(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2023-11-17
(54)【発明の名称】導電層相互接続を備える光起電デバイス
(51)【国際特許分類】
H01L 31/0465 20140101AFI20231110BHJP
【FI】
H01L31/04 532B
【審査請求】未請求
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2023526879
(86)(22)【出願日】2021-11-03
(85)【翻訳文提出日】2023-06-29
(86)【国際出願番号】 US2021057867
(87)【国際公開番号】W WO2022098735
(87)【国際公開日】2022-05-12
(32)【優先日】2020-11-03
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】510328032
【氏名又は名称】ファースト・ソーラー・インコーポレーテッド
(74)【代理人】
【識別番号】100118902
【氏名又は名称】山本 修
(74)【代理人】
【識別番号】100106208
【氏名又は名称】宮前 徹
(74)【代理人】
【識別番号】100196508
【氏名又は名称】松尾 淳一
(74)【代理人】
【識別番号】100104374
【氏名又は名称】野矢 宏彰
(72)【発明者】
【氏名】バンダリ,ニヒル
(72)【発明者】
【氏名】デービス,マシュー
(72)【発明者】
【氏名】ミラー,レット
(72)【発明者】
【氏名】ウィッカーシャム,チャールズ
【テーマコード(参考)】
5F251
【Fターム(参考)】
5F251AA09
5F251AA16
5F251DA03
5F251EA03
5F251EA09
5F251EA16
5F251FA02
5F251FA06
5F251GA03
5F251JA03
5F251JA05
(57)【要約】
本明細書で提供される実施形態によれば、光起電デバイスは、導電層相互接続を備える1つまたは複数のセルを有していてもよい。
【選択図】
図2
【特許請求の範囲】
【請求項1】
光起電デバイスの光起電セルであって、
吸収材層を含む半導体スタック上の第一の導電層および第二の導電層、
第一の導電層と第二の導電層との間に位置される誘電層、ならびに、
第二の導電層から延出して誘電層を通り抜ける導電層相互接続
を含み、
前記第一の導電層が平均導電層厚さを有し、
前記誘電層が平均誘電層厚さを有し、
前記導電層相互接続が第一の導電層の接触領域と電気的な接続を形成し、
第一の接触領域の接触領域の形状が平坦かつ環状であり、
平均誘電層厚さの、平均導電層厚さに対する比率が、少なくとも10:1である、
上記の、光起電デバイスの光起電セル。
【請求項2】
第一の導電層が最大厚さを有し、
第一の導電層の接触領域が表面積を有し、
第一の導電層の最大厚さの、接触領域の表面積に対する比率が、少なくとも750:1である、
請求項1に記載の光起電セル。
【請求項3】
導電層相互接続が、誘電層のビア壁により区切られており、
界面角度θが、誘電層のビア壁と第一の導電層180の接触領域により規定され、
界面角度θが75°超である、
請求項1に記載の光起電セル。
【請求項4】
導電層相互接続が半導体スタックと直接的に接触している、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項5】
半導体スタックが吸収材層上にバックコンタクトを含み、第一の導電層がバックコンタクト層上にある、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項6】
第一の導電層の厚さが3μm未満である、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項7】
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項8】
第二の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項9】
誘電層は、300nmと1,100nmとの間の波長に対する透過率が10%超である、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項10】
第一の導電層および第二の導電層が異なる材料組成を有する、請求項1に記載の光起電セル。
【請求項11】
半導体スタック上に導電層を形成すること、
前記導電層上に誘電層を形成すること、
レーザーパルスで導電層の作用領域を熱すること、
導電層の前記作用領域を少なくとも部分的に溶融させ、これによって、導電層中に接触領域が形成され、導電層の前記作用領域上に配置された誘電層の一部を剥離させて、誘電層の一部を通り抜けるビアを規定すること、および
誘電層のビアを通り抜けかつ導電層の接触領域と接触する導電層相互接続を形成すること
を含む、光起電デバイスを形成する方法であって、
前記導電層が導電層厚さを有し、
前記誘電層が誘電層厚さを有し、
誘電層厚さの、導電層厚さに対する比率が少なくとも10:1である、方法。
【請求項12】
導電層相互接続が、誘電層上に第二の導電層を堆積させることにより形成される、請求項11に記載の方法。
【請求項13】
誘電層は、レーザーパルスに対する透過率が10%超である、請求項11に記載の方法。
【請求項14】
レーザーパルスがガウシアン形状の相対強度を有する、請求項11に記載の方法。
【請求項15】
レーザーパルスが5,000ps未満のパルス幅を有する、請求項11に記載の方法。
【請求項16】
誘電層は、レーザーパルスに対する透過率が10%超である、請求項11または12に記載の方法。
【請求項17】
レーザーパルスが、ガウシアン形状の相対強度を有する、請求項11、12または16に記載の方法。
【請求項18】
レーザーパルスが5,000ps未満のパルス幅を有する、請求項11、12または16から17のいずれか一項に記載の方法。
【請求項19】
第一の導電層が最大厚さを有し、
第一の導電層の接触領域が表面積を有し、
第一の導電層の最大厚さの、接触領域の表面積に対する比率が、少なくとも750:1である、請求項1、11、12または16から18のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項20】
導電層相互接続が、誘電層のビア壁により区切られており、
界面角度θが、誘電層のビア壁と第一の導電層180の接触領域により規定され、
界面角度θが75°超である、
請求項1、11、12または16から20のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項21】
導電層相互接続が半導体スタックと直接的に接触している、請求項1、11、12または16から20のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項22】
半導体スタックが吸収材層上にバックコンタクトを含み、
第一の導電層がバックコンタクト層上にある、
請求項1、11、12または16から21のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項23】
第一の導電層の厚さが約3μm未満である、請求項1、11、12または16から22のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項24】
第一の導電層の厚さが約50nmから約2.5μmの間である、請求項1、11、12または16から22のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項25】
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、請求項1、11、12または16から24のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項26】
