特表 2023-549200 リードライトウィンドウ校正回路、方法、メモリ及びＦＰＧＡチップ

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2023-11-22

(54)【発明の名称】リードライトウィンドウ校正回路、方法、メモリ及びＦＰＧＡチップ

(51)【国際特許分類】

   G11C 29/50 20060101AFI20231115BHJP

   G11C 7/22 20060101ALI20231115BHJP

【ＦＩ】

G11C29/50 120

G11C7/22

【審査請求】有

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2023528283

(86)(22)【出願日】2021-03-09

(85)【翻訳文提出日】2023-05-11

(86)【国際出願番号】 CN2021079686

(87)【国際公開番号】W WO2022141798

(87)【国際公開日】2022-07-07

(31)【優先権主張番号】202011633790.9

(32)【優先日】2020-12-31

(33)【優先権主張国・地域又は機関】CN

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】520412486

【氏名又は名称】深▲セン▼市紫光同創電子有限公司

(74)【代理人】

【識別番号】110002468

【氏名又は名称】弁理士法人後藤特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】潘 超

(72)【発明者】

【氏名】張 勇

(72)【発明者】

【氏名】温 長清

【テーマコード（参考）】

5L206

【Ｆターム（参考）】

5L206AA17

5L206DD32

5L206DD37

5L206FF04

5L206FF05

(57)【要約】

本発明の実施例はリードライトウィンドウ校正回路及び方法、メモリ、ＦＰＧＡチップを提供し、集積回路の技術分野に関し、リードウィンドウ及びライトウィンドウを自発的に調整することができ、リードライトウィンドウ校正回路の動作周波数が所定周波数を満たす場合には、リードデータがリードウィンドウを通過するようにし、ライトデータがライトウィンドウを通過するようにする。リードライトウィンドウ校正回路は、現在のクロック周期において、リードデータ、ライトデータがリードウィンドウ、ライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証する校正検証回路と、リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、リードウィンドウを大きくし、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、ライトウィンドウを大きくするリードライト制御タイミング生成回路と、を含み、校正検証回路は、リードライトウィンドウ校正回路の動作周波数を取得し、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくするように、リードライト制御タイミング生成回路を制御し、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

リードライトウィンドウ校正回路であって、
現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するように構成される校正検証回路と、
前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、前記リードウィンドウを大きくするように構成されるリードライト制御タイミング生成回路と、を含み、
前記リードライト制御タイミング生成回路は、ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能である場合、前記ライトウィンドウを大きくするように構成され、
前記校正検証回路は、前記リードライトウィンドウ校正回路の動作周波数を取得し、前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御し、かつ、次のクロック周期において、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するように構成される、
こと特徴とするリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項2】

前記リードライト制御タイミング生成回路が、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能であるとき、前記リードウィンドウを大きくするように構成される場合には、前記校正検証回路は、前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、ライトウィンドウを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御して構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項3】

前記リードライト制御タイミング生成回路が、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能である場合、前記ライトウィンドウを大きくするように構成される場合には、前記校正検証回路は、前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、リードウィンドウを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御して構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項4】

前記校正検証回路は、前記動作周波数が前記所定周波数以上である場合、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するように構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項5】

前記校正検証回路は、
現在のクロック周期において、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能であると検証したとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウを小さくしたか否かを決定し、
現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウを小さくしていないとき、前記リードウィンドウを大きくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御し、
現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウを小さくしたとき、校正エラーを出力するように構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項6】

前記校正検証回路は、
現在のクロック周期において、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能であると検証したとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記ライトウィンドウを小さくしたか否かを決定し、
現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記ライトウィンドウを小さくしていないとき、前記ライトウィンドウを大きくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御するように構成され、
現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記ライトウィンドウを小さくしたとき、校正エラーを出力するように構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項7】

前記校正検証回路は、
前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウ及び前記ライトウィンドウを大きくしたか否かを決定し、
現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードウィンドウ及び前記ライトウィンドウのいずれも大きくしていないとき、前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくすることが可能であるか否かを決定するように構成され、
前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくすることが可能である場合、前記リードウィンドウ及び／又はライトを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御するように構成され、
現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウ及び前記ライトウィンドウを大きくしたとき、校正エラーを出力するように構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項8】

前記校正検証回路は、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過可能であり、かつ、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過可能である場合、校正成功を出力するように構成される、
こと特徴とする請求項１に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項9】

環境監視信号を取得し、環境監視信号が所定信号を満たさない場合、環境監視信号を前記校正検証回路に送信するように構成される環境監視回路をさらに含み、
前記校正検証回路は、前記環境監視信号を受信し、新たなクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するように構成される、
こと特徴とする請求項１～８のいずれか１項に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項10】

ユーザ校正信号を前記リードライト制御タイミング生成回路に送信するように構成されるユーザ校正回路をさらに含み、
前記リードライト制御タイミング生成回路は、前記ユーザ校正信号を受信し、前記ユーザ校正信号に基づいて前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを調整するように構成される、
こと特徴とする請求項１～８のいずれか１項に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項11】

リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路及びコンフィギュレーションメモリをさらに含み、
前記リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路は、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、及び／又は、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能である場合、前記校正検証回路によって送信された調整信号を受信し、前記調整信号に基づいて調整情報を呼び出し、前記調整情報を前記コンフィギュレーションメモリに送信するように構成され、
前記コンフィギュレーションメモリは、前記調整情報を受信し、前記調整情報に対応するコンフィギュレーション情報を呼び出し、前記コンフィギュレーション情報を前記リードライト制御タイミング生成回路に送信するように構成され、
前記リードライト制御タイミング生成回路は、前記コンフィギュレーション情報に基づいて前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを調整するように構成される、
こと特徴とする請求項１～８のいずれか１項に記載のリードライトウィンドウ校正回路。

