(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2022-12-05
(54)【発明の名称】表示用基板及びその製造方法、表示パネル、表示装置
(51)【国際特許分類】
G09F 9/30 20060101AFI20221128BHJP
G09G 3/20 20060101ALI20221128BHJP
G09G 3/3233 20160101ALI20221128BHJP
H01L 51/50 20060101ALI20221128BHJP
H01L 27/32 20060101ALI20221128BHJP
H05B 33/26 20060101ALI20221128BHJP
H05B 33/12 20060101ALI20221128BHJP
H05B 33/22 20060101ALI20221128BHJP
H05B 45/60 20220101ALI20221128BHJP
【FI】
G09F9/30 339
G09F9/30 365
G09G3/20 611H
G09G3/3233
G09G3/20 624B
G09G3/20 621M
G09G3/20 680G
H05B33/14 A
H01L27/32
H05B33/26 Z
H05B33/12 B
H05B33/22 Z
H05B45/60
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2019569438
(86)(22)【出願日】2019-07-31
(85)【翻訳文提出日】2019-12-13
(86)【国際出願番号】 CN2019098707
(87)【国際公開番号】W WO2021016946
(87)【国際公開日】2021-02-04
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】510280589
【氏名又は名称】京東方科技集團股▲ふん▼有限公司
【氏名又は名称原語表記】BOE TECHNOLOGY GROUP CO.,LTD.
【住所又は居所原語表記】No.10 Jiuxianqiao Rd.,Chaoyang District,Beijing 100015,CHINA
(74)【代理人】
【識別番号】100108453
【氏名又は名称】村山 靖彦
(74)【代理人】
【識別番号】100110364
【氏名又は名称】実広 信哉
(72)【発明者】
【氏名】▲劉▼ 利▲賓▼
(72)【発明者】
【氏名】李 ▲梅▼
(72)【発明者】
【氏名】王 ▲紅▼▲麗▼
【テーマコード(参考)】
3K107
5C080
5C094
5C380
【Fターム(参考)】
3K107AA01
3K107BB01
3K107BB08
3K107CC33
3K107CC45
3K107DD14
3K107DD23
3K107EE03
3K107FF15
3K107HH05
5C080AA06
5C080BB05
5C080CC03
5C080DD05
5C080DD27
5C080JJ02
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5C080KK43
5C094AA05
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5C380BA38
5C380BA39
5C380BB05
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5C380CC27
5C380CC33
5C380CC39
5C380CC66
5C380CC77
5C380CD017
5C380CD027
5C380DA47
(57)【要約】
表示用基板及びその製造方法、表示パネル、表示装置を提供する。表示用基板はベース基板及び繰り返し単位を含み、繰り返し単位は第1サブ画素及び第2サブ画素を含む複数のサブ画素を含み、第1サブ画素の発光素子が発する光の色と第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なり、各サブ画素は発光素子、及び発光素子を発光駆動する画素回路を含み、ベース基板における第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板における第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板における第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
表示用基板であって、ベース基板と、前記ベース基板上に設置される複数の繰り返し単位とを含む表示用基板においては、
各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は、発光素子と、前記発光素子を発光駆動する画素回路とを含み、
前記画素回路は駆動回路を含み、
前記発光素子は、第1発光電圧印加電極と、第2発光電圧印加電極と、前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層と、を含み、
前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なり、
前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、
前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる表示用基板。
【請求項2】
前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積と前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積とは異なる請求項1に記載の表示用基板。
【請求項3】
前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影との重なり部分の面積は第1面積であり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影との重なり部分の面積は第2面積であり、
前記第1面積と前記第2面積との比は以下に示す関係式を満たす請求項1又は2に記載の表示用基板。
Amin≦AR1/AR2≦Amax
(式中、AR1は前記第1面積、AR2は前記第2面積を表し、Aminは最小比閾値を表し、90%であり、Amaxは最大比閾値を表し、110%である。)
【請求項4】
前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影は前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影内にあり、
前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影は前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影内にある請求項1から3のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項5】
前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の発光層の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の発光層の正投影とは連続している請求項1から4のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項6】
前記画素回路は第1発光制御回路及び第2発光制御回路をさらに含み、
前記駆動回路は制御端子、第1端子及び第2端子を含み、且つ前記発光素子を発光駆動する駆動電流を前記発光素子に供給するように構成され、
前記第1発光制御回路は前記駆動回路の第1端子及び第1電圧端子に接続され、且つ前記駆動回路と前記第1電圧端子とを導通又は遮断するように構成され、
前記第2発光制御回路は前記駆動回路の第2端子及び前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、前記駆動回路と前記発光素子とを導通又は遮断するように構成される請求項1から5のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項7】
前記第1サブ画素の画素回路は第1寄生回路をさらに含み、前記第2サブ画素の画素回路は第2寄生回路をさらに含み、
前記第1寄生回路は前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子及び前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、且つ前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の電圧に基づき前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の電圧を制御するように構成され、
前記第2寄生回路は前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子及び前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、且つ前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の電圧に基づき前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の電圧を制御するように構成される請求項6に記載の表示用基板。
【請求項8】
前記第1寄生回路は第1コンデンサを含み、前記第1コンデンサは第1電極及び第2電極を含み、
前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロックを含み、前記ベース基板における前記補助電極ブロックの正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、
前記補助電極ブロックは前記第1コンデンサの第1電極として兼用し、前記第1サブ画素の駆動回路の制御端子は前記第1コンデンサの第2電極として兼用する請求項7に記載の表示用基板。
【請求項9】
前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は、前記補助電極ブロックに電気的に接続される第1駆動電極ブロックをさらに含み、
前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の発光層の正投影及び前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第2発光電圧印加電極の正投影は少なくとも部分的に重なる請求項8に記載の表示用基板。
【請求項10】
前記第2寄生回路は第2コンデンサを含み、前記第2コンデンサは第1電極及び第2電極を含み、
前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロックを含み、前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、
前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影、前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の発光層の正投影及び前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第2発光電圧印加電極の正投影は少なくとも部分的に重なり、
前記第2駆動電極ブロックは前記第2コンデンサの第1電極として兼用し、前記第2サブ画素の駆動回路の制御端子は前記第2コンデンサの第2電極として兼用する請求項9に記載の表示用基板。
【請求項11】
前記第1駆動電極ブロックの形状と前記第2駆動電極ブロックの形状とは同じであり、前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影の面積と前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影の面積とは同じである請求項10に記載の表示用基板。
【請求項12】
前記各繰り返し単位において、前記第1サブ画素と前記第2サブ画素とは前記ベース基板の表面に平行する第1方向に配列され、
前記第1方向において、前記補助電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックの前記第2サブ画素の発光素子から遠い側に位置する請求項10又は11に記載の表示用基板。
【請求項13】
前記ベース基板における前記補助電極ブロックの正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の発光層の正投影とは重ならない請求項8から12のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項14】
前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第1接続電極ブロックをさらに含み、
前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックの前記第2サブ画素の発光素子から遠い側に位置し、前記第1接続電極ブロックは前記補助電極ブロックと前記第1駆動電極ブロックとの間に位置し、且つ前記補助電極ブロック及び前記第1駆動電極ブロックの両方に電気的に接続される請求項12に記載の表示用基板。
【請求項15】
中間層をさらに含み、
前記ベース基板の表面に垂直な方向において、前記画素回路は前記中間層と前記ベース基板との間に位置し、前記発光素子は前記中間層の前記ベース基板から遠い側に位置し、
前記中間層は第1ビアを含み、前記第1接続電極ブロックは前記第1ビアに延伸され、且つ前記第1ビアを介して前記第1サブ画素の画素回路に電気的に接続される請求項14に記載の表示用基板。
【請求項16】
前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は前記第2駆動電極ブロックに電気的に接続される第2接続電極ブロックをさらに含み、
前記第1方向において、前記第2接続電極ブロックは前記第2駆動電極ブロックの前記第1サブ画素の発光素子から遠い側に位置する請求項15に記載の表示用基板。
【請求項17】
前記中間層は第2ビアを含み、前記第2接続電極ブロックは前記第2ビアまで延伸され、且つ前記第2ビアを介して前記第2サブ画素の画素回路に電気的に接続される請求項16に記載の表示用基板。
【請求項18】
前記第1接続電極ブロックは前記第1ビアを介して前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続され、前記第2接続電極ブロックは前記第2ビアを介して前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続される請求項16又は17に記載の表示用基板。
【請求項19】
前記画素回路はアクティブ半導体層、ゲート金属層及びソースドレイン金属層を含み、前記ベース基板に垂直な方向において、前記アクティブ半導体層が前記ベース基板と前記ゲート金属層との間に位置し、前記ゲート金属層が前記アクティブ半導体層と前記ソースドレイン金属層との間に位置し、
前記第1接続電極ブロックは前記第1ビアを介して前記画素回路のソースドレイン金属層に延伸され、
前記第2接続電極ブロックは前記第2ビアを介して前記画素回路のソースドレイン金属層まで延伸する請求項16から18のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項20】
前記複数のサブ画素は第3サブ画素及び第4サブ画素をさらに含み、
前記各繰り返し単位において、前記第3サブ画素と前記第4サブ画素とは第2方向に配列され、且つ前記第2方向において、前記第1サブ画素と前記第2サブ画素とは前記第3サブ画素と前記第4サブ画素との間に位置し、
前記第2方向は前記ベース基板の表面に平行し、且つ前記第1方向と前記第2方向は互いに垂直である請求項16から19のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項21】
前記第3サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は、互いに電気的に接続される第3駆動電極ブロック及び第3接続電極ブロックを含み、前記第4サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は、互いに電気的に接続される第4駆動電極ブロック及び第4接続電極ブロックを含み、
前記中間層は第3ビア及び第4ビアを含み、前記第3接続電極ブロックは前記第3ビアに延伸され、且つ前記第3ビアを介して前記第3サブ画素の画素回路に電気的に接続され、前記第4接続電極ブロックは前記第4ビアに延伸され、且つ前記第4ビアを介して前記第4サブ画素の画素回路に電気的に接続される請求項20に記載の表示用基板。
【請求項22】
前記各繰り返し単位において、
前記第1方向において、前記第3接続電極は前記第3駆動電極ブロックの前記補助電極ブロックから遠い側に位置し、前記第2方向において、前記第3接続電極は前記第3駆動電極ブロックの前記第4駆動電極ブロックに近い側に位置し、
前記第1方向において、前記第4接続電極は前記第4駆動電極ブロックの前記補助電極ブロックから遠い側に位置し、前記第2方向において、前記第4接続電極は前記第4駆動電極ブロックの前記第3駆動電極ブロックに近い側に位置する請求項21に記載の表示用基板。
【請求項23】
前記第3接続電極ブロックは前記第3ビアを介して前記第3サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続され、
前記第4接続電極ブロックは前記第4ビアを介して前記第4サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続される請求項21又は22に記載の表示用基板。
【請求項24】
前記複数の繰り返し単位は複数の繰り返し単位群を形成するように第2方向に配列され、前記複数の繰り返し単位群は前記第1方向に配列され、
前記第1方向において、前記第1接続電極ブロック、前記第2接続電極ブロック、前記第3接続電極ブロック及び前記第4接続電極ブロックは隣接する2つの繰り返し単位群の間に位置し、
前記第1方向において、前記補助電極ブロックの少なくとも一部は前記補助電極ブロックの前記第1駆動電極ブロックから遠い側であって前記補助電極ブロックが位置する繰り返し単位群と隣接する繰り返し単位群のうち隣接する2つの繰り返し単位の間に位置する請求項21から23のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項25】
前記第1サブ画素及び前記第2サブ画素の両方は緑色サブ画素、前記第3サブ画素は赤色サブ画素、前記第4サブ画素は青色サブ画素である請求項20から24のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項26】
前記画素回路はデータ書込み回路、記憶回路、閾値補償回路及びリセット回路をさらに含み、
前記データ書込み回路は前記駆動回路の第1端子に電気的に接続され、且つ走査信号の制御下でデータ信号を前記記憶回路に書き込むように構成され、
前記記憶回路は前記駆動回路の制御端子及び前記第1電圧端子に電気的に接続され、且つ前記データ信号を記憶するように構成され、
前記閾値補償回路は前記駆動回路の制御端子及び第2端子に電気的に接続され、且つ前記駆動回路に対し閾値補償を行うように構成され、
前記リセット回路は前記駆動回路の制御端子及び前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、且つリセット制御信号の制御下で前記駆動回路の制御端子と前記発光素子の第1発光電圧印加電極をリセットするように構成される請求項6から25のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項27】
前記駆動回路は駆動トランジスタを含み、前記駆動回路の制御端子は前記駆動トランジスタのゲートを含み、前記駆動回路の第1端子は前記駆動トランジスタの第1電極を含み、前記駆動回路の第2端子は前記駆動トランジスタの第2電極を含み、
前記データ書込み回路はデータ書込みトランジスタを含み、前記記憶回路は第3コンデンサを含み、前記閾値補償回路は閾値補償トランジスタを含み、前記リセット回路は第1リセットトランジスタ及び第2リセットトランジスタを含み、前記第1発光制御回路は第1発光制御トランジスタを含み、前記第2発光制御回路は第2発光制御トランジスタを含み、前記リセット制御信号は第1サブリセット制御信号及び第2サブリセット制御信号を含み、
前記データ書込みトランジスタは、第1電極が前記駆動トランジスタの第1電極に電気的に接続され、第2電極が前記データ信号を受信するように構成され、ゲートが前記走査信号を受信するように構成され、
前記第3コンデンサは、第1電極が前記第1電源端子に電気的に接続され、第2電極が前記駆動トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記閾値補償トランジスタは、第1電極が前記駆動トランジスタの第2電極に電気的に接続され、第2電極が前記駆動トランジスタのゲートに電気的に接続され、ゲートが補償制御信号を受信するように構成され、
前記第1リセットトランジスタは、第1電極が第1リセット信号を受信し、第2電極が前記駆動トランジスタのゲートに電気的に接続され、ゲートが前記第1サブリセット制御信号を受信するように構成され、
前記第2リセットトランジスタは、第1電極が第2リセット信号を受信し、第2電極が前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、ゲートが前記第2サブリセット制御信号を受信するように構成され、
前記第1発光制御トランジスタは、第1電極が前記第1電源端子に電気的に接続され、第2電極が前記駆動トランジスタの第1電極に電気的に接続され、ゲートが第1発光制御信号を受信するように構成され、
前記第2発光制御トランジスタは、第1電極が前記駆動トランジスタの第2電極に電気的に接続され、第2電極が前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、ゲートが第2発光制御信号を受信するように構成される請求項26に記載の表示用基板。
【請求項28】
請求項1から27のいずれか一項に記載の表示用基板を含む表示パネル。
【請求項29】
請求項28に記載の表示パネルを含む表示装置。
【請求項30】
駆動チップをさらに含み、
前記駆動チップは前記表示パネルに電気的に接続され、且つ各前記繰り返し単位のうち第1サブ画素の第2サブ画素から遠い側に位置する請求項29に記載の表示装置。
【請求項31】
各前記繰り返し単位において、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積は前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積よりも大きい請求項29に記載の表示装置。
【請求項32】
請求項1から27のいずれか一項に記載の表示用基板を製造するための製造方法であって、
前記ベース基板を提供するステップと、
前記ベース基板上に前記複数の繰り返し単位を形成するステップと、を含み、
各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は画素回路及び発光素子を含み、前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なり、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる製造方法。
【請求項33】
表示用基板であって、ベース基板と前記ベース基板上に設置される複数の繰り返し単位とを含む表示用基板においては、
各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は発光素子と、前記発光素子を発光駆動する画素回路とを含み、前記画素回路は駆動回路を含み、前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、
前記複数のサブ画素の駆動回路は前記ベース基板上にアレイ状に配列され、
前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、
前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロック、第1駆動電極ブロック及び第1接続電極ブロックを含み、前記第1駆動電極ブロック、前記補助電極ブロック及び前記第1接続電極ブロックは互いに電気的に接続され、
前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロック及び第2接続電極ブロックを含み、前記第2駆動電極ブロックは前記第2接続電極ブロックに電気的に接続され、
前記補助電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の前記ベース基板から遠い側に位置し、
前記第2駆動電極ブロックは前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の前記ベース基板から遠い側に位置する表示用基板。
【請求項34】
前記第1駆動電極ブロックの形状と前記補助電極ブロックの形状とは異なり、前記第1駆動電極ブロックの形状と前記第2駆動電極ブロックの形状とは同じであり、前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影の面積と前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影の面積とは同じである請求項33に記載の表示用基板。
【請求項35】
前記第1接続電極ブロックの形状と前記第2接続電極ブロックの形状とは同じであり、前記ベース基板における前記第1接続電極ブロックの正投影の面積と前記ベース基板における前記第2接続電極ブロックの正投影の面積とは同じである請求項33又は34に記載の表示用基板。
【請求項36】
前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子と前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子は第1方向に配列され、
前記第1方向において、前記第1駆動電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の、前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子に近い側に位置する請求項33から35のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項37】
前記第1方向において、前記第1駆動電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子と前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する請求項36に記載の表示用基板。
【請求項38】
前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックの、前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子から遠い側に位置する請求項37に記載の表示用基板。
【請求項39】
前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子と前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する請求項38に記載の表示用基板。
【請求項40】
前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックと前記補助電極ブロックとの間に位置する請求項38又は39に記載の表示用基板。
【請求項41】
前記第1方向において、前記第2接続電極ブロックは前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の、前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子から遠い側に位置し、
前記第2駆動電極ブロックは前記第2接続電極ブロックと前記第1駆動電極ブロックとの間に位置する請求項36から40のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項42】
前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の中心と前記第1駆動電極ブロックの中心との距離は前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の中心と前記第2駆動電極ブロックの中心との距離よりも大きい請求項33から41のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項43】
表示用基板であって、ベース基板と、前記ベース基板上に設置される複数の繰り返し単位とを含み、
各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は発光素子と、前記発光素子を発光駆動する画素回路とを含み、
前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、
前記画素回路は駆動回路、第2発光制御回路及びリセット回路を含み、
前記第2発光制御回路は第2発光制御信号線、前記駆動回路の第2端子、前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、且つ前記第2発光制御信号線によって供給される第2発光制御信号の制御下で前記駆動回路と前記発光素子とを導通又は遮断するように構成され、
