特表 2023-511555 食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2023-03-20

(54)【発明の名称】食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法

(51)【国際特許分類】

   B65B 47/00 20060101AFI20230313BHJP

   B29C 51/26 20060101ALI20230313BHJP

【ＦＩ】

B65B47/00

B29C51/26

【審査請求】未請求

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2022543514

(86)(22)【出願日】2021-01-12

(85)【翻訳文提出日】2022-09-12

(86)【国際出願番号】 EP2021050480

(87)【国際公開番号】W WO2021144263

(87)【国際公開日】2021-07-22

(31)【優先権主張番号】102020000000787

(32)【優先日】2020-01-17

(33)【優先権主張国・地域又は機関】IT

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】516023722

【氏名又は名称】サクミ・イモラ・ソシエタ・コーペラティバ

【氏名又は名称原語表記】ＳＡＣＭＩ ＩＭＯＬＡ Ｓ．Ｃ．

(74)【代理人】

【識別番号】110001195

【氏名又は名称】弁理士法人深見特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】パッリネッロ，フィオレンツォ

(72)【発明者】

【氏名】ミンガンティ，ジャンニ

(72)【発明者】

【氏名】プッチ，ファブリツィオ

(72)【発明者】

【氏名】ディ・ジャコモ，アルベールト

(72)【発明者】

【氏名】バルドゥッチ，エレオノーラ

(72)【発明者】

【氏名】フィウーミ，バレンティーナ

【テーマコード（参考）】

3E050

4F208

【Ｆターム（参考）】

3E050AA04

3E050AB02

3E050BA11

3E050GB09

3E050JA05

4F208AA24

4F208AC03

4F208AG07

4F208AH54

4F208AR12

4F208MA00

4F208MB01

4F208MW02

4F208MW34

(57)【要約】

食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法であって、それが
－少なくとも１つのアクセス入口（１２）が設けられた複数の収容レセプタクル（１１）を提供するために、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）製のシート（１０）を成形するステップであって、ＰＥＴシート（１０）の初期結晶化度が１０％以下である、ステップと、
－アクセス入口（１２）を通して、収容レセプタクル（１１）に少なくとも１つの食品を充填するステップと、
－閉鎖フィルム（１３）によってアクセス入口（１２）を封止するステップと、
－少なくとも２つの隣接する収容レセプタクル（１１）間の接続縁部（２２）に弱化部分（２１）を設けるステップであって、設けるステップが、弱化部分に沿って接続縁部の横断面の局所的な減少をもたらすために、接続縁部（２２）の少なくとも一部分でレーザ光線（４０）を放射するステップを含む、設けるステップと、
－レーザ光線（４０）の放射ステップ後の弱化部分（２１）における最終結晶化度が、レーザ光線（４０）の放射ステップ及び封止ステップの結果として生じる改質によって影響されない接続縁部（２２）の部分の結晶化度に比べて、等しいか最大３％低い又は高いことと、を含むことを特徴とする、方法。

【特許請求の範囲】

【請求項1】

食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法であって、それが
－少なくとも１つのアクセス入口（１２）が設けられた複数の収容レセプタクル（１１）を提供するためにＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）製のシート（１０）を成形するステップであって、前記ＰＥＴシートの初期結晶化度が１０％以下である、ステップと、
－前記アクセス入口（１２）を通して、前記収容レセプタクル（１１）に少なくとも１つの食品を充填するステップと、
－閉鎖フィルム（１３）によって前記アクセス入口（１２）を封止するステップと、
－少なくとも２つの隣接する収容レセプタクル（１１）間の接続縁部（２２）に弱化部分（２１）を設けるステップであって、前記設けるステップが、前記弱化部分（２１）に沿って前記接続縁部（２２）の横断面の局所的な減少をもたらすために、前記接続縁部（２２）の少なくとも一部分でレーザ光線（４０）を放射するステップを含む、ステップと、
－前記レーザ光線の放射ステップ後の前記弱化部分（２１）における最終結晶化度が、前記レーザ光線（４０）の放射ステップ及び前記封止ステップの結果として生じる改質によって影響されない前記接続縁部（２２）の部分の結晶化度に比べて、等しいか最大３％低い又は高いことと、
を含むことを特徴とする、方法。

【請求項2】

前記接続縁部の厚さが３００ミクロン～１８００ミクロンであることを特徴とする、請求項１に記載の方法。

【請求項3】

ＰＥＴ製の前記シート（１０）が、透明ＰＥＴ製のシートを含むことを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項4】

前記設けるステップが、１５ｍ／分～１７０ｍ／分の速度で、２５０Ｗ～１５００Ｗの出力を有するレーザ光線を放射するステップを含むことを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項5】

前記設けるステップが、５００Ｗを超える出力及び６０ｍ／分を超える、より好ましくは８０ｍ／分を超える速度を有するレーザ光線を放射するステップを含むことを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項6】

前記設けるステップが、前記弱化部分の長手方向の延長に沿って実質的に一定である前記接続縁部の局所的な減少をもたらすように適合されていることを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項7】

前記設けるステップが、前記弱化部分を設けるために、相互に離間された前記接続縁部を通る複数の貫通開口部を提供するように適合されていることを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項8】

前記レーザ光線の放射ステップに供される前記領域の結晶化度の計算が、試験片の少なくとも３つの点でラマン顕微鏡法による分析を実行することによって、及び１７００～１７６０ｃｍ^－１のラマンシフト間隔をカバーする信号で計算されたＦＷＨＨの平均値の較正曲線における補間によって得られることを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項9】

前記放射ステップに供される前記領域の結晶化度を計算するために前記試験片の前記少なくとも３つの点を識別するための前記関心領域が、前記弱化部分が、前記長手方向の延長に沿って一定であるか、又は貫通開口部が設けられた前記弱化部分（２１）の前記貫通開口部から等距離にある固体領域に形成された、前記接続縁部（２２）の局所的な減少を含む場合、前記弱化部分（２１）の下部（「トラフ」）に画定されることを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項10】

弱化部分（２１）を設ける前記ステップが、前記封止ステップの後に実行されることを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項11】

前記熱成形ステップの上流又は下流で実行される滅菌ステップを含むことを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【請求項12】

実質的に前記放射ステップにおいて、ガス及び揮発性物質を抽出するステップを含むことを特徴とする、先行する請求項のいずれか１項または複数項に記載の方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法に関する。

【背景技術】

【0002】

典型的には、食品の製造及び充填のための方法は、
－少なくとも１つのアクセス入口が設けられた複数の収容レセプタクルを提供するためにシート（通常はＰＳすなわちポリスチレン製）を成形するステップと、
－アクセス入口を通して、レセプタクルに少なくとも１つの食品を充填するステップと、
－ロールから巻き出された閉鎖フィルム又はシートによってアクセス入口を封止するステップと、
－ブレード又はカッターによって、レセプタクルのグループを切断するステップと、
－同じグループの少なくとも２つの隣接する収容レセプタクル間の接続のために、それぞれの弱化部分及び分離部分を縁部に設けるステップと
を提供する。

【0003】

弱化部分を設けるステップはまた、接続縁部に切開を提供するために通常動作するブレード又はカッターを使用することによって実行される。

【0004】

このタイプの方法及び使用される装置は、２種類の欠点を有する。
グループへの分割を実行するための切断刃又はカッターの使用は特に柔軟ではなく、装置レベルで、グループのサイズ又は弱化部分の延長を変更することは非常に複雑である。