【請求項12】

複数の記憶ユニットと、前記記憶ユニットのリードウィンドウ及びライトウィンドウを校正するための請求項１～１１のいずれか１項に記載のリードライトウィンドウ校正回路と、を含む、
こと特徴とするメモリ。

【請求項13】

請求項１２に記載のメモリを含む、
こと特徴とするＦＰＧＡチップ。

【請求項14】

リードライトウィンドウ校正方法であって、
校正検証回路が、現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するステップと、
前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウを大きくするステップと、
ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能である場合、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記ライトウィンドウを大きくするステップと、
前記校正検証回路がリードライトウィンドウ校正回路の動作周波数を取得し、前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御し、次のクロック周期において、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するステップと、を含むこと特徴とするリードライトウィンドウ校正方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、集積回路の技術分野に関し、特にリードライトウィンドウ校正回路、方法、メモリ及びＦＰＧＡチップに関する。

【背景技術】

【0002】

フィールドプログラマブルゲートアレイ（Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ、ＦＰＧＡと略称される）は、大量のメモリを含み、メモリの各記憶ユニットのリード及びライトは、いずれも単一のクロック周期内において完了されるものである。

【0003】

ＦＰＧＡチップの規模が千万ゲートレベルに達することに伴い、プロセスドリフト及び製造欠陥リスクもますます高くなっており、常に記憶ユニットのリード／ライトウィンドウとリード／ライトデータとの不整合という問題が発生するため、リード、ライト機能が失効してしまうことを引き起こし、ＦＰＧＡチップ全体機能の実現に影響を与える。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

本発明の実施例は、上記課題を解決するために、リードライトウィンドウ校正回路、方法、メモリ及びＦＰＧＡチップを提供する。

【課題を解決するための手段】

【0005】

第１態様によれば、リードライトウィンドウ校正回路であって、現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するように構成される校正検証回路と、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、前記リードウィンドウを大きくするように構成されるリードライト制御タイミング生成回路と、を含み、前記リードライト制御タイミング生成回路は、ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能である場合、前記ライトウィンドウを大きくするように構成され、前記校正検証回路は、前記リードライトウィンドウ校正回路の動作周波数を取得し、前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御し、かつ、次のクロック周期において、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するように構成されるリードライトウィンドウ校正回路が提供される。

【0006】

第２態様によれば、複数の記憶ユニットと、記憶ユニットのリードウィンドウ及びライトウィンドウを校正するための第１態様に記載のリードライトウィンドウ校正回路と、を含むメモリが提供される。

【0007】

第３態様によれば、第２態様に記載のメモリを含むＦＰＧＡチップが提供される。

【0008】

第４態様によれば、リードライトウィンドウ校正方法であって、校正検証回路が、現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するステップと、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、リードライト制御タイミング生成回路が前記リードウィンドウを大きくするステップと、ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能である場合、前記リードライト制御タイミング生成回路が前記ライトウィンドウを大きくするステップと、前記校正検証回路がリードライトウィンドウ校正回路の動作周波数を取得し、前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくするように前記リードライト制御タイミング生成回路を制御し、次のクロック周期において、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するステップと、を含むこと特徴とするリードライトウィンドウ校正方法が提供される。

【0009】

本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路、方法、メモリ及びＦＰＧＡチップにおいて、リードライトウィンドウ校正回路は、校正検証回路及びリードライト制御タイミング生成回路を含む。校正検証回路を利用してリードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証し、リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、リードウィンドウを大きくし、リードデータがリードウィンドウを可能な限り多く通過するようにし、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、ライトウィンドウを大きくし、ライトデータがライトウィンドウを可能な限り多く通過するようにし、その後、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを大きくしたため、リードライトウィンドウ校正回路の動作周波数が小さくなることをもたらし、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを適宜小さくすることによりリードデータがリードウィンドウを通過可能であり、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるようにし、且つ動作周波数が所定周波数を満たすことにより、リードライトウィンドウ校正回路は、正常な動作周波数で、データをリード／ライトすることができる。上記プロセスは、リードライトウィンドウ校正回路１００によって自発的に完了することができ、便利で確実であり、ユーザ体験を向上させることができる。

【0010】

本発明の実施例の技術的解決手段をより明確に説明するために、以下は実施例において使用する必要がある図面を簡単に紹介し、理解すべきものとして、以下の図面は本発明のいくつかの実施例のみを示し、したがって範囲を限定するものではないと見なされるべきであり、当業者にとって、創造的な労働をせずに、さらにこれらの図面に基づいて他の関連する図面を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路の回路接続関係図である。

【図2】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路の動作プロセス図である。

【図3】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路の動作プロセス図である。

【図4】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路の動作プロセス図である。

【図5】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路の動作プロセス図である。

【図6】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正回路の動作プロセス図である。

【図7】本発明の実施例に係るメモリの各モジュールの関係図である。

【図8】本発明の実施例に係るＦＰＧＡチップの各モジュールの関係図である。

【図9】本発明の実施例に係るリードライトウィンドウ校正方法のフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0012】

本発明の実施例の目的、技術的解決手段及び利点をより明確にするために、以下は本発明の実施例の図面を参照して、本発明の実施例の技術的解決手段を明瞭、完全に説明し、明らかに、説明された実施例は本発明の一部の実施例であり、全ての実施例ではない。通常、本明細書に記載されて図示されている本発明の実施形実施例のコンポーネントは、様々な異なる構成で配置され、設計されてもよい。なお、矛盾しない限り、本発明の実施例における特徴を相互に組み合わせることができる。