前記リセット回路は前記駆動回路の制御端子及び第1リセット制御信号線に電気的に接続され、前記第1リセット制御信号線によって供給される第1サブリセット制御信号の制御下で前記駆動回路の制御端子をリセットするように構成され、
前記第2発光制御信号線と前記第1リセット制御信号線とは第1方向に配列され、
前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、
前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影は、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線の正投影、及び、前記ベース基板における、前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影の両方とは少なくとも部分的に重なり、
前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影と少なくとも部分的に重なる表示用基板。
【請求項44】
前記画素回路はデータ書込み回路をさらに含み、
前記データ書込み回路は前記駆動回路の第1端子及び第1走査信号線に電気的に接続され、且つ前記第1走査信号線によって供給される走査信号の制御下でデータ信号を前記駆動回路の制御端子に書き込むように構成され、
前記第1方向において、前記第1走査信号線は前記第2発光制御信号線と前記第1リセット制御信号線との間に位置し、
前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極とは前記第1方向に配列され、
前記第1方向において、前記第2サブ画素の画素回路のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線は前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極との間に位置する請求項43に記載の表示用基板。
【請求項45】
前記リセット回路はさらに第1リセット電源信号線に電気的に接続され、
前記リセット回路は前記第1リセット制御信号線によって供給される第1サブリセット制御信号の制御下で、前記第1リセット電源信号線によって供給される第1リセット信号に基づき前記駆動回路の制御端子をリセットするように構成され、
前記第1方向において、前記第1リセット電源信号線は前記第1リセット制御信号線の前記第2発光制御信号線から遠い側に位置し、
前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影はさらに、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線の正投影と少なくとも部分的に重なる請求項43又は44に記載の表示用基板。
【請求項46】
前記第2発光制御信号線、前記第1リセット制御信号線、前記第1走査信号線及び前記第1リセット電源信号線はともに、前記第1方向に垂直な第2方向に延伸する請求項45に記載の表示用基板。
【請求項47】
前記第2発光制御信号線、前記第1リセット制御信号線、前記第1走査信号線及び前記第1リセット電源信号線は互いに平行する請求項45又は46に記載の表示用基板。
【請求項48】
前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロック、第1駆動電極ブロック及び第1接続電極ブロックを含み、前記第1駆動電極ブロック、前記補助電極ブロック及び前記第1接続電極ブロックは互いに電気的に接続され、且つ前記第1方向に配列され、
前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロック及び第2接続電極ブロックを含み、前記第2駆動電極ブロックは前記第2接続電極ブロックに電気的に接続され、且つ前記第1方向に配列され、
前記第1方向において、前記第1接続電極ブロック及び前記補助電極ブロックの両方は前記第1駆動電極ブロックの前記第2駆動電極ブロックから遠い側に位置し、前記第1接続電極ブロックは前記補助電極ブロックと前記第1駆動電極ブロックとの間に位置し、前記第2接続電極ブロックは前記第2駆動電極ブロックの前記第1駆動電極ブロックから遠い側に位置し、
前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影は、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線の正投影、及び、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線の正投影の両方とは少なくとも部分的に重なり、
前記ベース基板における前記第1接続電極ブロックの正投影は前記ベース基板における、前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影と少なくとも部分的に重なり、
前記第1方向において、前記補助電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極から遠い側に位置し、
前記ベース基板における前記第2接続電極ブロックの正投影は前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影と少なくとも部分的に重なり、
前記第1方向において、前記第2駆動電極ブロックは前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線と前記第2サブ画素の画素回路のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線との間に位置する請求項45から47のいずれか一項に記載の表示用基板。
【請求項49】
前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なる請求項43から48のいずれか一項に記載の表示用基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示の実施例は表示用基板及びその製造方法、表示パネル、表示装置に関する。
【背景技術】
【0002】
表示分野におけるアクティブマトリックス有機発光ダイオード(Active-matrix organic light-emitting diode、AMOLED)の急速な発展に伴って、表示効果に対する要求が日々高まっている。表示品質が高い等の利点を有するため、高解像度表示装置の応用範囲が拡大しつつある。通常、画素の寸法及び画素間の間隔を減少させることで、表示装置の解像度を向上させる。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【0003】
本開示の少なくともいくつかの実施例は表示用基板を提供し、該表示用基板は、ベース基板と、前記ベース基板上に設置される複数の繰り返し単位とを含み、各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は発光素子と、前記発光素子を発光駆動する画素回路とを含み、前記画素回路は駆動回路を含み、前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なり、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0004】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積と前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積とは異なる。
【0005】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影との重なり部分の面積は第1面積であり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影との重なり部分の面積は第2面積であり、前記第1面積と前記第2面積との比は以下に示す関係式を満たす。
【0006】
Amin≦AR1/AR2≦Amax
式中、AR1は前記第1面積、AR2は前記第2面積を表し、Aminは最小比閾値を表し、90%であり、Amaxは最大比閾値を表し、110%である。
【0007】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影は前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影内にあり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影は前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影内にある。
【0008】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の発光層の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の発光層の正投影とは連続している。
【0009】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記画素回路は第1発光制御回路及び第2発光制御回路をさらに含み、前記駆動回路は制御端子、第1端子及び第2端子を含み、前記発光素子を発光駆動する駆動電流を前記発光素子に供給するように構成され、前記第1発光制御回路は前記駆動回路の第1端子及び第1電圧端子に接続され、且つ前記駆動回路と前記第1電圧端子とを導通又は遮断するように構成され、前記第2発光制御回路は前記駆動回路の第2端子及び前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、前記駆動回路と前記発光素子とを導通又は遮断するように構成される。
【0010】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の画素回路は第1寄生回路をさらに含み、前記第2サブ画素の画素回路は第2寄生回路をさらに含み、前記第1寄生回路は前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子及び前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の電圧に基づき前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の電圧を制御するように構成され、前記第2寄生回路は前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子及び前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の電圧に基づき前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の電圧を制御するように構成される。
【0011】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1寄生回路は第1コンデンサを含み、前記第1コンデンサは第1電極及び第2電極を含み、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロックを含み、前記ベース基板における前記補助電極ブロックの正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、前記補助電極ブロックは前記第1コンデンサの第1電極として機能し、前記第1サブ画素の駆動回路の制御端子は前記第1コンデンサの第2電極として兼用する。
【0012】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は、前記補助電極ブロックに電気的に接続される第1駆動電極ブロックをさらに含み、前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の発光層の正投影及び前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第2発光電圧印加電極の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0013】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第2寄生回路は第2コンデンサを含み、前記第2コンデンサは第1電極及び第2電極を含み、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロックを含み、前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影、前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の発光層の正投影及び前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第2発光電圧印加電極の正投影は少なくとも部分的に重なり、前記第2駆動電極ブロックは前記第2コンデンサの第1電極として機能し、前記第2サブ画素の駆動回路の制御端子は前記第2コンデンサの第2電極として兼用する。
【0014】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1駆動電極ブロックの形状と前記第2駆動電極ブロックの形状とは同じであり、前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影の面積と前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影の面積とは同じである。
【0015】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記各繰り返し単位において、前記第1サブ画素と前記第2サブ画素とは前記ベース基板の表面に平行する第1方向に配列され、前記第1方向において、前記補助電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックの前記第2サブ画素の発光素子から遠い側に位置する。
【0016】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記ベース基板における前記補助電極ブロックの正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の発光層の正投影とは重ならない。
【0017】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第1接続電極ブロックをさらに含み、前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックの前記第2サブ画素の発光素子から遠い側に位置し、前記第1接続電極ブロックは前記補助電極ブロックと前記第1駆動電極ブロックとの間に位置し、且つ前記補助電極ブロック及び前記第1駆動電極ブロックの両方に電気的に接続される。
【0018】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板は中間層をさらに含み、前記ベース基板の表面に垂直な方向において、前記画素回路は前記中間層と前記ベース基板との間に位置し、前記発光素子は前記中間層の前記ベース基板から遠い側に位置し、前記中間層は第1ビアを含み、前記第1接続電極ブロックは前記第1ビアに延伸され、且つ前記第1ビアを介して前記第1サブ画素の画素回路に電気的に接続される。
【0019】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は前記第2駆動電極ブロックに電気的に接続される第2接続電極ブロックをさらに含み、前記第1方向において、前記第2接続電極ブロックは前記第2駆動電極ブロックの前記第1サブ画素の発光素子から遠い側に位置する。
【0020】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記中間層は第2ビアを含み、前記第2接続電極ブロックは前記第2ビアに延伸され、且つ前記第2ビアを介して前記第2サブ画素の画素回路に電気的に接続される。
【0021】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1接続電極ブロックは前記第1ビアを介して前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続され、前記第2接続電極ブロックは前記第2ビアを介して前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続される。
【0022】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記画素回路はアクティブ半導体層、ゲート金属層及びソースドレイン金属層を含み、前記ベース基板に垂直な方向において、前記アクティブ半導体層が前記ベース基板と前記ゲート金属層との間に位置し、前記ゲート金属層が前記アクティブ半導体層と前記ソースドレイン金属層との間に位置し、前記第1接続電極ブロックは前記第1ビアを介して前記画素回路のソースドレイン金属層に延伸され、前記第2接続電極ブロックは前記第2ビアを介して前記画素回路のソースドレイン金属層まで延伸する。
【0023】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記複数のサブ画素は第3サブ画素及び第4サブ画素をさらに含み、前記各繰り返し単位において、前記第3サブ画素と前記第4サブ画素とは第2方向に配列され、且つ前記第2方向において、前記第1サブ画素と前記第2サブ画素とは前記第3サブ画素と前記第4サブ画素との間に位置し、前記第2方向は前記ベース基板の表面に平行し、且つ前記第1方向と前記第2方向は互いに垂直である。
【0024】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第3サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は互いに電気的に接続される第3駆動電極ブロック及び第3接続電極ブロックを含み、前記第4サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は互いに電気的に接続される第4駆動電極ブロック及び第4接続電極ブロックを含み、前記中間層は第3ビア及び第4ビアを含み、前記第3接続電極ブロックは前記第3ビアに延伸され、且つ前記第3ビアを介して前記第3サブ画素の画素回路に電気的に接続され、前記第4接続電極ブロックは前記第4ビアに延伸され、且つ前記第4ビアを介して前記第4サブ画素の画素回路に電気的に接続される。
【0025】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記各繰り返し単位において、前記第1方向において、前記第3接続電極は前記第3駆動電極ブロックの前記補助電極ブロックから遠い側に位置し、前記第2方向において、前記第3接続電極は前記第3駆動電極ブロックの前記第4駆動電極ブロックに近い側に位置し、前記第1方向において、前記第4接続電極は前記第4駆動電極ブロックの前記補助電極ブロックから遠い側に位置し、前記第2方向において、前記第4接続電極は前記第4駆動電極ブロックの前記第3駆動電極ブロックに近い側に位置する。
【0026】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第3接続電極ブロックは前記第3ビアを介して前記第3サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続され、前記第4接続電極ブロックは前記第4ビアを介して前記第4サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に電気的に接続される。
【0027】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記複数の繰り返し単位は第2方向に配列されて複数の繰り返し単位群を形成し、前記複数の繰り返し単位群は前記第1方向に配列され、前記第1方向において、前記第1接続電極ブロック、前記第2接続電極ブロック、前記第3接続電極ブロック及び前記第4接続電極ブロックは隣接する2つの繰り返し単位群の間に位置し、前記第1方向において、前記補助電極ブロックの少なくとも一部は前記補助電極ブロックの前記第1駆動電極ブロックから遠い側であって前記補助電極ブロックが位置する繰り返し単位群と隣接する繰り返し単位群のうち隣接する2つの繰り返し単位の間に位置する。
【0028】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素及び前記第2サブ画素の両方は緑色サブ画素、前記第3サブ画素は赤色サブ画素、前記第4サブ画素は青色サブ画素である。
【0029】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記画素回路はデータ書込み回路、記憶回路、閾値補償回路及びリセット回路をさらに含み、前記データ書込み回路は前記駆動回路の第1端子に電気的に接続され、走査信号の制御下でデータ信号を前記記憶回路に書き込むように構成され、前記記憶回路は前記駆動回路の制御端子及び前記第1電圧端子に電気的に接続され、前記データ信号を記憶するように構成され、前記閾値補償回路は前記駆動回路の制御端子及び第2端子に電気的に接続され、前記駆動回路に対し閾値補償を行うように構成され、前記リセット回路は前記駆動回路の制御端子及び前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、リセット制御信号の制御下で前記駆動回路の制御端子と前記発光素子の第1発光電圧印加電極をリセットするように構成される。
【0030】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記駆動回路は駆動トランジスタを含み、前記駆動回路の制御端子は前記駆動トランジスタのゲートを含み、前記駆動回路の第1端子は前記駆動トランジスタの第1電極を含み、前記駆動回路の第2端子は前記駆動トランジスタの第2電極を含み、前記データ書込み回路はデータ書込みトランジスタを含み、前記記憶回路は第3コンデンサを含み、前記閾値補償回路は閾値補償トランジスタを含み、前記リセット回路は第1リセットトランジスタ及び第2リセットトランジスタを含み、前記第1発光制御回路は第1発光制御トランジスタを含み、前記第2発光制御回路は第2発光制御トランジスタを含み、前記リセット制御信号は第1サブリセット制御信号及び第2サブリセット制御信号を含み、前記データ書込みトランジスタは、第1電極が前記駆動トランジスタの第1電極に電気的に接続され、第2電極が前記データ信号を受信し、ゲートが前記走査信号を受信し、前記第3コンデンサは、第1電極が前記第1電源端子に電気的に接続され、第2電極が前記駆動トランジスタのゲートに電気的に接続され、前記閾値補償トランジスタは、第1電極が前記駆動トランジスタの第2電極に電気的に接続され、第2電極が前記駆動トランジスタのゲートに電気的に接続され、ゲートが補償制御信号を受信し、前記第1リセットトランジスタは、第1電極が第1リセット信号を受信し、第2電極が前記駆動トランジスタのゲートに電気的に接続され、ゲートが前記第1サブリセット制御信号を受信し、前記第2リセットトランジスタは、第1電極が第2リセット信号を受信し、第2電極が前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、ゲートが前記第2サブリセット制御信号を受信し、前記第1発光制御トランジスタは、第1電極が前記第1電源端子に電気的に接続され、第2電極が前記駆動トランジスタの第1電極に電気的に接続され、ゲートが第1発光制御信号を受信し、前記第2発光制御トランジスタは、第1電極が前記駆動トランジスタの第2電極に電気的に接続され、第2電極が前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、ゲートが第2発光制御信号を受信する。
【0031】
本開示のいくつかの実施例は表示パネルをさらに提供し、該表示パネルは、上記いずれか一項に記載の表示用基板を含む。
【0032】
本開示のいくつかの実施例は表示装置をさらに提供し、該表示装置は、上記いずれか一項に記載の表示パネルを含む。
【0033】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示装置は駆動チップをさらに含み、前記駆動チップは前記表示パネルに電気的に接続され、各前記繰り返し単位のうち第1サブ画素の第2サブ画素から遠い側に位置する。
【0034】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示装置では、各前記繰り返し単位において、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積は前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影の面積よりも大きい。
【0035】
本開示のいくつかの実施例は上記いずれか一項に記載の表示用基板を製造するための製造方法を提供し、該製造方法は、前記ベース基板を提供するステップと、前記ベース基板上に前記複数の繰り返し単位を形成するステップと、を含み、各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は画素回路及び発光素子を含み、前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なり、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0036】
本開示のいくつかの実施例は表示用基板をさらに提供し、該表示用基板は、ベース基板と、前記ベース基板上に設置される複数の繰り返し単位とを含み、各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は発光素子と、前記発光素子を発光駆動する画素回路とを含み、前記画素回路は駆動回路を含み、前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、前記複数のサブ画素の駆動回路は前記ベース基板上にアレイ状に配列され、前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロック、第1駆動電極ブロック及び第1接続電極ブロックを含み、前記第1駆動電極ブロック、前記補助電極ブロック及び前記第1接続電極ブロックは互いに電気的に接続され、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロック及び第2接続電極ブロックを含み、前記第2駆動電極ブロックは前記第2接続電極ブロックに電気的に接続され、前記補助電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の前記ベース基板から遠い側に位置し、前記第2駆動電極ブロックは前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の前記ベース基板から遠い側に位置する。
【0037】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1駆動電極ブロックの形状と前記補助電極ブロックの形状とは異なり、前記第1駆動電極ブロックの形状と前記第2駆動電極ブロックの形状とは同じであり、前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影の面積と前記ベース基板における前記第2駆動電極ブロックの正投影の面積とは同じである。
【0038】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1接続電極ブロックの形状と前記第2接続電極ブロックの形状とは同じであり、前記ベース基板における前記第1接続電極ブロックの正投影の面積と前記ベース基板における前記第2接続電極ブロックの正投影の面積とは同じである。
【0039】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子と前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子は第1方向に配列され、前記第1方向において、前記第1駆動電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の、前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子に近い側に位置する。
【0040】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1方向において、前記第1駆動電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子と前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する。
【0041】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックの、前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子から遠い側に位置する。
【0042】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子と前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する。