【0005】

これらの問題は、特に格納レセプタクルを提供するためにＰＳをＰＥＴに置き換えたい場合に、他のことによって悪化する。

【0006】

実際、この場合、ブレード又はカッターの寿命が大幅に短縮され、発生するコストが大幅に増加する。

【0007】

さらに、かなりの靱性を特徴とする透明又は着色ＰＥＴを材料として使用する場合、ハサミ又はカッターを使用せずに相互の曲げによって様々なレセプタクル間の分離を可能にすることができる弱化部分を形成することは事実上不可能である。

【0008】

特に、初期結晶化度が最大１０％の層状形態（すなわち、２５０ミクロンを超える厚さを有するシート）のＰＥＴは、弾力性のある強靭な材料であり、その結果、カッターでスコアリングすることによって、少なくとも２つの異なる収容レセプタクル間の接続縁部に弱化部分を生成するために、カッターが互いにより近く、材料のほぼ全体の厚さにわたってスコアリングしなければならないシステムを使用する必要があり、それにもかかわらず、所期の目的の達成は保証されない。

【0009】

さらに、この態様は、ＰＥＴ上に適用するためのカッターの寿命を短くし、その結果、コストが高くなる。

【0010】

最後に、プロセスは再現が困難になる。
従来（英国特許第２５４３４９５号明細書の内容を参照）、レーザ光線の作用によって誘発される結晶化度の局所的な増加によってＰＥＴの脆弱性を増加させる可能性が知られており、熱効果、レーザ光線の作用のそれが当たる材料に対する不可避の結果は、実際に結晶化度の増加の原因である。

【0011】

結晶化が、十分な時間及び温度を必要とし、低出力レーザ光線の作用への長時間の曝露によって誘発されるプロセスであることも文献から知られている。このようにして、レーザ光線によって誘発される加熱の効果が最大化され、その結果、試験片のアブレーションをもたらすレーザの作用なしにＰＥＴの結晶化温度範囲に達するか、又はそれに達する場合、それは低速で動作しながら得られる［Ｍ．Ｆ．Ｓｏｎｎｅｎｓｃｈｅｉｎ ａｎｄ Ｃ．Ｍ．Ｒｏｌａｎｄ，Ａｐｐｌ．Ｐｈｙｓ．Ｌｅｔｔ．５７（５），１９９０］。

【0012】

結晶性の増加、したがって脆弱性の増加は、低出力レーザへの長時間の曝露によってＰＥＴに誘発されることは事実であるが、この方法は、製造時間の短縮による生産性の増加をますますもたらす産業上の要件には適さないことも事実である。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0013】

本発明の目標は、上述の態様のうちの１つ又は複数において背景技術を改善することができる、食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法を提供することである。

【0014】

この目標の範囲内で、本発明の目的は、装置のメンテナンスコストを低減することを可能にする、食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法を提供することである。

【0015】

本発明の別の目的は、極めて柔軟であり、かつ相互に接続された容器のグループ及び弱化部分の形状を容易に変えることを可能にする、食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法を考案することである。

【0016】

本発明の別の目的は、信頼性が高く、提供が比較的容易で、競争力のあるコストであり、かつＰＳ製の容器の製造に現在特徴的な高い工業生産性を維持する、食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0017】

この目標並びに以下でより明らかになるであろうこれら及び他の目的は、従属請求項の特徴の１つ又は複数を任意選択的に備えた、請求項１に記載の食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法によって達成される。

【0018】

本発明のさらなる特徴及び利点は、添付の図面に非限定的な例として示されている、本発明による食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法の好ましいが排他的ではない実施形態の説明からより明らかになるであろう。

【図面の簡単な説明】

【0019】

【図1】食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための装置の概略図である。

【図2】本発明による方法によって提供される容器の上面図である。

【図3】Ｚｙｇｏ高精細光学機器で取得された、レーザが作用する表面の反対側の表面の３Ｄレリーフを示す図であり、試験片の３つの領域で得られたレリーフは、弱化部分において、表面の凹部につながる張力の変動（レーザ放射ステップによって引き起こされる）があることを示している。

【図4】Ｚｙｇｏ高精細光学機器で取得された、レーザが作用する表面の反対側の表面の３Ｄレリーフを示す図であり、試験片の３つの領域で得られたレリーフは、弱化部分において、表面の位置ずれにつながる張力の変動（レーザ放射ステップによって引き起こされる）があることを示している。

【図5】連続した弱化部分を有する左側及び貫通開口部を有する弱化部分を有する右側の試験片の図であり、試験片は偏光で観察され、レーザビームではなく熱のみが到達した、レーザ作用のすぐ近くの張力状態の変化は、明らかに明白である。

【図6】表面上の弱化部分の３つの画像の図であり、倍率３．５倍の画像は切開部全体を明確に示し、倍率１６倍の画像は切開の縁部、及び中央に切開のトラフ（分析の対象）を示し、倍率５６倍の画像は分析が行われるべき切開のトラフのみを示す。

【図7】表面上の弱化部分の３つの画像の図であり、３．５倍の倍率の画像は切開部全体を明確に示し、倍率１６倍の画像は貫通開口部と「ブリッジ」の両方を示し、倍率３２倍の画像は、分析が行われるべき弱化部分の「ブリッジ」が強調表示されていることを示す。

【図8】既知の熱履歴を有する試験片の表面欠陥の画像の図である。

【図9】ラマン顕微鏡法スペクトルの重ね合わせを示し、Ａによって示されるスペクトルは１０００～２０５０ｃｍ^－１の範囲に明確な蛍光シグナルを有するため除外されなければならない。

【図10】１８００～２０５０ｃｍ^－１の範囲における最大強度変動のラマン顕微鏡法スペクトルの重ね合わせを示す。Ｂで示されるスペクトルは、最大強度変化が１５０未満である許容スペクトルの一例であり、スペクトルＣは、１５０を超える最大強度変動を有するため、代わりに許容できない。

【図11】ラマン顕微鏡法による分析後の試験片に形成された孔の拡大画像である。

【図12】熱量分析の２回目の走査における冷結晶化ピークの処理の一例を示す。

【図13】熱量分析の２回目の走査における融解ピークの処理の一例を示す。

【図14】既知の熱履歴を有する試験片の断面分析の一例を示す。

【図15】ラマンスペクトルの取得のためにＯｍｎｉｃソフトウェアで設定された分析条件を示しており、本明細書においてさらに詳述されている。

【図16】ラマンスペクトルの取得のためにＯｍｎｉｃソフトウェアで設定された分析条件を示しており、本明細書においてさらに詳述されている。

【図17】ラマンスペクトルの取得のためにＯｍｎｉｃソフトウェアで設定された分析条件を示しており、本明細書においてさらに詳述されている。

【図18】本明細書に詳述されている方法による、ピーク分解能機能によるラマンスペクトルの分析の一例を示す。

【図19】直線の式及びＲ^２の値を含む、ポット１について処理された較正直線を示す。

【図20】直線の式及びＲ^２の値を含む、ポット２について処理された較正直線を示す。

【図21】直線の式及びＲ^２の値を含む、１ｍｍＰＥＴシートについて処理された較正直線を示す。

【発明を実施するための形態】

【0020】

図面を参照すると、本発明による食品を収容するように設計された容器の製造及び充填のための方法は、
－少なくとも１つのアクセス入口１２が設けられた複数の収容レセプタクル１１を提供するために、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）製のシート１０を成形するステップであって、ＰＥＴ製シートの初期結晶化度が１０％以下である、ステップと、
－アクセス入口を通して、レセプタクルに少なくとも１つの食品を充填するステップと、
－閉鎖フィルム１３によってアクセス入口１２を封止するステップと、
－少なくとも２つの隣接する収容レセプタクル１１間の接続縁部２２に弱化部分２１を設けるステップと
を含む。

