整することは、光シート速度の調整に対応する手段としてサンプル容積速度を調整することよりも容易かつ迅速である。例えば、光シートアクチュエータは、例えばサンプルを保持するサンプルホルダに比べて、加速度に対してそれぞれ低い慣性（速度の変化に対する物体の抵抗）および低い感度を有する。

【0012】

本開示では、速度は、大きさおよび方向により定義される物理ベクトル量と理解されるべきである。例えば、サンプルの移動が１つの軸に沿ってのみ行われるいくつかの実施形態では、速度を符号付き量とみなすことができる。

【0013】

さらに、本開示では、斜面顕微鏡は、サンプル容積内で斜めに配向された光シートを備える顕微鏡、好ましくは、光シート顕微鏡と理解されるべきである。ここで、光シートを、好ましくは、横方向に移動させることができ、ここで、サンプル、より一般的にはサンプル容積を、光学アセンブリに対して、特に対物レンズに対して移動させることができる。制御装置、方法、コンピュータプログラム製品および顕微鏡は、特に、このような光シート顕微鏡を指すことができ、またはこのような光学シート顕微鏡に適用することができる。

【0014】

サンプルの走査を可能にするために、本発明の制御装置の一実施形態は、方向および絶対値のうちの少なくとも一方において、顕微鏡に対するサンプル容積速度とは異なるように、顕微鏡に対する光シート速度を調整するように構成されている。これにより、光シートおよびサンプル容積が同じ絶対値で同じ方向に移動しないことが保証される。もし同じ方向に移動してしまえば、光シートを介したサンプルの静的な平面照明が発生し、これにより画像スタックの記録またはサンプルの走査が不可能となる。

【0015】

制御装置は、ａ）サンプル容積速度に応じた光シート速度、およびｂ）サンプル容積速度のうちの１つを調整することにより、光シートの走査速度が一定になるように調整するように構成可能である。ここで、走査速度は、サンプル容積に対する光シートの速度である。

【0016】

走査速度は、光シート速度とサンプル容積速度との重ね合わせであってよい。ここで、走査速度は、参照フレームとしてサンプル容積を有する。その結果、光シートが顕微鏡に対して移動せず、サンプル容積が第１の速度＋ｖ_１で移動する場合、サンプル容積に対する光シートの走査速度ｖ_ｓｃはｖ_ｓｃ＝－ｖ_１になる。

【0017】

好ましくは、制御装置は、一定の走査速度を提供するように光シート速度を調整するように構成可能である。ここで、サンプル容積速度も調整することができ、その結果、光シート速度も調整されることになる。

【0018】

調整ステップを行うために、本発明の顕微鏡の一実施形態は、サンプル容積速度、光シート速度、およびサンプル容積速度と光シート速度との重ね合わせ、のうちの少なくとも１つを決定する速度検出器ユニットをさらに備えることができる。

【0019】

したがって、前記速度のうちの１つはオンラインで測定することができ、または例えば測定が開始されてからの経過時間に応じて速度（光シートおよび／またはサンプル容積）の進行を記憶することができるルックアップテーブルにより決定することができる。

【0020】

したがって、制御装置は、サンプル容積速度、光シート速度および走査速度のうちの少なくとも１つを測定または決定するように構成可能である。

【0021】

本発明の制御装置の一実施形態では、制御装置は、サンプル容積速度が上昇した場合に光シート速度を低下させること、およびサンプル容積速度が低下した場合に光シート速度を上昇させること、のうちの少なくとも一方を行うように構成可能である。

【0022】

このような上昇または低下は、対応する速度の絶対値の増大または減少と理解されるべきである。

【0023】

例として、１０（任意の単位）の目標走査速度がｘ軸に沿ったサンプル容積で達成される場合、すなわちｖ_ｓｃ，ｔ＝＋１０の場合、ｖ_ｓｖ＝－１のサンプル容積速度により、第１の走査速度ｖ_ｓｃ，１＝＋１がもたらされる。ここで、制御装置は、ｖ_ｌｓ，１＝＋９となるように第１の光シート速度ｖ_ｌｓ，１を調整し、このため、ｖ_{ｓｃ，ａｄｊ}＝＋１０（任意の単位）の調整された走査速度における２つの速度の重ね合わせが生じる。

【0024】

同様に、－５のサンプル容積速度は、走査速度を一定に維持するために、制御装置が第１の光シート速度を＋５に調整することによりもたらされる。

【0025】

本発明の制御装置のさらに有利な実施形態では、制御装置は、サンプル容積の加速度に応じて、光シートの加速度を調整するように構成可能である。

【0026】

このようにして、サンプル容積が加速された場合、例えば、そこに提供されたサンプルを変形させずまたは位置変化させないために、光シートを、最初よりも高い光シート速度（走査速度が所定の目標値で一定になるように制御装置により調整される）で移動させる。ここで、サンプル容積のさらなる加速につれて、光シートは減速する。サンプル容積速度の上昇（すなわち速度の絶対値の増大）に伴って、光シート速度は、サンプル容積の速度の上昇に対応する割合（これは、減速度すなわち経時的な速度の変化割合に対応する）で低下する。