【0043】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1方向において、前記第1接続電極ブロックは前記第1駆動電極ブロックと前記補助電極ブロックとの間に位置する。
【0044】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1方向において、前記第2接続電極ブロックは前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の、前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子から遠い側に位置し、前記第2駆動電極ブロックは前記第2接続電極ブロックと前記第1駆動電極ブロックとの間に位置する。
【0045】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の中心と前記第1駆動電極ブロックの中心との距離は前記第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の中心と前記第2駆動電極ブロックの中心との距離よりも大きい。
【0046】
本開示のいくつかの実施例は表示用基板をさらに提供し、該表示用基板は、ベース基板と、前記ベース基板上に設置される複数の繰り返し単位とを含み、各前記繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各前記サブ画素は発光素子と、前記発光素子を発光駆動する画素回路とを含み、前記発光素子は、第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び前記第1発光電圧印加電極と前記第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、前記画素回路は駆動回路、第2発光制御回路及びリセット回路を含み、前記第2発光制御回路は第2発光制御信号線、前記駆動回路の第2端子、前記発光素子の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、前記第2発光制御信号線によって供給される第2発光制御信号の制御下で前記駆動回路と前記発光素子とを導通又は遮断するように構成され、前記リセット回路は前記駆動回路の制御端子及び第1リセット制御信号線に電気的に接続され、前記第1リセット制御信号線によって供給される第1サブリセット制御信号の制御下で前記駆動回路の制御端子をリセットするように構成され、前記第2発光制御信号線と前記第1リセット制御信号線とは第1方向に配列され、前記複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影は、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線の正投影、及び、前記ベース基板における、前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影の両方と少なくとも部分的に重なり、前記ベース基板における前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影と前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0047】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記画素回路はデータ書込み回路をさらに含み、前記データ書込み回路は前記駆動回路の第1端子及び第1走査信号線に電気的に接続され、前記第1走査信号線によって供給される走査信号の制御下でデータ信号を前記駆動回路の制御端子に書き込むように構成され、前記第1方向において、前記第1走査信号線は前記第2発光制御信号線と前記第1リセット制御信号線との間に位置し、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極とは前記第1方向に配列され、前記第1方向において、前記第2サブ画素の画素回路のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線は前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極との間に位置する。
【0048】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記リセット回路はさらに第1リセット電源信号線に電気的に接続され、前記リセット回路は前記第1リセット制御信号線によって供給される第1サブリセット制御信号の制御下で、前記第1リセット電源信号線によって供給される第1リセット信号に基づき前記駆動回路の制御端子をリセットするように構成され、前記第1方向において、前記第1リセット電源信号線は前記第1リセット制御信号線の前記第2発光制御信号線から遠い側に位置し、前記ベース基板における前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影はさらに、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線の正投影と少なくとも部分的に重なる。
【0049】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第2発光制御信号線、前記第1リセット制御信号線、前記第1走査信号線及び前記第1リセット電源信号線はともに、前記第1方向に垂直な第2方向に延伸する。
【0050】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第2発光制御信号線、前記第1リセット制御信号線、前記第1走査信号線及び前記第1リセット電源信号線は互いに平行する。
【0051】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロック、第1駆動電極ブロック及び第1接続電極ブロックを含み、前記第1駆動電極ブロック、前記補助電極ブロック及び前記第1接続電極ブロックは互いに電気的に接続され、且つ前記第1方向に配列され、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロック及び第2接続電極ブロックを含み、前記第2駆動電極ブロックは前記第2接続電極ブロックに電気的に接続され、且つ前記第1方向に配列され、前記第1方向において、前記第1接続電極ブロック及び前記補助電極ブロックの両方は前記第1駆動電極ブロックの前記第2駆動電極ブロックから遠い側に位置し、前記第1接続電極ブロックは前記補助電極ブロックと前記第1駆動電極ブロックとの間に位置し、前記第2接続電極ブロックは前記第2駆動電極ブロックの前記第1駆動電極ブロックから遠い側に位置し、前記ベース基板における前記第1駆動電極ブロックの正投影は、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線の正投影、及び、前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線の正投影の両方とは少なくとも部分的に重なり、前記ベース基板における前記第1接続電極ブロックの正投影は前記ベース基板における、前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影と少なくとも部分的に重なり、前記第1方向において、前記補助電極ブロックは前記第1サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の、前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極から遠い側に位置し、前記ベース基板における前記第2接続電極ブロックの正投影は前記ベース基板における、前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線の正投影と少なくとも部分的に重なり、前記第1方向において、前記第2駆動電極ブロックは前記第2サブ画素の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線と前記第2サブ画素の画素回路のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線との間に位置する。
【0052】
例えば、本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板では、前記第1サブ画素の発光素子が発する光の色と前記第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、前記第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と前記第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なる。
【図面の簡単な説明】
【0053】
本開示の実施例の技術案をより明確に説明するために、以下、実施例の図面を簡単に説明し、明らかなように、以下説明される図面は単に本開示のいくつかの実施例に関し、本開示を限定するものではない。
【0054】
【
図1】
図1は画素配列構造における画素繰り返し単位の模式的な構成図である。
【
図2】
図2は本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板の概略ブロック図である。
【
図3A】
図3Aは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の模式的な構成図である。
【
図3B】
図3Bは本開示のいくつかの実施例に係る第1サブ画素の画素回路の模式的な構成図である。
【
図3C】
図3Cは本開示のいくつかの実施例に係る第2サブ画素の画素回路の模式的な構成図である。
【
図4A】
図4A-4Eは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の各層の模式図である。
【
図4B】
図4A-4Eは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の各層の模式図である。
【
図4C】
図4A-4Eは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の各層の模式図である。
【
図4D】
図4A-4Eは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の各層の模式図である。
【
図4E】
図4A-4Eは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の各層の模式図である。
【
図5A】
図5Aは本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板の平面模式図である。
【
図5B】
図5Bは本開示のいくつかの実施例に係る繰り返し単位の平面模式図である。
【
図6A】
図6Aは本開示のいくつかの実施例に係る別の繰り返し単位の平面模式図である。
【
図6B】
図6Bは本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板のレイアウト図である。
【
図6E】
図6Eは本開示のいくつかの実施例に係るさらに別の表示用基板の平面模式図である。
【
図7】
図7は本開示のいくつかの実施例に係る表示パネルの部分模式的な構成図である。
【
図8A】
図8Aは本開示のいくつかの実施例に係る表示装置の概略ブロック図である。
【
図8B】
図8Bは本開示のいくつかの実施例に係る表示装置の模式的な構成図である。
【
図9】
図9は本開示の一実施例に係る表示用基板の製造方法の概略フローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0055】
本発明の実施例の目的、技術案及び利点をより明確にするために、以下、本発明の実施例の図面を参照しながら本発明の実施例の技術案を明瞭かつ完全に説明する。勿論、説明する実施例は本発明の一部の実施例に過ぎず、すべての実施例ではない。当業者は、説明された本発明の実施例に基づいて、創造的な努力をせずに想到しうる他の実施例のすべては本発明の保護範囲に属する。
【0056】
特に排除しない限り、本開示に使用されている技術用語又は科学用語は、当業者が理解しうる一般的な意味である。本開示に使用されている「第1」、「第2」及び類似した用語は、いかなる順番、数量又は重要性を示すものでもなく、異なる構成部分を区別するために過ぎない。「含む」又は「備える」などの類似した用語は、該用語の前に記載の素子又は物品が該単語の後に挙げられている素子又は物品及びその同等物を含み、他の素子又は物品を排除しないことを意味する。「接続」又は「接続されている」などの類似した用語は、物理的又は機械的接続に限定されず、直接か間接かを問わず、電気的接続を含む。「上」、「下」、「左」、「右」などは、相対位置関係を示すものに過ぎず、説明対象の絶対位置が変わると、該相対位置関係もそれに対応して変化する。
【0057】
以下、本開示の実施例についての説明を明確かつ簡潔にするために、本開示では公知の機能及び公知の部材の一部についての詳細説明を省略する。
【0058】
図1は画素配列構造における画素繰り返し単位の模式的な構成図であり、
図1に示すように、画素配列構造は複数の画素繰り返し単位400を含み、複数の画素繰り返し単位400は方向405及び方向406にアレイ状に配列される。各画素繰り返し単位400は赤色サブ画素401、青色サブ画素402、第1緑色サブ画素403及び第2緑色サブ画素404を含む。
図1に示すように、赤色サブ画素401と青色サブ画素402は405方向に配列され、第1緑色サブ画素403と第2緑色サブ画素404は方向406に配列され、方向405において、第1緑色サブ画素403と第2緑色サブ画素404は赤色サブ画素401と青色サブ画素402との間に位置する。
【0059】
図1に示される画素配列構造における各サブ画素に点灯検出を行う過程では、第1緑色サブ画素403と第2緑色サブ画素404の輝度が一致しないため、明点見逃しの問題を引き起こし、すなわち、緑色サブ画素の一部が検出できない。実験結果から明らかなように、第1緑色サブ画素403の輝度が第2緑色サブ画素404の輝度よりも高く、それにより第1緑色サブ画素403が明るく、第2緑色サブ画素404が暗くなる。
【0060】
各サブ画素において、発光素子の陽極と駆動トランジスタのゲートとの間に寄生コンデンサがあり、該寄生コンデンサが発光素子の発光輝度に影響を与え、且つ寄生コンデンサが大きいほど、発光輝度が低く、寄生コンデンサが小さいほど、発光輝度が高い。画素配列構造を分析したところ、該画素配列構造において、第1緑色サブ画素403を駆動するための画素回路における駆動トランジスタのゲートが第1緑色サブ画素403の発光素子における陽極によって遮蔽されていないが、第2緑色サブ画素404を駆動するための画素回路における駆動トランジスタのゲートが第2緑色サブ画素404の発光素子における陽極によって遮蔽されていることがわかった。それにより、第1緑色サブ画素403の駆動トランジスタのゲートと発光素子との間に寄生コンデンサがなく、或いは第1緑色サブ画素403の駆動トランジスタのゲートと発光素子との間の寄生コンデンサが第2緑色サブ画素404の駆動トランジスタのゲートと発光素子との間の寄生コンデンサ未満であり、すなわち、第1緑色サブ画素403の駆動トランジスタのゲートと発光素子との間の寄生コンデンサと、第2緑色サブ画素404の駆動トランジスタのゲートと発光素子との間の寄生コンデンサとの差が大きく、それにより各繰り返し単位における第1緑色サブ画素403と第2緑色サブ画素404との輝度ムラを引き起こし、表示効果に深刻な影響を与えてしまう。
【0061】
本開示の少なくともいくつかの実施例は表示用基板及びその製造方法、表示パネル、表示装置を提供し、該表示用基板において、第1サブ画素の発光素子が第1サブ画素の駆動トランジスタのゲートを被覆し、第2サブ画素の発光素子も第2サブ画素の駆動トランジスタのゲートを被覆し、それにより第1サブ画素の発光素子と駆動トランジスタのゲートとの間の寄生コンデンサ及び第2サブ画素の発光素子と駆動トランジスタのゲートとの間の寄生コンデンサの差を減少させ、それにより第1サブ画素と第2サブ画素の画素輝度を一致させ、それにより表示均一性及び表示効果を向上させ、表示パネルの画素の輝度ムラの問題を解決する。また、該表示用基板は構成が簡単で、設計製造が容易で、コストが低い。
【0062】
以下、図面を参照して本開示のいくつかの実施例を詳細に説明するが、本開示はこれらの具体的な実施例に限定されない。
【0063】
図2は本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板の概略ブロック図、
図3Aは本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板の平面模式図、
図3Aは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の模式的な構成図、
図3Bは本開示のいくつかの実施例に係る第1サブ画素の画素回路の模式的な構成図、
図3Cは本開示のいくつかの実施例に係る第2サブ画素の画素回路の模式的な構成図である。
【0064】
例えば、
図2に示すように、本開示の実施例に係る表示用基板100はベース基板10、及びベース基板10上に設置される複数の繰り返し単位11を含み、各繰り返し単位11は複数のサブ画素12を含む。各サブ画素12は発光素子120及び画素回路121を含み、画素回路121は発光素子120を発光駆動し、駆動回路122を含む。
【0065】
例えば、表示用基板100は、例えば、アクティブマトリックス有機発光ダイオード(AMOLED)表示パネル等の表示パネルに適用できる。表示用基板100はアレイ基板であり得る。
【0066】
例えば、ベース基板10はガラス基板、石英基板、プラスチック基板等の適切な基板である。
【0067】
例えば、各サブ画素12の発光素子120は第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び第1発光電圧印加電極と第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含む。
【0068】
例えば、複数のサブ画素12は第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2を含む。
【0069】
例えば、
図3Aに示すように、画素回路121は第1発光制御回路123及び第2発光制御回路124をさらに含む。駆動回路122は制御端子、第1端子及び第2端子を含み、発光素子120に発光素子120を発光駆動する駆動電流を供給するように構成される。例えば、第1発光制御回路123は駆動回路122の第1端子及び第1電圧端子VDDに接続され、駆動回路122と第1電圧端子VDDとを導通又は遮断するように構成され、第2発光制御回路124は駆動回路122の第2端子及び発光素子120の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、駆動回路122と発光素子120とを導通又は遮断するように構成される。
【0070】
例えば、
図3B及び
図3Cに示すように、第1サブ画素G1の画素回路121aは第1寄生回路125aをさらに含み、第2サブ画素G2の画素回路121bは第2寄生回路125bをさらに含む。例えば、第1寄生回路125aは第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動回路122aの制御端子及び第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極の電圧に基づき第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動回路122aの制御端子の電圧を制御するように構成される。第2寄生回路125bは第2サブ画素G2の画素回路121bの駆動回路の制御端子及び第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極の電圧に基づき第2サブ画素G2の画素回路121bの駆動回路122bの制御端子の電圧を制御するように構成される。
【0071】
なお、画素回路121は寄生回路をさらに含んでもよいが、
図3Aに該寄生回路が示されておらず、例えば、
図3Aに第1サブ画素G1の画素回路における第1寄生回路及び第2サブ画素G2の画素回路における第2寄生回路が示されていない。
【0072】
例えば、
図3Aに示すように、画素回路121はデータ書込み回路126、記憶回路127、閾値補償回路128及びリセット回路129をさらに含む。データ書込み回路126は駆動回路122の第1端子に電気的に接続され、走査信号の制御下でデータ信号を記憶回路127に書き込むように構成され、記憶回路127は駆動回路122の制御端子及び第1電圧端子VDDに電気的に接続され、データ信号を記憶するように構成され、閾値補償回路128は駆動回路122の制御端子及び第2端子に電気的に接続され、駆動回路122に対し閾値補償を行うように構成され、リセット回路129は駆動回路122の制御端子及び発光素子120の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、リセット制御信号の制御下で駆動回路122の制御端子及び発光素子120の第1発光電圧印加電極をリセットするように構成される。
【0073】
例えば、
図3Aに示すように、駆動回路122は駆動トランジスタT1を含み、駆動回路122の制御端子は駆動トランジスタT1のゲートを含み、駆動回路122の第1端子は駆動トランジスタT1の第1電極を含み、駆動回路122の第2端子は駆動トランジスタT1の第2電極を含む。
【0074】
例えば、
図3Aに示すように、データ書込み回路126はデータ書込みトランジスタT2を含み、記憶回路127は第3コンデンサC2を含み、閾値補償回路128は閾値補償トランジスタT3を含み、第1発光制御回路123は第1発光制御トランジスタT4を含み、第2発光制御回路124は第2発光制御トランジスタT5を含み、リセット回路129は第1リセットトランジスタT6及び第2リセットトランジスタT7を含み、リセット制御信号は第1サブリセット制御信号及び第2サブリセット制御信号を含み得る。
【0075】
例えば、
図3Aに示すように、データ書込みトランジスタT2は、第1電極が駆動トランジスタT1の第1電極に電気的に接続され、第2電極がデータ線Vdに電気的に接続されてデータ信号を受信し、ゲートが第1走査信号線Ga1に電気的に接続されて走査信号を受信し、第3コンデンサC2は、第1電極が第1電源端子VDDに電気的に接続され、第2電極が駆動トランジスタT1のゲートに電気的に接続され、閾値補償トランジスタT3は、第1電極が駆動トランジスタT1の第2電極に電気的に接続され、第2電極が駆動トランジスタT1のゲートに電気的に接続され、ゲートが第2走査信号線Ga2に電気的に接続されて補償制御信号を受信し、第1リセットトランジスタT6は、第1電極が第1リセット電源端子Vinit1に電気的に接続されて第1リセット信号を受信し、第2電極が駆動トランジスタT1のゲートに電気的に接続され、ゲートが第1リセット制御信号線Rst1に電気的に接続されて第1サブリセット制御信号を受信し、第2リセットトランジスタT7は、第1電極が第2リセット電源端子Vinit2に電気的に接続されて第2リセット信号を受信し、第2電極が発光素子120の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、ゲートが第2リセット制御信号線Rst2に電気的に接続されて第2サブリセット制御信号を受信し、第1発光制御トランジスタT4は、第1電極が第1電源端子VDDに電気的に接続され、第2電極が駆動トランジスタT1の第1電極に電気的に接続され、ゲートが第1発光制御信号線EM1に電気的に接続されて第1発光制御信号を受信し、第2発光制御トランジスタT5は、第1電極が駆動トランジスタT1の第2電極に電気的に接続され、第2電極が発光素子120の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、ゲートが第2発光制御信号線EM2に電気的に接続されて第2発光制御信号を受信し、発光素子120の第2発光電圧印加電極が第2電源端子VSSに電気的に接続される。
【0076】
例えば、
図3Bに示すように、第1サブ画素G1において、第1寄生回路125aは第1コンデンサC11を含み、第1コンデンサC11は第1電極CC3a及び第2電極CC4aを含む。第1コンデンサC11の第1電極CC3aは第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、第1コンデンサC11の第2電極CC4aは第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートに電気的に接続される。
【0077】
例えば、
図3Cに示すように、第2サブ画素G2において、第2寄生回路125bは第2コンデンサC12を含み、第2コンデンサC12は第1電極及び第2電極を含む。第2コンデンサC12の第1電極は第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、第2コンデンサC12の第2電極は第2サブ画素G2の画素回路121bの駆動トランジスタT1のゲートに電気的に接続される。
【0078】
例えば、第1コンデンサC11の容量値と第2コンデンサC12の容量値が同じであり、それにより第1サブ画素G1と第2サブ画素G2の画素輝度を一致させ、表示均一性及び表示効果を向上させる。
【0079】
例えば、第1電源端子VDD及び第2電源端子VSSのうちの一方は高圧端子、他方は低圧端子である。例えば、
図3Aに示される実施例では、第1電源端子VDDは電圧源であり、一定の第1電圧を出力し、第1電圧が正電圧である一方、第2電源端子VSSは電圧源であり、一定の第2電圧を出力し、第2電圧が負電圧であるなどが挙げられる。例えば、いくつかの例では、第2電源端子VSSは接地してもよい。
【0080】
例えば、第1サブ画素G1において、
図3Bに示すように、第1サブ画素G1の画素回路121aはデータ書込み回路126a、記憶回路127a、閾値補償回路128a及びリセット回路129aをさらに含み、第2サブ画素G2において、
図3Cに示すように、第2サブ画素G2の画素回路121bはデータ書込み回路126b、記憶回路127b、閾値補償回路128b及びリセット回路129bをさらに含む。第1サブ画素G1の画素回路121a及び第2サブ画素G2の画素回路121bのそれぞれの各素子の接続関係及び作用等はともに上記
図3Aを参照して説明された例と類似するため、ここでは重複説明を省略する。
【0081】
例えば、
図3Aに示すように、走査信号と補償制御信号は同じであってもよく、すなわち、データ書込みトランジスタT2のゲートと閾値補償トランジスタT3のゲートは同一の信号線、例えば、第1走査信号線Ga1に電気的に接続され、それにより同じ信号(例えば、走査信号)を受信し、この場合、表示用基板100は第2走査信号線Ga2を設置しなくてもよく、信号線の数を減少させる。また、例えば、データ書込みトランジスタT2のゲートと閾値補償トランジスタT3のゲートはそれぞれ異なる信号線に電気的に接続されてもよく、すなわち、データ書込みトランジスタT2のゲートは第1走査信号線Ga1に電気的に接続され、閾値補償トランジスタT3のゲートは第2走査信号線Ga2に電気的に接続されるが、第1走査信号線Ga1と第2走査信号線Ga2によって伝送される信号は同じである。
【0082】
なお、走査信号と補償制御信号は異なってもよく、それによりデータ書込みトランジスタT2のゲートと閾値補償トランジスタT3の個別制御を実現でき、画素回路の制御の柔軟性を向上させる。
【0083】
例えば、
図3A-3Bに示すように、第1発光制御信号と第2発光制御信号は同じであってもよく、すなわち、第1発光制御トランジスタT4のゲートと第2発光制御トランジスタT5のゲートは同一の信号線、例えば、第1発光制御信号線EM1に電気的に接続されてもよく、それにより同じ信号(例えば、第1発光制御信号)を受信し、この場合、表示用基板100は第2発光制御信号線EM2を設置しなくてもよく、信号線の数を減少させる。また、例えば、第1発光制御トランジスタT4のゲートと第2発光制御トランジスタT5のゲートはそれぞれ異なる信号線に電気的に接続されてもよく、すなわち、第1発光制御トランジスタT4のゲートは第1発光制御信号線EM1に電気的に接続され、第2発光制御トランジスタT5のゲートは第2発光制御信号線EM2に電気的に接続されるが、第1発光制御信号線EM1と第2発光制御信号線EM2によって伝送される信号は同じである。
【0084】
なお、第1発光制御トランジスタT4と第2発光制御トランジスタT5が異なるタイプのトランジスタであり、例えば、第1発光制御トランジスタT4がP型トランジスタ、而第2発光制御トランジスタT5がN型トランジスタである場合、第1発光制御信号と第2発光制御信号が異なってもよく、本開示の実施例ではそれを制限しない。
【0085】
例えば、第1サブリセット制御信号と第2サブリセット制御信号は同じであってもよく、すなわち、第1リセットトランジスタT6のゲートと第2リセットトランジスタT7のゲートは同一の信号線、例えば第1リセット制御信号線Rst1に電気的に接続されてもよく、それにより同じ信号(例えば、第1サブリセット制御信号)を受信し、この場合、表示用基板100は第2リセット制御信号線Rst2を設置しなくてもよく、信号線の数を減少させる。また、例えば、第1リセットトランジスタT6のゲートと第2リセットトランジスタT7のゲートはそれぞれ異なる信号線に電気的に接続されてもよく、すなわち、第1リセットトランジスタT6のゲートは第1リセット制御信号線Rst1に電気的に接続され、第2リセットトランジスタT7のゲートは第2リセット制御信号線Rst2に電気的に接続されるが、第1リセット制御信号線Rst1と第2リセット制御信号線Rst2によって伝送される信号は同一である。なお、第1サブリセット制御信号と第2サブリセット制御信号は異なってもよい。