【0013】

図１に示すように、本発明の実施例によれば、リードライトウィンドウ校正回路１００が提供される。リードライトウィンドウ校正回路１００は、校正検証回路１０と、リードライト制御タイミング生成回路２０とを含む。

【0014】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するように構成される。リードライト制御タイミング生成回路２０は、リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、リードウィンドウを大きくし、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、ライトウィンドウを大きくするように構成される。校正検証回路１０は、リードライトウィンドウ校正回路１００の動作周波数を取得し、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路を制御し、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するように構成される。

【0015】

これに基づき、リードライトウィンドウ校正回路１００は、校正検証回路１０の検証結果を記憶するステータスレジスタ３０をさらに含んでもよい。

【0016】

具体的には、図１及び図２に示すように、設定のプログラミングが完了した後、リードライト制御タイミング生成回路２０は、Ｖｅｒｉｆｙ＿ｅｎ信号を校正検証回路１０に送信することができ、Ｖｅｒｉｆｙ＿ｅｎ信号がハイレベルである場合、Ｖｅｒｉｆｙ＿ｅｎ信号の作用で、校正検証回路１０は、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証することを開始する。

【0017】

リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、リードウィンドウが小さすぎるため、リードデータがリードウィンドウを完全に通過不能である。そして、校正検証回路１０は、Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号及びＡｄｊｕｓｔ＿ｒｄ信号をリードライト制御タイミング生成回路２０に送信することができ、Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号及びＡｄｊｕｓｔ＿ｒｄ信号がハイレベルである場合、リードライト制御タイミング生成回路２０は、Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号を受信すると、動作を準備する。リードライト制御タイミング生成回路２０は、Ａｄｊｕｓｔ＿ｒｄを受信すると、リードウィンドウのタイミングの調整を開始し、リードウィンドウを大きくする。

【0018】

ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、ライトウィンドウが小さすぎるため、ライトデータがライトウィンドウを完全に通過不能である。そして、校正検証回路１０は、Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号及びＡｄｊｕｓｔ＿ｗｒ信号をリードライト制御タイミング生成回路２０に送信することができ、Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号及びＡｄｊｕｓｔ＿ｗｒ信号がハイレベルである場合、リードライト制御タイミング生成回路２０は、Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号を受信すると、動作を準備する。リードライト制御タイミング生成回路２０は、Ａｄｊｕｓｔ＿ｗｒ信号を受信すると、ライトウィンドウのタイミングの調整を開始し、ライトウィンドウを大きくする。

【0019】

リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを大きくした後、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウの占める時間が長くなり、リードライトウィンドウ校正回路１００の動作周波数の低下を引き起こす。動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、校正検証回路１０は、Ｆｒｅｑ＿ｏｖｅｒｆｌｏｗ信号を受信し、Ｆｒｅｑ＿ｏｖｅｒｆｌｏｗ信号がハイレベルである場合、校正検証回路１０は、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御し、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証することができる。リードデータがリードウィンドウを通過可能であり、かつ、ライトデータがライトウィンドウを通過可能である場合、図３に示すように、校正成功を出力し、検証を停止する。そして、校正検証回路１０は、Ｖｅｒｉｆｙ＿ｓｕｃｃｅｓｓｅｄ信号をステータスレジスタ３０に送信し、ステータスレジスタ３０は、検証成功ステータを記憶する。リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、及び／又は、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、図１に示すフローに応じて、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを継続的に大きくする。校正が成功するとき、Ｖｅｒｉｆｙ＿ｅｎ信号がハイレベルからローレベルになる。

【0020】

上記プロセスにおいて、校正検証回路１０及びリードライト制御タイミング生成回路２０は、いずれもハイレベルの信号で動作を開始する。これは、校正検証回路１０及びリードライト制御タイミング生成回路２０の自己特性に関する。もちろん、校正検証回路１０及びリードライト制御タイミング生成回路２０の特性を変更し、校正検証回路１０及びリードライト制御タイミング生成回路２０がローレベルの信号を受信するときに動作するようにしてもよく、本発明の実施例は、これに特に限定されず、以下同様である。

【0021】

実施例において、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、校正検証回路１０は、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御することができることは、
リードデータがリードウィンドウを通過不能であるとき、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを大きくする場合には、動作周波数が所定周波数よりも小さいと、校正検証回路１０は、リードウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御してもよい。ここでは、大きくしたリードウィンドウの幅（リードウィンドウの時間の増加）は、小さくしたリードウィンドウの幅よりも大きい。

【0022】

リードデータがリードウィンドウを通過不能であるとき、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを大きくする場合には、動作周波数が所定周波数よりも小さいと、校正検証回路１０は、ライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御してもよい。現在のクロック周期において、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるが、リードデータがリードウィンドウを通過不能である。したがって、リードウィンドウを大きくするため動作周波数が所定周波数よりも小さいことを引き起こす場合、ライトウィンドウを小さくすることにより、リードウィンドウを大きくした後にリードデータがまだリードウィンドウを通過不能である確率を低下させるすることができる。

【0023】

リードデータがリードウィンドウを通過不能であるとき、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを大きくする場合には、動作周波数が所定周波数よりも小さいと、校正検証回路１０は、リードウィンドウ及びライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御してもよい。ここでは、大きくしたリードウィンドウの幅は、小さくしたリードウィンドウの幅よりも大きい。