【0021】

特に、弱化部分２１を設けるステップは、弱化部分２１に沿って接続縁部２２の横断面の局所的な減少をもたらすために、接続縁部２２の少なくとも一部分でレーザ光線４０を放射するステップを含む。

【0022】

例として、横断面の局所的な減少は、初期断面に対して少なくとも５０％に等しく、好ましくは少なくとも７０％に等しく、さらにより好ましくは少なくとも８０％に等しい。

【0023】

本発明によれば、レーザ光線４０の放射ステップ後の弱化部分２１における最終結晶化度は、レーザ光線４０の放射ステップ及び封止ステップの結果として生じる改質によって影響されない接続縁部２２の部分の結晶化度に比べて、等しいか最大３％低い又は高い。

【0024】

実際、以下に説明する試験から明らかになるように、レーザ光線４０の放射ステップ及び封止ステップの結果として生じる変化の影響を受けない接続縁部２２の部分の結晶化度は、実質的に、シート１０の結晶化度に対応する。

【0025】

実際には、放射ステップは、ステップの終わりに接続縁部で、例えば以下を決定するために、ある速度及び出力で実施される。

【0026】

－結晶化度の低下、
－同程度の結晶化度の保持、又は
－最大３％の結晶化度増加。

【0027】

放射ステップ後の結晶化度は、実質的に弱化部分２１において評価される。
特に、弱化部分２１を設けるステップは、少なくとも２５０Ｗに等しい出力を有するレーザから発生するレーザ光線４０を放射するステップを含む。

【0028】

有利には、レーザは、ＰＥＴによって吸収される波長で放射され、例として、１０．６ミクロン、１０．２ミクロン又は９．３ミクロンに等しい波長を有するＣＯ_２レーザを使用することが可能である。

【0029】

弱化部分２１に沿って接続縁部２２の横断面の局所的な減少をもたらすために、接続縁部２２の少なくとも一部分でレーザ放射が生じる。

【0030】

横断面の局所的な減少は、弱化部分２１の長手方向の延長に沿って実質的に一定である接続縁部２２の断面の減少を意味するだけでなく、接続縁部を通過し、弱化部分２１を設けるために相互に離間された複数の貫通開口部を提供することも意味すると理解される。

【0031】

接続縁部２２に沿った断面の減少はまた、厚さの一定の減少又は異なる厚さ減少シーケンスによって交互に配置された貫通開口部を提供することができる。

【0032】

驚くべきことに、放射ステップは結晶化度の増加（３％を超える）をもたらさないが、弱化部分２１は、２つの隣接する収容レセプタクル１１間の接続縁部２２に沿った極めて効果的な破断を保証することができることが分かった。

【0033】

好都合には、弱化部分２１を設けるステップを実行する接続縁部２２の厚さは、３００ミクロン～１８００ミクロン、より好ましくは７００ミクロン～１３００ミクロンである。

【0034】

有利には、封止ステップと弱化部分２１を設けるステップとの間に、収容レセプタクル１１のグループ３１内の収容レセプタクル１１を分離するステップがある。

【0035】

好ましくは、この分離ステップは、収容レセプタクル１１間の接続縁部に切断３０を行うように設計されたレーザビームによって行われる。

【0036】

本発明による方法の最後に、収容レセプタクル１１のグループ（マルチパックとして知られている）３１を得、それぞれの弱化部分２１は、同じグループ３１の互いに隣接する収容レセプタクル１１の間に形成され、各収容レセプタクル１１を同じグループ３１の他の収容レセプタクル１１から分離することを可能にするように適合される。

【0037】

弱化部分２１を設けるためのレーザの使用は、収容レセプタクル１１のサイズ又はグループ３１の形状が変化した場合に容易にプログラムすることができるので、本発明による方法を極めて柔軟にすることができる。

【0038】

設けるステップは、２５０Ｗよりも大きく、好ましくは１５００Ｗよりも小さい出力を有し、１５ｍ／分～１７０ｍ／分の速度で、より好ましくは３００Ｗ～１２００Ｗの出力で、２０ｍ／分～１４４ｍ／分の速度でレーザ光線を放射するステップを含む。

【0039】

この点に関して、（出力及び速度の点で）レーザ使用の動作条件の制御が、実験的に制御可能な方法で最終結晶化度に実際に影響を及ぼし得るかどうか（非変動又は最大３％の減少若しくは増加を判定することによって）、したがって、最適な動作条件及びパラメータを特定して両方とも非常に容易な破損を得るために、接続縁部の靭性の低下をもたらすこと、及び十分な生産性を確保することができるプロセスを実施することを検証する試みがなされている。

【0040】

このため、一連の実験を行った。
まず、レーザ放射を受けた試験片の結晶化度の変動を調べた。

【0041】

２５０Ｗを超える出力のレーザ光線の使用は、結晶化度を著しく増加させないにもかかわらず、ＰＥＴ内部の張力の分布を変化させることを可能にし、したがってその脆弱性の増加が得られる。

【0042】

局所的に作用する強力なレーザの非常に迅速な作用は、熱効果を最小限に抑え、弱化部分２１に隣接する領域を変化させず、したがって、ポリマー鎖の張力の変化をもたらし、それにより、結晶化度の大幅な増加を引き起こすことなく、弱化部分でＰＥＴを脆弱にする。

【0043】

レーザは、上方に向けられた、すなわち収容レセプタクル１１に対して反対側に向けられた接続縁部２２の面で作用する。

【0044】

さらに、本発明による方法は、熱成形ステップの上流又は下流で行われる滅菌ステップを提供する。

【0045】

本方法は、放射ステップにおいて、ガス及び揮発性物質を抽出するステップを実行することをさらに提供する。

【0046】

この抽出ステップは、放射領域からガス及び揮発性物質を除去することを可能にするが、同時にレーザの作用をより効率的にする。

【0047】

本発明によれば、完成したＰＥＴシートから透明性を除去する、すなわち低減する、質量染料又は質量顔料の使用を提供することが可能である。

【0048】

さらに、再生又は部分的に再生されたＰＥＴの使用を妨げるものは何もない。
したがって、本発明は、一般的な結晶化方法に頼ることなくＰＥＴを脆弱にするための代替方法を記載し、実際、弱化部分２１では、レーザが作用していない領域に対して３％以下の増加である結晶化度の局所的な変動があることが観察される。

【0049】

既に述べたように、材料の張力のこの変動は、偏光を有する試験片の表面分析及び観察のための適切な技術を使用することによって間接的に評価することができる。

【0050】

文献では、試験片の変形の発生は、張力状態の変化と関連し得ることが知られている。３Ｄ表面を検出するための高精細光学機器であるＺｙｇｏを使用して行われる表面輪郭の取得は、レーザの作用に直接さらされていないがそれとは反対の試験片表面において、表面のくぼみ又は不整合などの変形が弱化部分に生じ得ることを観察することを可能にした。