【0086】
例えば、いくつかの例では、第2サブリセット制御信号は走査信号と同じであってもよく、すなわち、第2リセットトランジスタT7のゲートは第1走査信号線Ga1に電気的に接続されてもよく、それにより走査信号を第2サブリセット制御信号として受信する。
【0087】
例えば、第1リセット電源端子Vinit1と第2リセット電源端子Vinit2は直流参照電圧端子であってもよく、一定の直流参照電圧を出力する。第1リセット電源端子Vinit1と第2リセット電源端子Vinit2は高圧端子であってもよく、低圧端子であってもよく、第1リセット信号及び第2リセット信号を供給して駆動トランジスタT1のゲートと発光素子120の第1発光電圧印加電極をリセットできればよく、本開示ではそれを制限しない。
【0088】
なお、
図3A-3Bに示される画素回路の駆動回路122、データ書込み回路126、記憶回路127、閾値補償回路128及びリセット回路129は例示的であり、駆動回路122、データ書込み回路126、記憶回路127、閾値補償回路128及びリセット回路129等の回路の具体的な構造は実際の応用ニーズに応じて設置でき、本開示の実施例ではそれを特に限定しない。
【0089】
例えば、トランジスタの特性に応じて、トランジスタはN型トランジスタ及びP型トランジスタに分けられ、明瞭さの点から、本開示の実施例では、トランジスタがP型トランジスタ(例えば、P型MOSトランジスタ)であることを例に、本開示の技術案を詳細に説明し、つまり、本開示についての説明では、駆動トランジスタT1、データ書込みトランジスタT2、閾値補償トランジスタT3、第1発光制御トランジスタT4、第2発光制御トランジスタT5、第1リセットトランジスタT6及び第2リセットトランジスタT7等はすべてP型トランジスタであり得る。しかし、本開示の実施例のトランジスタはP型トランジスタに限定されず、当業者は実際のニーズに応じて、N型トランジスタ(例えば、N型MOSトランジスタ)を利用して本開示の実施例の1つ又は複数のトランジスタの機能を実現してもよい。
【0090】
なお、本開示の実施例に使用されるトランジスタは薄膜トランジスタ又は電界効果トランジスタ又は特性が同じ他のスイッチングデバイスであり、薄膜トランジスタは酸化物半導体薄膜トランジスタ、アモルファスシリコン薄膜トランジスタ又は多結晶シリコン薄膜トランジスタ等を含み得る。トランジスタのソース、ドレインは構造的に対称的であるため、ソース、ドレインの物理構造が同じである。本開示の実施例では、トランジスタを区別するために、制御電極であるゲートを除き、そのうち一方の電極を第1電極、他方の電極を第2電極として直接説明し、従って、本開示の実施例のすべて又は一部のトランジスタの第1電極及び第2電極は必要に応じて交換可能である。
【0091】
なお、設置位置を除き、第1サブ画素G1の画素回路121aにおける各回路(例えば、駆動回路122a、第1発光制御回路123a、第2発光制御回路124a、データ書込み回路126a、記憶回路127a、閾値補償回路128a、リセット回路129a等)の接続関係、構造及びタイプ等はそれぞれ第2サブ画素G2の画素回路121bにおける対応する各回路(例えば、駆動回路122b、第1発光制御回路123b、第2発光制御回路124b、データ書込み回路126b、記憶回路127b、閾値補償回路128b、リセット回路129b等)の接続関係、構造及びタイプ等と同じであり、つまり、例えば、第1サブ画素G1の画素回路121aにおける駆動回路122aの構造及びタイプ等はいずれも第2サブ画素G2の画素回路121bにおける駆動回路122bの構造及びタイプ等と同じである。且つ、第1サブ画素G1の画素回路121aにおける各回路と第2サブ画素G2の画素回路121bにおける対応する各回路は同一プロセスによって同時に製造でき、例えば、第1サブ画素G1の画素回路121a中の駆動回路122aと第2サブ画素G2の画素回路121bにおける駆動回路122bは同一パターニングプロセスによって同時に製造される。
【0092】
なお、
図3Bに示すように、第1サブ画素G1の画素回路121aにおける各回路に電気的に接続される各信号線はそれぞれ第1走査信号線Ga1a、第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a、第2リセット制御信号線Rst2a、第1リセット電源端子Vinit1a、第2リセット電源端子Vinit2a、第1発光制御信号線EM1a、第2発光制御信号線EM2a、データ線Vdである。
図3Cに示すように、第2サブ画素G2の画素回路121bにおける各回路に電気的に接続される各信号線はそれぞれ第1走査信号線Ga1b、第2走査信号線Ga2b、第1リセット制御信号線Rst1b、第2リセット制御信号線Rst2b、第1リセット電源端子Vinit1b、第2リセット電源端子Vinit2b、第1発光制御信号線EM1b、第2発光制御信号線EM2b、データ線Vdである。
【0093】
なお、本開示の実施例では、サブ画素の画素回路は
図3Aに示される7T2C(すなわち、7個のトランジスタ、1個のコンデンサ及び1個の寄生コンデンサ)の構造を除き、他の数個のトランジスタを含む構造、例えば、6T2C構造又は9T2C構造であってもよく、本開示の実施例ではこれを限定しない。
【0094】
図4A-4Eは本開示のいくつかの実施例に係る画素回路の各層の模式図である。以下、
図4A-4Eを参照して画素回路における各回路のリアパネルにおける位置関係を説明し、
図4A-4Eに示される例では、第1サブ画素G1の画素回路121aを例とする。
図3Bに示すように、該第1サブ画素G1の画素回路121aは
図3Bに示される駆動トランジスタT1、データ書込みトランジスタT2、閾値補償トランジスタT3、第1発光制御トランジスタT4、第2発光制御トランジスタT5、第1リセットトランジスタT6、第2リセットトランジスタT7、第1コンデンサC11、及び第3コンデンサC2を含み、
図4A-4Eは第1サブ画素G1の画素回路121aに接続される第1走査信号線Ga1a、第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a、第2リセット制御信号線Rst2a、第1リセット電源端子Vinit1aの第1リセット電源信号線Init1a、第2リセット電源端子Vinit2aの第2リセット電源信号線Init2a、第1発光制御信号線EM1a、第2発光制御信号線EM2a、データ線Vd、第1電源端子VDDの第1電源信号線VDD1、第2電源信号線VDD2を示し、第1電源信号線VDD1と第2電源信号線VDD2が互いに電気的に接続される。なお、
図4A~4Eに示される例では、第1走査信号線Ga1aと第2走査信号線Ga2aは同一の信号線であり、第1リセット電源信号線Init1aと第2リセット電源信号線Init2aは同一の信号線であり、第1リセット制御信号線Rst1aと第2リセット制御信号線Rst2aは同一の信号線であり、第1発光制御信号線EM1aと第2発光制御信号線EM2aは同一の信号線である。
【0095】
例えば、
図4Aは該画素回路121aのアクティブ半導体層310を示す。アクティブ半導体層310は半導体材料をパターン化して形成され得る。アクティブ半導体層310は上記駆動トランジスタT1、データ書込みトランジスタT2、閾値補償トランジスタT3、第1発光制御トランジスタT4、第2発光制御トランジスタT5、第1リセットトランジスタT6及び第2リセットトランジスタT7のアクティブ層を作製することに用いられ、各アクティブ層はソース領域、ドレイン領域、及びソース領域とドレイン領域との間にあるチャンネル領域を含み得る。例えば、各トランジスタのアクティブ層は一体的に設置される。
【0096】
例えば、アクティブ半導体層310はアモルファスシリコン、多結晶シリコン、酸化物半導体材料等から作製されてもよい。なお、上記ソース領域とドレイン領域はn型不純物又はp型不純物をドーピングした領域であり得る。
【0097】
例えば、画素回路121aのゲート金属層は第1導電層及び第2導電層を含み得る。上記アクティブ半導体層310上に、上記アクティブ半導体層310を保護するためのゲート絶縁層(図示せず)が形成される。
図4Bは該画素回路121aの第1導電層320を示し、第1導電層320はゲート絶縁層上に設置され、それによりアクティブ半導体層310と絶縁している。第1導電層320は第3コンデンサC2の第2電極CC2a、第1走査信号線Ga1a、第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a、第2リセット制御信号線Rst2a、第1発光制御信号線EM1a、第2発光制御信号線EM2a、及び駆動トランジスタT1、データ書込みトランジスタT2、閾値補償トランジスタT3、第1発光制御トランジスタT4、第2発光制御トランジスタT5、第1リセットトランジスタT6及び第2リセットトランジスタT7のゲートを含み得る。
【0098】
例えば、
図4Bに示すように、データ書込みトランジスタT2のゲートは第1走査信号線Ga1aとアクティブ半導体層310とが重なる部分、第1発光制御トランジスタT4のゲートは第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aとアクティブ半導体層310とが重なる第1部分、第2発光制御トランジスタT5のゲートは第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aとアクティブ半導体層310とが重なる第2部分、第1リセットトランジスタT6のゲートは第1リセット制御信号線Rst1a/第2リセット制御信号線Rst2aとアクティブ半導体層310とが重なる第1部分、第2リセットトランジスタT7のゲートは第1リセット制御信号線Rst1a/第2リセット制御信号線Rst2aとアクティブ半導体層310とが重なる第2部分、閾値補償トランジスタT3はダブルゲート構造の薄膜トランジスタ、閾値補償トランジスタT3の第1個のゲートは第2走査信号線Ga2aとアクティブ半導体層310とが重なる部分、閾値補償トランジスタT3の第2個のゲートは第2走査信号線Ga2aから突出する突出部とアクティブ半導体層310とが重なる部分であってもよく、
図3B及び4Bに示すように、駆動トランジスタT1のゲートは第1コンデンサC11の第2電極CC4a及び第3コンデンサC2の第2電極CC2aであってもよい。
【0099】
なお、
図4Aにおける各破線矩形枠は第1導電層320とアクティブ半導体層310とが重なる各部分を示す。
【0100】
例えば、
図4Bに示すように、第1走査信号線Ga1a/第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a/第2リセット制御信号線Rst2a及び第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aは第1方向Xに配列されている。第1走査信号線Ga1a/第2走査信号線Ga2aは第1リセット制御信号線Rst1a/第2リセット制御信号線Rst2aと第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aとの間に位置する。
【0101】
例えば、第1方向Xにおいて、第1コンデンサC11の第2電極CC4a(すなわち、第3コンデンサC2の第2電極CC2a)は第1走査信号線Ga1a/第2走査信号線Ga2aと第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aとの間に位置する。第2走査信号線Ga2aから突出する突出部は第2走査信号線Ga2aの第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aから遠い側に位置する。
【0102】
例えば、
図4Aに示すように、第1方向Xにおいて、データ書込みトランジスタT2のゲート、閾値補償トランジスタT3のゲート、第1リセットトランジスタT6のゲート及び第2リセットトランジスタT7のゲートはいずれも駆動トランジスタT1のゲートの第1側に位置し、第1発光制御トランジスタT4のゲート、第2発光制御トランジスタT5のゲートはいずれも駆動トランジスタT1のゲートの第2側に位置し、例えば、
図6A-6Eに示される例では、第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第1側と第2側は第1方向Xにおいて駆動トランジスタT1のゲートの互いに対向する両側であり、例えば、
図4A-4Eに示すように、第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第1側は駆動トランジスタT1のゲートの上側、第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第2側は駆動トランジスタT1のゲートの下側であってもよい。
【0103】
例えば、いくつかの実施例では、
図4A-4Eに示すように、第2方向Yにおいて、データ書込みトランジスタT2のゲートと第1発光制御トランジスタT4のゲートはいずれも駆動トランジスタT1のゲートの第3側に位置し、閾値補償トランジスタT3の第1個のゲート、第2発光制御トランジスタT5のゲート及び第2リセットトランジスタT7のゲートはいずれも駆動トランジスタT1のゲートの第4側に位置し、例えば、
図4A-4Eに示される例では、第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第3側と第4側は第2方向Yにおいて駆動トランジスタT1のゲートの互いに対向する両側であり、例えば、
図4A-4Eに示すように、第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第3側は第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの右側、第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第4側は第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの左側であってもよい。
【0104】
例えば、上記第1導電層320上に、上記第1導電層320を保護するための第1絶縁層(図示せず)が形成される。
図4Cは該画素回路120aの第2導電層330を示し、第2導電層330は第3コンデンサC2の第1電極CC1a、第1リセット電源信号線Init1a、第2リセット電源信号線Init2a、第2電源信号線VDD2を含む。第2電源信号線VDD2は第3コンデンサC2の第1電極CC1aと一体的に形成される。第3コンデンサC2の第1電極CC1aと第3コンデンサC2の第2電極CC2aが少なくとも部分的に重なって第3コンデンサC2を形成する。
【0105】
例えば、上記第2導電層330上に、上記第2導電層330を保護するための第2絶縁層(図示せず)が形成される。
図4Dは該画素回路121aのソースドレイン金属層340を示し、ソースドレイン金属層340はデータ線Vd及び第1電源信号線VDD1を含む。
【0106】
図4Eは上記アクティブ半導体層310、第1導電層320、第2導電層330及びソースドレイン金属層340の積層位置関係の模式図である。
図4D及び4Eに示すように、データ線Vdはゲート絶縁層、第1絶縁層及び第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア381a)によってアクティブ半導体層310中のデータ書込みトランジスタT2のソース領域に接続される。第1電源信号線VDD1はゲート絶縁層、第1絶縁層及び第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア382a)を介してアクティブ半導体層310における対応する第1発光制御トランジスタT4のソース領域に接続される。第1電源信号線VDD1は第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア3832a)を介して第2導電層330にける第3コンデンサC2の第1電極CC1aに接続される。第1電源信号線VDD1はさらに第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア3831a)を介して第2導電層330中の第2電源信号線VDD2に接続される。
【0107】
例えば、
図4D及び4Eに示すように、ソースドレイン金属層340は第1接続部341a、第2接続部342a及び第3接続部343aをさらに含む。第1接続部341aの一端はゲート絶縁層、第1絶縁層及び第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア384a)によってアクティブ半導体層310中の対応する閾値補償トランジスタT3のドレイン領域に接続され、第1接続部341aの他端は第1絶縁層及び第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア385a)を介して第1導電層320中の駆動トランジスタT1のゲート(すなわち第3コンデンサC2の第2電極CC2a)に接続される。第2接続部342aの一端は第2絶縁層中の1つのビア(例えば、ビア386a)を介して第1リセット電源信号線Init1a/第2リセット電源信号線Init2aに接続され、第2接続部342aの他端はゲート絶縁層、第1絶縁層及び第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア387a)によってアクティブ半導体層310中の第2リセットトランジスタT7のドレイン領域に接続される。第3接続部343aはゲート絶縁層、第1絶縁層及び第2絶縁層のうちの少なくとも1つのビア(例えば、ビア388a)を介してアクティブ半導体層310中の第2発光制御トランジスタT5のドレイン領域に接続される。
【0108】
例えば、上記ソースドレイン金属層340上に、上記ソースドレイン金属層340を保護するための中間層(図示せず)が形成される。各サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極は中間層のベース基板から遠い側に設置される。
【0109】
例えば、
図4A-4Eに示すように、第1方向Xにおいて、第1走査信号線Ga1a、第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a、第2リセット制御信号線Rst2a、第1リセット電源信号線Init1a及び第2リセット電源信号線Init2aはいずれも第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1のゲートの第1側に位置し、第1発光制御信号線EM1a、第2発光制御信号線EM2aはいずれも第1サブ画素G1の画素回路121aの駆動トランジスタT1の第2側に位置する。
【0110】
例えば、第1走査信号線Ga1a、第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a、第2リセット制御信号線Rst2a、第1発光制御信号線EM1a、第2発光制御信号線EM2a、第1リセット電源信号線Init1a及び第2リセット電源信号線Init2aはいずれも第2方向Yに延伸し、データ線Vdは第1方向Xに延伸する。
【0111】
例えば、第1電源信号線VDD1は第1方向Xに延伸し、第2電源信号線VDD2は第2方向Yに延伸する。第1電源端子VDDの信号線は表示用基板上にグリッド状に配線され、つまり、表示用基板全体にわたって、第1電源信号線VDD1と第2電源信号線VDD2はグリッド状に配列され、それにより第1電源端子VDDの信号線の抵抗が小さく、電圧降下が低く、更に第1電源端子VDDによって供給される電源電圧の安定性を向上させる。
【0112】
例えば、第1走査信号線Ga1a、第2走査信号線Ga2a、第1リセット制御信号線Rst1a、第2リセット制御信号線Rst2a、第1発光制御信号線EM1a、第2発光制御信号線EM2aは同一層に位置し、第1リセット電源信号線Init1a、第2リセット電源信号線Init2a及び第2電源信号線VDD2aは同一層に位置する。第1電源信号線VDD1及びデータ線Vdは同一層に位置する。
【0113】
なお、各画素回路中の駆動回路、第1発光制御回路、第2発光制御回路、データ書込み回路、記憶回路、閾値補償回路及びリセット回路等の位置配置関係は
図4A-4Eに示される例に限定されず、実際の応用ニーズに応じて、駆動回路、第1発光制御回路、第2発光制御回路、データ書込み回路、記憶回路、閾値補償回路及びリセット回路の位置を適切に設置できる。
【0114】
図5Aは本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板の平面模式図、
図5Bは本開示のいくつかの実施例に係る繰り返し単位の平面模式図、
図6Aは本開示のいくつかの実施例に係る別の繰り返し単位の平面模式図、
図6Bは本開示のいくつかの実施例に係る表示用基板のレイアウト図、
図6Cは
図6Bにおける線L1-L1’の断面模式的な構成図、
図6Dは
図6Bにおける線L2-L2’の断面模式的な構成図、
図6Eは本開示のいくつかの実施例に係るさらに別の表示用基板の平面模式図である。
【0115】
例えば、
図5Aに示すように、本開示のいくつかの実施例では、表示用基板10中の画素配列構造はGGRB画素配列構造であってもよく、それにより該表示用基板10を含む表示パネルのPPI(pixel per inch、1インチあたりの画素数)を増加させ、それにより表示解像度が同じであるとしても、表示パネルの視覚解像度が向上する。例えば、各個の繰り返し単位11は4個のサブ画素を含み、4個のサブ画素はそれぞれ第1サブ画素G1、第2サブ画素G2、第3サブ画素R及び第4サブ画素Bであり、且つ該4個のサブ画素はGGRBの配列態様を採用してもよい。なお、
図5Aは2個の完全な繰り返し単位11のみを示しているが、本開示ではそれに限定されず、表示用基板10上に複数の繰り返し単位11を含み、且つ複数の繰り返し単位11が第1方向X及び第2方向Yにアレイ状に配列される。
【0116】
例えば、
図5Aに示すように、領域31~40はベース基板10上の各サブ画素の画素回路が位置する領域であってもよく、例えば、領域31~35は第1行、領域36~40は第2行に位置し、領域31と36は第1列、領域32と37は第2列、領域33と38は第3列、領域34と39は第4列、領域35と40は第5列に位置する。例えば、
図5Aに示される例では、破線で囲まれる繰り返し単位11において、第1サブ画素G1の画素回路は領域32に位置し、第2サブ画素G2の画素回路は領域37に位置し、第3サブ画素Rの画素回路は領域38に位置し、第4サブ画素Bの画素回路は領域36に位置する。
【0117】
なお、本開示では、「行」は各画素回路が位置する領域に対応する行、「列」は各画素回路が位置する領域に対応する列を表してもよい。
【0118】
例えば、発光素子120は、動作時、発光信号(例えば、電流信号)を受信し、該発光信号に対応する強度の光を発するように構成される。発光素子120は発光ダイオードであってもよく、発光ダイオードは例えば、有機発光ダイオード(OLED)又は量子ドット発光ダイオード(QLED)等であってもよいが、本開示の実施例ではそれに限定されない。
【0119】
例えば、
図6Cに示すように、発光素子120は第1発光電圧印加電極1201、第2発光電圧印加電極1202、及び第1発光電圧印加電極1201と第2発光電圧印加電極1202との間に設置される発光層1203を含む。例えば、
図6Cに示すように、第1サブ画素G1の発光素子は第1発光電圧印加電極1201a、第2発光電圧印加電極1202及び発光層1203aを含み、第2サブ画素G2の発光素子は第1発光電圧印加電極1201b、第2発光電圧印加電極1202及び発光層1203aを含む。
【0120】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0121】
例えば、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aと第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bは同一層に位置してもよく、第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202と第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202は一体的に設置されてもよい。
【0122】
例えば、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの正投影は連続し、つまり、第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aと第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aは高精細メタルマスク(FMM)中の孔によって作製でき、それによりFMMのプロセス難度を効果的に低減させる。例えば、第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aと第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aは一体化される。
【0123】
例えば、各サブ画素の発光層1203の材料は各サブ画素の発光素子120が発する光の色に応じて選択されてもよい。各サブ画素の発光層1203の材料は蛍光発光材料又は燐光発光材料等を含む。例えば、いくつかの実施例では、第1発光電圧印加電極1201は陽極、第2発光電圧印加電極1202は陰極であり、第1発光電圧印加電極1201と第2発光電圧印加電極1202はいずれも導電材料から製造される。なお、いくつかの例では、第1発光電圧印加電極1201と発光層1203との間に第1有機層が設置され、第2発光電圧印加電極1202と発光層1203との間に第2有機層が設置される。第1有機層と第2有機層は平坦化用のものであり、省略してもよい。
【0124】
例えば、各繰り返し単位11において、第1サブ画素G1の発光素子120aが発する光の色と第2サブ画素G2の発光素子120bが発する光の色とは同じであり、つまり、第1サブ画素G1と第2サブ画素G2は同じ色のサブ画素である。例えば、第1サブ画素G1と第2サブ画素G2は敏感な色のサブ画素であり、表示用基板100が赤緑青(RGB)表示モードを採用する場合、上記敏感な色は緑色であり、すなわち、第1サブ画素G1と第2サブ画素G2はいずれも緑色サブ画素である。例えば、第3サブ画素Rは赤色サブ画素、第4サブ画素Bは青色サブ画素であってもよい。
【0125】
例えば、各繰り返し単位11中の4個のサブ画素は2つの仮想画素を形成し、繰り返し単位11中の第3サブ画素Rと第4サブ画素Bはそれぞれ前記2つの仮想画素によって共有される。複数の繰り返し単位11中のサブ画素は画素アレイを形成し、画素アレイの行方向において、サブ画素密度は仮想画素密度の1.5倍であり、画素アレイの列方向において、サブ画素密度は仮想画素密度の1.5倍である。
【0126】
例えば、第1サブ画素G1と第2サブ画素G2はそれぞれ2つの仮想画素に属する。
【0127】
なお、第1に、第3サブ画素Rと第4サブ画素Bは隣接する2つの仮想画素によって共有されるため、各仮想画素の境界も非常に曖昧であり、したがって、本開示の実施例では各仮想画素の形状を限定しない。第2に、仮想画素の分割は駆動方式に関連し、仮想画素の具体的な分割方式は実際の駆動方式に応じて決定でき、本開示ではそれを特に制限しない。
【0128】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影はベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極1201aの正投影内にあり、ベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影はベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極1201bの正投影内にある。つまり、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極1201aの正投影はベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影を完全に覆い、ベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極1201bの正投影はベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影を完全に覆い、例えば、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極1201aの正投影の面積はベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影の面積よりも大きく、ベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極1201bの正投影の面積はベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影の面積よりも大きいようにしてもよい。
【0129】
例えば、
図3Bに示すように、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路122aが駆動トランジスタT1を含む場合、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路122aの制御端子1221aが第1サブ画素G1の画素回路駆動トランジスタT1のゲートであり、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の駆動トランジスタT1のゲートの正投影が少なくとも部分的に重なり、
