特表2024-505919半導体デバイスの時間領域光計測および検査

発明の名称　半導体デバイスの時間領域光計測および検査

出願人　ノヴァ　メジャリング　インストルメンツ　リミテッド　（識別番号 515037896）

　　　　特許公開件数ランキング 11776 位（1件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 3250 位（4件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2024-505919

公報発行日　2024年2月8

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_P1-2024-505919

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