【0027】

このようにして、サンプルの速度が一定でない場合、例えば加速または減速される場合でも、走査速度、すなわちサンプル容積を通して光シートが走査される速度を、制御装置により一定に保つことができる。

【0028】

したがって、本発明の制御装置、方法、顕微鏡、およびコンピュータプログラム製品は、より大きな容積、すなわち対物レンズの視野よりも大きな容積またはサンプルを完全かつ迅速に検査することができるという利点を有し、ここで特に、サンプル全体の３次元画像スタックを記録することができる。画像スタックの各画像は、サンプルを過剰な力または加速度に曝すことなく、またはサンプル容積速度が変化する場合に本発明を使用しなければ画像間の距離を等距離に保つために必要となる検出器のフレームレート、例えばカメラのフレームレートを採用する必要なく、各画像間の等距離ステップで記録される。

【0029】

制御装置および顕微鏡は、光シートがその中で移動可能でありうる調整範囲を含むことができる。この調整範囲は、走査速度を一定に保つために、光シート（斜面顕微鏡）または光シート（ＳＣＡＰＥ）の実際の走査範囲を再配置させ、特に移動させることができる範囲と理解されるべきである。調整範囲を、光シートを移動させるのに使用される光シートアクチュエータ部材により規定することができる。調整範囲の終端を、光シートアクチュエータ部材の最大および最小偏向角により、または光シートアクチュエータ部材の向きもしくは位置により、規定することができる。また、調整範囲を、光学系、例えば対物レンズの利用可能な開口により限定し、これにより範囲設定することができる。当該開口を介して、光シートの光がサンプル容積に提供される。加えて、調整範囲を、光学系にハードアパーチャを設けることにより規定することができる。光シートアクチュエータ部材は、偏向を提供する傾斜可能な要素または光シートの横方向の変位を提供する直線的に運動可能な要素であることができる。

【0030】

制御装置は、調整範囲内の光シートの位置に応じてサンプル容積速度を調整するように構成可能である。

【0031】

好ましくは、制御装置は、光シートが調整範囲の限界の所定の領域に位置する場合、第１の方向が第２の方向と等しくなるように、サンプル容積速度を調整するように構成可能である。

【0032】

このようにして、光シートが調整範囲の終端、限界または境界に近づいている場合、光シートを検出することができる。ここで、検出時に、制御装置または顕微鏡は、光シートとサンプル容積とが同じ方向へ移動するようにサンプル容積速度を調整することにより、対抗手段としての過補償を開始することができる。こうした過補償により、調整範囲の限界、好ましくは調整範囲の中央に、所定の領域から光シートを戻すことが可能となる。所定の領域は、光シート速度の調整が可能なままであることを保証するセキュリティバッファを表すことができる。光シートが所定の領域に入射する角度範囲は、調整範囲全体の２０％に相当する場合がある。また、この角度範囲は、調整範囲の１０％または５％に相当する場合がある。

【0033】

本開示では、光シートの位置は、ＳＣＡＰＥ顕微鏡の場合の走査範囲の位置に対応すると理解されるべきである。光シートの走査および調整を行うために、同じまたは別の光学素子を適用することができる。例示的に、光シートの位置を調整するために、光シートでのサンプル容積の走査に使用されるのと同じ傾斜ミラーを使用することができる。

【0034】

さらなる実施形態では、制御装置は、サンプル容積速度の方向である第１の方向が光シート速度の方向である第２の方向とは反対方向を向くように、サンプル容積速度を調整するように構成可能である。すなわち、光シートの移動方向とサンプル容積の移動方向とは反対方向を向いており、つまり基準フレームとしての顕微鏡を使用して反平行である。

【0035】

さらに有利な実施形態では、制御装置は、サンプル容積速度の方向である第１の方向が光シート速度の方向である第２の方向と等しくなるように、サンプル容積速度を調整するように構成可能である。すなわち、顕微鏡に対して、サンプル容積および光シートは同じ方向へ移動する。

【0036】

１０（任意単位）の目標走査速度で上記の例を再び考察すると、これは、サンプル容積速度が－１５となる、すなわちｖ_ｓｖ，１＝－１５であるケースとなる。ここで、光シートが顕微鏡に対して移動しない場合、ｖ_ｓｃ，１＝＋１５の第１の走査速度が得られる。これは、目標走査速度よりも速い。この場合、制御装置は、光シート速度をｖ_ｌｓ，１＝－５に調整し、これにより走査速度を＋１０に保つ。この場合、サンプル容積速度と光シート速度とは同じ方向を有する。