図3Cに示すように、第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路122bが駆動トランジスタT1を含む場合、第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路122bの制御端子1221bが第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートであり、ベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の駆動トランジスタT1のゲートの正投影が少なくとも部分的に重なる。
【0130】
例えば、ベース基板10における第1サブ画素G1の駆動トランジスタT1のゲートの正投影はベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極の正投影内にあり、ベース基板10における第2サブ画素G2の駆動トランジスタT1のゲートの正投影はベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極の正投影内にある。
【0131】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの正投影との重なり部分の面積は第1面積AR1、ベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの正投影との重なり部分の面積は第2面積AR2であり、第1面積AR1と第2面積AR2との比は以下に示す関係式を満たす。
【0132】
Amin≦AR1/AR2≦Amax
式中、AR1は第1面積、AR2は第2面積を表し、Aminは最小比閾値を表し、90%であり、Amaxは最大比閾値を表し、110%である。
【0133】
例えば、いくつかの例では、第1面積AR1は第2面積AR2以上であり、この場合、最小比閾値Aminは90%、最大比閾値Amaxは100%であってもよく、別のいくつかの例では、第1面積AR1は第2面積AR2未満であり、この場合、最小比閾値Aminは95%、最大比閾値Amaxは105%であってもよい。第1面積AR1と第2面積AR2との差が小さい(例えば、未満10%)ことを確保し、更に第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aと第1サブ画素G1の駆動回路の制御端子1221aとの間の寄生コンデンサ(すなわち
図3Bに示される第1コンデンサC11)と、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bと第2サブ画素G2の駆動回路の制御端子1221bとの間の寄生コンデンサ(すなわち、
図3Cに示される第2コンデンサC12)との差も小さい(例えば、未満10%)ことを確保し、それにより該表示用基板100を含む表示パネルの表示効果を向上できる限り、本開示の実施例では最小比閾値と最大比閾値の具体的な値を特に制限しない。例えば、第1面積AR1と第2面積AR2との比が上記最小比閾値と最大比閾値との間にある場合、低グレースケール(例えば、64グレースケール)でも、すなわち、目の識別能力が高い場合でも、ユーザーは第1サブ画素G1と第2サブ画素G2との輝度ムラを視認できない可能性があり、表示パネルの表示効果を効果的に改善し、ユーザーエクスペリエンスを向上させる。
【0134】
例えば、
図5A及び5Bに示すように、第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極1201aの形状と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの形状とは異なる。例えば、いくつかの例では、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの形状は八角形、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの形状は五角形であってもよい。
【0135】
例えば、各繰り返し単位11において、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの正投影の面積とベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの正投影の面積は異なり、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの正投影の面積はベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの正投影の面積よりも大きい。
【0136】
例えば、
図5Bに示すように、第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極1201aは補助電極ブロックAeを含み、ベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影とは少なくとも部分的に重なる。例えば、いくつかの例では、ベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影はベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影内にある。
【0137】
例えば、ベース基板10における第1サブ画素G1の駆動トランジスタT1のゲートの正投影はベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極の補助電極ブロックAeの正投影内にある。
【0138】
例えば、補助電極ブロックAeは第1コンデンサC11の第1電極CC3として機能し、第1サブ画素G1の駆動回路122aの制御端子1221aは第1コンデンサC11の第2電極CC4として兼用し、つまり、補助電極ブロックAeは第1コンデンサC11の第1電極CC3であり、第1サブ画素G1の駆動回路122aの制御端子1221a(すなわち、第1サブ画素G1の駆動トランジスタT1のゲート)は第1コンデンサC11の第2電極CC4である。
【0139】
例えば、
図5Bに示すように、補助電極ブロックAeの形状は矩形であってもよく、且つベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影の形状は補助電極ブロックAeの形状と同じであり、すなわち矩形である。しかし、本開示はそれに限定されず、補助電極ブロックAeの形状は五角形、六角形、楕円形等であってもよい。
【0140】
例えば、
図5Bに示すように、第1サブ画素G1の発光素子120aの第1発光電圧印加電極1201aは第1駆動電極ブロックDe1をさらに含み、第1駆動電極ブロックDe1が補助電極ブロックAeに電気的に接続される。
【0141】
例えば、
図5Bに示すように、第1駆動電極ブロックDe1の形状は五角形であってもよく、且つベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影の形状は第1駆動電極ブロックDe1の形状と同じであり、すなわち、五角形である。五角形は1つの三角形及び1つの矩形からなってもよい。
【0142】
例えば、5Bに示される例では、第1駆動電極ブロックDe1と補助電極ブロックAeは一体的に設置され、それにより、第1発光電圧印加電極1201aの形状は八角形であってもよく、且つ該八角形は1つの五角形及び1つの矩形からなってもよい。
【0143】
なお、別のいくつかの例では、第1駆動電極ブロックDe1と補助電極ブロックAeはそれぞれ個別設置されてもよく、第1駆動電極ブロックDe1と補助電極ブロックAeは互いに電気的に接続できればよい。
【0144】
例えば、第1駆動電極ブロックDe1と補助電極ブロックAeは同一のパターニングプロセスによって同時に形成されてもよい。
【0145】
例えば、
図6Cに示すように、第1駆動電極ブロックDe1と補助電極ブロックAeは同一層に位置する。
【0146】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影及びベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0147】
例えば、いくつかの実施例では、表示用基板上のすべてのサブ画素の発光素子の第2発光電圧印加電極はいずれも一体的に設置され、つまり、第2発光電圧印加電極1202がベース基板10全体に被覆され、すなわち、第2発光電圧印加電極1202が面状電極であってもよい。例えば、
図6Cに示すように、第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2について、面状の第2発光電圧印加電極1202と第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aとが重なる部分を第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202、面状の第2発光電圧印加電極と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bとが重なる部分を第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202として表してもよい。第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202と第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202は一体的に設置される。
【0148】
例えば、
図6Cに示すように、第1サブ画素G1の発光素子の発光層と第2サブ画素G2の発光素子の発光層は一体的に設置される。第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2について、発光層1203aと第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aとが重なる部分を第1サブ画素G1の発光素子の発光層、発光層1203aと第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bとが重なる部分を第2サブ画素G2の発光素子の発光層として表してもよい。
【0149】
例えば、
図6Cに示すように、表示用基板100は画素画定層160をさらに含み、画素画定層160は各サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極のベース基板10から遠い側に位置し、第1開口を含み、第1開口は第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201a及び第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bを露出させ、第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aと第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの少なくとも一部は第1開口内に位置し、且つ第1発光電圧印加電極1201a及び第1発光電圧印加電極1201bの露出した部分を覆い、第1開口と第1発光電圧印加電極1201aとが重なる領域を第1サブ画素G1の有効発光領域、第1開口と第1発光電圧印加電極1201bとが重なる領域を第2サブ画素G2の有効発光領域とする。
【0150】
なお、本開示の実施例では、各発光素子の発光層は電界発光層、及び電界発光層の両側に位置する他の共通層、例えば、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層及び電子輸送層等を含んでもよいが、本開示の図面では、発光層中の電界発光層のみを示し、他の共通層を示していない。
【0151】
例えば、いくつかの例では、ベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影は不完全に重なってもよく、例えば、ベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影はベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影内にあり、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影はベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影内にあってもよい。
【0152】
なお、ベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影、ベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影及びベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影の重なり領域内に、第1サブ画素G1において、第1サブ画素G1の発光素子の発光層の画素画定層160の第1開口に対応する部分が発光に用いられる。
【0153】
例えば、
図5Bに示すように、第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極1201bは第2駆動電極ブロックDe2を含む。ベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影とは少なくとも部分的に重なる。例えば、いくつかの例では、ベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影はベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影内にある。例えば、ベース基板10における第2サブ画素G2の駆動トランジスタT1のゲートの正投影はベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子120bの第1発光電圧印加電極の第2駆動電極ブロックDe2の正投影内にある。
【0154】
例えば、第2駆動電極ブロックDe2は第2コンデンサC12の第1電極として兼用し、第2サブ画素G2の駆動回路122bの制御端子1221bは第2コンデンサC12の第2電極として兼用し、つまり、第2駆動電極ブロックDe2は第2コンデンサC12の第1電極、第2サブ画素G2の駆動回路122bの制御端子1221b(すなわち、第2サブ画素G2の駆動トランジスタT1のゲート)は第2コンデンサC12の第2電極である。
【0155】
例えば、
図5Bに示すように、第1駆動電極ブロックDe1の形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状は同じであってもよく、すなわち、第2駆動電極ブロックDe2の形状は五角形であってもよい。ベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影の形状は第2駆動電極ブロックDe2の形状と同じであり、すなわち五角形ある。
【0156】
例えば、ベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影の面積とベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影の面積とは同じである。
【0157】
なお、いくつかの実施例では、第1駆動電極ブロックDe1の形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状は矩形又は菱形等であってもよい。第1駆動電極ブロックDe1の形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状とは異なってもよく、本開示ではそれを制限しない。
【0158】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影、ベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの正投影及びベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影はいずれも少なくとも部分的に重なる。
【0159】
例えば、いくつかの例では、ベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影は不完全に重なってもよく、例えば、ベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影はベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影内にある。
【0160】
なお、ベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影、ベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの正投影及びベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202の正投影の重なり領域内に、第2サブ画素G2において、第2サブ画素G2の発光素子の発光層の画素画定層160の第1開口に対応する部分は発光に用いられる。
【0161】
例えば、
図5A及び5Bに示すように、各繰り返し単位11において、第1サブ画素G1と第2サブ画素G2は第1方向Xに配列され、第1方向Xはベース基板10の表面に平行する。例えば、第1方向Xにおいて、補助電極ブロックAeは第1駆動電極ブロックDe1の第2サブ画素G2の発光素子から遠い側に位置し、つまり、
図5Bに示すように、第1方向Xにおいて、第1駆動電極ブロックDe1は補助電極ブロックAeと第2駆動電極ブロックDe2との間に位置する。
【0162】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影は重ならない。例えば、いくつかの例では、ベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影は完全に重ならない。
【0163】
例えば、
図6A及び6Bに示すように、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極は第1接続電極ブロックCe1をさらに含み、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1は第1駆動電極ブロックDe1の第2サブ画素G2の発光素子から遠い側に位置し、第1接続電極ブロックCe1は補助電極ブロックAeと第1駆動電極ブロックDe1との間に位置し、且つ補助電極ブロックAe及び第1駆動電極ブロックDe1の両方に電気的に接続される。
【0164】
例えば、いくつかの実施例では、第1接続電極ブロックCe1、補助電極ブロックAe及び第1駆動電極ブロックDe1はいずれも一体的に設置される。なお、別のいくつかの例では、第1接続電極ブロックCe1、補助電極ブロックAe及び第1駆動電極ブロックDe1はそれぞれ個別設置されてもよく、第1接続電極ブロックCe1、補助電極ブロックAe及び第1駆動電極ブロックDe1は互いに電気的に接続できればよい。
【0165】
例えば、第1接続電極ブロックCe1は第1駆動電極ブロックDe1と第1サブ画素G1の画素回路とを接続する。
【0166】
例えば、
図6Cに示すように、第1接続電極ブロックCe1、補助電極ブロックAe及び第1駆動電極ブロックDe1は同一層に位置する。第1接続電極ブロックCe1、補助電極ブロックAe及び第1駆動電極ブロックDe1は同一のパターニングプロセスによって同時に形成されてもよい。
【0167】
例えば、第1接続電極ブロックCe1の形状は規則的な形状、例えば、矩形、菱形等であってもよく、第1接続電極ブロックCe1の形状は不規則な形状であってもよい。
【0168】
例えば、
図6A及び6Bに示すように、いくつかの例では、補助電極ブロックAeの形状と第1接続電極ブロックCe1の形状はいずれも矩形であり、且つ第2方向Yにおいて、補助電極ブロックAeの幅は第1接続電極ブロックCe1の幅未満であり、すなわち、補助電極ブロックAeと第1接続電極ブロックCe1は段差状を形成する。第2方向Yにおいて、第1接続電極ブロックCe1の幅は第1駆動電極ブロックDe1の最大幅未満である。
【0169】
例えば、第1駆動電極ブロックDe1は5個の内角を有し、5個の内角は2個の直角、2個の鈍角及び1個の鋭角を含み、第1接続電極ブロックCe1は第1駆動電極ブロックDe1の鋭角が位置する側から、第1駆動電極ブロックDe1の第2サブ画素G2の発光素子から離れる方向に延伸する。
【0170】
例えば、いくつかの実施例では、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの正投影は重ならず、且つベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影も重ならない。しかし、本開示はそれに限定されず、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影は部分的に重なってもよい。なお、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影が部分的に重なる場合、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影との重なり部分の面積はベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子1221aの正投影との重なり部分の面積未満である。
【0171】
例えば、
図6C及び6Dに示すように、表示用基板100は中間層101をさらに含む。ベース基板10の表面に垂直な方向において、各サブ画素の画素回路121は中間層101とベース基板10との間に位置し、発光素子120は中間層101のベース基板10から遠い側に位置し、つまり、中間層101は発光素子120とベース基板10との間に位置する。
【0172】
例えば、いくつかの実施例では、すべてのサブ画素の発光素子が位置する層は第1機能層群を構成し、すべてのサブ画素の画素回路が位置する層は第2機能層群を構成し、つまり、ベース基板10の表面に垂直な方向において、第1機能層群は中間層101のベース基板10から遠い側に位置し、第2機能層群は中間層101のベース基板10に近い側に位置し、すなわち第2機能層群は中間層101とベース基板10との間に位置し、中間層101は第1機能層群と第2機能層群との間に位置する。中間層101は第1機能層群と第2機能層群との間に位置する。例えば、
図3Aに示される駆動回路122、データ書込み回路126、記憶回路127、閾値補償回路128及びリセット回路129等はいずれも第2機能層群内に位置する。例えば、第1サブ画素G1の画素回路121a中の第1寄生回路125aと第2サブ画素G2の画素回路121b中の第1寄生回路125bも第2機能層群内に位置する。
【0173】
なお、本開示の実施例では、第1機能層群は複数のサブ層を含み、例えば、第1機能層群は第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aが位置するサブ層、第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202が位置するサブ層、第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aが位置するサブ層を含み得る。同様に、第2機能層群も複数のサブ層を含み、例えば、第2機能層群は第1サブ画素G2の画素回路中の各素子が位置するサブ層を含み、画素回路がトランジスタを含む場合、第2機能層群はトランジスタのゲートが位置するサブ層、ソースドレインが位置するサブ層、アクティブ層が位置するサブ層、ゲート絶縁層が位置するサブ層等を含み得る。
【0174】
例えば、中間層101は平坦層であり得る。例えば、
図6C及び6Dに示すように、ベース基板10の表面に垂直な方向において、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aは在第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの中間層101に近い側に設置され、第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極1202は第1サブ画素G1の発光素子の発光層1203aの中間層101から遠い側に設置される。
【0175】
例えば、
図6Cに示すように、中間層101は第1ビアh1を含み、第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1に延伸され且つ第1ビアh1を介して第1サブ画素G1の画素回路に電気的に接続され、例えば、第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1を介して第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御回路124aに電気的に接続される。例えば、第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1を覆って充填する。
【0176】
例えば、第1サブ画素G1において、第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1を介して第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御トランジスタT5の第2電極に電気的に接続される。
【0177】
例えば、
図4A-4Eに示すように、画素回路121はアクティブ半導体層310、ゲート金属層(第1導電層320及び第2導電層330を含む)、及びソースドレイン金属層340を含み、ベース基板10に垂直な方向において、アクティブ半導体層310はベース基板10とゲート金属層との間に位置し、ゲート金属層はアクティブ半導体層310とソースドレイン金属層340との間に位置し、例えば、ゲート金属層の第1導電層320はアクティブ半導体層310とゲート金属層の第2導電層330との間に位置し、ゲート金属層の第2導電層330はゲート金属層の第1導電層320とソースドレイン金属層340との間に位置する。
【0178】
例えば、本開示では、各サブ画素の画素回路121中の各トランジスタ(例えば、駆動トランジスタT1、データ書込みトランジスタT2、閾値補償トランジスタT3、第1発光制御トランジスタT4、第2発光制御トランジスタT5、第1リセットトランジスタT6及び第2リセットトランジスタT7等)のアクティブ層はいずれもアクティブ半導体層310内に位置し、画素回路121中の各トランジスタのゲートはいずれもゲート金属層の第1導電層320内に位置し、画素回路121中の各トランジスタのソース及びドレインはいずれもソースドレイン金属層340内に位置する。
【0179】
例えば、第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1を介して画素回路のソースドレイン金属層まで延伸する。
【0180】
例えば、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極は、第2駆動電極ブロックDe2に電気的に接続された第2接続電極ブロックCe2をさらに含む。例えば、いくつかの実施例では、第2接続電極ブロックCe2と第2駆動電極ブロックDe2は一体的に設置される。なお、別のいくつかの例では、第2接続電極ブロックCe2と第2駆動電極ブロックDe2はそれぞれ個別設置されてもよく、第2接続電極ブロックCe2と第2駆動電極ブロックDe2は互いに電気的に接続できればよい。
【0181】
例えば、第2接続電極ブロックCe2は第2駆動電極ブロックDe2と第2サブ画素G2の画素回路とを接続する。
【0182】
例えば、
図6A及び6Bに示すように、第1方向Xにおいて、第2接続電極ブロックCe2は第2駆動電極ブロックDe2の第1サブ画素G1の発光素子から遠い側に位置し、つまり、
図6A及び6Bに示すように、第1方向Xにおいて、第2駆動電極ブロックDe2は第2接続電極ブロックCe2と第1駆動電極ブロックDe1との間に位置する。
【0183】
例えば、
図6Cに示すように、第2接続電極ブロックCe2と第2駆動電極ブロックDe2は同一層に位置する。第2接続電極ブロックCe2と第2駆動電極ブロックDe2は同一のパターニングプロセスによって同時に形成されてもよい。
【0184】
例えば、第2接続電極ブロックCe2の形状は規則的な形状、例えば、矩形、菱形等であってもよく、第2接続電極ブロックCe2の形状は不規則な形状であってもよい。
【0185】
例えば、いくつかの例では、第2方向Yにおいて、第2接続電極ブロックCe2の幅は第2駆動電極ブロックDe2の最大幅未満である。例えば、第2駆動電極ブロックDe2は5個の内角を有し、5個の内角は2個の直角、2個の鈍角及び1個の鋭角を含み、第2接続電極ブロックCe2は第2駆動電極ブロックDe2の鋭角が位置する側から、第2駆動電極ブロックDe2の第1サブ画素G1の発光素子から離れる方向に延伸する。
【0186】
例えば、いくつかの例では、第1接続電極ブロックCe1の形状と第2接続電極ブロックCe2の形状は同じであってもよい。
【0187】
例えば、いくつかの実施例では、ベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの正投影は重ならず、且つベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影も重ならない。しかし、本開示はそれに限定されず、ベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影は部分的に重なってもよい。なお、ベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影が部分的に重なる場合、ベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影との重なり部分の面積はベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子1221bの正投影との重なり部分の面積未満である。
