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特表2024-508591ベントするための複数の空気経路を有する生検装置
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-02-28
(54)【発明の名称】ベントするための複数の空気経路を有する生検装置
(51)【国際特許分類】
   A61B 10/02 20060101AFI20240220BHJP
【FI】
A61B10/02 110K
A61B10/02 110J
【審査請求】未請求
【予備審査請求】有
(21)【出願番号】P 2023540722
(86)(22)【出願日】2022-01-06
(85)【翻訳文提出日】2023-08-24
(86)【国際出願番号】 US2022011453
(87)【国際公開番号】W WO2022150487
(87)【国際公開日】2022-07-14
(31)【優先権主張番号】63/135,256
(32)【優先日】2021-01-08
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】521442637
【氏名又は名称】バード・ペリフェラル・バスキュラー・インコーポレーテッド
(74)【代理人】
【識別番号】100118902
【弁理士】
【氏名又は名称】山本 修
(74)【代理人】
【識別番号】100106208
【弁理士】
【氏名又は名称】宮前 徹
(74)【代理人】
【識別番号】100196508
【弁理士】
【氏名又は名称】松尾 淳一
(74)【代理人】
【識別番号】100172041
【弁理士】
【氏名又は名称】小畑 統照
(72)【発明者】
【氏名】オーツ,ソレン・エフ
(72)【発明者】
【氏名】フラチュコウスキー,マレク
(57)【要約】
生検装置は、同軸に配置されているカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレを有する生検プローブアセンブリを含む。真空カニューレは、スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、第1の中間ルーメンを画定する。スタイレットカニューレは、カッターカニューレの中に位置決めされて、第2の中間ルーメンを画定する。スタイレットカニューレは、伸長位置と後退位置との間で真空カニューレおよびカッターカニューレに対して移動可能である。スタイレットカニューレは、長手方向ベントスロットを有する。シールは、近位シール部分を有する。スタイレットカニューレが伸長位置から後退位置に向けて移動させられるときに、長手方向ベントスロットは、近位シール部分の下に長手方向に位置決めされて、近位シール部分を横切ってシールバイパス経路を開放して、第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路および第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路を確立する。
【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
生検装置であって、
長手方向軸線に沿って同軸に配置されているカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレを有する生検プローブアセンブリであって、前記真空カニューレは、前記スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、前記スタイレットカニューレは、前記カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、前記真空カニューレは、真空ルーメンを有しており、
前記スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で前記真空カニューレおよび前記カッターカニューレに対して移動可能であり、
前記スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、前記複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含む、
生検プローブアセンブリと、
近位シール部分および遠位シール部分を有するシールであって、前記遠位シール部分は、前記カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、前記近位シール部分は、前記スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有しており、
前記スタイレットカニューレが前記第1の伸長位置から前記第1の後退位置に向けて移動させられるときに、前記少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、前記シールの前記近位シール部分の前記近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、前記シールの前記近位シール部分の前記近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、前記真空カニューレの外径と前記スタイレットカニューレの内径との間の前記第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、前記カッターカニューレの内径と前記スタイレットカニューレの前記外径との間の前記第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっており、前記第1の空気経路および前記第2の空気経路は、前記シールの近位領域と流体連通する、シールと
を備える、生検装置。
【請求項2】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記生検プローブアセンブリは、前記ドライバアセンブリに解放可能に取り付けられる、請求項1に記載の生検装置。
【請求項3】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記真空カニューレの前記真空ルーメンは、前記真空源と流体連通した状態で連結されている、請求項1に記載の生検装置。
【請求項4】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記スタイレットカニューレは、前記電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されている、請求項1に記載の生検装置。