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、請求項1、11、12または16から25のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項27】
誘電層は、300nmと1,100nmとの間の波長に対する透過率が10%超である、請求項1、11、12または16から26のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【請求項28】
第一の導電層および第二の導電層が異なる材料組成を有する、請求項1、11、12または16から27のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
[0001]本明細書は、全体的に、導電層相互接続を備える光起電デバイス、より詳細には、光起電デバイスの隣り合うセル間に電気的な接続を形成するための導電層相互接続を有する光起電セルに関する。
【背景技術】
【0002】
[0002]光起電デバイスは、光起電効果を発現する半導体材料を使用して光を電気に変えることにより電力を生成する。光起電デバイスは数多くの層を含み、これらの層は、層の一定の複数の領域の選択的な除去により、複数の光起電セルに分割されている。各光起電セルは、日光を電力に変え、1つまたは複数の隣り合うセルと電気的に接続され得る。そのような電気的な接続は、除去領域を導電性材料で充たすことにより形成することができる。除去領域および導電性材料の寸法は、光起電デバイスの性能および製造性に影響を与える可能性がある。
【0003】
[0003]従って、導電層相互接続を備える新たな光起電デバイスの需要が存在する。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【0004】
[0004]本明細書で提供される実施形態は、導電層相互接続を備える光起電デバイスに関する。これらの特徴および本明細書に記載されている実施形態により提供される追加の特徴は、下記の詳細な説明を図面と併せることで、より完全に理解され得る。
【0005】
[0005]図面に記載されている実施形態は、本質的に実例的かつ例示的であり、特許請求の範囲により定義される主題を限定することを意図するものではない。以下の実例的な実施形態の詳細な説明は、以下の図面と併せて読むと理解することができ、下記において、同様の構造は同様の参照数字で示される。
【図面の簡単な説明】
【0006】
【
図1】[0006]本明細書に示され説明されている1つまたは複数の実施形態による光起電デバイスを概略的に図示している。
【
図2】[0007]本明細書に示され説明されている1つまたは複数の実施形態による
図1の光起電デバイスの2-2に沿った断面図を概略的に図示している。
【
図3】[0008]本明細書に示され説明されている1つまたは複数の実施形態による基材を概略的に図示している。
【
図4】[0009]本明細書に示され説明されている1つまたは複数の実施形態による導電層相互接続を形成するためのプロセスを概略的に図示している。
【
図5】[0010]本明細書に示され説明されている1つまたは複数の実施形態によるビアの上面透視図を図解して図示している。
【
図6】[0011]本明細書に示され説明されている1つまたは複数の実施形態による
図5のビアの6-6に沿った断面図を概略的に図示している。
【発明を実施するための形態】
【0007】
[0012]逆バイアス制御を有する光起電デバイスの実施形態が本明細書で提供される。一般的に、本明細書で提供される光起電デバイスは、逆バイアス条件に置かれた際にセルにより失われる電力量を制限するように構成されたセルを含むことができる。光起電デバイス、ならびに、光起電デバイスを形成するためのシステムおよび方法の多様な実施形態が、本明細書でさらに詳細に説明される。
【0008】
[0013]ここで
図1を参照すると、光起電デバイス100の実施形態が概略的に図示されている。光起電デバイス100は、光を受けて光を電気信号に変換するように、例えば、光から光子が吸収され、光起電効果を経由して電気信号に変換され得るように構成されていてもよい。従って、光起電デバイス100は、例えば、太陽等の光源に曝露されるように構成された第一の面102を規定し得る。光起電デバイス100は、例えば、複数の材料層等により第一の面102からオフセットされる反対側の面104も規定し得る。留意すべき点として、用語「光」は、これらに限定されないが、電磁スペクトルの紫外(UV)、赤外(IR)および可視部における波長等、電磁スペクトルの多様な波長を指し得る。本明細書において使用される「日光」は、太陽により放射された光を指す。
【0009】
[0014]光起電デバイス100は、第一の面102と反対側の面104との間に配置された複数の層を含んでいてもよい。本明細書において使用されている用語「層(layer)」は、表面上に設けられた厚さのある材料を指す。各層は、全表面または表面のいかなる部分を覆っていてもよい。いくつかの実施形態において、光起電デバイス100の層は、光起電セル200のアレイに分割されてもよい。例えば、光起電デバイス100は、複数の連続スクライブ202および複数のパラレルスクライブ204に従ってスクライブされていてもよい。連続スクライブ202は、光起電デバイス100の長さYに沿って延伸し、光起電デバイス100の長さYに沿って光起電セル200を仕切ってもよい。連続スクライブ202は、光起電デバイス100の幅Xに沿って連続的に光起電セル200の隣り合うセルと接続するように構成されていてもよい。連続スクライブ202は、隣り合うセル、すなわち、連続スクライブ202に隣接したセルのモノリシックな相互接続を形成してもよい。パラレルスクライブ204は、光起電デバイス100の幅Xに沿って延伸し、光起電デバイス100の幅Xに沿って光起電セル200を仕切ってもよい。作動下で、電流205は、連続スクライブ202により連続的に接続された光起電セル200を通じて幅Xに沿って主に流れることができる。作動下で、パラレルスクライブ204は、電流205が長さYに沿って流れる能力を制限するものであってもよい。パラレルスクライブ204は任意であり、長さYに沿って編成されたグループ206に連続的に接続された光起電セル200を分離するように構成されていてもよい。従って、連続スクライブ202およびパラレルスクライブ204は、光起電セル200のアレイを仕切ることができる。
【0010】
[0015]引き続き
図1を参照すると、パラレルスクライブ204は、連続的に接続された光起電セル200のグループ206を電気的に絶縁することができる。いくつかの実施形態において、光起電セル200のグループ206は、例えば、電気的ブッシングを経由する等、並列で接続することもできる。任意で、パラレルスクライブ204の数は、光起電セル200の各グループ206により生成される最大電流を制限するように構成されていてもよい。いくつかの実施形態において、各グループ206により生成された最大電流は、例えば、1つの実施形態において約100mA以下、別の実施形態において約75mA以下、またはさらなる実施形態において約50mA以下のように、約200ミリアンペア(mA)以下であってもよい。
【0011】
[0016]
図1および
図2をまとめて参照すると、光起電デバイス100の層は、光起電デバイス100へ光が伝達しやすくなるように構成された基材110を含んでいてもよい。基材110は、光起電デバイス100の第一の面102に配置されていてもよい。次に
図2および
図3を参照すると、基材110は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面112、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面114を有していてもよい。材料の1つまたは複数の層は、基材110の第一の表面112と第二の表面114との間に配置されていてもよい。