【0188】
例えば、第1サブ画素G1と同様に、ベース基板10の表面に垂直な方向において、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bは第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの中間層101から遠い側に設置され、第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極1202は第2サブ画素G2の発光素子の発光層1203aの中間層101から遠い側に設置される。
【0189】
例えば、
図6Cに示すように、中間層101は第2ビアh2を含み、第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2に延伸され、且つ第2ビアh2を介して第2サブ画素G2の画素回路に電気的に接続され、例えば、第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2を介して第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御回路124bに電気的に接続される。例えば、第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2を覆って充填する。
【0190】
例えば、第2サブ画素G2において、第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2を介して第2サブ画素G2の画素回路121bの第2発光制御トランジスタT5の第2電極に電気的に接続される。
【0191】
例えば、第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2を介して画素回路のソースドレイン金属層まで延伸する。
【0192】
例えば、
図5Aに示すように、各繰り返し単位11において、第3サブ画素Rと第4サブ画素Bは第2方向Yに配列され、且つ第2方向Yにおいて、第1サブ画素G1と第2サブ画素G2は第3サブ画素Rと第4サブ画素Bとの間に位置し、第2方向Yはベース基板10の表面に平行し、且つ第1方向Xと第2方向Yは互いに垂直である。
【0193】
例えば、各繰り返し単位11において、第1サブ画素G1の中心と第2サブ画素G2の中心とを結ぶ線は第1中心線であり、第3サブ画素Rの中心と第4サブ画素Bの中心とを結ぶ線は第2中心線である。第1中心線の長さは第2中心線の長さよりも小さい。例えば、第1中心線と第2中心線は互いに垂直に等分され、且つ第1中心線は第1方向Xにほぼ平行し、第2中心線は第2方向Yにほぼ平行する。
【0194】
例えば、第3サブ画素Rの発光素子は第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極及び発光層を含み、
図6Dに示すように、第4サブ画素Bの発光素子は第1発光電圧印加電極1201d、第2発光電圧印加電極1202d及び発光層1203dを含む。なお、第3サブ画素Rにおいて、面状の第2発光電圧印加電極1202と第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極とが重なる部分を第3サブ画素Rの発光素子の第2発光電圧印加電極として表し、第4サブ画素Bにおいて、面状の第2発光電圧印加電極と第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極とが重なる部分を第4サブ画素Bの発光素子の第2発光電圧印加電極として表す。つまり、第1サブ画素G1の発光素子の第2発光電圧印加電極、第2サブ画素G2の発光素子の第2発光電圧印加電極、第3サブ画素Rの発光素子の第2発光電圧印加電極、第4サブ画素Bの発光素子の第2発光電圧印加電極は一体化される。
【0195】
例えば、ベース基板10における第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板10における第3サブ画素Rの画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なってもよい。
【0196】
例えば、ベース基板10における第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極1201dの正投影とベース基板10における第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路の制御端子の正投影も少なくとも部分的に重なってもよい。例えば、
図6Dに示すように、ベース基板10における第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路の制御端子1221dの正投影はベース基板10における第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極1201dの正投影内にある。
【0197】
例えば、
図6A及び6Bに示すように、第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極は互いに電気的に接続される第3駆動電極ブロックDe3及び第3接続電極ブロックCe3を含み、第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極1201dは互いに電気的に接続される第4駆動電極ブロックDe4及び第4接続電極ブロックCe4を含む。例えば、ベース基板10における第3サブ画素Rの画素回路の駆動回路の制御端子1221cの正投影とベース基板10における第3駆動電極ブロックDe3の正投影とは少なくとも部分的に重なり、
図6Dに示すように、ベース基板10における第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路の制御端子1221dの正投影とベース基板10における第4駆動電極ブロックDe4の正投影とは少なくとも部分的に重なり、例えば、ベース基板10における第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路の制御端子1221dの正投影はベース基板10における第4駆動電極ブロックDe4の正投影内にある。
【0198】
例えば、第3接続電極ブロックCe3は第3駆動電極ブロックDe3と第3サブ画素Rの画素回路とを接続し、第4接続電極ブロックCe4は第4駆動電極ブロックDe4と第4サブ画素Bの画素回路とを接続する。
【0199】
例えば、第3サブ画素Rの画素回路は第3寄生回路をさらに含み、第4サブ画素Bの画素回路は第4寄生回路をさらに含む。第3寄生回路は第4コンデンサを含み、第4寄生回路は第5コンデンサを含む。第3駆動電極ブロックDe3は第4コンデンサの第1電極として兼用し、第3サブ画素Rの駆動回路の制御端子は第4コンデンサの第2電極として兼用し、第4駆動電極ブロックDe4は第5コンデンサの第1電極として兼用し、第4サブ画素Bの駆動回路の制御端子は第5コンデンサの第2電極として兼用する。
【0200】
例えば、第3駆動電極ブロックDe3の形状は規則的な六角形であってもよく、第4駆動電極ブロックDe4の形状も規則的な六角形であってもよい。第3接続電極ブロックCe3の形状は不規則な六角形であってもよく、第4接続電極ブロックCe4の形状も不規則な六角形であってもよい。
【0201】
なお、いくつかの実施例では、第3駆動電極ブロックDe3と第4駆動電極ブロックDe4の形状は矩形又は長楕円形等であってもよい。本開示では第3駆動電極ブロックDe3、第3接続電極ブロックCe3、第4駆動電極ブロックDe4及び第4接続電極ブロックCe4の形状を特に制限しない。
【0202】
例えば、第3接続電極ブロックCe3は六角形の第3駆動電極ブロックDe3の1本の側辺(例えば、六角形の右下側の側辺)から外へ突出する部分であり、第4接続電極ブロックCe4は六角形の第4駆動電極ブロックDe4の1本の側辺(例えば、六角形の左下側の側辺)から外へ突出する部分であってもよい。
【0203】
なお、各サブ画素の駆動電極ブロックの面積は、具体的には、発光材料の発光効率に応じて設定でき、例えば、発光材料の発光効率が高い場合、サブ画素の駆動電極ブロックの面積を小さくし、発光材料の発光効率が低い場合、サブ画素の駆動電極ブロックの面積を大きくする。例えば、いくつかの実施例では、第3駆動電極ブロックDe3の面積は第4駆動電極ブロックDe4の面積未満である。第3駆動電極ブロックDe3の面積は第1駆動電極ブロックDe1の面積よりも大きく、第3駆動電極ブロックDe3の面積は第2駆動電極ブロックDe2の面積よりも大きい。
【0204】
例えば、いくつかの実施例では、第3駆動電極ブロックDe3と第3接続電極ブロックCe3は一体的に設置され、第4駆動電極ブロックDe4と第4接続電極ブロックCe4も一体的に設置される。なお、別のいくつかの例では、第3駆動電極ブロックDe3と第3接続電極ブロックCe3はそれぞれ個別設置されてもよく、第3駆動電極ブロックDe3と第3接続電極ブロックCe3は互いに電気的に接続できればよく、同様に、第4駆動電極ブロックDe4と第4接続電極ブロックCe4はそれぞれ個別設置されてもよく、第4駆動電極ブロックDe4と第4接続電極ブロックCe4は互いに電気的に接続できればよい。
【0205】
例えば、第3駆動電極ブロックDe3と第3接続電極ブロックCe3は同一層に位置する。
図6Dに示すように、第4駆動電極ブロックDe4と第4接続電極ブロックCe4は同一層に位置する。
【0206】
例えば、第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2と同様に、ベース基板10の表面に垂直な方向において、第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極は第3サブ画素Rの発光素子の発光層の中間層101から遠い側に設置され、第3サブ画素Rの発光素子の第2発光電圧印加電極は第3サブ画素Rの発光素子の発光層の中間層101から遠い側に設置され、
図6Dに示すように、ベース基板10の表面に垂直な方向において、第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極1201dは第4サブ画素Bの発光素子の発光層1203dの中間層101に近い側に設置され、第4サブ画素Bの発光素子の第2発光電圧印加電極1202dは第4サブ画素Bの発光素子の発光層1203dの中間層101から遠い側に設置される。
【0207】
例えば、
図6Bに示すように、中間層101は第3ビアh3を含み、第3接続電極ブロックCe3は第3ビアh3に延伸され且つ第3ビアh3を介して第3サブ画素Rの画素回路に電気的に接続される。例えば、第3接続電極ブロックCe3は第3ビアh3を覆って充填する。
【0208】
例えば、
図6Dに示すように、中間層101は第4ビアh4を含み、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4に延伸され且つ第4ビアh4を介して第4サブ画素Bの画素回路に電気的に接続される。例えば、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を覆って充填する。
【0209】
例えば、第3接続電極ブロックCe3は第3ビアh3を介して画素回路のソースドレイン金属層に延伸され、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を介して画素回路のソースドレイン金属層まで延伸する。
【0210】
例えば、第3接続電極ブロックCe3は第3ビアh3を介して画素回路のソースドレイン金属層に延伸されて、画素回路のソースドレイン金属層に位置する第3サブ画素Rの第2発光制御トランジスタの第2電極に電気的に接続される。例えば、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を介して画素回路のソースドレイン金属層に延伸されて、画素回路のソースドレイン金属層に位置する第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタの第2電極に電気的に接続される。
【0211】
例えば、
図6A及び6Bに示すように、各繰り返し単位11では、第1方向Xにおいて、第3接続電極Ce3は第3駆動電極ブロックDe3の第1サブ画素G1の補助電極ブロックAeから遠い側に位置し、第2方向Yにおいて、第3接続電極Ce3は第3駆動電極ブロックDe3の第4駆動電極ブロックDe4に近い側に位置し、つまり、
図6A及び6Bに示される例では、第3接続電極ブロックCe3は第3駆動電極ブロックDe3の右下側に位置し、すなわち、第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極1201cの形状は鏡面対称なQ字型の形状であってもよい。
【0212】
例えば、
図6A及び6Bに示すように、各繰り返し単位11では、第1方向Xにおいて、第4接続電極Ce4は第4駆動電極ブロックDe4の第1サブ画素G1の補助電極ブロックAeから遠い側に位置し、第2方向Yにおいて、第4接続電極Ce4は第4駆動電極ブロックDe4の第3駆動電極ブロックDe3に近い側に位置し、つまり、
図6A及び6Bに示される例では、第4接続電極ブロックCe4は第4駆動電極ブロックDe4の左下側に位置し、すなわち、第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極1201dの形状はQ字型の形状であってもよい。
【0213】
例えば、第3接続電極Ce3は第3ビアh3を介して第3サブ画素Rの画素回路の第2発光制御回路124cに電気的に接続され、例えば、第3接続電極Ce3は第3ビアh3を介して第3サブ画素Rの画素回路の第2発光制御トランジスタの第2電極に電気的に接続される。
【0214】
例えば、
図6Dに示すように、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を介して第4サブ画素Bの画素回路の第2発光制御回路124dに電気的に接続され、例えば、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を介して第4サブ画素Bの画素回路の第2発光制御トランジスタの第2電極に電気的に接続される。
【0215】
例えば、
図6Bに示すように、
図6Dに示されるソースドレイン金属層340上に中間層(図示せず)が形成され、各サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極が中間層上に設置される。第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極の第1接続電極ブロックCe1、第1駆動電極ブロックDe1及び補助電極ブロックAe、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極の第2接続電極ブロックCe2、第2駆動電極ブロックDe2、第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極の第3接続電極ブロックCe3、第3駆動電極ブロックDe3、第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極の第4接続電極ブロックCe4、第4駆動電極ブロックDe4は、いずれも中間層上に設置され、第1サブ画素G1の第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1を介して第1サブ画素G1の画素回路121a中の第2発光制御トランジスタT5に接続され、第2サブ画素G2の第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2を介して第2サブ画素G2の画素回路121b中の第2発光制御トランジスタT5に接続され、第3サブ画素Rの第3接続電極ブロックCe3は第3ビアh3を介して第3サブ画素Rの画素回路中の第2発光制御トランジスタT5に接続され、第4サブ画素Bの第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を介して第4サブ画素Bの画素回路中の第2発光制御トランジスタT5に接続される。
【0216】
例えば、ベース基板における第1サブ画素G1の補助電極ブロックAeの正投影とベース基板における第1サブ画素G1の画素回路121a中の駆動トランジスタのゲートの正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第2サブ画素G2の第2駆動電極ブロックDe2の正投影とベース基板における第2サブ画素G2の画素回路121b中の駆動トランジスタのゲートの正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第3サブ画素Rの第3駆動電極ブロックDe3の正投影とベース基板における第3サブ画素Rの画素回路中の駆動トランジスタのゲートの正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第4サブ画素Bの第4駆動電極ブロックDe4の正投影とベース基板における第4サブ画素Bの画素回路中の駆動トランジスタのゲートの正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0217】
なお、
図6Eは各サブ画素の駆動電極ブロック、各第1サブ画素の補助電極ブロック及び各サブ画素の接続電極ブロックを示し、
図6Eはさらに各接続電極ブロックに対応するビアを示す。なお、各サブ画素の接続電極ブロックは対応するビアを覆って充填し、例えば、第1接続電極ブロックは第1ビアh1を覆って充填し、第2接続電極ブロックは第2ビアh2を覆って充填し、第3接続電極ブロックは第3ビアh3を覆って充填し、第4接続電極ブロックは第4ビアh4を覆って充填し、しかし、各ビアの位置を示すために、
図6E中の各ビアは対応する接続電極ブロックの上方に位置する。
【0218】
例えば、
図6Eに示すように、第2方向Yにおいて、各ビアは複数の行に配列され、各行ビア中の各ビアは第3ビアh3、第1ビアh1、第4ビアh4及び第2ビアh2の順で配列され、すなわち第3ビアh3、第1ビアh1、第4ビアh4及び第2ビアh2を1配列周期HT1とし、該配列周期HT1において、第1ビアh1は該第1ビアh1と隣接する第2行の第1サブ画素G1に対応し、第2ビアh2は該第2ビアh2と隣接する第1行の第2サブ画素G2に対応し、第3ビアh3は該第3ビアh3と隣接する第1行の第3サブ画素Rに対応し、第4ビアh4は該第4ビアh4と隣接する第1行の第4サブ画素Bに対応する。
【0219】
例えば、第2方向Yにおいて、各行のビアのそれぞれは同一直線上にあり、すなわち、各配列周期HT1における第1ビアh1、第3ビアh3、第2ビアh2及び第4ビアh4は同一直線上にあり、且つ各配列周期HT1も同一直線上にある。
【0220】
例えば、第2方向Yにおいて、任意の隣接する2つのビアの距離は第1固定距離d1であり、つまり、
図6Eに示すように、配列周期HT1において、第1ビアh1と第4ビアh4との距離は第1固定距離d1であり、第1ビアh1と第3ビアh3との距離も第1固定距離d1であり、第2ビアh2と第3ビアh3との距離も第1固定距離d1であり、第2ビアh2と第4ビアh4との距離も第1固定距離d1である。なお、「隣接する2つのビア」は、該2つのビアの間にビアがないことを表し、第1固定距離d1は第2方向Yにおいて隣接する2つのビアの中心間の距離を表してもよい。
【0221】
例えば、
図6Eに示すように、第1方向Xにおいて、各第1ビアh1と各第2ビアh2は複数の第1ビア列として配列され、各第3ビアh3と各第4ビアh4は複数の第2ビア列として配列され、第2方向Yにおいて、第1ビア列と第2ビア列は交互に配列され、つまり、複数の第1ビア列を奇数列とすると、複数の第2ビア列を偶数列とする。各第1ビア列では、各第1ビアh1と各第2ビアh2は同一直線上にあり、各第2ビア列では、各第3ビアh3と各第4ビアh4も同一直線上にある。
【0222】
例えば、第1方向Xにおいて、任意の隣接する第1ビアh1と第2ビアh2との距離は第2固定距離d2であり、任意の隣接する第3ビアh3と第4ビアh4との距離は第3固定距離d3であり、第2固定距離d2と第3固定距離d3は等しい。なお、第2固定距離d2は第1方向Xにおいて隣接する第1ビアh1の中心と第2ビアh2の中心との距離、第3固定距離d3は第1方向Xにおいて隣接する第3ビアh3の中心と第4ビアh4の中心との距離を表してもよい。
【0223】
例えば、複数の繰り返し単位11は第2方向Yに配列されて複数の繰り返し単位群を形成し、複数の繰り返し単位群は第1方向Xに配列される。
図6Eに示すように、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロック、第2接続電極ブロック、第3接続電極ブロック及び第4接続電極ブロックは隣接する2つの繰り返し単位群の間に位置し、第1方向Xにおいて、補助電極ブロックの少なくとも一部は、補助電極ブロックの第1駆動電極ブロックから遠い側であって補助電極ブロックが位置する繰り返し単位群と隣接する繰り返し単位群中の隣接する2つの繰り返し単位の間に位置する。例えば、いくつかの実施例では、第P個の繰り返し単位群は第1行に位置し、第P+1個の繰り返し単位群は第2行に位置する。第P+1個の繰り返し単位群に位置する繰り返し単位について、補助電極ブロックAeの少なくとも一部は補助電極ブロックAeの第1駆動電極ブロックDe1から遠い側であって補助電極ブロックAeが位置する繰り返し単位群(すなわち第P+1個の繰り返し単位群)と隣接する繰り返し単位群(すなわち第P個の繰り返し単位群)中の隣接する2つの繰り返し単位の間に位置し、例えば、
図6Eに示すように、第2行の繰り返し単位に位置する補助電極ブロックAeの少なくとも一部は第1行に延伸され、且つ第1行の隣接する2つの繰り返し単位の間に位置し、例えば、第2行の繰り返し単位に位置する補助電極ブロックAeの少なくとも一部は第1行の隣接する第3サブ画素Rと第4サブ画素Bとの間に位置する。
【0224】
例えば、
図6Cに示すように、第1サブ画素G1の第2発光制御回路124aの第2発光制御トランジスタは第2電極1241a(例えば、ドレイン)及びアクティブ層1242aを含む。第1サブ画素G1の駆動回路の駆動トランジスタはゲート1221a(すなわち駆動回路122aの制御端子)及びアクティブ層1222aを含む。なお、
図6Cは第1サブ画素G1の第2発光制御トランジスタのゲート及び第1電極、第1サブ画素G1の駆動トランジスタの第1電極及び第2電極等を示していない。
【0225】
例えば、アクティブ半導体層310と第1導電層320との間にゲート絶縁層が設置され、すなわち、
図6Cに示すように、第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aとアクティブ層1222aとの間にゲート絶縁層131が設置され、ゲート絶縁層131が表示用基板100全体を被覆し、それにより、第2発光制御トランジスタのゲートとアクティブ層との間にもゲート絶縁層131が設置される。第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aはゲート絶縁層131のベース基板10から遠い側に設置される。
図6Cに示すように、ゲート絶縁層131のベース基板10から遠い側に、第1サブ画素G1の第1発光制御回路に接続される第1発光制御信号線EM1a及び第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2aがさらに設置される。
【0226】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影とベース基板10における、第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2a(すなわち第1サブ画素G1の第1発光制御回路に接続される第1発光制御信号線EM1a)の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0227】
例えば、
図6Cに示すように、第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aに第1絶縁層132が設置され、第1絶縁層132のベース基板10から遠い側に第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1aが設置される。第3コンデンサC2の第2電極CC2aのベース基板10から遠い側に第2絶縁層133が設置される。第1サブ画素G1の第2発光制御トランジスタの第2電極1241aは第2絶縁層133のベース基板10から遠い側に設置され、且つ第2絶縁層133、第1絶縁層132及びゲート絶縁層131のビア388aを貫通して第2発光制御トランジスタのアクティブ層1242aに電気的に接続される。例えば、第1絶縁層132と第2絶縁層133も表示用基板100全体に被覆される。
【0228】
例えば、第2絶縁層133のベース基板10から遠い側に第1サブ画素G1の第1接続部341aが設置され、第1サブ画素G1の第1接続部341aが第2絶縁層133、第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1a及び第1絶縁層132のビア385aを貫通して第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aに電気的に接続される。ベース基板10における第1接続部341aの正投影とベース基板10における第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aの正投影とは少なくとも部分的に重なり、つまり、ベース基板10における第1接続部341aの正投影、ベース基板10における第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aの正投影及びベース基板10における補助電極ブロックAeの正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0229】
なお、第1サブ画素G1では、ベース基板10に垂直な方向において、第1コンデンサC11の第1電極CC3a(すなわち補助電極ブロックAe)と第2電極CC4a(すなわち第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221a)との間に、第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1a、第1サブ画素G1の第1接続部341a等の金属層が設置され、従って、補助電極ブロックAeと第1サブ画素G1の第1接続部341aとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、補助電極ブロックAeと第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1aとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1aと第1サブ画素G1の第1接続部341aとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aと第1サブ画素G1の第1接続部341aとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221aと第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1aとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、これらの寄生コンデンサの位置及び大きさ等は表示用基板の具体的なレイアウト(Layout)構造に関連し、本開示ではその詳細説明を省略する。
【0230】
例えば、第1サブ画素G1の第2発光制御トランジスタの第2電極1241a、第1接続部341aはいずれも画素回路のソースドレイン金属層340内に位置し、第1サブ画素G1の駆動トランジスタのゲート1221a及び第1発光制御信号線EM1a/第2発光制御信号線EM2aはいずれも画素回路の第1導電層320内に位置し、第1サブ画素G1の第3コンデンサC2の第1電極CC1aは画素回路の第2導電層330内に位置し、第1サブ画素G1の第2発光制御トランジスタのアクティブ層1242a及び駆動トランジスタのアクティブ層1222aは画素回路のアクティブ半導体層310内に位置する。
【0231】
例えば、第1接続電極ブロックCe1は第1ビアh1を介して画素回路のソースドレイン金属層340に延伸されて、画素回路のソースドレイン金属層340内に位置する第1サブ画素G1の第2発光制御トランジスタの第2電極1241aに電気的に接続される。
【0232】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10に垂直な方向において、第1接続電極ブロックCe1とベース基板10との間に、第2サブ画素G2の画素回路に接続される第1リセット電源信号線Init1b/第2リセット電源信号線Init2b、第2サブ画素G2の第2接続部342bの少なくとも一部及びビア386bが設置され、第2サブ画素G2の第2接続部342bは該ビア386bを介して第1リセット電源信号線Init1b/第2リセット電源信号線Init2bに電気的に接続される。
【0233】
例えば、第1リセット電源信号線Init1b/第2リセット電源信号線Init2bは画素回路の第2導電層330内に位置する。