【請求項5】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記カッターカニューレは、前記電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されている、請求項1に記載の生検装置。
【請求項6】
前記カッターカニューレは、前記スタイレットカニューレのサンプル用ノッチをカバーするための第2の伸長位置と、前記スタイレットカニューレが前記第1の伸長位置にあるときに、前記サンプル用ノッチを露出させるための第2の後退位置との間で、前記スタイレットカニューレに対して移動可能である、請求項1に記載の生検装置。
【請求項7】
前記スタイレットカニューレは、近位部分および遠位部分を有しており、前記遠位部分は、サンプル用ノッチを画定する、請求項1に記載の生検装置。
【請求項8】
前記複数のベント開口部は、前記サンプル用ノッチの近位の場所に配置されている、請求項7に記載の生検装置。
【請求項9】
前記第1の空気経路および前記第2の空気経路は、前記サンプル用ノッチにおいて収束する、請求項7に記載の生検装置。
【請求項10】
前記複数のベント開口部は、少なくとも2つの長手方向ベントスロットを含む、請求項1に記載の生検装置。
【請求項11】
第1の長手方向ベントスロットおよび第2の長手方向ベントスロットは、直径方向に対向する、請求項10に記載の生検装置。
【請求項12】
前記複数のベント開口部は、少なくとも1つの円形ベント孔を含む、請求項1に記載の生検装置。
【請求項13】
前記少なくとも1つの長手方向ベントスロットの近位端部は、前記少なくとも1つの円形ベント孔と位置合わせされている、請求項12に記載の生検装置。
【請求項14】
方法であって、
生検装置の真空カニューレを介して、スタイレットカニューレのサンプル用ノッチにおいて、前記生検装置の前記スタイレットカニューレのルーメンに真空を印加するステップであって、
前記生検装置のカッターカニューレ、前記真空カニューレ、および前記スタイレットカニューレは、長手方向軸線に沿って同軸に配置されており、前記真空カニューレは、前記スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、前記スタイレットカニューレは、前記カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、前記真空カニューレは、真空ルーメンを有しており、
前記スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で前記真空カニューレおよび前記カッターカニューレに対して移動可能であり、
前記スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、前記複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含み、
前記生検装置は、近位シール部分および遠位シール部分を有するシールを備え、前記遠位シール部分は、前記カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、前記近位シール部分は、前記スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有する、ステップと、
前記スタイレットカニューレを前記第1の後退位置に向けて移動させて、切断された組織サンプルを前記真空カニューレの中へ移動させるステップであって、
前記スタイレットカニューレが前記第1の後退位置に向けて移動させられるときに、前記少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、前記シールの前記近位シール部分の前記近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、前記シールの前記近位シール部分の前記近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、前記真空カニューレの外径と前記スタイレットカニューレの内径との間の前記第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、前記カッターカニューレの内径と前記スタイレットカニューレの前記外径との間の前記第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっており、前記第1の空気経路および前記第2の空気経路は、前記シールの近位領域と流体連通する、ステップと
を含む、方法。
【請求項15】
前記カッターカニューレは、前記サンプル用ノッチをカバーするための第2の伸長位置と、前記スタイレットカニューレが前記第1の伸長位置にあるときに、前記サンプル用ノッチを露出させるための第2の後退位置との間で、前記スタイレットカニューレに対して移動可能である、請求項14に記載の方法。
【請求項16】
前記スタイレットカニューレを前記第1の伸長位置に向けて移動させて、前記スタイレットカニューレによって組織を穿刺するステップと、
前記カッターカニューレを前記第2の後退位置に向けて移動させて、前記スタイレットカニューレの前記サンプル用ノッチを露出させるステップと
をさらに含み、
前記真空カニューレを介して真空を印加するステップは、前記サンプル用ノッチを通して前記スタイレットカニューレの前記ルーメンの中へ前記組織を引き込む、請求項15に記載の方法。
【請求項17】
前記カッターカニューレを前記第2の伸長位置に移動させて、前記切断された組織サンプルを前記組織から切断するステップ
をさらに含む、請求項16に記載の方法。
【請求項18】
前記第1の空気経路および前記第2の空気経路は、前記サンプル用ノッチにおいて収束する、請求項14に記載の方法。
【請求項19】
前記スタイレットカニューレを前記第1の後退位置に向けて移動させて、前記切断された組織サンプルを前記真空カニューレの中へ移動させるステップの間に、前記真空カニューレを介して真空を印加するステップをさらに含む、請求項14に記載の方法。
【請求項20】
前記複数のベント開口部は、少なくとも2つの長手方向ベントスロットを含み、第1の長手方向ベントスロットおよび第2の長手方向ベントスロットは、直径方向に対向する、請求項14に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
関連出願の相互参照
[0001]本出願は、2021年1月8日に出願された「Biopsy Apparatus Having Multiple Air Paths for Venting」に関する同時係属中の米国仮特許出願第63/135256号の利益を主張し、この米国仮特許出願は、その全体が参照により本明細書に組み込まれている。