【0024】

ライトデータがライトウィンドウを通過不能であるとき、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを大きくする場合には、動作周波数が所定周波数よりも小さいと、校正検証回路１０は、ライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御してもよい。ここでは、大きくしたライトウィンドウの幅（ライトウィンドウの時間の増加）は、小さくしたライトウィンドウの幅よりも大きい。

【0025】

ライトデータがライトウィンドウを通過不能であるとき、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを大きくする場合には、動作周波数が所定周波数よりも小さいと、校正検証回路１０は、リードウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御してもよい。現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるが、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である。したがって、ライトウィンドウを大きくするため動作周波数が所定周波数よりも小さいことを引き起こす場合、リードウィンドウを小さくすることにより、ライトウィンドウを大きくした後にライトデータがまだライトウィンドウを通過不能である確率を低下させるすることができる。

【0026】

ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを大きくする場合には、動作周波数が所定周波数よりも小さいと、校正検証回路１０はリードウィンドウ及びライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御してもよい。ここでは、大きくしたライトウィンドウの幅が小さくしたライトウィンドウの幅よりも大きい。

【0027】

実施例において、リードウィンドウ及びライトウィンドウの調整段階を予め記憶してもよく、各段階は、一定の幅を大きくし又は小さくすることに対応する。

【0028】

例示的に、調整段階が３ビットのバイナリで符号化されており、リードウィンドウの調整段階をＲＤ＿Ｐｎ、ライトウィンドウの調整段階をＷＲ＿Ｐｎで示すと、ＷＲ＿Ｐ０及びＲＤ＿Ｐ０は、０００、ＷＲ＿Ｐ１及びＲＤ＿Ｐ１は、００１、ＷＲ＿Ｐ２及びＲＤ＿Ｐ２は、０１０、ＷＲ＿Ｐ３及びＲＤ＿Ｐ３は、０１１、ＷＲ＿Ｐ４及びＲＤ＿Ｐ４は、１００、ＷＲ＿Ｐ５及びＲＤ＿Ｐ５は、１０１、ＷＲ＿Ｐ６及びＲＤ＿Ｐ６は、１１０、ＷＲ＿Ｐ７及びＲＤ＿Ｐ７は、１１１である。リードウィンドウの調整段階及びライトウィンドウの調整段階に対応する動作周波数（単位ＭＨｚ）は、以下の表に示す。

【0029】

【表1】

【0030】

リードライト制御タイミング生成回路２０は、リードウィンドウ又はライトウィンドウを調整するとき、一回に１つまたは複数の調整段階だけ大きくし又は小さくすることが可能である。もちろん、リードウィンドウ及びライトウィンドウを調整する調整段階は、他のビットでバイナリ符号化されてもよく、調整段階をより多くの段階又はより少ない段階に分割してもよく、本発明は、これを特に限定しない。

【0031】

実施例において、動作周波数が小さすぎて正常な動作要件を満たすことができないことを防止するために、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを大きくする時、一回に１つの段階のみを調整することができる。例えば、現在のクロック周期におけるリードウィンドウに対応する初期段階は、ＲＤ＿Ｐ４である。リードウィンドウを大きくする時、まずリードウィンドウをＲＤ＿Ｐ５に対応するタイミングに調整することができる。リードウィンドウがＲＤ＿Ｐ５である場合、リードデータがまだリードウィンドウを通過不能であるとき、リードウィンドウをＲＤ＿Ｐ６に調整する。

【0032】

実施例において、前述した解決手段は、まずリードウィンドウを大きくし、その後、動作周波数が所定周波数よりも小さいため、リードウィンドウを小さくすること、或いは、まずライトウィンドウを大きくし、その後、動作周波数が所定周波数よりも小さいため、ライトウィンドウを小さくすることを含む。この場合には、リードウィンドウ又はライトウィンドウを大きくする時に調整された段階数は、リードウィンドウ又はライトウィンドウを小さくする時に調整された段階数よりも多い。

【0033】

例示的に、現在のクロック周期においてリードウィンドウに対応する初期段階は、ＲＤ＿Ｐ０であり、リードウィンドウを大きくする時、まずリードウィンドウをＲＤ＿Ｐ２に調整することができ、その後、リードウィンドウを小さくする時、リードウィンドウをＲＤ＿Ｐ２からＲＤ＿Ｐ１に調整することができる。

【0034】

実施例において、所定周波数は、ユーザが必要に応じて設定したリードライトウィンドウ校正回路１００の周波数であってもよい。リードライトウィンドウ校正回路１００をＦＰＧＡチップに応用する場合、所定周波数はユーザが必要に応じて設定したＦＰＧＡチップの周波数であってもよい。

【0035】

実施例において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを大きくし、又はライトウィンドウを大きくし、又はリードウィンドウを小さくし、又はライトウィンドウを小さくすることは、実際にリードウィンドウ又はライトウィンドウのタイミングを変更することである。

【0036】

実施例において、リードライトウィンドウ校正回路１００は、校正成功又は校正エラーが出力されるまで、リードウィンドウ及びライトウィンドウに対して校正を一回又は複数回行うことができる。

【0037】

実施例において、最初にリードウィンドウ及びライトウィンドウを校正する前に、初期リードウィンドウの調整段階は、非最小段階、すなわち、非ＲＤ＿Ｐ０であってもよく、初期ライトウィンドウの調整段階は、非最小段階、すなわち、非ＷＲ＿Ｐ０であってもよい。

【0038】

例示的に、初期リードウィンドウの調整段階及び初期ライトウィンドウの調整段階は、最大調整段階であってもよい。初期リードウィンドウ及び初期ライトウィンドウの調整段階が最大段階である場合、リードデータがまだリードウィンドウを通過不能である、及び／又は、ライトデータがまだライトウィンドウを通過不能であると、校正エラーを出力する。