【0234】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10に垂直な方向において、第1駆動電極ブロックDe1とベース基板10との間に、第2サブ画素G2の画素回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1a/第2リセット制御信号線Rst2a、第2サブ画素G2の第2接続部342bの少なくとも一部、第2サブ画素G2の第1接続部341bの少なくとも一部、ビア387b、ビア384b、第2サブ画素G2の第1リセットトランジスタT6の第2電極1291b(第2サブ画素G2の閾値補償トランジスタT3の第2電極でもある)、第2サブ画素G2の第1リセットトランジスタT6の第1電極1292b(第2サブ画素G2の第2リセットトランジスタT7の第1電極でもある)が設置され、第2サブ画素G2の第2接続部342bはビア387bを介して第2サブ画素G2の第1リセットトランジスタT6の第1電極1292bに電気的に接続され、第2サブ画素G2の第1接続部341bはビア384bを介して第2サブ画素G2の第1リセットトランジスタT6の第2電極1291bに電気的に接続される。
【0235】
例えば、
図6Cに示すように、第2サブ画素G2の第2発光制御回路124bの第2発光制御トランジスタは第2電極1241b(例えば、ドレイン)及びアクティブ層1242bを含む。第2サブ画素G2の駆動回路の駆動トランジスタはゲート1221b(すなわち駆動回路122bの制御端子)及びアクティブ層1222bを含む。なお、
図6Cは第2サブ画素G2の第2発光制御トランジスタのゲート及び第1電極、第2サブ画素G2の駆動トランジスタの第1電極及び第2電極等を示していない。
【0236】
例えば、第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bとアクティブ層1222bとの間にもゲート絶縁層131が設置される。第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221b上にも第1絶縁層132が設置される。第1絶縁層132のベース基板10から遠い側も第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1bが設置される。第2サブ画素G2の第2発光制御トランジスタの第2電極1241bは第2絶縁層133のベース基板10から遠い側に設置され、第2絶縁層133、第1絶縁層132及びゲート絶縁層131のビア388bを貫通して第2サブ画素G2の第2発光制御トランジスタのアクティブ層1242bに電気的に接続される。
【0237】
例えば、
図6Cに示すように、ゲート絶縁層131のベース基板10から遠い側に、第2サブ画素G2の第1発光制御回路に接続される第1発光制御信号線EM1b及び第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2bが設置される。
【0238】
例えば、
図6Cに示すように、ベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影と、ベース基板10における、第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2b(すなわち、第2サブ画素G2の第1発光制御回路に接続される第1発光制御信号線EM1b)の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
例えば、
図6Cに示すように、ゲート絶縁層131のベース基板10から遠い側に、第2サブ画素G2のデータ書込みトランジスタに電気的に接続される第1走査信号線Ga1b及び第2サブ画素G2の閾値補償トランジスタに電気的に接続される第2走査信号線Ga2bが設置される。
【0239】
例えば、第2絶縁層133のベース基板10から遠い側に第2サブ画素G2の第1接続部341bが設置され、第2サブ画素G2の第1接続部341bが第2絶縁層133、第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1b及び第1絶縁層132のビア385bを貫通して第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bに電気的に接続される。ベース基板10における第2サブ画素G2の第1接続部341bの正投影とベース基板10における第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bの正投影とは少なくとも部分的に重なり、つまり、ベース基板10における第1接続部341bの正投影、ベース基板10における第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bの正投影及びベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0240】
なお、第2サブ画素G2では、ベース基板10に垂直な方向において、第2コンデンサC12の第1電極CC1b(すなわち第2駆動電極ブロックDe2)と第2電極(すなわち第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221b)との間に、第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1b、第2サブ画素G2の第1接続部341b等の金属層が設置され、従って、第2駆動電極ブロックDe2と第2サブ画素G2の第1接続部341bとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第2駆動電極ブロックDe2と第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1bとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1bと第2サブ画素G2の第1接続部341bとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bと第2サブ画素G2の第1接続部341bとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bと第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1bとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、これらの寄生コンデンサの位置及び大きさ等は表示用基板の具体的なレイアウト(Layout)構造に関連し、本開示ではその詳細説明を省略する。
【0241】
例えば、第2サブ画素G2の第2発光制御トランジスタの第2電極1241b、第1接続部341bはいずれも画素回路のソースドレイン金属層340内に位置し、第2サブ画素G2の駆動トランジスタのゲート1221bと第1発光制御信号線EM1b/第2発光制御信号線EM2bは画素回路の第1導電層320内に位置し、第2サブ画素G2の第3コンデンサC2の第1電極CC1bは画素回路の第2導電層330内に位置し、第2サブ画素G2の第2発光制御トランジスタのアクティブ層1242b及び駆動トランジスタのアクティブ層1222bは画素回路のアクティブ半導体層310内に位置する。
【0242】
例えば、第2接続電極ブロックCe2は第2ビアh2を介して画素回路のソースドレイン金属層340に延伸されて、画素回路のソースドレイン金属層340に位置する第2サブ画素G2の第2発光制御トランジスタの第2電極1241bに電気的に接続される。
【0243】
例えば、
図6B及び
図6Cに示すように、ベース基板における第2サブ画素G2の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路に対応するアクティブ半導体層の正投影との重なり部分の形状は「几」字型を含み、該「几」字型に対応するアクティブ半導体層部分は第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタのアクティブ層を含む。ベース基板に垂直な方向において、第2サブ画素G2の画素回路に対応するアクティブ半導体層の、第2サブ画素G2の第1発光電圧印加電極と重なる部分は第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタのアクティブ層を含んでもよい。また、第2サブ画素G2の画素回路に対応するアクティブ半導体層の、第2サブ画素G2の第1発光電圧印加電極と重なる部分は第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御トランジスタT5のドレイン領域をさらに含んでもよい。
【0244】
例えば、
図6B及び
図6Cに示すように、ベース基板における第2サブ画素G2の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路に対応するソースドレイン金属層の正投影とは部分的に重なる。ベース基板に垂直な方向において、第2サブ画素G2の画素回路に対応するソースドレイン金属層の、第2サブ画素G2の第1発光電圧印加電極と重なる部分は第1接続部の一部(すなわち、第1接続部の、第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタのゲートと重なる部分)及び第3接続部(すなわち、第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御トランジスタT5のドレイン)、第1電源信号線VDD1の一部などを含んでもよい。
【0245】
例えば、
図6B及び
図6Cに示すように、ベース基板に垂直な方向において、第2サブ画素G2の画素回路に対応するアクティブ半導体層の、第1サブ画素G1の第1発光電圧印加電極と重なる部分は第2サブ画素G2の画素回路中のリセット回路129b中の第1リセットトランジスタT6及び第2リセットトランジスタT7のアクティブ層、ドレイン領域、第1サブ画素G1の画素回路中の駆動トランジスタのアクティブ層(「几」字型)の一部、第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御トランジスタT5のドレイン領域等を含んでもよい。
【0246】
例えば、
図6B及び
図6Cに示すように、ベース基板における第1サブ画素G1の第1発光電圧印加電極の正投影は、ベース基板における、第1サブ画素G1の画素回路に対応するソースドレイン金属層の正投影及びベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路に対応するソースドレイン金属層の正投影の両方とは部分的に重なる。例えば、ベース基板に垂直な方向において、第2サブ画素G2の画素回路に対応するソースドレイン金属層の、第1サブ画素G1の第1発光電圧印加電極と重なる部分は第1接続部の一部(すなわち、第1接続部の、閾値補償トランジスタのドレイン領域と重なる部分)、第2接続部(すなわち、第2サブ画素G2の画素回路の第2リセットトランジスタのドレインと第1リセット電源信号線との間の接続部)及び第1電源信号線VDD1の一部等を含む。第1サブ画素G1の画素回路に対応するソースドレイン金属層の、第1サブ画素G1の第1発光電圧印加電極と重なる部分は第1接続部の一部(すなわち第1接続部の、第1サブ画素G1の画素回路の駆動トランジスタのゲートと重なる部分)及び第3接続部(すなわち、第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御トランジスタのドレイン)等を含む。例えば、
図6Dに示すように、第4サブ画素Bの第2発光制御回路124dの第2発光制御トランジスタは第2電極1241d(例えば、ドレイン)及びアクティブ層1242cを含む。第3サブ画素Rの駆動回路の駆動トランジスタはゲート1221d(すなわち、駆動回路122dの制御端子)及びアクティブ層1222dを含む。なお、
図6Dは第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタのゲート及び第1電極、第4サブ画素Bの駆動トランジスタの第1電極及び第2電極等を示していない。
【0247】
例えば、
図6Dに示すように、第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dとアクティブ層1222dとの間にゲート絶縁層131が設置され、第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221d上にも第1絶縁層132が設置される。第1絶縁層132のベース基板10から遠い側に第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1dが設置される。第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタの第2電極1241dは第2絶縁層133のベース基板10から遠い側に設置され、且つ第2絶縁層133、第1絶縁層132及びゲート絶縁層131のビア388dを貫通して第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタのアクティブ層1242dに電気的に接続される。
【0248】
例えば、
図6Dに示すように、ゲート絶縁層131のベース基板10から遠い側に、第4サブ画素Bの第1発光制御回路に接続される第1発光制御信号線EM1d及び第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2dが設置される。例えば、
図6B及び
図6Cに示すように、第2行の第4サブ画素Bについて、該第4サブ画素Bに対応する第1発光制御信号線EM1dと第2発光制御信号線EM2dは同一信号線であり、且つ該第1発光制御信号線EM1d/第2発光制御信号線EM2dと第2行の第2サブ画素G2に対応する第1発光制御信号線EM1b/第2発光制御信号線EM2bも同一信号線である。
【0249】
例えば、
図6Dに示すように、ベース基板10における第4接続電極ブロックCe4の正投影はベース基板10における、第4サブ画素Bの画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2d(すなわち、第4サブ画素Bの第1発光制御回路に接続される第1発光制御信号線EM1d)の正投影と少なくとも部分的に重なる。
【0250】
例えば、
図6Dに示すように、ゲート絶縁層131のベース基板10から遠い側に、第4サブ画素Bのデータ書込みトランジスタに電気的に接続される第1走査信号線Ga1d、及び第4サブ画素Bの閾値補償トランジスタに電気的に接続される第2走査信号線Ga2dが設置される。例えば、
図6B及び
図6Cに示すように、第2行の第4サブ画素Bについて、該第4サブ画素Bに対応する第1走査信号線Ga1dと第2走査信号線Ga2dは同一信号線であり、且つ該第1走査信号線Ga1d/第2走査信号線Ga2dと第2行の第2サブ画素G2に対応する第1走査信号線Ga1b/第2走査信号線Ga2bも同一信号線である。
【0251】
例えば、第2絶縁層133のベース基板10から遠い側に第4サブ画素Bの第1接続部341dが設置され、第4サブ画素Bの第1接続部341dが第2絶縁層133、第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1d及び第1絶縁層132のビア385dを貫通して第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dに電気的に接続される。ベース基板10における第4サブ画素Bの第1接続部341dの正投影とベース基板10における第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dの正投影とは少なくとも部分的に重なり、つまり、ベース基板10における第1接続部341dの正投影、ベース基板10における第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dの正投影及びベース基板10における第4駆動電極ブロックDe4の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0252】
なお、第4サブ画素Bについて、ベース基板10に垂直な方向において、第4駆動電極ブロックDe4と第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dとの間に、第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1d、第4サブ画素Bの第1接続部341d等の金属層が設置され、従って、第4駆動電極ブロックDe4と第4サブ画素Bの第1接続部341dとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第4駆動電極ブロックDe4と第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1dとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1dと第4サブ画素Bの第1接続部341dとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dと第4サブ画素Bの第1接続部341dとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221dと第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1dとの間にも寄生コンデンサが存在する可能性があり、これらの寄生コンデンサの位置及び大きさ等は表示用基板の具体的なレイアウト(Layout)構造に関連し、本開示ではその詳細説明を省略する。
【0253】
例えば、
図6Dに示すように、ベース基板10上に、第4サブ画素Bの画素回路に接続される第1リセット電源信号線Init1d/第2リセット電源信号線Init2及びビア386dが設置され、ベース基板10に垂直な方向において、第4駆動電極ブロックCe1とベース基板10との間に第4サブ画素Bの第2接続部342dの少なくとも一部が設置され、第4サブ画素Bの第2接続部342dが該ビア386dを介して第1リセット電源信号線Init1d/第2リセット電源信号線Init2dに電気的に接続される。
【0254】
例えば、
図6Dに示すように、ベース基板10に垂直な方向において、第4駆動電極ブロックDe4とベース基板10との間に、第4サブ画素Bの画素回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1d/第2リセット制御信号線Rst2d、第4サブ画素Bの第2接続部342dの少なくとも一部、第4サブ画素Bの第1接続部341d、ビア387d、ビア384d、第4サブ画素Bの第1リセットトランジスタT6の第2電極1291d(第4サブ画素Bの閾値補償トランジスタT3の第2電極でもある)、第4サブ画素Bの第1リセットトランジスタT6の第1電極1292d(第4サブ画素Bの第2リセットトランジスタT7の第1電極でもある)が設置され、第4サブ画素Bの第2接続部342dがビア387dを介して第4サブ画素Bの第1リセットトランジスタT6の第1電極1292dに電気的に接続され、第4サブ画素Bの第1接続部341dがビア384dを介して第4サブ画素Bの第1リセットトランジスタT6の第2電極1291dに電気的に接続される。
【0255】
例えば、第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタの第2電極1241d、第1接続部341dはいずれも画素回路のソースドレイン金属層340内に位置し、第4サブ画素Bの駆動トランジスタのゲート1221d及び第1発光制御信号線EM1d/第2発光制御信号線EM2dは第4サブ画素Bの画素回路のゲート金属層の第1導電層320内に位置し、第4サブ画素Bの第3コンデンサC2の第1電極CC1d及び第1リセット電源信号線Init1d/第2リセット電源信号線Init2dは画素回路の第2導電層330内に位置し、第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタのアクティブ層1242d及び駆動トランジスタのアクティブ層1222dは画素回路のアクティブ半導体層310内に位置する。
【0256】
例えば、第4接続電極ブロックCe4は第4ビアh4を介して画素回路のソースドレイン金属層に延伸されて、画素回路のソースドレイン金属層に位置する第4サブ画素Bの第2発光制御トランジスタの第2電極1241dに電気的に接続される。
【0257】
例えば、第3サブ画素Rの画素回路及び第4サブ画素Bの画素回路中の各回路(例えば、駆動回路、第1発光制御回路、第2発光制御回路、記憶回路、リセット回路、閾値補償回路、データ書込み回路等)の接続関係は
図3Aに示される例と同様である。
【0258】
本開示の実施例は表示用基板をさらに提供する。
図2に示すように、表示用基板100はベース基板10、及びベース基板10上に設置される複数の繰り返し単位11を含み、各繰り返し単位11は複数のサブ画素12を含む。各サブ画素12は発光素子120及び画素回路121を含み、画素回路121は発光素子120を発光駆動し、駆動回路122を含む。
【0259】
例えば、
図5Aに示すように、複数のサブ画素12の駆動回路122はベース基板10上にアレイ状に配列され、例えば、領域31~40はベース基板10上の各サブ画素の駆動回路が位置する領域であり、
図5Aに示される例では、2行5列の駆動回路を示す。例えば、
図3Aに示される例では、破線で囲まれる繰り返し単位11において、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路は領域32に位置し、第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路は領域37に位置し、第3サブ画素Rの画素回路の駆動回路は領域38に位置し、第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路は領域36に位置する。
【0260】
なお、本開示では、「行」は各画素回路が位置する領域に対応する行、「列」は各画素回路が位置する領域に対応する列を表してもよい。
【0261】
例えば、各サブ画素の発光素子120は第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び第1発光電圧印加電極と第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含む。例えば、いくつかの実施例では、第1発光電圧印加電極は陽極、第2発光電圧印加電極は陰極である。
【0262】
例えば、
図5A及び6Aに示すように、複数のサブ画素12は第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2を含む。例えば、第1サブ画素G1の発光素子が発する光の色と第2サブ画素G2の発光素子が発する光の色とは同じであり、例えば、第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2はいずれも緑色サブ画素である。
【0263】
例えば、
図6Aに示すように、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極は第1方向Xに配列される。
【0264】
例えば、
図6Aに示すように、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aは補助電極ブロックAe、第1駆動電極ブロックDe1及び第1接続電極ブロックCe1を含み、補助電極ブロックAe、第1駆動電極ブロックDe1及び第1接続電極ブロックCe1は互いに電気的に接続される。
【0265】
例えば、
図6Aに示すように、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bは第2駆動電極ブロックDe2及び第2接続電極ブロックCe2を含み、第2駆動電極ブロックDe2と第2接続電極ブロックCe2が電気的に接続される。
【0266】
例えば、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの面積と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの面積は異なり、例えば、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極1201aの面積は第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極1201bの面積よりも大きい。
【0267】
例えば、
図6Bに示すように、補助電極ブロックAeは第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子のベース基板10から遠い側に位置し、第2駆動電極ブロックDe2は第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子のベース基板10から遠い側に位置する。例えば、補助電極ブロックAeの形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状とは異なり、つまり、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子のベース基板10から遠い側に位置する第1サブ画素G1の陽極部分の形状と第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子のベース基板10から遠い側に位置する第2サブ画素G2の陽極部分の形状とは異なる。
【0268】
例えば、
図3Aに示すように、各サブ画素の画素回路121の駆動回路122は駆動トランジスタT1を含む。補助電極ブロックAeは第1サブ画素G1の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートのベース基板10から遠い側に位置し、第2駆動電極ブロックDe2は第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートのベース基板10から遠い側に位置する。
【0269】
例えば、ベース基板における補助電極ブロックAeの正投影とベース基板における第1サブ画素G1の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートの正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第2駆動電極ブロックDe2の正投影とベース基板における第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートの正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0270】
例えば、ベース基板における補助電極ブロックAeの正投影とベース基板における第1サブ画素G1の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートの正投影との重なり部分の面積は第1面積であり、ベース基板における第2駆動電極ブロックDe2の正投影とベース基板における第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートの正投影との重なり部分の面積は第2面積であり、第1面積と第2面積との比は以下に示す関係式を満たす。
【0271】
Amin≦AR1/AR2≦Amax
式中、AR1は第1面積、AR2は第2面積を表し、Aminは最小比閾値を表し、90%であり、Amaxは最大比閾値を表し、110%である。
【0272】
例えば、
図6A及び
図6Bに示すように、第1駆動電極ブロックDe1の形状と補助電極ブロックAeの形状とは異なり、第1駆動電極ブロックDe1の形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状は同じであり、例えば、第1駆動電極ブロックDe1の形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状はいずれも五角形であり、補助電極ブロックAeの形状は矩形である。しかし、本開示ではそれに限定されず、第1駆動電極ブロックDe1の形状と第2駆動電極ブロックDe2の形状は矩形等であってもよく、補助電極ブロックAeの形状は五角形、六角形、楕円形等であってもよい。
【0273】
例えば、ベース基板10における第1駆動電極ブロックDe1の正投影の面積とベース基板10における第2駆動電極ブロックDe2の正投影の面積とは同じである。
【0274】
例えば、
図6A及び
図6Bに示すように、第1接続電極ブロックCe1の形状と第2接続電極ブロックCe2の形状は同じであってもよく、例えば、第1接続電極ブロックCe1の形状と第2接続電極ブロックCe2の形状はいずれも矩形である。
【0275】
例えば、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影の面積とベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影の面積とは同じである。
【0276】
なお、本開示のいくつかの実施例では、第1接続電極ブロックCe1の形状と第2接続電極ブロックCe2の形状とは異なり、及び/又は、ベース基板10における第1接続電極ブロックCe1の正投影の面積とベース基板10における第2接続電極ブロックCe2の正投影の面積とは異なるようにしてもよい。
【0277】
例えば、
図6Bに示すように、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子と第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子は第1方向Xに配列され、つまり、第1サブ画素G1の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートと第2サブ画素G2の画素回路の駆動トランジスタT1のゲートは第1方向Xに配列される。
【0278】
例えば、
図6Bに示すように、第1方向Xにおいて、第1駆動電極ブロックDe1は第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子の、第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子に近い側に位置する。例えば、いくつかの例では、