【0002】
[0002]本開示は、生検デバイスに関し、より詳細には、単一挿入複数サンプル生検装置に関する。
【背景技術】
【0003】
[0003]関心の領域内の組織が癌細胞を含むかどうかを判定するのを助けるために、生検が患者に対して実施され得る。たとえば、乳房組織を評価するために使用される1つの生検技法は、関心の乳房組織領域内へ生検プローブを挿入し、その領域から1つまたは複数の組織サンプルを捕獲することを伴う。そのような生検技法は、多くの場合、真空を利用して、サンプリング対象の組織を生検プローブのサンプル用ノッチの中へ引っ張り、その後に、組織が切断および収集される。組織サンプルを切断するための、および、切断された組織サンプルをサンプル収集コンテナへ輸送するための、生検デバイスの能力を改善するために、本技術分野において継続的に努力がなされている。
【0004】
[0004]本技術分野において必要とされているものは、組織サンプルの効果的な切断、および、サンプル収集コンテナへの組織サンプルの効果的な輸送を推進するための能力を有する生検デバイスである。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【0005】
[0005]1つの実施形態では、生検装置は、長手方向軸線に沿って同軸に配置されているカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレを有する生検プローブアセンブリを含む。真空カニューレは、スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定する。スタイレットカニューレは、カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定する。真空カニューレは、真空ルーメンを有する。スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で真空カニューレおよびカッターカニューレに対して移動可能である。スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含む。また、生検装置は、近位シール部分および遠位シール部分を有するシールであって、遠位シール部分は、カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、近位シール部分は、スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有する、シールを含む。スタイレットカニューレが第1の伸長位置から第1の後退位置に向けて移動させられるときに、少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、シールの近位シール部分の近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、シールの近位シール部分の近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、真空カニューレの外径とスタイレットカニューレの内径との間の第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、カッターカニューレの内径とスタイレットカニューレの外径との間の第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっている。第1の空気経路および第2の空気経路は、シールの近位領域と流体連通する。
【0006】
[0006]別の実施形態では、方法は、生検装置の真空カニューレを介して、スタイレットカニューレのサンプル用ノッチにおいて、生検装置のスタイレットカニューレのルーメンに真空を印加するステップを含む。生検装置のカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレは、長手方向軸線に沿って同軸に配置されている。真空カニューレは、スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、スタイレットカニューレは、カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、真空カニューレは、真空ルーメンを有する。スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で真空カニューレおよびカッターカニューレに対して移動可能である。スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含む。生検装置は、近位シール部分および遠位シール部分を有するシールを含み、遠位シール部分は、カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、近位シール部分は、スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有する。また、方法は、スタイレットカニューレを第1の後退位置に向けて移動させて、切断された組織サンプルを真空カニューレの中へ移動させるステップを含む。スタイレットカニューレが第1の後退位置に向けて移動させられるときに、少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、シールの近位シール部分の近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、シールの近位シール部分の近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、真空カニューレの外径とスタイレットカニューレの内径との間の第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、カッターカニューレの内径とスタイレットカニューレの外径との間の第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっている。第1の空気経路および第2の空気経路は、シールの近位領域と流体連通する。
【0007】
[0007]本明細書で説明されている実施形態によって提供されるこれらのおよび追加的な特徴は、図面とともに、以下の詳細な説明を考慮して、より完全に理解されるであろう。
【0008】