【0051】

また、弱化部分を設けた試験片の偏光下での観察により、光線の熱のみが到達したレーザ光の作用の直近における材料の張力状態の変化を強調することができた。

【0052】

これに関して、レーザの作用に対して反対側では、レーザの熱効果を受けた材料がそれ自体を再編成しようとし、「冷たい」材料に結合したままであることが実験的に分かっている。

【0053】

ポリマーの結晶性の決定は多くの議論の主題であり、それを決定するための多くの技術がある。

【0054】

示差走査熱量測定（以下「ＤＳＣ」と呼ぶ）に基づくＸ線回折及び熱量分析の技術は、ポリマー試験片の結晶化度を決定するために最も広く使用されている技術であるが、試験片調製、分析時間、データ分析の精度及び複雑さ、並びにＸ線回折の場合、技術の高コストなどの問題によって、より高速な分析をさらに可能にし、非破壊的な技術であるラマン顕微鏡法の使用が有利であった。

【0055】

しかし、ラマン分光法は自給自足的な手法ではなく、較正曲線を作成して結晶性を測定する他の方法との相関が求められる［Ｖ．Ｓｈａｂａｆｒｏｏｚ ｅｔ ａｌ．ＳＰＥ ＡＮＴＥＣＴＭ Ｉｎｄｉａｎａｐｏｌｉｓ ２０１６］。

【0056】

以下に報告する分析では、試験片のスポット分析に有効な手法であり、さらに弱化部分にも位置し得ることから、顕微鏡スケールでのラマン分光法（以下「ラマン顕微鏡法」と呼ぶ）の手法を用いた。

【0057】

次に、横軸にＤＳＣによって計算された結晶化度（Ｘｃ（％））を有し、縦軸にラマン顕微鏡法によって得られた値を有する適切な較正曲線を構築することによって、ラマン顕微鏡法をＤＳＣ熱量測定技術と相関させた。

【0058】

この目的のために、既知の熱履歴を有する特定の試験片を調製した。
較正曲線、並びに既知の熱履歴を有する試験片は、異なる特性（異なる固有粘度（ＩＶ）、異なる厚さ、異なる添加剤、．．．）を有する材料が研究されるときはいつでも準備されるべきである。

【0059】

熱量分析は、ＣＬＮ２液体窒素冷却システムを備えたＰｅｒｋｉｎ ＥｌｍｅｒのＤＳＣ８５００示差走査熱量計、Ｐｙｒｉｓ処理ソフトウェア、及び縦軸の正の値に向かう吸熱転移の方向を使用して行った。各分析のために、７～１５ｍｇの量の試験片を、手動で閉じた非気密検体ホルダに秤量した。試験片は分析前に前処理を受けておらず、それらはすべて窒素流（２０ｍＬ／分）中で行われた。

【0060】

器具は、以下の二重の目的で使用された：
１）ラマン顕微鏡法による後の分析のために既知の熱履歴を有する試験片を調製するため；
２）先のものと同様の既知の熱履歴を有する試験片を調製し、ＤＳＣ熱量分析によってそれらの結晶化度を計算するため。

【0061】

いずれの場合も、既知の熱履歴を有する試験片を調製するために、完成した容器の熱成形の影響を受けない領域をサンプリングした。

【0062】

ＤＳＣツールを使用した二重目的を参照して、分析条件を以下に区別する。
１）ラマン顕微鏡法によって分析される既知の熱履歴を有する試験片の調製について：
ａ．１回目の走査（１走査）：３０℃～３００℃、２０℃／分；
ｂ．等温線：３００℃で１分；
ｃ．冷却：３００℃から０℃、Ｘ℃／分、Ｘ＝２０、５０、１００、「温度へのバリスティック冷却」設定を選択することによって得られる急冷；２００。

【0063】

２）ＤＳＣから結晶化度を得るために処理される既知の熱履歴を有する同様の試験片の調製について：
ａ．１回目の走査（１走査）：３０℃～３００℃、２０℃／分；
ｂ．等温線：３００℃で１分；
ｃ．冷却：３００℃から０℃、Ｘ℃／分、Ｘ＝２０、５０、１００、「温度へのバリスティック冷却」設定を選択することによって得られる急冷；２００
ｄ．２回目の走査（２走査）：０℃～３００℃、２０℃／分；
このように設定された分析条件は、１回目の走査による溶融を伴う試験片の熱履歴を排除することを可能にする。制御され規定された速度（２０；５０；１００；急冷；２００℃／分）での冷却により、冷却速度が低下するにつれて結晶化度が増加する試験片が得られる。したがって、後続のラマン分析のための試験片及び２回目の加熱も受けた試験片は、等しい冷却速度について同様であると見なされるべきである。前者はラマン顕微鏡法によって直接分析したが、後者は分析条件において、処理から２回目の加熱も受け、冷却中に発生したＤＳＣによる結晶化度が得られた。この値は、その類似の試験片について計算されたラマン顕微鏡法の値と相関しなければならない。

【0064】

結晶化度の計算のための処理操作は２回目の加熱で行われるので、ＰＥＴ分析［Ａ．Ｈａｍｍｅｒ，Ｔｈｅｒｍａｌ ａｎａｌｙｓｉｓ ｏｆ ｐｏｌｙｍｅｒｓ．Ｐａｒｔ １：ＤＳＣ ｏｆ ｔｈｅｒｍｏｐｌａｓｔｉｃｓ，Ｍｅｔｔｌｅｒ Ｔｏｌｅｄｏ ＵｓｅｒＣｏｍ ３１］に推奨されるように、２０℃／分で加熱及び冷却するために機器を較正した。

【0065】

ＤＳＣによる熱履歴が既知の試験片の結晶化度の判定は、２回目の走査（２走査）の処理によって行った。融解及び冷結晶化ピークを処理して、融解熱及び結晶化値を導出した。積分ベースラインが特定のサーモグラムのベースラインと一致するように、以下のように進行することによって処理を実行した：試験片質量（ΔＨｃｃ）に対して正規化された結晶化熱（２走査での冷結晶化）の絶対値を試験片質量（ΔＨｆ）に対して正規化された融解熱から減算し、結果を、以下に記載されるＦｌｏｒｙ方程式を使用する間接的な方法によって決定される、１００％結晶性ＰＥＴの質量に対して正規化された融解熱の理論値であるＰＥＴのΔＨｆ°の集計値（１４０Ｊ／ｇ）と一致させた：
Ｘｃ冷却後（％）＝（ΔＨ_ｆ－｜ΔＨ_ｃｃ｜）＊１００／１４０
［’’Ｐｏｌｙｍｅｒ Ｈｅａｔ ｏｆ Ｆｕｓｉｏｎ’’，Ｔｈｅｒｍａｌ ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ ｎｏｔｅ，Ｒ．Ｌ．Ｂｌａｉｎｅ，Ｇ．Ｅｌｌｉｓ ｅｔ ａｌ．，Ｓｐｅｃｔｒｏｃｈｉｍｉｃａ Ａｃｔａ Ｐａｒｔ Ａ，１９９５，ｖｏｌ．５１，２１３９－２１４５．使用された式は以下の通りである。Ｖ．Ｓｈａｂａｆｒｏｏｚ ｅｔ ａｌ．ＳＰＥ ＡＮＴＥＣＴＭ Ｉｎｄｉａｎａｐｏｌｉｓ ２０１６］。