【0012】
[0017]基材110は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面122、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面124を有する、透明層120を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、透明層120の第二の表面124は基材110の第二の表面114を形成してもよい。透明層120は、例えば、ガラス等の実質的に透明な材料から形成されていてもよい。好適なガラスは、ソーダ石灰ガラス、または鉄の含有量が低減されたいずれのガラスも含むことができる。透明層120は、いくつかの実施形態において約250nmから約1,300nm、または他の実施形態において約250nmから約950nmを含むいかなる好適な透過率を有していてもよい。透明層120は、例えば、1つの実施形態において約50%超、別の実施形態において約60%超、さらに別の実施形態において約70%超、さらなる実施形態において約80%超、またはいっそうさらなる実施形態において約85%超を含む、いかなる好適な透過パーセンテージをさらに有していてもよい。1つの実施形態において、透明層120は、約90%以上の透過率を有するガラスから形成されていてもよい。任意で、基材110は、透明層120の第一の表面122に塗布されたコーティング126を含んでいてもよい。コーティング126は、これらに限定されないが、反射防止コーティング、防汚コーティング、またはそれらの組み合わせ等、光と相互作用し、または、基材110の耐久性を改良するように構成されていてもよい。
【0013】
[0018]再度
図2を参照すると、光起電デバイス100は、基材110からの、劣化または剥離をもたらすおそれのある汚染物質(例えばナトリウム)の拡散を軽減するように構成されたバリアー層130を含んでいてもよい。バリアー層130は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面132、および光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面134を有していてもよい。いくつかの実施形態において、バリアー層130は、基材110に隣接して設けられていてもよい。例えば、バリアー層130の第一の表面132は、基材100の第二の表面114上に設けられていてもよい。本明細書において使用されている語句「隣接して」は、層の少なくとも一部分の間に介入材料を全く用いることなく、二層が隣り合わせで配置されることを意味する。
【0014】
[0019]全体的に、バリアー層130は、実質的に透明であり、熱的に安定であり、ピンホールの数が少なく、高いナトリウムブロッキング能および良好な接着性を有していてもよい。これに代えてまたは加えて、バリアー層130は、光に対して色彩抑制を適用するように構成されていてもよい。バリアー層130は、これらに限定されないが、酸化スズ、二酸化ケイ素、アルミニウムでドープされた酸化ケイ素、酸化ケイ素、窒化ケイ素、または酸化アルミニウムを含む好適な材料の1つまたは複数の層を含んでいてもよい。バリアー層130は、例えば、1つの実施形態において約100Å超、別の実施形態において約150Å超、またはさらなる実施形態において約200Å未満を含む、第一の表面132および第二の表面134により区切られたいかなる好適な厚さを有していてもよい。
【0015】
[0020]引き続き
図2を参照すると、光起電デバイス100は、光起電デバイス100により生成された電荷キャリアを輸送するための電気接触を提供するように構成された透明な導電性酸化物(TCO)層140を含んでいてもよい。TCO層140は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面142、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面144を有していてもよい。いくつかの実施形態において、TCO層140は、バリアー層130に隣接して設けられていてもよい。例えば、TCO層140の第一の表面142は、バリアー層130の第二の表面134上に設けられていてもよい。全体的に、TCO層140は、実質的に透明であり、広いバンドギャップを有するn型半導体材料の1つまたは複数の層から形成されていてもよい。具体的には、上記広いバンドギャップは、望ましくない光の吸収を軽減し得る光の光子エネルギーよりも大きなエネルギー値を有していてもよい。TCO層140は、これらに限定されないが、二酸化スズ、ドープされた二酸化スズ(例えば、F-SnO
2)、インジウム酸化スズ、ドープされたもしくはドープされていない酸化亜鉛またはスズ酸カドミウムを含む好適な材料の1つまたは複数の層を含んでいてもよい。
【0016】
[0021]光起電デバイス100は、TCO層140といずれかの隣接した半導体層との間に絶縁層を設けるように構成されたバッファー層150を含んでいてもよい。バッファー層150は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面152、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面154を有していてもよい。いくつかの実施形態において、バッファー層150は、TCO層140に隣接して設けられていてもよい。例えば、バッファー層150の第一の表面152は、TCO層140の第二の表面144上に設けられていてもよい。バッファー層140は、これらに限定されないが、内在的な二酸化スズ、亜鉛マグネシウム酸化物(例えば、Zn1-xMgxO)、二酸化ケイ素(SiO2)、酸化アルミニウム(Al2O3)、窒化アルミニウム(AlN)、亜鉛酸化スズ、酸化亜鉛、スズ酸化ケイ素、またはそれらのいずれかの組み合わせを含む、TCO層140よりも高い抵抗を有する材料を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、バッファー層140の材料は、隣接した半導体層のバンドギャップ(例えば、吸収剤)と実質的に合致するように構成されていてもよい。上記バッファー層150は、例えば、1つの実施形態において約100Å超、別の実施形態において約100Åと約800Åとの間、またはさらなる実施形態において約150Åと約600Åとの間を含む、第一の表面152と第二の表面154との間にいかなる好適な厚さを有していてもよい。
【0017】
[0022]引き続き
図2を参照すると、光起電デバイス100は、光起電デバイス100内で別の層と連携してp-n接合を形成するように構成された吸収材層160を含んでいてもよい。従って、吸収された光の光子は、電子と正孔とのペアを解離してキャリアフローを生成することができ、電力を生み出すことを可能とする。吸収材層160は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面162、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面164を有していてもよい。吸収材層160の厚さは、第一の表面162と第二の表面164との間で規定されてもよい。吸収材層160の厚さは、例えば、1つの実施形態において約1μmから約7μmの間、または別の実施形態において約1.5μmから約4μmの間のように、約0.5μmから約10μmの間であってもよい。
【0018】