[0008]添付の図面とともに、本開示の実施形態の以下の説明を参照することによって、本開示の上述のおよび他の特徴および利点、ならびに、それらを得る様式は、より明らかになり、本開示は、より良好に理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【0009】
図1】[0009]生検プローブアセンブリが生検ドライバアセンブリに取り付けられた状態の、本開示の一実施形態に従って構成されている生検装置の斜視図である。
図2】[0010]生検プローブアセンブリが生検ドライバアセンブリから取り外されており、生検ドライバアセンブリの穿刺モジュールを露出させるために、生検ドライバアセンブリの上側カバーが除去された状態の、図1の生検装置の斜視図である。
図2A】[0011]生検ドライバアセンブリが図2に示されている向きから反転させられている状態の、図2の生検ドライバアセンブリの底面図である。
図3】[0012]図1の生検ドライバアセンブリのブロック表現図である。
図4】[0013]図1の生検プローブアセンブリの分解図である。
図5A】[0014]図2の線5A-5Aに沿った、図1の生検プローブアセンブリの断面図である。
図5B】[0015]図5Aに示されている真空カニューレの拡大された部分を示す図である。
図5C】[0016]図5Aに示されているスタイレットカニューレの拡大された部分を示す図である。
図6A】[0017]穿刺ショットの前、穿刺ショットの間、および穿刺ショット直後の、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6B】[0018]カッターカニューレがスタイレットカニューレのサンプル用ノッチを露出させるために後退させられた状態にある、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6C】[0019]スタイレットカニューレを短い距離にわたって近位方向および遠位方向に交互に移動させることによって、サンプル用ノッチをシェイクすることを示す、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6D】[0020]サンプル用ノッチの中に受け入れられている組織から組織サンプルを切断するために、カッターカニューレが、遠位方向に回転および並進させられる、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6E】[0021]組織サンプルを真空カニューレのフレア付き部分の中へ移動させることを機械的に支援するために、スタイレットカニューレが、カッターカニューレの中を近位方向に移動させられる、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6F】[0022]突出部材を真空カニューレのフレア付き部分から解除するために、スタイレットカニューレが、カッターカニューレの中を遠位方向に移動させられる、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6G】[0023]スタイレットカニューレがカッターカニューレの中を近位方向に再び移動させられ、突出部材が真空カニューレのフレア付き部分に再係合する、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図6H】[0024]突出部材を真空カニューレのフレア付き部分から解除するために、および、伸長位置に戻るために、スタイレットカニューレが、カッターカニューレの中を遠位方向に再び移動させられる、真空カニューレ、スタイレットカニューレ、およびカッターカニューレの相対的位置を示す図である。
図7】[0025]図6A図6Hに示されているような組織サンプルカッティングおよび輸送シーケンスの間のいくつかの異なる位置におけるベースライン真空圧力を示す(正規化された)真空/時間グラフである。
図8】[0026]2つの直径方向に対向する長手方向ベントスロットの長手方向ベントスロットを示すスタイレットカニューレの斜視図である。
図8A】[0027]2つの直径方向に対向する長手方向ベントスロットおよび複数の円形ベント孔を含むベント開口部の配置を示す、図8の線8A-8Aに沿った、スタイレットカニューレの断面図である。
図9】[0028]イントロデューサカニューレを含み、スタイレットカニューレが図6Dのように実質的に位置決めされた状態の、図2の生検プローブアセンブリの側面図である。
図10】[0029]図9の線10-10に沿った、生検プローブアセンブリの一部分の拡大断面図である。
図11】[0030]第1および第2の空気経路を示す、図10の断面図の一部分のさらなる拡大図である。
図12】[0031]イントロデューサカニューレを含み、スタイレットカニューレが図6Eのように実質的に位置決めされた状態の、図2の生検プローブアセンブリの側面図である。
図13】[0032]図12の線13-13に沿った、生検プローブアセンブリの一部分の拡大断面図である。
図14】[0033]第1および第2の空気経路を示す、図13の断面図の一部分のさらなる拡大図である。
図15】[0034]スタイレットカニューレの穿刺先端部の突出部材が、図6Eに示されている後退位置のわずかに遠位に位置決めされた状態の、および、第1および第2の空気経路からの空気フローの組み合わせから形成された組み合わせられた空気フローを示す、図2の生検プローブアセンブリの一部分の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
[0035]対応する参照符号は、いくつかの図を通して、対応するパーツを示す。本明細書で提示されている例証は、本開示の少なくとも1つの実施形態を図示しており、そのような例証は、任意の様式で本出願の範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。
【0011】
[0036]ここで図面を参照すると、より具体的には、図1および図2を参照すると、非侵襲性の(たとえば、非使い捨ての)生検ドライバアセンブリ12と、侵襲性の(たとえば、使い捨ての)生検プローブアセンブリ14とを一般的に含む、生検装置10が示されている。本明細書で使用されているように、「非使い捨ての」という用語は、デバイスの寿命時間の間に複数の患者に対する使用を意図したデバイスを表すために使用されており、「使い捨ての」という用語は、単一の患者に対する使用の後に廃棄されることを意図したデバイスを表すために使用されている。生検ドライバアセンブリ12は、ドライバハウジング16を含み、ドライバハウジング16は、ユーザによって掴まれるように構成され、人間工学的に設計されている。
【0012】