【0066】

分光分析のために、Ｔｈｅｒｍｏ Ｆｉｓｈｅｒ ＤＸＲラマン顕微鏡を使用することによってラマン顕微鏡法の技術を使用した。

【0067】

ＰＥＴに適用されるラマン分光法では、特定のラマンシフトで活性な分子振動が存在することが知られており、その信号は、試験片の結晶化度に依存する強度又は形状を有する［Ｓ．Ｇ．Ｋａｚａｒｉａｎ，Ｎ．Ｈ．Ｂｒａｎｔｌｅｙ，Ｃ．Ａ．Ｅｃｋｅｒｔ，Ｖｉｂｒａｔｉｏｎａｌ Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ １９，１９９９，２７７－２８３Ａ Ｓｔｕｄｙ ｏｆ Ｐｏｌｙｍｅｒ Ｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｉｔｙ Ｕｓｉｎｇ ｔｈｅ ＲａｍａｎＳｔａｔｉｏｎ ４００Ｆ，ｗｗｗ．ｐｅｒｋｉｎｅｌｍｅｒ．ｃｏｍ；Ｊ．Ｓ．Ｒｏｓｓｉｅｒ ｅｔ ａｌ．，Ｌａｎｇｍｕｉｒ １５，１９９９，５１７３－５１７８，Ｇ．Ｅｌｌｉｓ ｅｔ ａｌ．，Ｓｐｅｃｔｒｏｃｈｉｍｉｃａ Ａｃｔａ Ｐａｒｔ Ａ，１９９５，ｖｏｌ．５１，２１３９－２１４５；Ｊ．Ｃ．Ｒｏｄｒｉｇｕｅｚ－Ｃａｂｅｌｌｏ ｅｔ ａｌ．，Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｒａｍａｎ ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ，ｖｏｌ．２５，１９９４，３３５－３４］。

【0068】

実施した試験では、分析した試験片の結晶性が高いほどバンド幅が小さくなるカルボニル基の伸縮に対応する振動が分析された。

【0069】

１７００ｃｍ^－１～１７６０ｃｍ^－１のラマンシフト範囲で生じる、この振動運動に関連するバンドの半分の高さ（Ｆｕｌｌ Ｗｉｄｔｈ Ｈａｌｆ Ｈｅｉｇｈｔ、ＦＷＨＨ）を計算した［Ｊ．Ｃ．Ｒｏｄｒｉｇｕｅｚ－Ｃａｂｅｌｌｏ ｅｔ ａｌ．，Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｒａｍａｎ ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ，ｖｏｌ．２５，１９９４，３３５－３４］。

【0070】

ラマン顕微鏡法による分析に供した試験片については、前述のようにＤＳＣで調製された既知の熱履歴を有する試験片と、較正曲線の補間によって決定される未知の結晶化度を有する試験片とを区別する。

【0071】

結晶化度が未知の試験片は、実際には、レーザ作用にさらされた表面上で分析され、関心領域の少なくとも３点でスペクトルを取得し、特に、切開部の下部（「トラフ」）の３点は、連続した弱化部分で分析され、貫通開口部（「橋」）から等距離の固体領域の３点は、貫通開口部を有する弱化部分で分析された。代わりに、ＤＳＣで調製された既知の熱履歴を有する試験片を、試験片の平面が把持要素に固定されるように、断面分析のために特定のホルダ（ＴｈｅｒｍｏＦｉｓｈｅｒによって提供されるキット）に各試験片を固定することによってラマン顕微鏡法によってそれらの断面で分析した。次に、ブレード（ＴｈｅｒｍｏＦｉｓｈｅｒによって提供される）を使用して試験片をきれいに切断して、円形試験片を中心とする長方形の断面を得、その上でスペクトル取得を少なくとも１０点で行った。

【0072】

スペクトルの取得及びその処理について報告されることは、代わりにすべての試験片に対して有効である。

【0073】

ラマンスペクトルは、「分散ラマン用オムニック」ソフトウェアにおいて以下の取得モードを設定することによって記録した：
１）実験セットアップの収集ウィンドウで、「自動曝露」オプションを選択し、「所望のＳ／Ｎ」は５００に等しく、「最大回収時間（分）」は５に等しく、「プレビュー露光時間（秒）」は１に等しい。

【0074】

２）同じ収集ウィンドウにおいて、スペクトルが表示される最終フォーマットも、特に「シフトスペクトル（ｃｍ^－１）」に設定し、「補正」ではドロップダウンメニューから「蛍光」オプションを選択し、単語「蛍光」を１回クリックすることによって開くサブウィンドウでは「多項式次数：６を使用」を選択し、「宇宙線閾値：低」も選択し、本発明ではさらに、同じウィンドウで選択可能な「スマートバックグラウンド」オプションを選択することによってスペクトルが得られた。

【0075】

３）実験セットアップのベンチウィンドウにおいて、「レーザ波長」として５３２ｎｍを選択し（この波長のレーザについて、機器は適切に較正されなければならない）、「レーザ出力」を１０ｍＷ（使用される機器に設定できる最大値）に等しく設定し、「開口部」を２５μｍピンホールに等しく設定し、本発明における最小及び最大取得範囲を２００から３５００ｃｍ^－１に設定した。最後に、選択された点を正確に分析するために、ベンチウィンドウ内で１０倍レンズを選択し、その倍率のレンズを光学モジュール内で使用して関心領域の光学画像を合焦させる。「格子」、「推定解像度」、「推定スポットサイズ」及び「許容範囲」パラメータは、オペレータによって手動で変更することはできないが、機器の特性又はここに提示される他のパラメータセットに依存する。

【0076】

４）スペクトル収集のより良好な制御のために、実験セットアップの品質ウィンドウで選択可能な収集時のすべての制御を設定することも推奨される。

【0077】

Ａｔｌμｓウィンドウにおいて、各試験片について「サンプルポイントツール」機能を使用して、スペクトルを取得する複数の点（既知の熱履歴を有する試験片については少なくとも１０点、未知の試験片については少なくとも３点）を選択した。点は、各点について画像が焦点を合わせ、表面欠陥を避けるように注意するように選択されなければならず、さらに、既知の熱履歴を有する試験片の場合、点間の距離はほぼ一定でなければならず、シーケンスは、以前に得られた矩形断面の長手方向の全長をカバーしなければならず、気泡又は粗さを避けるように注意しなければならない。関心点を選択すると、「マップ収集」機能によるスペクトル取得を進めることが可能である。

【0078】

「サンプルポイントツール」機能を使用することができない場合、又は選択された点の連続的な取得に問題が生じる場合、手動で一度に１つのスペクトルを取得することが可能であり、上記の点取得の一般的な基準が適用されることが理解される。

【0079】

スペクトル取得モードは、設定されているように、所望のＳ／Ｎ比に達したかどうかにかかわらず、収集の５分後に分析を中断する。したがって、得られたスペクトルに注意を払い、以下の場合にスペクトルを許容可能と見なすことができないことを考慮する必要がある。