【0037】

この実施形態は、走査速度を一定に維持するために、光シートが第１の調整方向に移動すると、調整範囲内に留まるように光シートの移動方向を反転させることができるという利点を有する。サンプル容積の量が所望の走査速度の量よりも多い場合、光シートの方向が反転され、これを初期位置に向かって移動させることが可能となる。これにより、光シートをその調整範囲内に維持することが可能となる。

【0038】

さらに有利な実施形態では、制御装置は、光シートが移動可能である調整範囲の限界に近づく場合、第１の方向が第２の方向に等しくなるようにサンプル容積速度を調整するように構成可能である。この実施形態では、光シートは、その調整範囲内に留まるように制御される。

【0039】

よって、ここでは２つの制御ステップ、すなわち、サンプル容積速度に応じて、光シート速度を調整することと、光シート速度の調整が２つ以上の方向において依然として可能であるかどうかを制御することと、が適用される。この方法を過補償と称することができ、光シートをその初期位置に再配置することが可能となり、好ましくは、この初期位置は調整範囲の中央に対応する。第２の制御ステップは、第１の制御ステップへのフィードバックをトリガすることができ、例えばサンプル容積速度の変化を開始させることができる。

【0040】

制御装置は、第２の方向に対する第１の方向の向きを、平行な向きから反平行な向きへ、かつ／または反平行な向きから平行な向きへ変化させるように構成可能である。第１の期間の間、光シートおよびサンプル容積を同じ方向に移動させることができ、一方、第２の期間、好ましくは後続の期間の間、光シートおよびサンプル容積を反対方向に移動させることができる（両方の場合において参照フレームとして顕微鏡が使用される）。１回の測定の間、複数のこれらの期間が交互に配置されていてよい。

【0041】

本発明の制御装置は、光シートを光シートに対して垂直な方向で、すなわちその法線ベクトルに沿って移動させるように構成可能である。また、光シートをサンプル容積内にのみに位置させ、その法線ベクトルに対して所定の角度の方向に沿って移動させることもできる。

【0042】

本発明の制御装置は、特に、光シート速度およびサンプル容積速度のうちの１つを調整して、光シートを調整範囲の中央に位置させるように構成可能である。調整範囲の中央におけるこの位置決めは、サンプル容積速度の量が目標走査速度の量よりも大きい場合（ここでの２つの速度は反対方向を向いている）に、すなわちサンプル容積速度を過補償することによって、達成可能である。

【0043】

本発明の顕微鏡は、サンプル容積から検出ユニットに光を伝達するさらなる光学系を備えることができ、ここで、光シートアクチュエータは、光シートをさらなる光学系の光軸に対して平行な方向に平行移動させるように構成可能である。

【0044】

コンピュータプログラム製品は、任意の従来の磁気もしくは光学記憶媒体または非一時的記憶媒体に基づく任意の読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）もしくはランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）であることができる。プログラムコードを、パーソナルコンピュータ、任意のフィールドプログラマブルゲートアレイ、マイクロコントローラ等、簡潔には、プログラムコードを記憶するように構成された任意の集積回路上で実行することができる。

【0045】

サンプル容積速度を、経時的に直線的もしくは非直線的に変化させることができ、または一定のままとすることができる。いずれにせよ、サンプル容積速度に応じて、光シート速度を、好ましくは一定の走査速度が得られるように、制御装置により調整することができる。異なる例では、サンプル容積の特定の領域において、修正された走査速度が必要とされることが望ましい場合がある。これは、例えば関心領域が定義されるケースであり、ここでは、所定の分解能、すなわちサンプルにおいて撮影された隣接する画像間の距離が必要となる。ここで、前記関心領域の外側では、より低い分解能で十分でありうる。これにより、関心領域の外側の概観走査と、関心領域におけるより詳細な走査、すなわちより高い分解能での走査と、が可能となる。この場合、目標走査速度を、関心領域の外側ではより速く設定し、関心領域の内側ではより緩慢に設定することができる。

【0046】

サンプルのこれら２つの異なる部分（関心領域の内外）において、走査速度を一定に設定することができる。

【0047】

別の例は、いわゆるマルチウェルプレート（マイクロウェルプレート）であり、ここでは（ウェル内に）別個の容積がパターン状に配列されている。ウェルは、それらの間の中間領域により分離されている。この場合、単一のサンプルは存在しないが、別個の各部分、すなわち各関心領域が存在する。可能な限り短い時間ですべてのウェルの内容物の概要を得るために、本開示は有益となりうる。光シートを１つのウェルから隣接するウェルへ、すなわち中間領域を超えて移動させることを、相当の速度で行うことができる。ここで、ウェルの内側すなわちサンプルの内側の光シートによるサンプル容積の移動は、より緩慢な走査速度で行われる。これにより、ウェルプレートの持続的な加速および減速がもたらされ、（光シートが関心領域に入るときの）サンプル容積の減速および（光シートが関心領域から２つの隣接するウェル間の中間領域へ移動するときの）サンプル容積の加速を、本開示により補償することができる。