【0039】

実施例において、リードデータがリードウィンドウを通過不能であることは、リードデータがすべてリードウィンドウを通過不能であること、或いは、リードデータの一部がリードウィンドウを通過不能であることを指す。

【0040】

ライトデータがライトウィンドウを通過不能であることは、ライトデータがすべてライトウィンドウを通過不能であること、或いは、ライトデータの一部がライトウィンドウを通過不能であることを指す。

【0041】

本発明の実施例は、リードライトウィンドウ校正回路１００を提供し、リードライトウィンドウ校正回路１００は、校正検証回路１０と、リードライト制御タイミング生成回路２０とを含む。校正検証回路１０を利用してリードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証し、リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、リードウィンドウを大きくし、リードデータがリードウィンドウを可能な限り多く通過するようにし、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、ライトウィンドウを大きくし、ライトデータがライトウィンドウを可能な限り多く通過するようにし、その後、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを大きくしたため、リードライトウィンドウ校正回路１００の動作周波数が小さくなることをもたらし、動作周波数が所定周波数よりも小さいとき、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを適宜小さくすることにより、リードデータがリードウィンドウを通過可能であり、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるようにし、かつ、動作周波数が所定周波数を満たすことにより、リードライトウィンドウ校正回路１００は、正常な動作周波数で、データをリード／ライトすることができる。上記プロセスは、リードライトウィンドウ校正回路１００によって自発的に完了することができ、便利で確実であり、ユーザ体験を向上させることができる。

【0042】

任意選択的に、図２に示すように、校正検証回路１０は、動作周波数が所定周波数以上である場合、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するように構成される。

【0043】

すなわち、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを大きくしたが、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを大きくした後、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かをまだ決定することができない、したがって、リードライトウィンドウ校正回路１００の動作周波数が所定周波数を満たしても、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを再検証するようにしてもよい。

【0044】

任意選択的に、図４に示すように、校正検証回路１０は、現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過不能であると検証したとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしたか否かを決定するように構成される。

【0045】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしていないとき、リードウィンドウを大きくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御するように構成される。

【0046】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期おいて、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしたとき、校正エラーを出力するように構成される。

【0047】

具体的には、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしていないとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、動作周波数が所定周波数を満たしている。この場合には、リードデータがリードウィンドウを通過不能であるとき、リードウィンドウを大きくすることにより、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるようにする。そうでなければ、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、動作周波数が所定周波数よりも小さいため、リードウィンドウを小さくした可能性がある。この場合には、リードウィンドウを大きくしても、リードウィンドウが大きくなったため、動作周波数が再び所定周波数よりも小さくなる可能性がある。したがって、リードウィンドウを大きくする必要がなく、校正エラーを直接出力し、論理ステップを簡略化することができる。

【0048】

任意選択的に、校正検証回路１０は、現在のクロック周期において、ライトデータがライトウィンドウを通過不能であると検証したとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを小さくしたか否かを決定するように構成される。

【0049】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを小さくしていないとき、ライトウィンドウを大きくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御するように構成される。

【0050】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路がライトウィンドウを小さくしたとき、校正エラーを出力するように構成される。具体的には、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしていないとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、動作周波数が所定周波数を満たしている。この場合には、ライトデータがライトウィンドウを通過不能であるとき、ライトウィンドウを大きくすることにより、ライトデータがライトウィンドウを通過するようにする。そうでなければ、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、動作周波数が所定周波数よりも小さいため、ライトウィンドウを小さくした可能性がある。この場合には、ライトウィンドウを大きくしても、ライトウィンドウが大きくなったため、動作周波数が再び所定周波数よりも小さくなる可能性がある。したがって、ライトウィンドウを大きくする必要がなく、校正エラーを直接出力し、論理ステップを簡略化することができる。

【0051】

本発明の実施例では、リードデータがリードウィンドウを通過不能であり、かつ、ライトデータがライトウィンドウを通過不能であることが検証されたとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ又はライトウィンドウを小さくしたか否かを先に決定してもよい。リードウィンドウ又はライトウィンドウを小さくしていないとき、動作周波数が所定周波数を満たしている。リードウィンドウ又はライトウィンドウを大きくし、リードデータ又はライトデータが通過するようにする。リードウィンドウ又はライトウィンドウを小さくしたとき、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、動作周波数が所定周波数よりも小さいため、リードウィンドウ又はライトウィンドウを小さくしている。この場合には、ライトウィンドウを大きくしても、リードウィンドウ又はライトウィンドウが大きくなったため、動作周波数が再び所定周波数よりも小さくなる可能性がある。したがって、リードウィンドウ又はライトウィンドウを大きくする必要がなく、校正エラーを直接出力し、論理ステップを簡略化することができる。

【0052】

任意選択的に、図５に示すように、校正検証回路１０は、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウ及びライトウィンドウを大きくしたか否かを決定するように構成される。

【0053】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウのいずれも大きくしていないとき、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくすることが可能であるか否かを決定するように構成される。

【0054】

校正検証回路１０は、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくすることが可能である場合、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路を制御するように構成される。

【0055】

校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路がリードウィンドウ及びライトウィンドウを大きくしたとき、校正エラーを出力するように構成される。

【0056】

具体的には、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、校正検証回路１０は、ハイレベルであるＦｒｅｑ＿ｏｖｅｒｆｌｏｗ信号を受信する。そして、校正検証回路１０は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウの両方を大きくしたか否かを決定する。