[0023]本明細書に記載されている実施形態によれば、吸収材層160は、過剰な正電荷キャリア、すなわち、正孔またはアクセプターを有するp型半導体材料から形成されていてもよい。吸収材層160は、第II族から第VI族の半導体等のいかなる好適なp型半導体材料を含んでいてもよい。特定の例は、これらに限定されないが、カドミウム、テルル、セレン、またはそれらのいずれかの組み合わせを含む半導体材料を含む。好適な例は、これらに限定されないが、カドミウムとテルルとの二元体、カドミウムとセレンとテルルとの三元体(例えば、CdSexTe1-x)、カドミウムと亜鉛とテルルとの三元体(例えば、CdZnxTe1-x)、カドミウム、セレン、テルル、および1つまたは複数の追加の元素を含む化合物、またはカドミウム、亜鉛、テルル、および1つまたは複数の追加の元素を含む化合物を含む。
【0019】
[0024]吸収材層160がテルルおよびカドミウムを含む実施形態において、テルルの原子パーセントは、例えば、1つの実施形態において約30原子パーセント超かつ約50原子パーセント未満、さらなる実施形態において約40原子パーセント超かつ約50原子パーセント未満、またはさらに別の実施形態において約47原子パーセント超かつ約50原子パーセント未満のように、約25原子パーセント以上かつ約50原子パーセント以下であってもよい。あるいは、またはさらに、吸収材層160中のテルルの原子パーセントは、例えば、1つの実施形態において約49%超のように、約45原子パーセント超であってもよい。留意すべき点として、本明細書に記載されている原子パーセントは、吸収材層160の全体の代表であり、吸収材層160内の特定の箇所での材料の原子パーセンテージは、吸収材層160の全体的な組成よりも厚さと共に変化し得る。
【0020】
[0025]吸収材層160がセレンおよびテルルを含む実施形態において、吸収材層160中のセレンの原子パーセントは、例えば、1つの実施形態において約1原子パーセント超かつ約20原子パーセント未満、別の実施形態において約1原子パーセント超かつ約15原子パーセント未満、またはさらなる実施形態において約1原子パーセント超かつ約8原子パーセント未満のように、約0原子パーセント超かつ約25原子パーセント以下であってもよい。留意すべき点として、テルル、セレンまたは両方の濃度は、吸収材層160の厚さを通じて変化し得る。例えば、吸収材層160がセレンをxのモル分率でかつテルルを1-x(SexTe1-x)のモル分率で含む化合物を含む場合に、xは吸収材層160の第一の表面162からの距離と共に吸収材層160中で変化し得る。
【0021】
[0026]引き続き
図2を参照すると、吸収材層160は、電荷キャリア濃度を調節するように構成されたドーパントでドープされていてもよい。いくつかの実施形態において、吸収材層160は、例えば、銅、ヒ素、リン、アンチモン、またはそれらの組み合わせ等の第I族または第V族のドーパントでドープされていてもよい。吸収材層160内のドーパントの合計密度は制御され得る。あるいは、またはさらに、ドーパントの量は、吸収材層160の第一の表面162からの距離と共に変化し得る。
【0022】
[0027]本明細書で提供される実施形態によれば、上記p-n接合は、過剰な負電荷キャリア、すなわち電子またはドナーを有する光起電デバイス100の一部分に十分に近い吸収材層160を設けることにより形成されていてもよい。いくつかの実施形態において、吸収材層160は、n型半導体材料に隣接して設けられていてもよい。あるいは、1つまたは複数の介入層は、吸収材層160とn型半導体材料との間に設けられていてもよい。いくつかの実施形態において、吸収材層160は、バッファー層150に隣接して設けられていてもよい。例えば、吸収材層160の第一の表面162は、バッファー層150の第二の表面154上に設けられていてもよい。
【0023】
[0028]光起電デバイス100は、ドーパントの望ましくない変質を軽減し、かつ吸収材層160との電気接触を提供するように構成されたバックコンタクト層170を含んでいてもよい。バックコンタクト層170は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面172、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面174を有していてもよい。バックコンタクト層170の厚さは、第一の表面172と第二の表面174との間で規定されてもよい。バックコンタクト層170の厚さは、例えば、1つの実施形態において、約10nmから約50nmの間のように、約5nmから約200nmの間であってもよい。
【0024】
[0029]いくつかの実施形態において、バックコンタクト層170は、吸収材層160に隣接して設けられていてもよい。例えば、バックコンタクト層170の第一の表面172は、吸収材層160の第二の表面164上に設けられていてもよい。いくつかの実施形態において、バックコンタクト層170は、多様な組成で、例えば、亜鉛、銅、カドミウムおよびテルルを含有する1つまたは複数の層のように、第I族、第II族、第VI族に由来する材料の二元または三元の組み合わせを含んでいてもよい。さらなる例示的な材料は、これらに限定されないが、テルル化銅でドープされたテルル化亜鉛、またはテルル化銅で合金化されたテルル化亜鉛を含む。議論を容易にするため、バッファー層150、吸収材層160、バックコンタクト層170、またはそれらの組み合わせを含む層のスタックは、本明細書において半導体スタック176とすることもある。
【0025】
[0030]光起電デバイス100は、吸収材層160との電気接触を提供するように構成された第一の導電層180を含んでいてもよい。第一の導電層180は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面182、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面184を有していてもよい。いくつかの実施形態において、第一の導電層180は、バックコンタクト層170に隣接して設けられていてもよい。例えば、第一の導電層180の第一の表面182は、バックコンタクト層170の第二の表面174上に設けられていてもよい。第一の導電層180の厚さは、第一の表面182と第二の表面184との間で規定されてもよい。第一の導電層180の厚さは、例えば、1つの実施形態において約50nmから約2.5μmの間、または別の実施形態において約100nmから約2μmの間のように、約3μm未満であってもよい。
【0026】
[0031]第一の導電層180は、0.5Ω/sqと10Ω/sqとの間のシート抵抗を有するいかなる好適な導電材料を含んでいてもよい。好適な例は、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、または両方を含む。あるいは、またはさらに、第一の導電層180は、透明、または光の一定の波長に対して透明であってもよい。いくつかの実施形態において、第一の導電層180は、導電材料層の組み合わせを含んでいてもよい。各層は、導電性材料層のスタックが所望の性能特性を有するように、構造的特性または電気的特性に貢献し得る。好適な金属は、これらに限定されないが、銀、ニッケル、銅、アルミニウム、チタン、パラジウム、クロム、モリブデン、金、またはそれらの組み合わせを含む。窒素含有金属の好適な例は、これらに限定されないが、窒化アルミニウム、窒化ニッケル、窒化チタン、窒化タングステン、窒化セレン、窒化タンタル、または窒化バナジウムを含む。
【0027】