【0048】

さらに、各ウェルの内側では、光シート速度を、ウェルを出入りするときの調整に加えて、サンプル容積速度に応じて調整することもできる。また、本発明は、照明光路および／または観察光路の内側に追加の望遠鏡を設けることにより、サンプル容積内の焦点を変化させる遠隔焦点合わせを使用する顕微鏡にも適用することができる。この場合、遠隔焦点合わせモジュールにより、対物レンズの光軸に沿ったサンプル容積の可能な速度に適応化されうる光シート速度を決定することができる。

【0049】

本発明の顕微鏡、好ましくは光学シート顕微鏡、より好ましくは斜面顕微鏡またはＳＣＡＰＥ顕微鏡は、照明が行われたのと同じ光学アセンブリ（対物レンズ）を介して、サンプル容積内で放出されまたは発光された観察光の検出を場合により行うことができる。このため、同一の光学アセンブリ（対物レンズ）を光学照明アセンブリとしてかつ光学観察アセンブリとして適用することができる。

【0050】

さらに、光学観察アセンブリは、光シートにより照明された観察容積の平面部の仮想画像を生成することができる。前記仮想画像は傾斜していてよく、すなわち光学観察アセンブリの光軸に対して斜めになっていてよい。本発明の顕微鏡は、さらなる光学アセンブリを備えることができ、この光学アセンブリは、所定の角度で光学観察アセンブリに対して配向されるように構成される。この結果、さらなる光学アセンブリの光軸は、仮想画像に対して実質的に垂直に配向される。これにより、さらなる光学アセンブリの光軸に対して垂直に配向された焦点面において、前記仮想画像のさらなる画像を生成することができる。当該焦点面内に検出器を配置することができる。このようにして、当該さらなる光学アセンブリ（独語：Aufrichteeinheit（正立ユニット））により、斜めの仮想画像が正立される。代替的に、コンピュータ上で実行される際に、補正された画像を計算するためのコードを含むコンピュータプログラム製品により、仮想画像の傾きを補償することもできる。

【0051】

ＳＣＡＰＥ顕微鏡は、斜面顕微鏡の特に有利な実施形態であり、この実施形態では、光シートがサンプル容積を通して走査される。

【0052】

斜面顕微鏡は、１つの単一対物レンズ（すなわち、ＳＣＡＰＥ顕微鏡に類似する）を備えることができ、傾斜光シートの傾斜画像は、照明または検出対物レンズに対して所定の角度で配向された対物レンズによってではなく、増大された焦点深度によって、平面的に検出器上へ結像される。

【0053】

サンプル容積の移動および光シートの移動の対応する調整は、周期的に繰り返すことができる。このため、特定の時間（サイクル持続時間または周期時間）の後、光シートはその初期位置に戻ることができる。光シートはその調整範囲内に維持されるべきであるため、前記調整範囲の中央付近で周期的な移動を行うことができる。光シートは、その期間中に、１回、２回または複数回、その初期位置に到達することができる。

【0054】

好ましい実施形態では、本開示により、光シートの一定の走査速度および周期的な移動ならびにサンプル容積の周期的な移動が可能となる。これにより、任意の大きなサンプルの走査が可能となる。

【0055】

代替例として、特定の時間範囲の間のみ、特に光シートがその調整範囲内の最大位置に到着するまでの間、画像をキャプチャすることができ、その後画像キャプチャが停止され、光シートがその初期位置に戻る。次いで、このシステムは、サンプル容積の移動を継続することができる。

【0056】

最も容易なケースは、測定が終了した後、光シートがその調整範囲の境界に到達しないように、光シートの速度およびサンプル容積の速度を調整することである。よって、測定終了後、光シートをその初期位置に戻すことができる。

【0057】

いくつかの態様を装置の文脈において説明してきたが、これらの態様が、対応する方法の説明も表していることが明らかであり、ここではブロックまたは装置がステップまたはステップの特徴に対応している。同様に、ステップの文脈において説明された態様は、対応する装置の対応するブロックまたは項目または特徴の説明も表している。ステップの一部または全部は、例えば、プロセッサ、マイクロプロセッサ、プログラマブルコンピュータまたは電子回路等のハードウェア装置（またはハードウェア装置を使用すること）によって実行されてもよい。いくつかの実施形態では、極めて重要なステップのいずれか１つまたは複数が、そのような装置によって実行されてもよい。