【0057】

現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウの両方が大きくしたとき、前のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過不能であり、かつ、ライトデータがライトウィンドウを通過不能であるため、リードウィンドウ及びライトウィンドウをそれぞれ大きくしている。この場合には、現在のクロック周期において、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウをさらに小さくするとき、再びリードデータがリードウィンドウを通過不能であり、及び／又は、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である可能性がある。したがって、校正エラーを直接出力し、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウをさらに小さくしない。

【0058】

現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウのいずれも大きくしていないとき、現在のクロック周期において、少なくともリードウィンドウ又はライトウィンドウを小さくすることにより、動作周波数を大きくしている。したがって、校正検証回路１０は、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくすることが可能であるか否かを決定することができる。リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくすることが可能であるとき、校正検証回路１０は、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくするように、リードライト制御タイミング生成回路２０を制御し、リードウィンドウ及びライトウィンドウを小さくすること不能であるとき、校正エラーを出力する。

【0059】

実施例において、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウのいずれも大きくしていないことは、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウを大きくしたが、ライトウィンドウを大きくしていないこと、或いは、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、ライトウィンドウを大きくしたが、リードウィンドウを大きくしていないこと、或いは、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウの両方を大きくしていないことを含む。

【0060】

本発明の実施例では、動作周波数が所定周波数よりも小さいと決定した場合、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウの両方を大きくしたか否かを先に決定してもよい。リードウィンドウ及びライトウィンドウの両方を大きくしたとき、校正エラーを直接出力し、論理ステップを簡略化することができる。リードウィンドウ及びライトウィンドウのいずれも大きくしていないとき、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウをさらに小さくするか否かを決定してもよい。そうであれば、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくし、そうでなければ、校正エラーを出力し、論理ステップを簡略化することができる。

【0061】

任意選択的に、図１及び図６に示すように、リードライトウィンドウ校正回路１００は、環境監視回路４０をさらに含む。環境監視回路４０は、環境監視信号を取得し、環境監視信号が所定信号を満たさない場合、環境監視信号を校正検証回路１０に送信するように構成される。校正検証回路１０は、環境監視信号を受信し、新たなクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するように構成される。

【0062】

実施例において、環境監視信号は、リードライトウィンドウ校正回路１００の現在の動作環境の温度、電圧等であってもよい。所定信号は、対応する所定温度及び所定電圧であってもよい。

【0063】

現在の動作環境の温度が所定温度を満たさない場合、及び/又は現在の動作環境の電圧が所定電圧を満たさない場合、いずれも環境監視信号を校正検証回路１０に送信することができる。そして、校正検証回路１０を利用してリードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証し、さらにリードウィンドウ又はライトウィンドウを調整することができる。

【0064】

ここで、所定温度は、一定の所定温度範囲を有するようにしてもよい。現在の動作環境の温度が所定温度を満たさないことは、現在の動作環境の温度が所定温度範囲の上限を上回ること、又は、現在の動作環境の温度が所定温度範囲の下限を下回ることを含む。

【0065】

所定電圧は、一定の所定電圧範囲を有するようにしてもよい。現在の動作環境の電圧が所定電圧を満たさないことは、現在の動作環境の電圧が所定電圧範囲の上限を上回ること、又は、現在の動作環境の電圧が所定電圧範囲の下限を下回ることを含む。

【0066】

実施例において、環境監視信号が所定信号を満たさないことは、現在の動作環境温度と前回の測定された環境温度との差が所定信号を超えることであってもよく、或いは、現在の動作環境電圧と前回の測定された環境電圧との差が所定信号を超えることであってもよい。

【0067】

この場合には、環境監視回路４０は、温度検出回路、電圧検出回路及びコンパレータを含んでもよい。温度検出回路は、現在の動作環境の温度を検出することに用いられる。電圧検出回路は、現在の環境の電圧を検出することに用いられる。コンパレータは、現在の動作環境の温度と前回の測定された環境温度を比較することに用いられ、両者の差が所定信号より大きい場合、環境監視信号は、所定信号を満たさず、或いは、コンパレータは、現在の動作環境の電圧と前回の測定された環境電圧を比較することに用いられ、両者の差が所定信号より大きい場合、環境監視信号は所定信号を満たさない。

【0068】

本発明の実施例では、リードライトウィンドウ校正回路１００の現在の動作環境の温度、電圧等の要因が変化する場合、リードウィンドウ及びライトウィンドウのタイミングに影響を与え、或いはリードデータ又はライトデータの伝送に影響を与える可能性がある。したがって、環境監視信号が所定信号を満たさない場合、環境監視信号を校正検証回路１０に送信し、校正検証回路１０を利用してリードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するようにしてもよく、さらにリードウィンドウ又はライトウィンドウを調整することができる。

【0069】

任意選択的に、図１に示すように、リードライトウィンドウ校正回路は、ユーザ校正回路をさらに含む。ユーザ校正回路は、ユーザ校正信号をリードライト制御タイミング生成回路２０に送信するように構成される。リードライト制御タイミング生成回路２０は、ユーザ校正信号を受信し、ユーザ校正信号に基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整するように構成される。