[0032]光起電デバイス100は、光起電デバイス100の1つまたは複数の層を電気的に絶縁するように構成された誘電層190を含んでいてもよい。例えば、セル200内では、誘電層190は、第一の導電層180を第二の導電層210から電気的に絶縁するものであってもよい。誘電層190は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面190、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面194を有していてもよい。いくつかの実施形態において、誘電層190は、第一の導電層180に隣接して設けられていてもよい。例えば、誘電層190の第一の表面192は、第一の導電層180の第二の表面184上に設けられていてもよい。誘電層190の厚さは、第一の表面192と第二の表面194との間で規定されてもよい。誘電層190の厚さは、例えば、1つの実施形態において約20μm未満のように、約30μm未満であってもよい。全体的に、誘電層190の厚さは、例えば、1つの実施形態において第一の導電層180の厚さの約25倍超、別の実施形態において第一の導電層180の厚さの約50倍超、またはさらなる実施形態において第一の導電層180の厚さの約100倍超のように、第一の導電層180の厚さよりも少なくとも1桁大きい。
【0028】
[0033]上記誘電層は、例えば、フォトレジスト材料または非導電性ポリマー等の誘電材料を含んでいてもよい。誘電材料の好適な例は、さらにエポキシ、アクリル、フェノールまたはポリイミド等を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、上記誘電材料は、レーザーアブレーションの使用に適する光の波長に対する透過率が約10%超であってもよく、すなわち、上記波長範囲は、固体レーザー波長と関連していてもよい。例えば、波長範囲は、約300nmと約1,100nmとの間であってもよい。
【0029】
[0034]引き続き
図2を参照すると、光起電デバイス100は、TCO層140、隣り合うセル200の第一の導電層180、または両方との電気接触を提供するように構成された第二の導電層210を含んでいてもよい。第二の導電層210は、光起電デバイス100の第一の面102へ実質的に向いている第一の表面212、および、光起電デバイス100の反対側の面104へ実質的に向いている第二の表面214を有していてもよい。いくつかの実施形態において、第二の導電層210は、誘電層190に隣接して設けられていてもよい。例えば、第二の導電層210の第一の表面212は、誘電層190の第二の表面194上に設けられていてもよい。第二の導電210の厚さは、第一の表面212と第二の表面214との間で規定されてもよい。第一の導電層180の厚さは、第一の表面182と第二の表面184との間で規定されてもよい。第二の導電層210の厚さは、例えば、1つの実施形態において約50nmから約2.5μmの間、または別の実施形態において約100nmから約2μmの間のように、約3μm未満であってもよい。第二の導電層210は、0.5Ω/sqと10Ω/sqとの間のシート抵抗を有するいかなる好適な導電材料を含んでいてもよい。好適な例は、第一の導電層180に関して上述したとおり、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、または両方を含む。あるいは、またはさらに、第二の導電層190は、透明、または光の一定の波長に対して透明であってもよい。いくつかの実施形態において、第二の導電層210は、第一の導電層180と異なる材料を有していてもよい。あるいは、またはさらに、第一の導電層180、第二の導電層190、または両方は、例えば、酸化物等の非金属材料を含んでいてもよい。
【0030】
[0035]光起電デバイス100は、光起電デバイス100用の筐体を形成するために、基材110と連携するように構成されたバックサポート216を含んでいてもよい。バックサポート216は、光起電デバイス100の反対側の面104に配置されていてもよい。例えば、バックサポート216は、第二の導電層210上に形成されていてもよい。バックサポート216は、例えば、ガラス(例えば、ソーダ石灰ガラス)を含む、いかなる好適な材料を含んでいてもよい。留意すべき点として、用語「上に(over)」は、物体または第一の層が、第二の層の表面に直接的にまたは非直接的に接していることを意味し得る。従って、第二の層「上の」第一の層は、第二の層の表面と直接的に接していてもよく、または、第二の層の表面からオフセットされる位置で1つまたは複数の介入物体もしくは層と接していてもよい。
【0031】
[0036]
図2および
図4をまとめて参照すると、光起電デバイス100の製造は、一般的に、1つまたは複数の薄膜堆積プロセスを通じて、層の「スタック」中に、機能層または層前駆体を連続的に配置するステップを含み、薄膜堆積プロセスとしては、これらに限定されないが、スパッタリング、噴霧、蒸散、分子ビーム堆積法、熱分解、閉空間昇華法(CSS)、パルスレーザー堆積法(PLD)、化学気相堆積法(CVD)、電気化学的堆積法(ECD)、原子層堆積法(ALD)、または気相輸送堆積法(VTD)が挙げられる。いくつかの実施形態において、より大きなスループット品質のため、VTDが好ましい可能性がある。
【0032】
[0037]光起電デバイス100の製造は、光起電デバイス100を複数の光起電セル200に分割するために、さらに、層のスタックの一定の領域の選択的な除去、すなわち、スクライビングまたはアブレーションを含んでいてもよい。例えば、連続スクライブ202は、第一の絶縁スクライブ222(P1スクライブともいう)、および第二の絶縁スクライブ224(P3スクライブともいう)を含んでいてもよい。第一の絶縁スクライブ222は、TCO層140が隣り合うセル200の間で電気的に絶縁されることを確実とするために形成されていてもよい。具体的には、第一の絶縁スクライブ222は、光起電デバイス100のTCO層140、バッファー層150および吸収材層160を通して形成されていてもよい。第二の絶縁スクライブ224は、導電層180を個別のセル200に区分するように形成されていてもよい。第二の絶縁スクライブ224は、第二の導電層210を通して形成されていてもよい。第一の絶縁スクライブ222、第二の絶縁スクライブ224、または両方は、誘電材料で充たされていてもよい。
【0033】
[0038]セルの相互接続226は、光起電セル200の層を電気的に接続するために形成されてもよい。セルの相互接続226は、TCO層140を第二の導電層210と電気的に接続するために構成されていてもよい。いくつかの実施形態において、セルの相互接続226は、半導体スタック176のいくつかまたは全てを通り抜け、かつそれらから電気的に絶縁されるように形成されてもよい。セルの相互接続226は、これらに限定されないが、第二の導電層210の材料等の導電材料で形成されていてもよい。
【0034】
[0039]
図1および
図2をまとめて参照すると、導電層相互接続230は、光起電セル200の層を電気的に接続するために形成されていてもよい。本明細書に記載されているとおり、導電層相互接続230は、第一の導電層180を第二の導電層210と電気的に接続するために構成されてもよい。具体的には、導電層相互接続230は、第一の導電層180と第二の導電層210との間の選択的な電気接触点を形成するように構成されていてもよく、一方で第一の導電層180および第二の導電層210のほとんどは誘電層190により電気的に絶縁される。導電層相互接続230は、第一の導電層180に関して上述したとおり、例えば、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、または両方のような、いかなる好適な導電材料を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、導電層相互接続230は、第一の導電層180と異なる1つまたは複数の材料を含んでいてもよい。例えば、導電層相互接続230は、第一の導電層180中に存在しない導電性材料を含んでいてもよい。
【0035】
[0040]いくつかの実施形態において、光起電セル200は、それぞれが第一の導電層180と第二の導電層210との間に所望の電流値が流れることを可能とするように構成された複数の導電層相互接続230を含んでいてもよい。例えば、セル200のそれぞれにおける導電層相互接続230の数、および、導電層相互接続230のそれぞれを通って流れる所望の電流値は、連続的に接続された光起電セル200のグループ206により生成される電流205と対応していてもよい。このように、導電層相互接続230の程度は、光起電セル200のグループ206により生成された電流205に従って調整することができる。