【0058】

一定の実装要件に応じて、本発明の実施形態は、ハードウェアまたはソフトウェアで実装されうる。この実装は、非一過性の記録媒体によって実行可能であり、非一過性の記録媒体は、各方法を実施するために、プログラマブルコンピュータシステムと協働する（または協働することが可能である）、電子的に読取可能な制御信号が格納されている、デジタル記録媒体等であり、これは例えば、フロッピーディスク、ＤＶＤ、ブルーレイ、ＣＤ、ＲＯＭ、ＰＲＯＭおよびＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭまたはＦＬＡＳＨメモリである。したがって、デジタル記録媒体は、コンピュータ読取可能であってもよい。

【0059】

本発明のいくつかの実施形態は、本明細書に記載のいずれかの方法が実施されるように、プログラマブルコンピュータシステムと協働することができる、電子的に読取可能な制御信号を有するデータ担体を含んでいる。

【0060】

一般的に、本発明の実施形態は、プログラムコードを備えるコンピュータプログラム製品として実装可能であり、このプログラムコードは、コンピュータプログラム製品がコンピュータ上で実行されるときにいずれかの方法を実施するように作動する。このプログラムコードは、例えば、機械可読担体に格納されていてもよい。

【0061】

別の実施形態は、機械可読担体に格納されている、本明細書に記載のいずれかの方法を実施するためのコンピュータプログラムを含んでいる。

【0062】

したがって、換言すれば、本発明の実施形態は、コンピュータプログラムがコンピュータ上で実行されるときに本明細書に記載のいずれかの方法を実施するためのプログラムコードを有するコンピュータプログラムである。

【0063】

したがって、本発明の別の実施形態は、プロセッサによって実行されるときに本明細書に記載のいずれかの方法を実施するために、格納されているコンピュータプログラムを含んでいる記録媒体（またはデータ担体またはコンピュータ読取可能な媒体）である。データ担体、デジタル記録媒体または被記録媒体は、典型的に、有形である、かつ／または非一過性である。本発明の別の実施形態は、プロセッサと記録媒体を含んでいる、本明細書に記載されたような装置である。

【0064】

したがって、本発明の別の実施形態は、本明細書に記載のいずれかの方法を実施するためのコンピュータプログラムを表すデータストリームまたは信号シーケンスである。データストリームまたは信号シーケンスは例えば、データ通信接続、例えばインターネットを介して転送されるように構成されていてもよい。

【0065】

別の実施形態は、処理手段、例えば、本明細書に記載のいずれかの方法を実施するように構成または適合されているコンピュータまたはプログラマブルロジックデバイスを含んでいる。

【0066】

別の実施形態は、本明細書に記載のいずれかの方法を実施するために、インストールされたコンピュータプログラムを有しているコンピュータを含んでいる。

【0067】

本発明の別の実施形態は、本明細書に記載のいずれかの方法を実施するためのコンピュータプログラムを（例えば、電子的にまたは光学的に）受信機に転送するように構成されている装置またはシステムを含んでいる。受信機は、例えば、コンピュータ、モバイル機器、記憶装置等であってもよい。装置またはシステムは、例えば、コンピュータプログラムを受信機に転送するために、ファイルサーバを含んでいてもよい。

【0068】

いくつかの実施形態では、プログラマブルロジックデバイス（例えばフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ）が、本明細書に記載された方法の機能の一部または全部を実行するために使用されてもよい。いくつかの実施形態では、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイは、本明細書に記載のいずれかの方法を実施するためにマイクロプロセッサと協働してもよい。一般的に、有利には、任意のハードウェア装置によって方法が実施される。

【0069】

以下において、本開示の例示を添付の図面を参照して示し、例示的な実施形態のみを記載する。これらは、特許請求の範囲により定義される権利保護の可能範囲を狭めることを意図するものではない。例示的な実施形態では、省略される技術的特徴の技術的効果が本開示の主題に関連しない場合、当該技術的特徴を省略することができる。

【図面の簡単な説明】

【0070】

【図1】本発明の顕微鏡および本発明の制御装置の模式図である。

【図2】一定でない加速度での制御装置の模式的な動作方式を示す図である。

【図3】一定の加速度での制御装置の模式的な動作方式を示す図である。

【図4】可能性のある移動パターンおよび制御装置により行われる対応する調整の模式的な例を示す図である。

【図5】別の可能性のある移動パターンおよび制御装置により行われる対応する調整のさらなる模式的な例を示す図である。

【図6】さらに別の可能性のある移動パターンおよび制御装置により行われる対応する調整のさらなる模式的な例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0071】