図6Bに示すように、第1方向Xにおいて、第1駆動電極ブロックDe1は第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子と第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する。
【0279】
例えば、
図6Bに示すように、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1は第1駆動電極ブロックDe1の、第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子から遠い側に位置する。例えば、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1は第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子と第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する。つまり、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1と第1駆動電極ブロックDe1はいずれも第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子と第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子との間に位置する。
【0280】
例えば、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1は第1駆動電極ブロックDe1の第2駆動電極ブロックDe2から遠い側に位置し、つまり、第1駆動電極ブロックDe1は第1接続電極ブロックCe1と第2駆動電極ブロックDe2との間に位置する。
【0281】
例えば、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1は第1駆動電極ブロックDe1と補助電極ブロックAeとの間に位置し、つまり、補助電極ブロックAeは第1接続電極ブロックCe1の第1駆動電極ブロックDe1から遠い側に位置する。
【0282】
例えば、第1方向Xにおいて、第2接続電極ブロックCe2は第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子の、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子から遠い側に位置する。
【0283】
例えば、第1方向Xにおいて、第2駆動電極ブロックDe2は第2接続電極ブロックCe2と第1駆動電極ブロックDe1との間に位置し、すなわち、第2接続電極ブロックCe2は第2駆動電極ブロックDe2の第1駆動電極ブロックDe1から遠い側に位置する。
【0284】
例えば、
図5Aに示すように、複数のサブ画素12は第3サブ画素R及び第4サブ画素Bをさらに含む。例えば、第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極と第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極は第2方向Yに配列される。第1方向Xと第2方向Yは互いに垂直である。
【0285】
例えば、
図6Aに示すように、第3サブ画素Rの発光素子の第1発光電圧印加電極は第3駆動電極ブロックDe3及び第3接続電極ブロックCe3を含み、第3駆動電極ブロックDe3と第3接続電極ブロックCe3が互いに電気的に接続される。例えば、ベース基板における第3駆動電極ブロックDe3の正投影とベース基板における第3サブ画素Rの画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0286】
例えば、
図6Aに示すように、第4サブ画素Bの発光素子の第1発光電圧印加電極は第4駆動電極ブロックDe4及び第4接続電極ブロックCe4を含み、第4駆動電極ブロックDe4と第4接続電極ブロックCe4が互いに電気的に接続される。例えば、
図6Bに示すように、第4駆動電極ブロックDe4は第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路の制御端子のベース基板10から遠い側に位置し、例えば、ベース基板における第4駆動電極ブロックDe4の正投影とベース基板における第4サブ画素Bの画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0287】
例えば、第1方向Xにおいて、第1サブ画素G1の画素回路の駆動回路の制御端子(すなわち駆動トランジスタのゲート)の中心と第1駆動電極ブロックDe1の中心との距離は第2サブ画素G2の画素回路の駆動回路の制御端子の中心と第2駆動電極ブロックDe2の中心との距離よりも大きい。
【0288】
なお、本開示では、「中心」は素子の物理的形状の幾何学的中心を表してもよい。画素配列構造を設計する時、駆動トランジスタのゲート、発光素子の陽極等の素子は一般には規則的な形状、例えば、矩形、六角形、五角形、台形又は他の形状に設計される。設計時、素子(例えば、駆動トランジスタのゲート又は発光素子の陽極等)の中心は上記規則的な形状の幾何学的中心であってもよい。しかし、実際の製造プロセスでは、形成される駆動トランジスタのゲート、発光素子の陽極等の素子の形状は一般には上記設計された規則的な形状に対して一定の偏差がある。例えば、上記規則的な形状の各角はフィレットになる可能性があり、従って、駆動トランジスタのゲート、発光素子の陽極等の素子の形状はフィレットパターンであり得る。また、実際に製造された駆動トランジスタのゲート、発光素子の陽極等の素子の形状は設計された形状とは別の変形になる可能性がある。例えば、六角形に設計されたサブ画素の形状は実際の製造では略楕円形になる。従って、駆動トランジスタのゲート、発光素子の陽極等の素子の中心は作製されたサブ画素の不規則な形状の厳密な幾何学的中心ではない可能性がある。本開示の実施例では、素子の中心は素子の形状の幾何学的中心に対して一定の偏差を許容する。また、「中心」は素子の重心を表してもよい。
【0289】
本開示の実施例は表示用基板をさらに提供する。
図2に示すように、表示用基板100はベース基板10、及びベース基板10上に設置される複数の繰り返し単位11を含み、各繰り返し単位11は複数のサブ画素12を含む。各サブ画素12は発光素子120、及び発光素子120を発光駆動する画素回路121を含む。
【0290】
例えば、各サブ画素の発光素子は第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び第1発光電圧印加電極と第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含む。
【0291】
例えば、
図3Aに示すように、各サブ画素の画素回路121は駆動回路122、第2発光制御回路124及びリセット回路129を含む。
【0292】
例えば、第2発光制御回路124は第2発光制御信号線EM2、駆動回路122の第2端子、発光素子120の第1発光電圧印加電極に電気的に接続され、第2発光制御信号線EM2によって供給される第2発光制御信号の制御下で駆動回路122と発光素子120とを導通又は遮断するように構成される。
【0293】
リセット回路129は駆動回路122の制御端子及び第1リセット制御信号線Rst1に電気的に接続され、第1リセット制御信号線Rst1によって供給される第1サブリセット制御信号の制御下で駆動回路122の制御端子をリセットするように構成される。
【0294】
例えば、第2発光制御信号線EM2と第1リセット制御信号線Rst1は第1方向Xに配列される。
図4Bに示すように、第1サブ画素G1において、該第1サブ画素G1の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2aと該第1サブ画素G1のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1aは第1方向Xに配列される。
【0295】
例えば、
図5Aに示すように、複数のサブ画素12は第1サブ画素G1及び第2サブ画素G2を含む。例えば、第1サブ画素G1の発光素子が発する光の色と第2サブ画素G2の発光素子が発する光の色とは同じであり、第1子像G1素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なる。
【0296】
例えば、
図6Bに示すように、ベース基板における第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影は、ベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1bの正投影及びベース基板における、第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2aの正投影の両方とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影は、ベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2bの正投影と少なくとも部分的に重なる。
【0297】
例えば、
図3Aに示すように、リセット回路129はさらに発光素子の第1発光電圧印加電極及び第2リセット制御信号線Rst2に電気的に接続され、第2リセット制御信号線Rst2によって供給される第2サブリセット制御信号の制御下で発光素子の第1発光電圧印加電極をリセットするように構成される。例えば、いくつかの実施例では、第1リセット制御信号線Rst1と第2リセット制御信号線Rst2は同一信号線である。
【0298】
例えば、
図3Aに示すように、各サブ画素の画素回路121はデータ書込み回路126をさらに含み、データ書込み回路126は駆動回路122の第1端子及び第1走査信号線Ga1に電気的に接続され、第1走査信号線Ga1によって供給される走査信号の制御下でデータ信号を駆動回路122の制御端子に書き込むように構成される。
【0299】
例えば、第1方向Xにおいて、第1走査信号線Ga1は第2発光制御信号線EM1と第1リセット制御信号線Rst1との間に位置し、
図4Bに示すように、第1サブ画素G1において、該第1サブ画素G1のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線Ga1aは、該第1サブ画素G1の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2aと該第1サブ画素G1のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1aとの間に位置する。
【0300】
例えば、
図6Aに示すように、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極は第1方向Xに配列される。
【0301】
例えば、
図6Bに示すように、第1方向Xにおいて、第2サブ画素G2の画素回路のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線Ga1bは、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極と第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極との間に位置する。
【0302】
例えば、各サブ画素のリセット回路129はさらに第1リセット電源信号線に電気的に接続され、第1リセット制御信号線によって供給される第1サブリセット制御信号の制御下で、第1リセット電源信号線によって供給される第1リセット信号に基づき駆動回路1222の制御端子をリセットするように構成される。
【0303】
例えば、各サブ画素のリセット回路129はさらに第2リセット電源信号線に電気的に接続され、第2リセット制御信号線によって供給される第2サブリセット制御信号の制御下で、第2リセット電源信号線によって供給される第2リセット信号に基づき発光素子の第1発光電圧印加電極をリセットするように構成される。例えば、いくつかの実施例では、第1リセット電源信号線と第2リセット電源信号線は同一信号線である。
【0304】
例えば、第1方向Xにおいて、第1リセット電源信号線は第1リセット制御信号線の第2発光制御信号線から遠い側に位置し、つまり、第1リセット制御信号線は第1リセット電源信号線と第2発光制御信号線に位置する。
図4Eに示すように、第1サブ画素G1について、第1方向Xにおいて、該第1サブ画素G1のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線Init1aは該第1サブ画素G1のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1aの、該第1サブ画素G1の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2aから遠い側に位置し、すなわち第1リセット制御信号線Rst1aは第1リセット電源信号線Init1aと第2発光制御信号線EM2aとの間に位置する。
【0305】
例えば、第2発光制御信号線、第1リセット制御信号線、第1走査信号線及び第1リセット電源信号線はいずれも第2方向に延伸し、第2方向と第1方向は互いに垂直である。例えば、第2発光制御信号線、第1リセット制御信号線、第1走査信号線及び第1リセット電源信号線は互いに平行し、例えば、略平行する。
図4Eに示すように、第1サブ画素G1において、該第1サブ画素G1の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM2a、該第1サブ画素G1のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1a、該第1サブ画素G1のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線Ga1a、及び該第1サブ画素G1のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線Init1aはいずれも第2方向Yに延伸し、且つ略平行する。
【0306】
なお、本開示では、「延伸」は各信号線(例えば、第2発光制御信号線、第1リセット制御信号線、第1走査信号線及び第1リセット電源信号線)の大体の配線方向を示し、各信号線は、微視的に直線ではなく、波状で第2方向Yに延伸する可能性がある。
【0307】
例えば、
図6Bに示すように、ベース基板における第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影はさらに、ベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線Rst1bの正投影と少なくとも部分的に重なる。
【0308】
例えば、
図6Aに示すように、第1サブ画素G1の発光素子の第1発光電圧印加電極は補助電極ブロックAe、第1駆動電極ブロックDe1及び第1接続電極ブロックCe1を含み、補助電極ブロックAe、第1駆動電極ブロックDe1及び第1接続電極ブロックCe1は互いに電気的に接続され、且つ第1方向Xに配列される。第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極は第2駆動電極ブロックDe2及び第2接続電極ブロックCe2を含み、第2駆動電極ブロックDe2と第2接続電極ブロックCe2は電気的に接続され、且つ第1方向Xに配列される。
【0309】
例えば、第1方向Xにおいて、第1接続電極ブロックCe1と補助電極ブロックAeはいずれも第1駆動電極ブロックDe1の第2駆動電極ブロックDe2から遠い側に位置し、第1接続電極ブロックCe1は補助電極Aeと第1駆動電極ブロックDe1との間に位置し、第2接続電極ブロックCe2は第2駆動電極ブロックDe2の第1駆動電極ブロックDe1から遠い側に位置する。
【0310】
例えば、
図6Bに示すように、ベース基板における第1駆動電極ブロックDe1の正投影は、ベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット制御信号線Rst1bの正投影及びベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路のリセット回路に接続される第1リセット電源信号線Init1bの正投影の両方とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第1接続電極ブロックCe1の正投影は、ベース基板における、第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM1aの正投影と少なくとも部分的に重なる。第1方向において、補助電極ブロックAeは第1サブ画素G1の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM1aの、第2サブ画素G2の発光素子の第1発光電圧印加電極から遠い側に位置する。
【0311】
例えば、
図6Bに示すように、ベース基板における第2接続電極ブロックCe2の正投影は、ベース基板における、第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM1bの正投影と少なくとも部分的に重なり、第1方向Xにおいて、第2駆動電極ブロックDe2は、第2サブ画素G2の画素回路の第2発光制御回路に接続される第2発光制御信号線EM1bと、第2サブ画素G2の画素回路のデータ書込み回路に接続される第1走査信号線Ga1bとの間に位置する。
【0312】
本開示の実施例は表示パネルをさらに提供する。
図7は本開示のいくつかの実施例に係る表示パネルの部分模式的な構成図である。例えば、
図7に示すように、表示パネル700は上記実施例のいずれかに記載の表示用基板100を含む。
【0313】
例えば、
図7に示すように、複数の繰り返し単位11は第2方向Yに配列されて複数の繰り返し単位群を形成し、
図7は2つの繰り返し単位群を示し、且つ2つの繰り返し単位群はそれぞれ第P個の繰り返し単位群及び第P+1個の繰り返し単位群であり、第P個の繰り返し単位群と第P+1個の繰り返し単位群は隣接する2つの繰り返し単位群であり、例えば、Pは1以上の正の整数である。複数の繰り返し単位群は第1方向Xに配列される。つまり、表示用基板100中の複数の繰り返し単位11は第1方向Xと第2方向Yにアレイ状に配列される。
【0314】
なお、上記
図5A及び
図6Eに示すように、第P個の繰り返し単位群は第1行に位置し、第P+1個の繰り返し単位群は第2行に位置し、
図7は各サブ画素の発光素子の接続電極ブロックを示していない。
【0315】
例えば、第P個の繰り返し単位群中の繰り返し単位の第1サブ画素G1と第2サブ画素G2の中心を結ぶ線の延長線と、第P+1個の繰り返し単位群中の繰り返し単位の第1サブ画素G1と第2サブ画素G2の中心を結ぶ線の延長線は重ならない。例えば、第P個の繰り返し単位群中の繰り返し単位の第1サブ画素G1と第2サブ画素G2の中心を結ぶ線の延長線は第P+1個の繰り返し単位群中の隣接する2つの繰り返し単位の間隔の中心を通り、同様に、第P+1個の繰り返し単位群中の繰り返し単位の第1サブ画素G1と第2サブ画素G2の中心を結ぶ線の延長線は第P個の繰り返し単位群中の隣接する2つの繰り返し単位の間隔の中心を通る。
【0316】
例えば、表示パネル700は液晶表示パネル又は有機発光ダイオード(OLED)表示パネル等であり得る。例えば、表示パネル700が液晶表示パネルである場合、表示用基板100はアレイ基板であってもよく、カラーフィルタ基板であってもよい。表示パネル700が有機発光ダイオード表示パネルである場合、表示用基板100はアレイ基板であってもよい。
【0317】
例えば、表示パネル700は矩形パネル、円形パネル、楕円形パネル又は多角形パネル等であり得る。また、表示パネル700は平面パネルに加えて、曲面パネル、及び球面パネルであり得る。
【0318】
例えば、表示パネル700はタッチ機能を有してもよく、すなわち、表示パネル600はタッチ表示パネルであってもよい。
【0319】
例えば、表示パネル700は携帯電話、タブレットPC、テレビ、ディスプレイ、ノートパソコン、デジタルフォトフレーム、ナビゲータなど、表示機能を有する任意の製品又は部材に適用できる。
【0320】
本開示の実施例は表示装置をさらに提供し、
図8Aは本開示のいくつかの実施例に係る表示装置の概略ブロック図であり、
図8Bは本開示のいくつかの実施例に係る表示装置の模式的な構成図である。
【0321】
例えば、
図8Aに示すように、本開示の実施例に係る表示装置800は表示パネル801を含み、表示パネル801は表示用基板802を含み、表示パネル801は上記実施例のいずれかに記載の表示パネル700であり、表示用基板802は上記実施例のいずれかに記載の表示用基板100である。
【0322】
例えば、
図8Aに示すように、表示装置800は、表示パネル801に電気的に接続される駆動チップ803をさらに含んでもよい。
【0323】
例えば、駆動チップ803は各繰り返し単位11中の第1サブ画素G1の第2サブ画素G2から遠い側に位置する。
図8Bに示すように、表示用基板802上の各繰り返し単位11中の第1サブ画素G1と第2サブ画素G2は第1方向Xに配列され、第1方向Xにおいて、駆動チップ803は各繰り返し単位11中の第1サブ画素G1の第2サブ画素G2から遠い側に位置する。つまり、第1方向Xにおいて、第1サブ画素G1と駆動チップ803との距離は第2サブ画素G2と駆動チップ803との距離未満である。例えば、
図8Bに示される例では、第1サブ画素G1は第2サブ画素G2よりも表示パネル801の上側に位置することにより、駆動チップ803は表示パネル801の上側に位置する。
【0324】
例えば、駆動チップ803は半導体チップであってもよく、且つデータドライバを含んでもよい。駆動チップ803中のデータドライバは表示パネル801中の複数のデータ線を駆動し、例えば、データドライバは複数のデータ線にデータ信号を供給する。
【0325】
例えば、表示装置800は携帯電話、タブレットPC、テレビ、ディスプレイ、ノートパソコン、デジタルフォトフレーム、ナビゲータなど、表示機能を有する任意の製品又は部材であり得る。
【0326】
なお、該表示装置800の他の構成部分(例えば、制御装置、画像データ符号化/復号装置、ゲートドライバ、タイミングコントローラ、クロック回路等)はいずれも当業者が理解するものであり、ここでは詳細説明を省略し、且つ本発明を制限しない。
【0327】
本開示の実施例は上記実施例のいずれかに記載の表示用基板を製造するための製造方法をさらに提供し、
図9は本開示の一実施例に係る表示用基板の製造方法及び概略フローチャートである。
【0328】
例えば、
図9に示すように、表示用基板の製造方法は、
ベース基板を提供するステップS10と、
ベース基板上に複数の繰り返し単位を形成するステップS11と、を含む。
【0329】
例えば、ステップS11では、各繰り返し単位は複数のサブ画素を含み、各サブ画素は画素回路及び発光素子を含み、発光素子は第1発光電圧印加電極、第2発光電圧印加電極、及び第1発光電圧印加電極と第2発光電圧印加電極との間に設置される発光層を含み、複数のサブ画素は第1サブ画素及び第2サブ画素を含み、第1サブ画素の発光素子が発する光の色と第2サブ画素の発光素子が発する光の色とは同じであり、第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状と第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の形状とは異なり、ベース基板における第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板における第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、ベース基板における第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極の正投影とベース基板における第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なる。
【0330】
例えば、ステップS11では、第1サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極を形成する時、一括パターニングプロセスによって第1駆動電極ブロックと補助電極ブロックを形成し、且つベース基板における補助電極ブロックの正投影とベース基板における第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影とは少なくとも部分的に重なり、例えば、ベース基板における第1サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影はベース基板における補助電極ブロックの正投影内にある。例えば、本開示の実施例では、一括パターニングプロセスは、フォトエッチングコーティング、露光、現像、エッチング及びフォトレジスト剥離等の操作を含み得る。
【0331】
なお、第1発光電圧印加電極が第1接続電極ブロックを含む場合、第1駆動電極ブロック及び補助電極ブロックを形成すると同時に、第1接続電極ブロックを形成してもよい。
【0332】
例えば、ステップS11では、第2サブ画素の発光素子の第1発光電圧印加電極を形成する時、第2駆動電極ブロックを形成し、且つベース基板における第2駆動電極ブロックの正投影はベース基板における第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影と少なくとも部分的に重なり、例えば、ベース基板における第2サブ画素の画素回路の駆動回路の制御端子の正投影はベース基板における第2駆動電極ブロックの正投影内にある。
【0333】
なお、第2発光電圧印加電極が第2接続電極ブロックを含む場合、一括パターニングプロセスによって第2駆動電極ブロック及び第2接続電極ブロックを形成してもよい。
【0334】
なお、繰り返し単位についての詳細説明は上記表示用基板の実施例の関連説明を参照すればよいため、ここでは重複説明を省略する。
【0335】
本開示について、以下の点を説明する。
【0336】
(1)本開示の実施例の図面では、本開示の実施例に係る構造のみを示しており、他の構造は通常の設計を参照すればよい。
【0337】
(2)明瞭さの点から、本発明の実施例を説明するための図面では、層又は構造の厚さ及び寸法は拡大される。なお、層、膜、領域又は基板のような素子が別の素子の「上」又は「下」に位置するとは、該素子が「直接」別の素子の「上」又は「下」に位置してもよく、中間素子が存在してもよいことを意味する。
【0338】
(3)矛盾しない限り、本開示の実施例及び実施例の特徴を互いに組み合わせて新たな実施例を得ることができる。
【0339】
以上、本開示の具体的な実施形態を説明したが、本開示の保護範囲はこれらに限定されず、本開示の保護範囲は特許請求の範囲の保護範囲に準じるべきである。
【符号の説明】
【0340】
10 ベース基板
11 繰り返し単位
12 サブ画素
31 領域
32 領域
33 領域
34 領域
35 領域
36 領域
37 領域
38 領域
39 領域
40 領域
100 表示用基板
101 中間層
120 発光素子
120a 発光素子
120b 発光素子
121 画素回路
121a 画素回路
121b 画素回路
122 駆動回路
122a 駆動回路
122b 駆動回路
122d 駆動回路
123 第1発光制御回路
123a 第1発光制御回路
123b 第1発光制御回路
124 第2発光制御回路
124a 第2発光制御回路
124b 第2発光制御回路
124c 第2発光制御回路
124d 第2発光制御回路
125a 第1寄生回路
125b 第2寄生回路
126 データ書込み回路
126a データ書込み回路
126b データ書込み回路
127 記憶回路
127a 記憶回路
127b 記憶回路
128 閾値補償回路
128a 閾値補償回路
128b 閾値補償回路
129 リセット回路
129a リセット回路
129b リセット回路
131 ゲート絶縁層
132 第1絶縁層
133 第2絶縁層
160 画素画定層
310 アクティブ半導体層
320 第1導電層
330 第2導電層
340 ソースドレイン金属層
341a 第1接続部
341b 第1接続部
341d 第1接続部
342a 第2接続部
342b 第2接続部
342d 第2接続部
343a 第3接続部
381a ビア
382a ビア
384a ビア
384b ビア
384d ビア
385a ビア
385b ビア
385d ビア
386a ビア
386b ビア
386d ビア
387a ビア
387b ビア
387d ビア
388a ビア
388b ビア
388d ビア
400 画素繰り返し単位
401 赤色サブ画素
402 青色サブ画素
403 第1緑色サブ画素
404 第2緑色サブ画素
405 方向
406 方向
600 表示パネル
700 表示パネル
800 表示装置
801 表示パネル
802 表示用基板
803 駆動チップ
1201 第1発光電圧印加電極
1201a 第1発光電圧印加電極
1201b 第1発光電圧印加電極
1201c 第1発光電圧印加電極
1201d 第1発光電圧印加電極
1202 第2発光電圧印加電極
1202d 第2発光電圧印加電極
1203 発光層
1203a 発光層
1203d 発光層
1221a 制御端子
1221b 制御端子
1221c 制御端子
1221d 制御端子
1222a アクティブ層
1222b アクティブ層
1222d アクティブ層
1241a 第2電極
1241b 第2電極
1241d 第2電極
1242a アクティブ層
1242b アクティブ層
1242c アクティブ層
1242d アクティブ層
1291b 第2電極
1291d 第2電極
1292b 第1電極
1292d 第1電極
3831a ビア
3832a ビア
【国際調査報告】