【0036】
[0041]次に
図4を参照すると、導電層相互接続230を形成するための方法240が概略的に図示されている。方法240は、半導体スタック176上に第一の導電層180を形成するためのプロセス242を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、半導体スタック176上に導電材料の複数の層が連続的に堆積されることで第一の半導電層180を形成してもよい。従って、第一の半導電層180の厚さは、導電材料の複数の層に及んでもよい。
【0037】
[0042]方法240は、第一の導電層180上に誘電層190を形成するプロセス244を含んでいてもよい。任意で、誘電層190は第一の導電層180に隣接して形成されていてもよい。上述のとおり、誘電層190は第一の導電層180よりも顕著に厚くてもよい。さらに、第一の導電層180は、一定の製造技術を使用して製造するのに過剰に薄くてもよい。例えば、誘電層190の一部を選択的に除去することが望ましい場合もある。フォトリソグラフィックパターニングプロセスは過度に制約される可能性があり、効率的な光起電デバイスの製造には適していない。例えば、フォトリソグラフィックプロセスは、材料を除去するために化学物質の使用を要する。しかし、そのような化学物質は多くの誘電材料および導電材料と適合しない。さらに、フォトリソグラフィックパターニングは、光起電デバイスの工業的に実現可能な製造にはスループットが低すぎる。同様に、プリント回路基板(PCB)を製造するための使用に好適な一定のレーザーパターニング技術は、効率的な光起電デバイスの製造に適していない。上記PCB製造は、一般的に、9.1μmと10.6μmとの間の波長を有するCO2レーザーを活用し、厚い銅層の使用を可能にする。銅層の厚さは、通常0.0254mm(1ミル)を超える。厚さおよびPCBレーザー技術の構成的な制約は、効率的な光起電デバイスの製造に適していない。出願人は、フォトリソグラフィック加工およびPCBレーザー技術の不足を打開する新規の層構造およびレーザー加工技術を発見した。
【0038】
[0043]引き続き
図4を参照すると、方法240は、レーザーパルス248を用いて第一の導電層180の作用領域186を熱するためのプロセス246を含み得る。レーザーパルス248は、第一の導電層180の作用領域186上の誘電層190の一部分196の選択的な剥離を促進するために選択されていてもよい。レーザーパルス248は、実質的にガウシアン形状の相対強度250を有していてもよい。相対強度250は、レーザーパルス248の半径方向の位置252にわたって変化し得る。レーザーパルス248は、レーザーパルス248の時間に従って特徴付けられることが可能である。具体的には、パルス幅は、相対強度250の最大半値幅(FWHM)に基づき、レーザーパルス248の開始と終了の間の時間を規定することができる。いくつかの実施形態において、レーザーパルス248は、例えば、1つの実施形態において1,000ps未満、または別の実施形態において900fsと100psとの間のように、5,000ps未満のパルス幅を有していてもよい。上述のとおり、レーザーパルス248の波長は、誘電層190の部分的な透過率と合致するように選択されてもよい。従って、レーザーパルス248は、特にピーク強度での誘電層190の一部分196を通り、第一の導電層180の作用領域186に伝達され得る。
【0039】
[0044]方法240は、第一の導電層180の作用領域186を少なくとも部分的に溶融させるプロセス254を含んでいてもよい。作用領域186の溶融の結果として、作用領域186は、第一の導電層180において形成される接触領域188に変化され得る。加えて、作用領域186の溶融の結果として、第一の導電層180の作用領域186上に配置される誘電層190の一部分196は、誘電層190の一部分196を通ってビア256を規定するために剥離されていてもよい。具体的には、ビア256は、誘電層190の一部分196の除去により形成されたビア壁198により区切られていてもよい。
【0040】
[0045]
図4、
図5、および
図6をまとめて参照すると、例示的なビア256および接触領域188は概略的に図示されている。いくつかの実施形態において、ビア256は、接触領域188近くに形成されていてもよい。ビア256は、導電(conducing)層相互接続230を受けるのに好適な接触領域188の少なくとも一部に対して閉塞していない経路を提供し得る。例えば、誘電層190のビア壁198は境界を形成し、接触領域188の外縁260を規定する。従って、ビア壁198と接触領域188は、ビア256を少なくとも部分的に包囲するための囲みを規定するのに連携していてもよい。
【0041】
[0046]本開示によれば、第一の導電層180の接触領域188の形状は、実質的に平坦かつ環状であってもよい。いくつかの実施形態において、接触領域188の平坦な形状は、接触領域188の表面積を第一の導電層180の特徴と比較することにより観測することができる。例えば、接触領域188の表面積は、第一の導電層180の最大厚さよりも実質的に大きくてもよい。いくつかの実施形態において、接触領域188の表面積の、第一の導電層180の最大厚さに対する比率は、例えば、1つの実施形態において少なくとも約1,000:1、または1つの実施形態において少なくとも約1,500:1のように、少なくとも約750:1であってもよい。具体的には、1つの実施形態において、第一の導電層180の最大厚さが2μmであることにより、接触領域188の表面積は少なくとも約4,500μm2であってもよい。
【0042】
[0047]あるいは、またはさらに、接触領域188の平坦な形状は、接触領域188の外縁260での界面角度θを測定することにより観察されるものであってもよい。界面角度θは、誘電層190のビア壁198と第一の導電層180の接触領域188との間に形成される角度により規定され、それは断面を取得することにより観察することができる。全体的に、界面角度θは、接触領域188に比べて勾配が比較的急であるビア壁198の指標である。いくつかの実施形態において、界面角度θは、例えば、1つの実施形態において約80°と約135°との間のように、約75°超であってもよい。
【0043】
[0048]本明細書で提供される実施形態に従って、ビア256は、第一の導電層180の一部を通して完全に形成されていてもよい。例えば、接触領域188の内縁262は、半導体スタック176の露出した領域264を区切ってもよい。いくつかの実施形態において、内縁262は、レーザーパルス248の相対強度250のピークにより形成されていてもよい。従って、接触領域188の内縁262は、実質的に円形であってもよい。
【0044】
[0049]
図2、
図5および
図6をまとめて参照すると、上記誘電層190は、第一の導電層180よりも顕著に厚くてもよい。誘電層190と第一の導電層180の平均厚さは、セル200レベルで測定することができる。例えば、光起電デバイス100の断面を検査することができる。第一の導電層180と誘電層190のそれぞれの平均厚さは、断面から算出することができる。いくつかの実施形態において、セル200における誘電層190の平均厚さの、セル200における第一の導電層180の平均厚さに対する比率は、例えば、1つの実施形態において約25:1超、別の実施形態において約50:1超、またはさらなる実施形態において約100:1超のように、少なくとも10:1であってもよい。
【0045】
[0050]引き続き