以下の図の説明では、図に導入されている各要素は、その特徴が導入された図に対応する先行の番号によって示される。このため、図２に初めて現れる技術的特徴は、参照符号２ｘｘによって示される。同じ特徴が後続の図で扱われることもあり、この場合、前記特徴は、参照符号３ｘｘ、４ｘｘ、５ｘｘ等によって示される。同様に、図４に最初に記載されて参照符号４ｙｙで示される技術的特徴が図１においても同様に扱われることもあり、この場合には図１では１ｙｙと称される。参照符号のリストでは、各技術的特徴は１つの参照符号でのみ示されている。例示的には、サンプル容積の速度は参照符号２１７で与えられており、ここで、この参照符号は、サンプル容積の速度が図１、図３、図４、図５または図６で言及される場合、参照符号１１７，３１７，４１７，５１７および６１７を含む。同じことが、参照符号のリストに挙げられている他の特徴にも適用される。

【0072】

図１は、本発明の顕微鏡１０１の模式図である。図示の顕微鏡１０１を、斜面顕微鏡１０２またはＳＣＡＰＥ顕微鏡１０３として具現化することができる。

【0073】

図１には、顕微鏡１０１のサンプル容積１０５内に光シート１０７を発生させる光シート発生器１０７ａが模式的に示されている。

【0074】

顕微鏡１０１は光学系１１０をさらに備えており、光シート発生器１０７ａから当該光学系１１０を通ってサンプル容積１０５へ光１０７ｂが透過される。

【0075】

図１には、透過装置として例示的に示されているが反射においても作用しうる光シートアクチュエータ１０７ｃがさらに示されている。光シートアクチュエータ１０７ｃにより、光シート速度１０６を調整することができる。

【0076】

光シート速度１０６は、方向１０６ａおよび絶対値１０６ｂを特徴とする。すなわち、これらは、コネクタユニット１１１を表す。

【0077】

図１には、サンプル容積１０５内の光分布１１３を検出する検出ユニット１１２がさらに示されている。ここで、光分布１１３は、光シート１０７により発生され、（図示の実施形態では）光学系１１０を介して、検出ユニット１１２へ向かって透過される。このようにして、観察光１１４は、同じ光学系１１０を介して、検出ユニット１１２へ向かって透過される。

【0078】

顕微鏡１０１は、光シートアクチュエータ１０７ｃと、サンプル容積１０５のサンプル容積速度１０４を調整するように構成されたサンプルアクチュエータ１１５と、に接続された制御装置１００をさらに備える。

【0079】

図１に示されている実施形態では、光シートアクチュエータ１０７ｃおよびサンプルアクチュエータ１１５は顕微鏡１０１に含まれているが、これらの特徴の異なる実施形態では、制御装置１００に含まれていてもよい。

【0080】

図１には、顕微鏡１０１に対するサンプル容積１０５の３つの位置１１６が示されている。位置１１６のこの時系列は、サンプル容積速度の絶対値１０４ｂを有するサンプル容積速度の方向１０４ａへのサンプル容積速度１０４でのサンプル容積１０５の移動を記述している。

【0081】

光シート速度１０６とサンプル容積速度１０４との重ね合わせ１０９により、光シート１０７は、走査速度１０８でサンプル容積１０５に対して移動する。

【0082】

走査速度１０８が基準フレームであるサンプル容積１０５とみなされ、サンプル容積速度と光シート速度とのそれぞれの方向１０４ａおよび１０６ａが反対を向くように、サンプル容積速度と光シート速度とのそれぞれの絶対値１０４ｂおよび１０６ｂが加えられて（加算されて）、走査速度の絶対値１０８ｂが得られる。走査速度の方向１０８ａは、光シート速度の方向１０６ａに等しい。

【0083】

制御装置１００は、速度検出器１００ｂに接続可能な速度評価モジュール１００ａを備えることができ、これは明確性の目的で模式的にのみ示されている。異なる実施形態では、速度評価モジュール１００ａおよび速度検出器１００ｂは顕微鏡１０１の一部であってよく、速度データ（図示せず）を計算モジュール１００ｃに直接に提供することができる。計算モジュール１００ｃは、サンプルアクチュエータ１１５および／または光シートアクチュエータ１０７ｃと直接に接続可能であり、これにより、制御装置１００はサンプル容積速度１０４および／または光シート速度１０６を調整することができる。制御装置１００は、記憶モジュール１００ｄをさらに備えることができる。記憶モジュール１００ｄには、計算規則、移動パターンデータ、または制御装置もしくは顕微鏡のさらなるパラメータを記憶することができる。

【0084】

例えば、光シート１０７またはサンプル容積１０５の速度を測定せず、ルックアップテーブルを読み取ることによって決定することができる。このルックアップテーブルは、前記記憶モジュール１００ｄに記憶することができる。