【0070】

具体的には、上記実施例は、リードライトウィンドウ校正回路１００がリードウィンドウ及びライトウィンドウを自発的に調整する実施例を説明したが、本発明の実施例では、ユーザは、さらに、手動でリードウィンドウ及びライトウィンドウを調整してもよい。ユーザは、ユーザ校正回路をトリガすることにより、ユーザ校正信号Ｕｓｅｒ＿ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ及びＵｓｅｒ＿ａｄｊｕｓｔ＿ｗｒｒｄをリードライト制御タイミング生成回路２０に送信する。そして、ユーザ校正信号Ｕｓｅｒ＿ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎ及びＵｓｅｒ＿ａｄｊｕｓｔ＿ｗｒｒｄがハイレベルである場合、リードライト制御タイミング生成回路２０は、動作を開始し、Ｕｓｅｒ＿ａｄｊｕｓｔ＿ｗｒｒｄに基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整する。

【0071】

ここでは、ユーザ校正信号Ｕｓｅｒ＿ａｄｊｕｓｔ＿ｗｒｒｄは、リードウィンドウを大きくすること、ライトウィンドウを大きくすること、リードウィンドウを小さくすること、及びライトウィンドウを小さくすることを含む。

【0072】

実施例において、ユーザがユーザ校正回路を介してユーザ校正信号をリードライト制御タイミング生成回路２０に送信するとともに、校正検証回路１０もリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整するようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御するとき、リードライト制御タイミング生成回路２０は、ユーザ校正回路によって送信されたユーザ校正信号に基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整し、或いは、リードライト制御タイミング生成回路２０は校正検証回路１０によって送信されたＡｄｊｕｓｔ＿ｅｎ信号、ｄｊｕｓｔ＿ｒｄ信号、及びＡｄｊｕｓｔ＿ｗｒ信号に基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整する。

【0073】

本発明の実施例では、ユーザは、さらに意思に基づき、手動でリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整してもよい。

【0074】

任意選択的に、図１に示すように、リードライトウィンドウ校正回路１００は、リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０及びコンフィギュレーションメモリ６０をさらに含んでもよい。

【0075】

リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０は、リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、及び／又は、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、校正検証回路１０によって送信された調整信号を受信し、調整信号に基づいて調整情報を呼び出し、調整情報をコンフィギュレーションメモリ６０に送信するように構成される。

【0076】

コンフィギュレーションメモリ６０は、調整情報を受信し、調整情報に対応するコンフィギュレーション情報を呼び出し、コンフィギュレーション情報をリードライト制御タイミング生成回路２０に送信するように構成される。

【0077】

リードライト制御タイミング生成回路２０は、コンフィギュレーション情報に基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整するように構成される。

【0078】

具体的には、リードデータが前記リードウィンドウを通過不能である場合、及び／又は、ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、校正検証回路１０は、調整信号Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎをリードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０に送信する。調整信号Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎがハイレベルである場合、リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０が動作し調整情報を呼び出し、調整情報をコンフィギュレーションメモリ６０に送信する。そして、コンフィギュレーションメモリ６０は、調整情報を受信した後、調整情報に対応するコンフィギュレーション情報を呼び出し、コンフィギュレーション情報をリードライト制御タイミング生成回路２０に送信する。そして、リードライト制御タイミング生成回路２０は、コンフィギュレーション情報に基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウのタイミングを調整することにより、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを調整することができる。

【0079】

実施例において、調整情報は、リードウィンドウ及びライトウィンドウの調整段階であってもよく、例えば、リードウィンドウの初期調整情報に対応する調整段階はＲＤ＿Ｐ０である。リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０は、調整信号Ａｄｊｕｓｔ＿ｅｎを受信した後、調整後の調整情報に対応する調整段階をＲＤ＿Ｐ１として決定する。

【0080】

コンフィギュレーション情報は、調整情報に対応する、リードウィンドウ及びライトウィンドウのタイミングを調整するための情報であってもよい。

【0081】

ここでは、調整情報は、予めリードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０に記憶されてもよく、コンフィギュレーション情報は、予めコンフィギュレーションメモリ６０に記憶されてもよい。

【0082】

本発明の実施例では、リードデータが前記リードウィンドウを通過不能であること、及び／又は、ライトデータがライトウィンドウを通過不能であることを決定したとき、リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路５０から調整情報を呼び出し、コンフィギュレーションメモリ６０から調整情報を呼び出し、さらにリードライト制御タイミング生成回路２０を利用してコンフィギュレーション情報に基づいてリードウィンドウ及び／又はライトウィンドウウのタイミングを調整するようにしてもよい。

【0083】

図７に示すように、本発明の実施例によれば、さらにメモリ１０００が提供される。メモリ１０００は、複数の記憶ユニット２００と、前述したいずれかの実施例に記載のリードライトウィンドウ校正回路１００とを含む。リードライトウィンドウ校正回路１００は、記憶ユニット２００のリードウィンドウ及びライトウィンドウを校正することに用いられる。

【0084】

実施例において、記憶ユニット２００は、リードライトウィンドウ校正回路１００のそれぞれに対応している。単一のリードライトウィンドウ校正回路１００は、単一の記憶ユニットのリードウィンドウ及びライトウィンドウを校正することに用いられる。

【0085】

実施例において、図１に示すように、記憶ユニット２００は、リード制御回路、ライト制御回路及びメモリアレイを含んでもよい。

【0086】

リード制御回路とメモリアレイとの間におけるワード線がハイレベルである場合、リード制御回路は、メモリアレイと導通し、リード制御回路は、ビット線を介してリードデータをメモリアレイに記憶する。ライト制御回路とメモリアレイとの間のワード線がハイレベルである場合、ライト制御回路は、メモリアレイと導通し、ライト制御回路は、ビット線を介してライトデータをメモリアレイに記憶する。

【0087】

メモリアレイと校正検証回路１０との間におけるワード線がハイレベルである場合、メモリアレイは、メモリアレイと校正検証回路１０との間におけるビット線を介して記憶されたリードデータ及びライトデータを校正検証回路１０に送信する。校正検証回路１０は、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証することに用いられる。