図4を参照すると、方法240は、導電層相互接続230を形成するためのプロセス266を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、プロセス266は、ビア256を通じて第二の導電層210を堆積させるステップを含んでいてもよい。例えば、導電材料の複数の層は、ビア256および誘電層190上に連続的に堆積させることで第二の導電層210および導電層相互接続230を形成してもよい。従って、導電層相互接続230は、誘電層190を通り抜け、第一の導電層180の接触領域188と接触させて堆積されてもよい。いくつかの実施形態において、導電層相互接続230は、第一の導電層180の接触領域188と電気的な接続232を形成することができる。導電層相互接続230の電気的な接続232は、第一の導電層180の接触領域188と相補的かつ一致する形状を有していてもよい。ビア256が第一の導電層180の一部を通って完全に形成されている実施形態において、導電層相互接続230は半導体スタック176と直接的に接触できる。
【0046】
[0051]本明細書で提供される実施形態、誘電層を通り抜けて形成される導電層相互接続を有する光起電セルがこれで理解され得る。上記導電層相互接続は、レーザー加工を使用して形成されていてもよい。本明細書に記載されているレーザー加工は、フォトリソグラフィまたはPCB製造技術の欠点および制約なく、長持ちし、かつ効率的な光起電デバイスを製造するのに使用することができる。例えば、本明細書に記載されている実施形態は、半導体スタック上に薄い導電層および導電層相互接続を備える光起電デバイスを製造するために利用することができる。
【0047】
[0052]本明細書で提供される実施形態によれば、光起電デバイスの光起電セルは、第一の導電層、第二の導電層、誘電層、および導電層相互接続を含んでいてもよい。上記第一の導電層および第二の導電層は、吸収材層を含む半導体スタックの上にあってもよい。上記第一の導電層は平均導電層厚さを有することができる。上記誘電層は、第一の導電層と第二の導電層との間に位置するものであってもよい。上記誘電層は、平均誘電層厚さを有することができる。上記導電層相互接続は、上記第二の導電層から延出して上記誘電層を通り抜けてもよい。上記導電層相互接続は、第一の導電層の接触領域と電気的な接続を形成してもよい。第一の導電領域の接触領域の形状は、平坦かつ環状であってもよい。平均誘電層厚さの、平均導電層厚さに対する比率は少なくとも10:1であってもよい。
【0048】
[0053]別の実施形態において、光起電デバイスを形成するための方法は、半導体スタック上に導電層を形成するステップを含んでもよい。上記導電層は、導電層厚さを有していてもよい。誘電層は、導電層上に形成されてもよく、上記誘電層は、誘電層厚さを有する。導電層の作用領域は、レーザーパルスで熱されてもよい。導電層の上記作用領域は、少なくとも部分的に溶融したものであってもよい。上記溶融は、導電層中に接触領域を形成させ、導電層の上記作用領域上に配置された誘電層の一部の剥離させて、誘電層の一部を通り抜けるビアを規定し得る。誘電層厚さの、導電層厚さに対する比率は少なくとも10:1であってもよい。導電層相互接続は、誘電層のビアを通り抜け、かつ導電層の接触領域と接触させて形成されてもよい。
【0049】
[0054]本明細書において、用語「実質的に」および「約」は、いずれかの定量的な比較、値、測定または他の表現に帰着し得る、固有の不確実性の程度を表すために利用され得ることに留意されたい。また、これらの用語は、本明細書において、審査係属中の発明の主題の基本的な機能に変化をもたらすことなく、定量的な表現が記載された参照から変化し得る程度を表すために利用されるものである。
【0050】
[0055]本明細書において特定の実施形態が図示および説明されているが、特許請求される発明の主題の精神および範囲から逸脱することなく、様々な他の変更および改変がなされ得ることを理解されたい。さらに、特許請求される発明の主題の様々な態様が本明細書で説明されたが、そのような態様は組み合わせて利用される必要はない。従って、添付の特許請求の範囲は、特許請求される発明の主題の範囲内にある全ての上記変更および改変を包含することが意図される。
【手続補正書】
【提出日】2023-07-04
【手続補正1】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
光起電デバイスの光起電セルであって、
吸収材層を含む半導体スタック上の第一の導電層および第二の導電層、
第一の導電層と第二の導電層との間に位置される誘電層、ならびに、
第二の導電層から延出して誘電層を通り抜ける導電層相互接続
を含み、
前記第一の導電層が平均導電層厚さを有し、
前記誘電層が平均誘電層厚さを有し、
前記導電層相互接続が第一の導電層の接触領域と電気的な接続を形成し、
第一の導電層の接触領域の形状が平坦かつ環状であり、
平均誘電層厚さの、平均導電層厚さに対する比率が、少なくとも10:1である、
上記の、光起電デバイスの光起電セル。
【請求項2】
第一の導電層が最大厚さを有し、
第一の導電層の接触領域が表面積を有し、
第一の導電層の最大厚さの、接触領域の表面積に対する比率が、少なくとも750:1である、
請求項1に記載の光起電セル。
【請求項3】
導電層相互接続が、誘電層のビア壁により区切られており、
界面角度θが、誘電層のビア壁と第一の導電層の接触領域により規定され、
界面角度θが75°超である、
請求項1に記載の光起電セル。
【請求項4】
導電層相互接続が半導体スタックと直接的に接触している、請求項1~3のいずれかに記載の光起電セル。
【請求項5】
半導体スタックが吸収材層上にバックコンタクトを含み、第一の導電層がバックコンタクト層上にある、請求項1~4のいずれかに記載の光起電セル。
【請求項6】
第一の導電層の厚さが3μm未満である、請求項1~5のいずれかに記載の光起電セル。
【請求項7】
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、請求項1~6にいずれかに記載の光起電セル。
【請求項8】
第二の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、請求項1~7のいずれかに記載の光起電セル。
【請求項9】
誘電層は、300nmと1,100nmとの間の波長に対する透過率が10%超である、請求項1~8のいずれかに記載の光起電セル。
【請求項10】
第一の導電層および第二の導電層が異なる材料組成を有する、請求項1~9のいずれかに記載の光起電セル。
【請求項11】
半導体スタック上に第一の導電層を形成すること、
前記第一の導電層上に誘電層を形成すること、
レーザーパルスで第一の導電層の作用領域を熱すること、
第一の導電層の前記作用領域を少なくとも部分的に溶融させ、これによって、第一の導電層中に接触領域が形成され、第一の導電層の前記作用領域上に配置された誘電層の一部を剥離させて、誘電層の一部を通り抜けるビアを規定すること、および
誘電層のビアを通り抜けかつ第一の導電層の接触領域と接触する導電層相互接続を形成すること
を含む、光起電デバイスを形成する方法であって、
前記第一の導電層が導電層厚さを有し、
前記誘電層が誘電層厚さを有し、
誘電層厚さの、導電層厚さに対する比率が少なくとも10:1である、方法。
【請求項12】
導電層相互接続が、誘電層上に第二の導電層を堆積させることにより形成される、請求項11に記載の方法。
【請求項13】
誘電層は、レーザーパルスに対する透過率が10%超である、請求項11または12に記載の方法。
【請求項14】
レーザーパルスが、ガウシアン形状の相対強度を有する、請求項11~13のいずれかに記載の方法。
【請求項15】
レーザーパルスが5,000ps未満のパルス幅を有する、請求項11~14のいずれかに記載の方法。
【請求項16】
第一の導電層が最大厚さを有し、
第一の導電層の接触領域が表面積を有し、
第一の導電層の最大厚さの、接触領域の表面積に対する比率が、少なくとも750:1である、請求項11~15のいずれかに記載の方法。
【請求項17】
導電層相互接続が、誘電層のビア壁により区切られており、
界面角度θが、誘電層のビア壁と第一の導電層の接触領域により規定され、