【0085】

図１には、光学系１１０の視野１１０ａも示されている。ここで、サンプル容積１０５の画像の記録は当該視野１１０ａに限定されており、このため、サンプル容積１０５全体についてのサンプル容積１０５の検査を移動させる必要がある。

【0086】

図１の右側の位置１１６には、サンプル容積速度が第２のサンプル容積速度１０４ｆに変更された状況が示されている。この変更された第２のサンプル容積速度１０４ｆに従って、制御装置１００は、光シート速度を第２の光シート速度１０６ｆに変更する。両者の重ね合わせ１０９により、再び走査速度１０８がもたらされる。走査速度１０８は、図示の３つのすべての位置１１６において一定のままである。

【0087】

図２および図３において、速度ｖが時間ｔに依存して示されている。このグラフは、サンプル容積の速度２１７，３１７および光シートの速度２１８，３１８を示している。速度２１７，３１７および２１８，３１８はそれぞれ、サンプル容積速度および光シート速度の対応する絶対値１０４ｂおよび１０６ｂの符号付き値として理解されるべきである（図１を参照のこと）。

【0088】

このグラフにおいて、走査速度の絶対値１０８ｂに対応する値を有する走査速度２１９，３１９が定義され、ここで、走査速度の方向１０８ａは数学的符号により考慮される（これは正の方向の問題であり、すなわち、示されている速度の符号は反対となることもある）。サンプル容積の移動方向（図示せず）が正として定義される。よって、光シートの反対方向への移動により、光シートの速度２１８，３１８が負になる。走査速度１０８は、サンプル容積速度１０４と反対の向きであると考えられるため、走査速度２１９，３１９も負である。

【0089】

走査速度２１９，３１９は、所定の値２１９ａ，３１９ａである。図２において、サンプル容積の速度２１７は、ゼロから最終値２１７ａまで非線形に上昇する。制御装置１００（図示せず）は、一定の走査速度２１９が得られるように、サンプル容積の速度２１７に応じて、光シートの速度２１８を調整する。

【0090】

図３において、サンプル容積の速度３１７は、一定の加速度３２０で上昇し、ここで、図２におけるのと同様に、光シートの速度３１８は、所定の値３１９ａに対応する一定の走査速度３１９が達成されるように相応に調整される。

【0091】

図４～図６には、さらに可能な移動パターンが示されている。

【0092】

図４～図６のすべてで、時間ｔに関する速度ｖが示されている。

【0093】

図４では、周期的な移動パターン４２０が、サンプル容積４１７の速度および光シートの速度４１８について示されている。走査速度４１９は一定であり（これは、サンプル容積４１７の速度に応じて光シートの速度４１８を調整する制御装置１００（図示せず）により実現される）、－１（任意の単位）である。

【0094】

このパターンを、マルチウェルプレート４２１が検査される場合に適用することができる。このようなマルチウェルプレート４２１は、ウェル４２２および中間領域４２３を備えている。

【0095】

一般的に、これらのマルチウェルプレート４２１は、光学系１１０の視野１１０ａよりも大きい場合がある。この場合、中間領域４２３は測定の対象ではない。前記中間領域４２３内では、サンプル容積、すなわちマルチウェルプレート４２１全体を、より速く移動させることができる。このグラフには、第１の走査範囲４２４および第２の走査範囲４２５が示されている。第１の走査範囲４２４では、視野１１０ａは中間領域４２３上を（すなわちより速く）移動する。ここで、第２の走査範囲４２５では、視野はウェル４２２内に位置する。第２の走査範囲４２５では、サンプル容積４１７の速度はより緩慢であり、これによりサンプルへの妨害を少なくすることができる。

【0096】

このグラフには、光シート１０７が移動する距離４２７に対応する影付き領域４２６も示されている。

【0097】

第１の走査範囲４２４と第２の走査範囲４２５との間で、光シートの速度４１８はその符号を変化させる。これらの交点４２８において、サンプル容積４１７の速度は、その絶対値としての走査速度４１９の所定の値４１９ａに対応する。すなわち、交点４２８では、光シート１０７は平行移動されず、（顕微鏡１０１を基準とみなせば）サンプル容積４１７の速度によって静的な光シート１０７が走査速度４１９でサンプル容積１０５を通過して走査が行われる。

【0098】

第１の走査範囲４２４では、光シート１０７は正の方向へ移動する。ここで、第２の走査範囲４２５では、光シート１０７は負の方向（光シートの負の速度４１８）へ移動する。したがって、第２の走査範囲４２５における光シート１０７の移動は、第１の走査範囲４２４における光シート１０７の移動を補償する。