【0088】

実施例において、メモリは、スタティックランダムアクセスメモリ（Ｓｔａｔｉｃ Ｒａｎｄｏｍ－Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ、ＳＲＡＭ）であってもよい。ＳＲＡＭの複数の記憶ユニット２００は、プログラマブルブロック記憶（Ｂｌｏｃｋ ＲＡＭ、ＢＲＡＭと略称される）である。

【0089】

本発明の実施例によれば、メモリ１０００が提供される。他の説明及び有益な効果について、前述した実施例を参照することができ、ここで説明を省略する。

【0090】

図８に示すように、本発明の実施例は、前述したいずれかの実施例に記載のメモリ１０００を含むＦＰＧＡチップ１００００を提供してもよい。

【0091】

これに基づき、ＦＰＧＡチップ１００００は、論理回路２０００をさらに含んでもよい。論理回路２０００は、データをメモリ１０００に格納したり、メモリ１０００からデータを呼び出したりすることができる。

【0092】

本発明の実施例によれば、ＦＰＧＡチップ１００００が提供される。他の説明及び有益な効果について、前述した実施例を参照することができ、ここで説明を省略する。

【0093】

図９に示すように、本発明の実施例によれば、
校正検証回路１０が、現在のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを検証するステップＳ１１０と、
リードデータがリードウィンドウを通過不能である場合、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを大きくするステップＳ１２０と、
ライトデータがライトウィンドウを通過不能である場合、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを大きくするステップＳ１３０と、
校正検証回路１０が、リードライトウィンドウ校正回路の動作周波数を取得し、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御し、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するステップＳ１４０と、を含むリードライトウィンドウ校正方法が提供される。

【0094】

これに基づき、ステップＳ１２０の場合には、ステップＳ１４０は、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、ライトウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御することを含んでもよい。

【0095】

ステップＳ１３０の場合には、ステップＳ１４０は、動作周波数が所定周波数よりも小さい場合、リードウィンドウを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御することを含んでもよい。

【0096】

前記動作周波数が前記所定周波数以上である場合、ステップＳ１２０及びステップＳ１３０が実行された後、リードライトウィンドウ校正方法は、次のクロック周期において、リードデータがリードウィンドウを通過可能であるか否か、及び、ライトデータがライトウィンドウを通過可能であるか否かを繰り返し検証するステップをさらに含んでもよい。

【0097】

現在のクロック周期において、前記リードデータが前記リードウィンドウを通過不能であることが検証されたとき、ステップＳ１１０が実行された後、ステップＳ１２０及びステップＳ１３０よりも前に、リードライトウィンドウ校正方法は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしたか否かを決定するステップと、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしていないとき、リードウィンドウを大きくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御するステップと、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウを小さくしたとき、校正エラーを出力するするステップと、をさらに含んでもよい。

【0098】

現在のクロック周期において、前記ライトデータが前記ライトウィンドウを通過不能であることが検証されたとき、ステップＳ１１０が実行された後、ステップＳ１２０及びステップＳ１３０よりも前に、リードライトウィンドウ校正方法は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを小さくするか否かを決定するステップと、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを小さくしていないとき、ライトウィンドウを大きくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御するステップと、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がライトウィンドウを小さくしたとき、校正エラーを出力するステップと、をさらに含んでもよい。

【0099】

前記動作周波数が所定周波数よりも小さい場合には、ステップＳ１２０及びステップＳ１３０が実行された後、ステップＳ１４０よりも前に、リードライトウィンドウ校正方法は、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウ及びライトウィンドウを大きくしたか否かを決定するステップと、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードウィンドウ及びライトウィンドウのいずれも大きくしていないと、前記リードウィンドウ及び／又はライトウィンドウを小さくすることが可能であるか否かを決定するステップと、前記リードウィンドウ及び／又は前記ライトウィンドウを小さくすることが可能である場合には、リードウィンドウ及び／又はライトを小さくするようにリードライト制御タイミング生成回路２０を制御するステップと、現在のクロック周期よりも前のクロック周期において、リードライト制御タイミング生成回路２０がリードウィンドウ及び前記ライトウィンドウを大きくしたとき、校正エラーを出力するステップと、をさらに含んでもよい。

【0100】

ステップＳ１１０が実行された後、ステップＳ１２０及びステップＳ１３０よりも前に、リードデータがリードウィンドウを通過可能であり、かつ、ライトデータがライトウィンドウを通過可能である場合、校正成功を出力する。

【0101】

本発明の実施例の他の説明及び有益な効果について、前述した実施例を参照することができ、ここで説明を省略する。

【0102】

最後に、なお、以上の実施例は本発明の技術的解決手段を説明することに用いられ、それを制限するものではなく、上記実施例を参照して本発明について詳細に説明したが、当業者であれば理解されるように、それは依然として前述した各実施例に記載の技術的解決手段を修正し、又はそのうちの一部の技術的特徴を均等置換することができ、これらの修正又は置換は、対応する技術的解決手段の本質を本発明の各実施例の技術的解決手段の精神及び範囲から逸脱させない。

【符号の説明】

【0103】

１００００ ＦＰＧＡチップ
１０００ メモリ
１００ リードライトウィンドウ校正回路
１０ 校正検証回路
２０ リードライト制御タイミング生成回路
３０ ステータスレジスタ
４０ 環境監視回路
５０ リードライトウィンドウコンフィギュレーション調整回路
６０ コンフィギュレーションメモリ
２００ 記憶ユニット

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【国際調査報告】