[0037]図2および図3を参照すると、生検ドライバアセンブリ12は、ドライバハウジング16の中に、コントローラ回路18と、電気機械的動力源20と、真空源22と、真空センサ24と、バッテリー26(または、代替的に、ACアダプター)とを含む。ユーザインターフェース28(図1を参照)、たとえば、キーパッドなどが、ドライバハウジング16に装着されるように位置付けされており、ユーザによってドライバハウジング16に関して外部からアクセス可能である。バッテリー26は、たとえば、再充電可能なバッテリーであることが可能であり、再充電可能なバッテリーは、誘導コイル29に連結されている電磁誘導充電デバイスによって、または、代替的に、電源への電気接続部によって充電され得る。バッテリー26は、コントローラ回路18、電気機械的動力源20、真空源22、およびユーザインターフェース28に電気的に連結されている。
【0013】
[0038]図3を参照すると、ユーザインターフェース28は、制御ボタンおよび視覚/聴覚インジケーターを含むことが可能であり、制御ボタンは、生検装置10のさまざまな機能に対するユーザ制御を提供し、視覚/聴覚インジケーターは、生検装置10の構成要素の1つまたは複数の条件および/または位置の状態の視覚/聴覚フィードバックを提供する。制御ボタンは、サンプルボタン28-1およびプライム(prime)/穿刺ボタン28-2を含むことが可能である。視覚インジケーターは、ディスプレイスクリーン28-3および/または1つもしくは複数の発光ダイオード(LED)28-4を含むことが可能である。聴覚インジケーターは、ブザー28-5を含むことが可能である。制御ボタンは、作動させられているときのユーザへの触覚フィードバックを含むことが可能である。
【0014】
[0039]コントローラ回路18は、たとえば、1つまたは複数のワイヤーまたは回路トレースなどによって、電気機械的動力源20、真空源22、真空センサ24、およびユーザインターフェース28に電気的におよび通信可能に連結されている。コントローラ回路18は、電気回路ボードの上に組み立てられることが可能であり、たとえば、プロセッサ回路18-1およびメモリ回路18-2を含む。
【0015】
[0040]プロセッサ回路18-1は、1つまたは複数のプログラマブルマイクロプロセッサおよび関連の回路、たとえば、入力/出力インターフェース、クロック、バッファー、メモリなどを有する。メモリ回路18-2は、たとえば、バス回路を介して、プロセッサ回路18-1に通信可能に連結されており、また、メモリ回路18-2は、非一時的な電子メモリであり、非一時的な電子メモリは、揮発性のメモリ回路、たとえば、ランダムアクセスメモリ(RAM)など、および、不揮発性のメモリ回路、たとえば、リードオンリーメモリ(ROM)、電子的に消去可能なプログラマブルROM(EEPROM)、NORフラッシュメモリ、NANDフラッシュメモリなどを含むことが可能である。コントローラ回路18は、1つまたは複数の特定用途向け集積回路(ASIC)として形成され得る。
【0016】
[0041]コントローラ回路18は、メモリ回路18-2の中に存在するソフトウェアおよび/またはファームウェアを介して、生検組織サンプルの回収に関連付けられる機能を果たすプログラム命令、たとえば、電気機械的動力源20、真空源22、および真空センサ24の1つまたは複数の構成要素を制御および/またはモニタリングする機能などを果たすプログラム命令を実行するように構成されている。
【0017】
[0042]電気機械的動力源20は、たとえば、カッターモジュール30、輸送モジュール32、および穿刺モジュール34を含むことが可能であり、それぞれが、バッテリー26にそれぞれ電気的に連結されている。カッターモジュール30、輸送モジュール32、および穿刺モジュール34のそれぞれは、1つまたは複数の導電体、たとえば、ワイヤーまたは回路トレースによって、コントローラ回路18に電気的におよび制御可能に連結されている。
【0018】
[0043]カッターモジュール30は、シャフトを有する電気モータ30-1を含むことが可能であり、駆動ギヤ30-2が、シャフトに取り付けられる。輸送モジュール32は、シャフトを有する電気モータ32-1を含むことが可能であり、駆動ギヤ32-2が、シャフトに取り付けられる。穿刺モジュール34は、電気モータ34-1、ドライブスピンドル34-2、および穿刺ショットドライブ34-3を含むことが可能である。それぞれの電気モータ30-1、32-1、34-1は、たとえば、直流電流(DC)モータまたはステッパーモータであることが可能である。上記に説明されている配置に対する代替例として、カッターモジュール30、輸送モジュール32、および穿刺モジュール34のそれぞれは、ギヤ、ギヤトレイン、ベルト/プーリー構成体などのうちの1つまたは複数を含むことが可能であり、それらは、それぞれのモータと駆動ギヤまたはドライブスピンドルとの間に間置されている。
【0019】
[0044]電気モータ34-1およびドライブスピンドル34-2の作動が、発射スプリング、たとえば、1つまたは複数のコイルスプリングを圧縮するために、および、穿刺ショットドライブ34-3を準備位置にラッチ係合させるために、穿刺ショットドライブ34-3が近位方向36-1に移動することを引き起こすように、穿刺モジュール34は構成されている。ユーザインターフェース28のプライム/穿刺ボタン28-2が作動すると、穿刺ショットドライブ34-3が、遠位方向36-2(図1を参照)に推進させられ、すなわち、発射される。
【0020】
[0045]真空源22は、1つまたは複数の導電体、たとえば、ワイヤーまたは回路トレースによって、バッテリー26に電気的におよび制御可能に連結されている。真空源22は、たとえば、真空ポンプ22-2を駆動する電気モータ22-1を含むことが可能である。真空源22は、生検プローブアセンブリ14の中に真空を確立するための真空ポンプ22-2に連結されている真空源ポート22-3を有する。電気モータ22-1は、たとえば、ロータリーDCモータ、リニアDCモータ、または振動DCモータであることが可能である。真空ポンプ22-2は、たとえば、蠕動ポンプもしくはダイヤフラムポンプであることが可能であり、または、それぞれのうちの1つもしくは複数が、直列にもしくは並列に接続されている。
【0021】
[0046]真空センサ24は、1つまたは複数の導電体、たとえば、ワイヤーまたは回路トレースによって、コントローラ回路18に電気的に連結されている。真空センサ24は、圧力差センサであることが可能であり、圧力差センサは、真空(マイナスの圧力)フィードバック信号をコントローラ回路18に提供する。いくつかの実装形態では、真空センサ24は、真空源22の中へ組み込まれ得る。
【0022】