【0099】

全体として、光シート１０７は、中央または中心にある初期位置（図示せず）の周りおよび調整範囲で振動する。

【0100】

調整範囲１２９は、図１に示されている。

【0101】

図５および図６には、非周期的な移動パターンが示されている。

【0102】

図５に、マルチウェルプレート５２１がウェル５２２を備え、ウェル５２２において、サンプル５２９がこのウェル５２２の中央に位置する場合が示されている。サンプル５２９は、高分解能の測定が望まれる関心領域５３０を規定している。したがって、図５の第１の走査範囲５２４は、中間領域５２３と、関心領域５３０の外側のウェル５２２の部分と、をカバーしており、関心のより低い前記領域上または非関心領域（中間領域５２３）上を迅速に移動する。

【0103】

第２の走査範囲５２５では、関心領域５３０における測定を改善するために、サンプル容積５１７の速度が低減される。光シートの速度５１８は、走査速度５１９を一定に維持するために適応化される。

【0104】

移動パターンの間、光シート１０７は、光シート１０７の初期位置５３２で再び戻り点５３１に到達する。

【0105】

このような戻り点５３１は、例えば１期間５３３後に再び到達される。このように、光シート１０７はその初期位置５３２の周りを移動するのみであり、その調整範囲１２９内に留まる。図５では期間５３３が２回ぶん示されており、ここで、各期間５３３において、光シート１０７は、その初期位置５３２で移動し始めてその初期位置５３２に戻り、最後に初期位置５３２に再び戻る。いずれの場合も、期間５３３後、光シートはその初期位置５３２に戻る。また、期間５３３内に１回、２回またはさらには複数回、初期位置に到達してもよい。

【0106】

図６には、図５に示されているものと類似した移動パターンが示されている。この移動パターンは、第３の走査範囲６３４が分割された第１の走査範囲６２４間に含まれる点で、図５に示されているものとは異なる。

【0107】

この第３の走査範囲６３４では、光シート１０７は、基準フレームとしての顕微鏡１０１と共に静止状態に留まる。ここで、当該第３の走査範囲６３４内のサンプル容積６１７の速度により、一定の走査速度６１９がもたらされる。第３の走査範囲６３４では、光シート１０７は初期位置６３２にある。これは、期間６３３後の戻り６３１のケースでもある。

【0108】

図示の例示的なグラフを、例えばマルチウェルプレート内の走査中に、前記プレートの終端に近づいた場合、任意に修正することができる。ここで、曲線により記載された遷移移動において、走査方向に対して垂直に平行移動した位置に光学アセンブリの視野を位置決めするために、例えばその慣性のためにサンプルがずれてしまわないよう、サンプル容積の速度を低下させることができる。

【0109】

同様に、マルチウェルプレートの中間領域にわたる光学アセンブリの視野の遷移中に、走査速度を上昇させることも可能でありうる。これは、関連する内容物が提供されていない中間領域には関連しないが、こうした速度の上昇は、マルチウェルプレートを効果的により速く走査するのに役立つ。

【符号の説明】

【0110】

１００ 制御装置
１００ａ 速度評価モジュール
１００ｂ 速度検出器
１００ｃ 計算モジュール
１００ｄ 記憶モジュール
１０１ 顕微鏡
１０７ａ 光シート発生器
１０１ｂ 光
１０７ｃ 光シートアクチュエータ
１０２ 斜面顕微鏡
１０３ ＳＣＡＰＥ顕微鏡
１０４ サンプル容積速度
１０４ａ サンプル容積速度の方向
１０４ｂ サンプル容積速度の絶対値
１０４ｆ 第２のサンプル容積速度
１０５ サンプル容積
１０６ 光シート速度
１０６ｆ 第２の光シート速度
１０６ａ 光シート速度の方向
１０６ｂ 光シート速度の絶対値
１０７ 光シート
１０８ 走査速度
１０８ａ 走査速度の方向
１０８ｂ 走査速度の絶対値
１０９ 重ね合わせ
１１０ 光学系
１１０ａ 視野
１１１ ベクトル単位
１１２ 検出ユニット
１１３ 光分布
１１４ 観察光
１１５ サンプルアクチュエータ
１１６ 位置
１２９ 調整範囲
２１７ サンプル容積の速度
２１７ａ 最終値
２１８ 光シートの速度
２１９ 走査速度
２１９ａ 所定の値
２２０ 加速度
４２０ 周期的な移動パターン
４２１ マルチウェルプレート
４２２ ウェル
４２３ 中間領域
４２４ 第１の走査範囲
４２５ 第２の走査範囲
４２６ 影付き領域
４２７ 距離
４２８ 交点
５２９ サンプル
５３０ 関心領域
５３１ 戻り点
５３２ 初期位置
５３３ 期間
６３４ 第３の走査範囲
ｖ 速度
ｔ 時間

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【国際調査報告】