界面角度θが75°超である、
請求項11~16のいずれかに記載の方法。
【請求項18】
導電層相互接続が半導体スタックと直接的に接触している、請求項11~17のいずれかに記載の方法。
【請求項19】
半導体スタックが吸収材層上にバックコンタクト層を含み、
第一の導電層がバックコンタクト層上にある、
請求項11~18のいずれかに記載の方法。
【請求項20】
第一の導電層の厚さが50nmから2.5μmの間である、請求項11~19のいずれかに記載の方法。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0050
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0050】
[0055]本明細書において特定の実施形態が図示および説明されているが、特許請求される発明の主題の精神および範囲から逸脱することなく、様々な他の変更および改変がなされ得ることを理解されたい。さらに、特許請求される発明の主題の様々な態様が本明細書で説明されたが、そのような態様は組み合わせて利用される必要はない。従って、添付の特許請求の範囲は、特許請求される発明の主題の範囲内にある全ての上記変更および改変を包含することが意図される。
[発明の態様]
[1]
光起電デバイスの光起電セルであって、
吸収材層を含む半導体スタック上の第一の導電層および第二の導電層、
第一の導電層と第二の導電層との間に位置される誘電層、ならびに、
第二の導電層から延出して誘電層を通り抜ける導電層相互接続
を含み、
前記第一の導電層が平均導電層厚さを有し、
前記誘電層が平均誘電層厚さを有し、
前記導電層相互接続が第一の導電層の接触領域と電気的な接続を形成し、
第一の導電層の接触領域の形状が平坦かつ環状であり、
平均誘電層厚さの、平均導電層厚さに対する比率が、少なくとも10:1である、
上記の、光起電デバイスの光起電セル。
[2]
第一の導電層が最大厚さを有し、
第一の導電層の接触領域が表面積を有し、
第一の導電層の最大厚さの、接触領域の表面積に対する比率が、少なくとも750:1である、
パラグラフ1に記載の光起電セル。
[3]
導電層相互接続が、誘電層のビア壁により区切られており、
界面角度θが、誘電層のビア壁と第一の導電層180の接触領域により規定され、
界面角度θが75°超である、
パラグラフ1に記載の光起電セル。
[4]
導電層相互接続が半導体スタックと直接的に接触している、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[5]
半導体スタックが吸収材層上にバックコンタクト層を含み、第一の導電層がバックコンタクト層上にある、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[6]
第一の導電層の厚さが3μm未満である、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[7]
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[8]
第二の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[9]
誘電層は、300nmと1,100nmとの間の波長に対する透過率が10%超である、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[10]
第一の導電層および第二の導電層が異なる材料組成を有する、パラグラフ1に記載の光起電セル。
[11]
半導体スタック上に導電層を形成すること、
前記導電層上に誘電層を形成すること、
レーザーパルスで導電層の作用領域を熱すること、
導電層の前記作用領域を少なくとも部分的に溶融させ、これによって、導電層中に接触領域が形成され、導電層の前記作用領域上に配置された誘電層の一部を剥離させて、誘電層の一部を通り抜けるビアを規定すること、および
誘電層のビアを通り抜けかつ導電層の接触領域と接触する導電層相互接続を形成すること
を含む、光起電デバイスを形成する方法であって、
前記導電層が導電層厚さを有し、
前記誘電層が誘電層厚さを有し、
誘電層厚さの、導電層厚さに対する比率が少なくとも10:1である、方法。
[12]
導電層相互接続が、誘電層上に第二の導電層を堆積させることにより形成される、パラグラフ11に記載の方法。
[13]
誘電層は、レーザーパルスに対する透過率が10%超である、パラグラフ11に記載の方法。
[14]
レーザーパルスがガウシアン形状の相対強度を有する、パラグラフ11に記載の方法。
[15]
レーザーパルスが5,000ps未満のパルス幅を有する、パラグラフ11に記載の方法。
[16]
誘電層は、レーザーパルスに対する透過率が10%超である、パラグラフ11または12に記載の方法。
[17]
レーザーパルスが、ガウシアン形状の相対強度を有する、パラグラフ11、12または16に記載の方法。
[18]
レーザーパルスが5,000ps未満のパルス幅を有する、パラグラフ11、12または16から17のいずれか一項に記載の方法。
[19]
第一の導電層が最大厚さを有し、
第一の導電層の接触領域が表面積を有し、
第一の導電層の最大厚さの、接触領域の表面積に対する比率が、少なくとも750:1である、パラグラフ1、11、12または16から18のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[20]
導電層相互接続が、誘電層のビア壁により区切られており、
界面角度θが、誘電層のビア壁と第一の導電層180の接触領域により規定され、
界面角度θが75°超である、
パラグラフ1、11、12または16から20のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[21]
導電層相互接続が半導体スタックと直接的に接触している、パラグラフ1、11、12または16から20のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[22]
半導体スタックが吸収材層上にバックコンタクトを含み、
第一の導電層がバックコンタクト層上にある、
パラグラフ1、11、12または16から21のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[23]
第一の導電層の厚さが約3μm未満である、パラグラフ1、11、12または16から22のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[24]
第一の導電層の厚さが約50nmから約2.5μmの間である、パラグラフ1、11、12または16から22のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[25]
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、パラグラフ1、11、12または16から24のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[26]
第一の導電層が、1つまたは複数の金属層、1つまたは1つもしくは複数の窒素含有金属層、またはそれら両方を含む、パラグラフ1、11、12または16から25のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[27]
誘電層は、300nmと1,100nmとの間の波長に対する透過率が10%超である、パラグラフ1、11、12または16から26のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
[28]
第一の導電層および第二の導電層が異なる材料組成を有する、パラグラフ1、11、12または16から27のいずれか一項に記載の光起電セルまたは方法。
【国際調査報告】