[0047]図1および図2を参照すると、生検プローブアセンブリ14は、生検ドライバアセンブリ12への解放可能な取り付けのために構成されている。本明細書で使用されているように、「解放可能な取り付け」という用語は、意図した一時的な接続を容易にする構成を意味しており、ツールの必要なしに、生検ドライバアセンブリ12に関して使い捨ての生検プローブアセンブリ14の操作を伴う選択的な取り外しがそれに続く。
【0023】
[0048]図4の分解図を参照すると、生検プローブアセンブリ14は、プローブハウジング40、プローブサブハウジング42、真空カニューレ44、スタイレットカニューレ46、リニアスタイレット並進のためのスタイレットギヤ-スピンドルセット48、カッターカニューレ50、回転および直線的なカッター並進のためのカッターギヤ-スピンドルセット52、サンプルマニホールド54、およびサンプルカップ56を含む。
【0024】
[0049]図2図4、および図5Aを参照すると、プローブハウジング40は、細長い部分40-1および前側プレート40-2を有するL字形状の構造体として形成されている。生検プローブアセンブリ14が生検ドライバアセンブリ12に取り付けられたときに、前側プレート40-2は、ドライバハウジング16の前側表面16-1の全体に隣接して遠位に位置決めされており、すなわち、非使い捨てのドライバアセンブリの前側表面16-1の全体を患者との接触から遮蔽する。
【0025】
[0050]真空カニューレ44、スタイレットカニューレ46、およびカッターカニューレ50は、入れ子にされたチューブの配置で長手方向軸線58に沿って同軸に配置されており、真空カニューレ44が、最も内側のチューブであり、カッターカニューレ50が、最も外側のチューブであり、スタイレットカニューレ46が、真空カニューレ44とカッターカニューレ50との間に間置されている中間チューブである。換言すれば、真空カニューレ44は、スタイレットカニューレ46の内側に位置決めされており、スタイレットカニューレ46は、カッターカニューレ50の内側に位置決めされている。
【0026】
[0051]真空カニューレ44は、プローブサブハウジング42に対して静止した状態に装着される。真空カニューレ44は、サンプルマニホールド54を介して真空源22と流体連通した状態で連結されている。
【0027】
[0052]図4図5A、および図5Bを参照すると、真空カニューレ44は、細長い部分44-1、細長い部分44-1から遠位に延在するフレア付き部分44-2、および真空ルーメン44-3を含む。細長い部分44-1は、第1の外径D1を有する。フレア付き部分44-2は、2つのステージにおいて、すなわち、第1のフレア部45-1および第2のフレア部45-2において、細長い部分44-1からフレアを付けられている。第1のフレア部45-1は、第1の鋭角A1で細長い部分44-1から広がっており、第2のフレア部45-2は、細長い部分44-1に対して第2の鋭角A2で第1のフレア部45-1から広がっており、鋭角A2は、鋭角A1よりも大きい。第2のフレア部45-2の遠位外径D2は、スタイレットカニューレ46のルーメン46-4の中に、および、スタイレットカニューレ46のルーメン46-4とスライド接触した状態で収容されるように選択される。フレア付き部分44-2の第1のフレア部45-1および第2のフレア部45-2のそれぞれは、遠位におよび徐々に増加する直径を有しており、それは、細長い部分44-1の直径D1よりも大きい。
【0028】
[0053]図4および図5Aを参照すると、スタイレットカニューレ46は、近位部分46-1および遠位部分46-2を含む。遠位部分46-2は、サンプル用ノッチ(換言すれば、切り欠き)60を含む。遠位部分46-2に取り付けられるのは、穿刺先端部62であり、そして、穿刺先端部62は、スタイレットカニューレ46の一部を形成する。スタイレットギヤ-スピンドルセット48は、スタイレットカニューレ46の近位部分46-1に固定して取り付けられる(たとえば、接着されているか、溶接されているか、または杭打ちされている(staked))輸送スピンドル46-5の外部ネジに、ねじ込み可能に係合する。スタイレットギヤ-スピンドルセット48は、ネジ付きのスピンドル48-2に固定して取り付けられた被駆動ギヤ48-1を有するユニタリーギヤであり、単一の成形された構成要素として形成され得る。スタイレットカニューレ46は、生検プローブアセンブリ14の輸送モジュール32の作動によって、長手方向軸線58に沿って後退または伸長させられ、生検ドライバアセンブリ12の輸送モジュール32の駆動ギヤ32-2は、スタイレットギヤ-スピンドルセット48の被駆動ギヤ48-1と係合させられている。
【0029】
[0054]また、図5C図6A、および図6Bを参照すると、サンプル用ノッチ60は、スタイレットカニューレ46の側壁部46-3の中の細長い開口部として形成され、スタイレットカニューレ46のルーメン46-4の中への組織66の受け入れを促進させる。サンプル用ノッチ60は、長手方向軸線58に沿って延在する長手方向延在部60-1を有する。サンプル用ノッチ60は、スタイレットカニューレ46の直径の中心線よりも下方の側壁部46-3の中に延在しておらず、また、サンプル用ノッチ60によって形成されている開口部の周辺の周りに切れ刃を含むことが可能であり、サンプル用ノッチ60の細長い(直線的)部分の切れ刃は、切れ刃から側壁部46-3に沿ってスタイレットカニューレ46の直径における中心線へ分岐する切れ刃をそれぞれ有する。
【0030】
[0055]穿刺先端部62は、先端部部分62-1、装着部分62-2、および突出部材62-3を有する。穿刺先端部62は、遠位部分46-2においてスタイレットカニューレ46のルーメン46-4の中へ挿入されており、装着部分62-2が、接着剤または溶接などによって、スタイレットカニューレ46の遠位部分46-2に取り付けられる。そうであるので、先端部部分62-1は、スタイレットカニューレ46の遠位部分46-2から遠位に延在しており、突出部材62-3は、サンプル用ノッチ60の長手方向延在部60-1の一部分に沿って、ルーメン46-4の中に、近位に(すなわち、近位方向36-1に)延在する。したがって、図6Eおよび図6Gに示されているように、スタイレットカニューレ46が近位方向36-1に完全に後退させられているときに、突出部材62-3は、真空カニューレ44のフレア付き部分44-2の中へ受け入れられる。突出部材62-3の少なくとも近位先端部部分は、近位に減少する直径を有する。
【0031】