【0080】

－ラマンシフト範囲１０００～２０５０ｃｍ^－１において、蛍光に起因するシグナル（ピーク）又はベースラインの変動（線形から曲線）を有する；
－試験片に関連し得るピークを含まないラマンシフト範囲（例えば、１８００～２０５０ｃｍ^－１）において、選択された範囲における絶対最大値と最小値との差として定義される、１５０単位を超える強度の最大変動（ラマン強度）を有する。

【0081】

このような状況が発生した場合の推奨事項は以下の通りである。
－分析領域に焦点が合っていることを確認する；
－試験片が清浄であり、分析に支障を来す可能性のある塵埃又はグリースが存在しないことを確認する；
－分析点を変更する。

【0082】

ラマン顕微鏡法分析に続いて、分析された点に孔が形成されることも可能である。この現象は、Ａｔｌμｓウィンドウによって観察することができ、いずれの場合も、「ステータス収集」ウィンドウ内で「サンプルが燃焼している」としてソフトウェアによって報告される。この場合、分析点を変更する必要がある。

【0083】

ラマンによって得られたスペクトルの処理について、本発明者らは以下のように進めた：
１）スペクトルにおいて、１８２０ｃｍ～１６４０ｃｍ^－１の領域を選択し、分析におけるピーク分解能機能を選択した。

【0084】

２）ピーク分解能機能によって開かれた分析ウィンドウにおいて、ガウス／ローレンツ関数によって分析を行った［Ｊ．Ｃ．Ｒｏｄｒｉｇｕｅｚ－Ｃａｂｅｌｌｏ ｅｔ ａｌ．，Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｒａｍａｎ ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ，ｖｏｌ．２５，１９９４，３３５－３４４；Ｓ．Ｙａｎｇ，Ｓ．Ｍｉｃｈｉｅｌｓｅｎ，Ｍａｃｒｏｍｏｌｅｃｕｌｅｓ ３６，２００３，６４８４－６４９２，ｗｉｔｈ ’’ｓｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ ｈｉｇｈ’’，’’ｎｏｉｓｅ ｔａｒｇｅｔ’’ ｏｆ ０．５ ａｎｄ ｌｉｎｅａｒ ’’ｂａｓｅｌｉｎｅ’’］。

【0085】

３）１７８０～１６８０ｃｍ^－１の範囲が選択されると、適切なボタンをクリックすることによってＦＷＨＨ値を計算した。

【0086】

次に、すべての試験片について、得られたＦＷＨＨ値の平均を計算し（未知の結晶化度を有する試験片については３点にわたる平均、既知の熱履歴を有する試験片については少なくとも１０点にわたる平均）、各試験片と一致する方法で使用した：
１）既知の熱履歴を有する試験片のＦＷＨＨの平均を使用して、較正曲線を構築した；
２）未知の結晶化度を有する試験片のＦＷＨＨの平均を、それらの結晶化度を導出するために較正曲線上で補間した。

【0087】

提示された分析方法の開発により、弱化部分におけるレーザ光線の放射ステップが、基準の結晶化度に対して３％を超えない結晶化度の局所的変動を決定したことを検証するために、試験片の関心点を分析することが可能になった。

【0088】

基準の結晶化度とは、
ケースＡ）非熱成形ＰＥＴシートの結晶化度；
ケースＢ）完成した容器の半円形部分の結晶化度は、以下のように特定される。

【0089】

１）貫通カットから少なくとも０．６ｍｍ離れている；
２）弱化部分から少なくとも０．３ｍｍ離れている；
３）ヒートシールから少なくとも０．３ｍｍ離れている；
ケースＣ）あまり好ましくないが、完成した容器のヒートシールリングにおける結晶化度。

【0090】

ヒートシールリングは、封止操作がＰＥＴの結晶化度を変化させないため、ＰＥＴ容器の非熱成形領域を表すことが示されているので、参照中に含まれる。

【0091】

例１
ポット１－厚さ１．２ｍｍ
熱成形作用を直接受けない領域が厚さ１．２ｍｍのポット１を用いて、ポット１の非熱成形及び非ヒートシール部分から得られた既知の熱履歴を有する試験片を調製することによって試験中の場合にのみ有効な較正曲線を構築した。

【0092】

既知の熱履歴を有する試験片を、以下に示す方法に従ってＤＳＣによって調製した：
Ｉ．ラマン顕微鏡法によって分析される既知の熱履歴を有する試験片の調製について：
ａ．１回目の走査（１走査）：３０℃～３００℃、２０℃／分；
ｂ．等温線：３００℃で１分；
ｃ．冷却：３００℃から０℃、Ｘ℃／分、Ｘ＝２０、「温度へのバリスティック冷却」設定を選択することによって得られる急冷；２００
ＩＩ．ＤＳＣから結晶化度を得るために処理される既知の熱履歴を有する同様の試験片の調製について：
ａ．１回目の走査（１走査）：３０℃～３００℃、２０℃／分；
ｂ．等温線：３００℃で１分；
ｃ．冷却：３００℃から０℃、Ｘ℃／分、Ｘ＝２０、「温度へのバリスティック冷却」設定を選択することによって得られる急冷；２００；
ａ．２回目の走査（２走査）：０℃～３００℃、２０℃／分；
ＤＳＣによる既知の熱履歴を有する試験片の結晶化度の決定は、規定の速度での冷却ステップによる結晶化度を計算するように２回目の走査（２走査）を処理することによって行った。この処理のために、２回目の走査のサーモグラムを考慮した。試験片の質量に対して正規化した融解熱量（ΔＨｆ）及び冷結晶化熱量（ΔＨｃｃ）の値は、「標準」直線積分ベースラインを設定し、冷結晶化による発熱ピークと融解による吸熱ピークとを積分することにより求めた。融合及び冷結晶化のピークは、積分ベースラインが特定のサーモグラムのベースラインと一致するように処理された。この原理により、本実施例で示した場合のみ、２１０℃～２６２℃の温度範囲で融解ピークが処理され、１３７℃～１８３℃の温度範囲で冷結晶化ピークが処理された。２０℃／分で冷却した試験片の場合、２回目の加熱では、サーモグラムは冷結晶化によるピークを示さなかった。

【0093】

図１２及び図１３は、冷結晶化及び融解のピークの典型的な処理のサーモグラムを示す。

【0094】

特に、図１２は、熱量分析の２回目の走査における冷結晶化ピークの処理の一例であり、図１３は、熱量分析の２回目の走査における融合ピークの処理の一例である。

【0095】

考慮される各熱量分析について、以下の式を適用した：
Ｘｃ冷却後（％）＝（ΔＨ_ｆ－｜ΔＨ_ｃｃ｜）＊１００／１４０
このようにして、既知の熱履歴を有する試験片の熱量分析（ＤＳＣ）から結晶化度を導出する。

【0096】

ラマン顕微鏡法分析のために調製された既知の熱履歴を有する試験片を適切に切片化し、切片の長手方向に少なくとも１０のスペクトルを取得するために適切な検体ホルダに挿入した（図１４）。

【0097】

図１５、図１６及び図１７は、前の章で記述的に報告された、設定された分析条件の画像を示す。

【0098】

図１８は、前の章で説明した方法で取得されたスペクトルの処理の一例を示す。
各スペクトルの処理に続いて、得られたＦＷＨＨ値の平均を各試験片について計算した。これらの値は、それぞれのサーモグラムを処理することによって得られ、かつ横軸を構築するために使用された、相同標本の結晶化度と共に、ポット１に固有の較正曲線の縦軸を構築するために使用された。