[0056]再び図4を参照すると、カッターカニューレ50は、近位部分50-1および遠位部分50-2を含む。遠位部分50-2は、環状の切れ刃64を含む。カッターギヤ-スピンドルセット52が、カッターカニューレ50の近位部分50-1に固定して取り付けられる(たとえば、接着されているか、溶接されているか、またはピン打ちされている)。カッターギヤ-スピンドルセット52は、ネジ付きのスピンドル52-2に固定して取り付けられる被駆動ギヤ52-1を有するユニタリーギヤであり、単一の成形された構成要素として形成され得る。カッターカニューレ50は、生検プローブアセンブリ14のカッターモジュール30の作動によって、長手方向軸線58に沿って後退または伸長させられ、生検ドライバアセンブリ12のカッターモジュール30の駆動ギヤ30-2は、カッターギヤ-スピンドルセット52の被駆動ギヤ52-1と係合させられている。したがって、カッターカニューレ50は、回転カッティング運動を有しており、長手方向軸線58に沿って軸線方向に並進させられる。ネジ付きのスピンドル52-2のネジのピッチは、カッターカニューレ50が軸線方向に移動する軸線方向の距離(ミリメートル(mm))当たりの回転数を決定する。
【0032】
[0057]図4および図5Aを参照すると、サンプルマニホールド54は、真空チャンバー部分54-1および収集チャンバー部分54-2を有するL字形状の構造体として構成されている。真空チャンバー部分54-1は、真空入力ポート54-3を含み、真空入力ポート54-3は、生検プローブアセンブリ14が生検ドライバアセンブリ12に取り付けられたときに、生検ドライバアセンブリ12の真空源22の真空源ポート22-3にシール可能に係合するように配置される。真空チャンバー部分54-1は、収集チャンバー部分54-2と流体連通した状態で接続されている。真空カニューレ44の細長い部分44-1の近位端部は、真空チャンバー部分54-1を通過しており、収集チャンバー部分54-2と直接的に流体連通した状態である。収集チャンバー部分54-2は、キャビティー(換言すれば、空洞部)を有しており、キャビティーは、サンプルカップ56を除去可能に受け入れるようにサイズ決めおよび配置されており、サンプルカップ56が真空カニューレ44の細長い部分44-1と直接的に流体連通した状態になるようになっており、また、サンプルカップ56は、真空チャンバー部分54-1の真空入力ポート54-3とも直接的に流体連通する。吸い取り紙が、真空入力ポート54-3と収集チャンバー部分54-2との間の領域の中の真空チャンバー部分54-1の中に設置されている。
【0033】
[0058]したがって、スタイレットカニューレ46のサンプル用ノッチ60においてカッターカニューレ50によって切断される組織サンプルは、サンプルカップ56において真空源22によって印加される真空によって、真空カニューレ44を通して、サンプルカップ56の中へ輸送され得る。
【0034】
[0059]再び図2図4、および図5Aを参照すると、プローブサブハウジング42(たとえば、プローブキャリア本体部)は、たとえば、レール/スロット構成体を使用して、プローブハウジング40にスライド可能に連結されているサブハウジングである。プローブサブハウジング42は、近位ネジ付き部分42-1および遠位ネジ付き部分42-2を含む。また、プローブサブハウジング42は、穿刺モジュール34に駆動可能に連結されるように構成されている。別の言い方をすれば、生検ドライバアセンブリ12が生検プローブアセンブリ14に連結されて生検装置10を形成するときに、穿刺モジュール34は、プローブサブハウジング42に駆動可能に連結されている。
【0035】
[0060]プローブサブハウジング42は、1つまたは複数の穿刺モジュール係合開口部(たとえば、スロット)を含む。本実施形態では、図2および図2Aを参照すると、プローブサブハウジング42は、穿刺モジュール係合開口部42-3および穿刺モジュール係合開口部42-4を含み、それらのそれぞれは、たとえば、サイズおよび形状に関して、穿刺モジュール34の穿刺ショットドライブ34-3のそれぞれのドライブ突出部34-5、34-6を受け入れるように構成されており、穿刺ショット(発射)動作の間に穿刺ショットドライブ34-3の長手方向の移動と調和して、プローブサブハウジング42の長手方向の移動を実現するようになっている。たとえば、穿刺モジュール係合開口部42-3および穿刺モジュール係合開口部42-4のそれぞれは、それぞれの長方形スロットであることが可能である。本実施形態は、対称性および/または冗長性のために2つの穿刺モジュール係合開口部を含むが、代替的な実施形態は、たとえば、1つのみの穿刺モジュール係合開口部(たとえば、穿刺モジュール係合開口部42-3)を有することが可能である。
【0036】
[0061]プローブサブハウジング42の中のネジ付き近位部分42-1は、ネジ付きの孔部を有しており、ネジ付きの孔部は、スタイレットギヤ-スピンドルセット48のネジ付きのスピンドル48-2をねじ込み可能に受け入れており、スタイレットギヤ-スピンドルセット48の被駆動ギヤ48-1の回転が、長手方向軸線58に沿ったスタイレットカニューレ46の直線的並進を結果として生じさせるようになっており、回転の方向は、近位方向36-1および遠位方向36-2のうちの1つへのスタイレットカニューレ46の並進の方向と相互関係がある。スタイレットギヤ-スピンドルセット48の被駆動ギヤ48-1は、生検プローブアセンブリ14が生検ドライバアセンブリ12に取り付けられたときに(図1を参照)、輸送モジュール32の駆動ギヤ32-2に係合する。
【0037】
[0062]同様に、プローブサブハウジング42のネジ付き遠位部分42-2は、ネジ付きの孔部を有しており、ネジ付きの孔部は、カッターギヤ-スピンドルセット52のネジ付きのスピンドル52-2をねじ込み可能に受け入れており、カッターギヤ-スピンドルセット52の被駆動ギヤ52-1の回転が、長手方向軸線58に沿ったカッターカニューレ50の回転および直線的並進の組み合わせを結果として生じさせるようになっており、回転の方向は、カッターカニューレ50の並進の方向と相互関係がある。カッターギヤ-スピンドルセット52の被駆動ギヤ52-1は、生検プローブアセンブリ14が生検ドライバアセンブリ12に取り付けられたときに(図1を参照)、カッターモジュール30の駆動ギヤ30-2に係合する。
【0038】
[0063]また、生検プローブアセンブリ14が生検ドライバアセンブリ12に取り付けられたときに、また図2および図3を参照すると、プローブサブハウジング42は、穿刺モジュール34の穿刺ショットドライブ34-3に接続されている。そうであるので、プライム/穿刺ボタン28-2の第1の作動のときに、プローブサブハウジング42および穿刺ショットドライブ34-3は、一斉に近位方向36-1に並進させられ、スタイレットカニューレ46およびカッターカニューレ50を担持する穿刺ショットドライブ34-3およびプローブサブハウジング42を、準備位置、すなわち、発射に備えた位置(cocked position)に位置決めし、穿刺ショットを実現するためのプライム/穿刺ボタン28-2の第2の作動のときに、プローブサブハウジング42および穿刺ショットドライブ34-3は、一斉に遠位方向36-2に急速に推進させられ、組み合わせられた要素の最も遠位の位置に、たとえば、患者の中に、スタイレットカニューレ46およびカッターカニューレ50を位置決めする。