【0099】

次に、チャートの点を線形傾向線によって処理し、その式を、ポット１から生じる（他からではない）結晶化度が未知の試験片のＦＷＨＨ値のその後の補間に使用した。

【0100】

図１９は、ポット１の式を含む較正直線を示す。

【0101】

【表1】

【0102】

初期ＰＥＴシートが利用できなかったため、ポット１試験片では、基準領域は完成したポットの半円部分に位置した：
－貫通カットから少なくとも０．６ｍｍ離れている；
－弱化部分から少なくとも０．３ｍｍ離れている；
－ヒートシール領域から少なくとも０．３ｍｍ離れている；
同定された部分について、ラマン顕微鏡を用いて３つのスペクトルを取得し（スペクトルの取得方法及び対応する処理はラマン顕微鏡法について上述したように行った）、ＦＷＨＨ値の平均を算出した。次に、平均ＦＷＨＨ値を、ポット１について構築された較正直線において補間した。これにより、ポット１の基準となる結晶化度を算出することができた。

【0103】

【表2】

【0104】

連続弱化部分
ａ）出力３００Ｗ、速度２１ｍ／分のレーザを使用した。

【0105】

スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0106】

【表3】

【0107】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0108】

【表4】

【0109】

ｂ）出力７５０Ｗ、速度７７ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0110】

【表5】

【0111】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0112】

【表6】

【0113】

ｃ）出力１２００Ｗ、速度１２４ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0114】

【表7】

【0115】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0116】

【表8】

【0117】

貫通開口部が設けられた弱化部分
ａ）出力３００Ｗ、速度２０ｍ／分のレーザを使用した。

【0118】

スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0119】

【表9】

【0120】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0121】

【表10】

【0122】

ｂ）出力７５０Ｗ、速度４５ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0123】

【表11】

【0124】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0125】

【表12】

【0126】

ｃ）出力１２００Ｗ、速度７２ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0127】

【表13】

【0128】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0129】

【表14】

【0130】

ヒートシールリングの検討
レーザ放射ステップに相関する結晶化度の変動をその後測定するための基準を正確に定義するために、ポット１のヒートシールリングを検討した。特に、ラマン顕微鏡法によって、ヒートシールリングにおけるポットの非熱成形領域の上部及び下部のＦＷＨＨ値を計算し、較正直線で補間して、点の結晶化度を計算し、それらを基準の結晶化度と比較した。

【0131】

この場合も、ヒートシールリングの上部と下部の両方において、３箇所で解析を行った。

【0132】

【表15】

【0133】

【表16】

【0134】

例２
ポット２－厚さ１．２７ｍｍ
熱成形作用を直接受けない領域が厚さ１．２７ｍｍのポット２を用いて、ポット２の非熱成形及び非ヒートシール部分から得られた既知の熱履歴を有する試験片を調製することによって試験中の場合にのみ有効な較正曲線を構築した。

【0135】

較正曲線を構築するための様々なステップは、ポット１に関連する例１で既に詳細に提示されており、ポット２の例２では変化しないため、以下では無視され、代わりに、ポット２に対して異なる方法で行われたことに焦点を合わせることが好ましい。

【0136】

既知の熱履歴を有する類似の試験片を、３００℃から０℃、Ｘ℃／分、Ｘ＝２０，１００、「温度へのバリスティック冷却」設定を選択することによって得られる急冷で冷却することによって調製した。

【0137】

既知の熱履歴を有する試験片の分析、特にＤＳＣ熱量分析による結晶化度の決定のために、２１０℃～２６６℃の温度範囲の融解ピーク及び１２０℃～１６５℃の温度範囲の冷結晶化ピークを処理した。

【0138】

ラマン分析を、既に与えられた工程に従って、大幅な変更なしに行った。
ポット２について、ラマン顕微鏡法からのＦＷＨＨの平均値及びＤＳＣからの結晶化度を線形傾向線によって処理し、その式を使用して、同じポット２（他のものではない）に由来する未知の結晶化度を有する試験片を補間した。

【0139】

図２０は、ポット２の式を含む較正直線を示す。

【0140】

【表17】

【0141】

初期ＰＥＴシートが利用できなかったため、ポット２試験片では、基準領域は完成したポットの半円部分に位置した：
－貫通カットから少なくとも０．６ｍｍ離れている；
－弱化部分から少なくとも０．３ｍｍ離れている；
－ヒートシール領域から少なくとも０．３ｍｍ離れている；
同定された部分について、ラマン顕微鏡を用いて３つのスペクトルを取得し（スペクトルの取得方法及び対応する処理はラマン顕微鏡法について上述したように行った）、ＦＷＨＨ値の平均を算出した。次に、平均ＦＷＨＨ値を、ポット２について構築された較正直線において補間した。これにより、ポット２の基準となる結晶化度を算出することができた。

【0142】

【表18】

【0143】

連続弱化部分
ａ）出力３００Ｗ、速度２２ｍ／分のレーザを使用した。

【0144】

スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0145】

【表19】

【0146】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0147】

【表20】

【0148】

ｂ）出力７５０Ｗ、速度６８ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0149】

【表21】

【0150】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0151】

【表22】

【0152】

ｃ）出力１２００Ｗ、速度１０９ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0153】

【表23】

【0154】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0155】

【表24】

【0156】

貫通開口部が設けられた弱化部分
ａ）出力３００Ｗ、速度２１ｍ／分のレーザを使用した。

【0157】

スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0158】

【表25】

【0159】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0160】

【表26】

【0161】

ｂ）出力７５０Ｗ、速度５５ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0162】

【表27】

【0163】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0164】

【表28】

【0165】

ｃ）出力１２００Ｗ、速度８８ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0166】

【表29】

【0167】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0168】

【表30】

【0169】

ヒートシールリングの検討
レーザ放射ステップに関連する結晶化度の変動をその後測定するための基準を正確に定義するために、ポット２のヒートシールリングを検討した。特に、ラマン顕微鏡法によって、ヒートシールリングにおけるポットの非熱成形領域の上部及び下部のＦＷＨＨ値を計算し、較正直線で補間して、点の結晶化度を計算し、それらをポットの結晶化度と比較した。

【0170】

この場合も、ヒートシールリングの上部と下部の両方において、３箇所で解析を行った。

【0171】

【表31】

【0172】

【表32】

【0173】

例３
厚さ１ｍｍのＰＥＴ製シート
厚さ１ｍｍのＰＥＴ製のシートを用いて、レーザ作用を受けていないシートの部分で得られた既知の熱履歴を有する試験片を調製することによって試験中の場合にのみ有効な較正曲線を構築した。

【0174】

較正曲線を構築するための様々なステップは、ポット１を参照して例１で既に詳細に提示されており、ＰＥＴシートについては変更されないため、以下では無視され、代わりにＰＥＴシートに対して異なる方法で行われたことに注目することが好ましい。

【0175】

既知の熱履歴を有する類似の試験片を、３００℃から０℃、Ｘ℃／分、Ｘ＝２０、５０、１００、２００、「温度へのバリスティック冷却」設定を選択することによって得られる急冷で冷却することによって調製した。

【0176】

既知の熱履歴を有する試験片の分析のために、特にＤＳＣ熱量分析によって結晶化度を決定するために、２１０℃～２６３℃の温度範囲における融解ピーク及び１１８℃～１８５℃の温度範囲における冷結晶化ピークを処理した。

【0177】

ラマン分析を、既に指定された工程に従って、大幅な変更なしに行った。
厚さ１ｍｍのシートについて、ラマン顕微鏡法からのＦＷＨＨ及びＤＳＣからの結晶化度の平均値を線形傾向線によって処理し、その式を使用して、同じ１ｍｍシート（他のものではない）に由来する未知の結晶化度を有する試験片を補間した。

【0178】

図２１は、ＰＥＴ製の１ｍｍシートの式を含む較正直線を示す。

【0179】

【表33】

【0180】

このようにして構築された較正直線に関する式を使用して、２つの結晶化度の間の変動が３％未満であることを検証するために、基準及び弱化部分の結晶化度を導出した。

【0181】

レーザの作用を受けていないＰＥＴ製シートの表面について、ラマン顕微鏡で３つのスペクトルを取得し（前述のようにスペクトル取得とそれに伴う処理のモードを行った）、計算したＦＷＨＨ値の平均を算出した。次に、平均ＦＷＨＨ値を、１ｍｍＰＥＴシートについて構築された較正直線において補間した。これにより、レーザ作用を受けていないシートの結晶化度を算出することができた。

【0182】

【表34】

【0183】

連続弱化部分
ａ）出力３００Ｗ、速度２２ｍ／分のレーザを使用した。

【0184】

スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0185】

【表35】

【0186】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0187】

【表36】

【0188】

ｂ）出力７５０Ｗ、速度３２ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0189】

【表37】

【0190】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0191】

【表38】

【0192】

ｃ）出力１２００Ｗ、速度９２ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0193】

【表39】

【0194】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0195】

【表40】

【0196】

貫通開口部が設けられた弱化部分
ａ）出力３００Ｗ、速度２０ｍ／分のレーザを使用した。

【0197】

スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0198】

【表41】

【0199】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0200】

【表42】

【0201】

ｂ）出力７５０Ｗ、速度２５ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0202】

【表43】

【0203】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0204】

【表44】

【0205】

ｃ）出力１２００Ｗ、速度５８ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、貫通開口部から実質的に等距離にある点で、弱化部分の３つの固体領域（「ブリッジ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0206】

【表45】

【0207】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0208】

【表46】

【0209】

例４
厚さ１ｍｍのＰＥＴ製シート
低出力低速試験
低速（速度１５ｍ／分未満）でＰＥＴシートに作用する低出力レーザ（出力２５０Ｗ未満）の作用の効果を検証するために、以下の試験を行った。

【0210】

試験を行った試験片は、前の例３に提示された試験片と同様であり、したがって、例３の試験片について構築され示された較正直線は、基準領域と弱化部分の結晶化度の間の変動が３％未満であるかどうかを検証するために、考慮されている例４にも有効であり、以下に報告される計算に使用された。

【0211】

レーザの作用を受けていないＰＥＴシートの表面について、ラマン顕微鏡で３つのスペクトルを取得し（前述のようにスペクトル取得とそれに伴う処理のモードを行った）、計算したＦＷＨＨ値の平均を算出した。次に、平均ＦＷＨＨ値を、１ｍｍＰＥＴシートについて構築された較正直線において補間した。これにより、レーザ作用を受けていないシートの結晶化度を算出することができた。

【0212】

【表47】

【0213】

低出力低速試験
ａ）出力１５０Ｗ、速度１３ｍ／分のレーザを使用した。

【0214】

スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0215】

【表48】

【0216】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0217】

【表49】

【0218】

ｂ）出力７５Ｗ、速度８ｍ／分のレーザを使用した。
スペクトルは、弱化部分の下部（「トラフ」として知られる）で試験片の表面を分析するラマン顕微鏡法によって取得した。

【0219】

【表50】

【0220】

ΔＸｃ（％）＝弱化部分Ｘｃ（％）－「基準」Ｘｃ（％）の式を設定して、弱化部分のトラフにおけるＸｃ（％）の平均値を基準のＸｃ（％）の平均値と比較した。

【0221】

【表51】

【0222】

この例４の試験を低出力及び低速で行う際に、低速で作用する低出力レーザ放射ステップであっても、このようにして提供された弱化部分においてポットの分離を容易にするのに適した断面の減少を伴う連続的な弱化部分を設けることが可能であることが観察された。しかし、その後の分析から、これらの条件下で作業すると、弱化部分で結晶化度の増加が得られ、弱化部分と基準との間の結晶化度の変動は、以前に示された＋３％の値よりも大きいことが観察された。

【0223】

一方で、この知見は、文献に報告されているものと一致しており、それによれば、結晶化度の増加は、試験片の脆弱性の増加と関連し、他方では、レーザ光線の作用が、断面の単なる減少を超える材料への影響を有することが確認される。レーザ光線に関連し、材料に伝達される熱の印加は、実際には、材料の張力状態の単なる変動（高出力及び高速レーザ光線）から結晶性の増加（低出力及び低速レーザ光線）に及ぶ材料の局所的特性の変動を与える。

【0224】

しかしながら、それにもかかわらずポットの相互分離の所望の結果をもたらすレーザの低い動作速度（１５０Ｗレーザでは１３ｍ／分に等しく、７５Ｗレーザでは８ｍ／分に等しい）は、弱化部分の長い製造時間にも対応し、したがって高い工業生産性の必要性に適合しないシナリオの概要を示す。

【0225】

実際には、本発明は、極めて柔軟であり、ＰＥＴ製の容器であっても弱化部分を設けることを可能にすることができ、容器の実際的で簡単な相互分離を可能にする方法を提供することによって、意図された目的及び目的を達成することが分かった。

【0226】

実際には、本発明は意図された目標及び目的を達成し、ＰＥＴ製の容器であっても弱化部分を設けることを可能にすることができる極めて柔軟な方法を提供し、容器の実際的かつ簡単な相互分離を可能にすることが分かった。

【0227】

本発明に示される方法の利点は、特にＰＥＴ容器を製造する問題を解決し、ブレード又はカッターの使用を回避し、システムメンテナンスに関連するコストを削減し、異なる形状及びサイズの容器を提供するための極めて柔軟な方法を利用し、工業生産の高速を維持するシステムを有することを可能にする、特に強力なレーザ光線放射システムで動作する可能性に遡ることができる。

【0228】

このようにして考案された本発明は、多数の修正及び変形が可能であり、それらのすべてが添付の特許請求の範囲内であり、すべての詳細は、他の技術的に等価な要素とさらに置き換えることができる。

【0229】

実際には、使用される材料は、特定の用途、並びに条件付きの形状及び寸法に適合する限り、要件及び最新技術に応じて任意であり得る。

【0230】

本出願が優先権を主張するイタリア特許出願第１０２，０２０，０００，０００，７８７号の開示は、参照により本明細書に組み込まれる。

【0231】

任意の請求項に記載された技術的特徴の後に参照符号が続く場合、それらの参照符号は、請求項の理解度を高めることのみを目的として含まれており、したがって、そのような参照符号は、そのような参照符号によって例として特定される各要素の解釈にいかなる限定的な効果も有さない。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】

【国際調査報告】