【0039】
[0064]図6A図6Hは、組織サンプルを切断および輸送シーケンスを集合的に表す。図6Eおよび図6Gは、その後退位置68-1にあるスタイレットカニューレ46を示す。図6A図6B、および図6Hは、その伸長位置68-2にあるスタイレットカニューレ46を示しており、伸長位置68-2は、ときには、ゼロ位置とも称される。図6C図6D、および図6Fは、後退位置68-1および伸長位置68-2の中間のさまざまな位置にあるスタイレットカニューレ46を示す。図6Bおよび図6Cは、その後退位置70-1にあるカッターカニューレ50を示しており、それは、スタイレットカニューレ46がその伸長位置68-2にあるかまたはその近くにあるときに、スタイレットカニューレ46のサンプル用ノッチ60を露出させる。図6Aおよび図6D図6Hは、その伸長位置70-2にあるカッターカニューレ50を示しており、伸長位置70-2は、ときには、ゼロ位置とも称され、ここにおいて、カッターカニューレ50は、スタイレットカニューレ46のサンプル用ノッチ60をカバーする。
【0040】
[0065]説明されているスタイレットカニューレ46の移動を実現するために、コントローラ回路18は、プログラム命令を実行し、それぞれの制御信号を生検ドライバアセンブリ12の輸送モジュール32へ送信し、そして、それは、生検プローブアセンブリ14のスタイレットギヤ-スピンドルセット48へ運動を伝達する。同様に、説明されているカッターカニューレ50の移動を実現するために、コントローラ回路18は、プログラム命令を実行し、それぞれの制御信号を生検ドライバアセンブリ12のカッターモジュール30へ送信し、そして、それは、生検プローブアセンブリ14のカッターギヤ-スピンドルセット52へ運動を伝達する。コントローラ回路18は、モータドライブパルスのそれぞれの数、または、代替的に、モータシャフト回転のそれぞれの数をカウントすることによって、それぞれのゼロ位置に対して、スタイレットカニューレ46およびカッターカニューレ50のそれぞれの軸線方向の位置を判定することが可能である。
【0041】
[0066]図6Aは、穿刺モジュール34によって実現される穿刺ショットの前の、間の、および直後の、真空カニューレ44、スタイレットカニューレ46、およびカッターカニューレ50の相対的位置を示す。示されるように、カッターカニューレ50の遠位部分50-2は、サンプル用ノッチ60の上に伸長させられている。
【0042】
[0067]図6Bに図示されているシーケンスステップでは、真空源22は、真空カニューレ44を介して、サンプル用ノッチ60におけるスタイレットカニューレ46のルーメン46-4へ、真空を送達するように作動させられ、カッターカニューレ50は、カッターモジュール30の作動によって後退させられ、サンプル用ノッチ60を露出させており、それによって、組織66がサンプル用ノッチ60を通してスタイレットカニューレ46のルーメン46-4の中へ引き込まれることを可能にする。本実施形態では、サンプル用ノッチ60を露出させるために、カッターカニューレ50は、反時計回りに回転し、おおよそ23ミリメートル(mm)の距離にわたって、近位方向36-1へのカッターカニューレ50の直線的並進を実現し、サンプル用ノッチ60の開放長さを画定する。本明細書で使用されているように、「おおよそ」という相対的な用語は、別段の記述がなければ、示されている単位(もしある場合には)においてベース値のプラスまたはマイナス5パーセントを意味する。サンプル用ノッチ60における実際の開口サイズ(所望のサンプルサイズに対応する)は、ユーザインターフェース28においてユーザ選択されることが可能であり、カッターカニューレ50が伸長位置70-2から後退位置70-1に向けて後退させられる距離は、ユーザによって選択されるサンプルサイズに対応するように、コントローラ回路18によって制御される。
【0043】
[0068]図6Cおよび図6Dは、カッティングシーケンスを図示する。
[0069]図6Cに図示されているシーケンスステップでは、収集される組織サンプルのサイズを増加させるために、スタイレットカニューレ46は、短い距離、たとえば、2mmから5mmだけ、近位方向36-1および遠位方向36-2に交互に移動させられ得、サンプル用ノッチ60をシェイクする(換言すれば、振動させる)ようになっており、それによって、サンプル用ノッチ60を通ってスタイレットカニューレ46のルーメン46-4の中へ入る組織66の量を増加させる。シェイクの最後の移動は、図6Aに示されているようなスタイレットカニューレ46のゼロ位置と比較して1mm後退位置(図6Cを参照)にサンプル用ノッチ60を維持するように定義される。これは、カッターカニューレ50が、カッティングシーケンス(図6Dを参照)の間にサンプル用ノッチ60を閉じ、1mmさらにカットするということを保証するためであり、したがって、結合組織またはストリングが、図6Dに図示されているカッティングシーケンスステップの間に完全にカットされることを保証するためである。
【0044】
[0070]図6Dに図示されているカッティングシーケンスステップでは、カッターカニューレ50は、遠位方向36-2に回転および並進させられ、組織サンプル66-1を組織66から切断する。本実施形態では、カッターカニューレ50は、組織をカットするために、および、ゼロ位置に戻るために、時計回りに回転し、おおよそ23mmの距離にわたって、遠位方向36-2へのカッターカニューレの直線的並進を実現する。
【0045】
[0071]図6E図6Hは、組織サンプル輸送シーケンスを図示する。
[0072]図6Eに図示されているシーケンスステップでは、真空が、真空カニューレ44によって印加され、スタイレットカニューレ46が、カッターカニューレ50の中を近位方向36-1に移動させられ、組織サンプル66-1を真空カニューレ44のフレア付き部分44-2の中へ移動させることを機械的に支援する。より具体的には、スタイレットカニューレ46がカッターカニューレ50の中を近位方向36-1に移動させられるときに、穿刺先端部62の突出部材62-3が、組織サンプル66-1に係合し、真空カニューレ44の中へ向かう組織サンプル66-1を支援する。次いで、突出部材62-3は、真空カニューレ44のフレア付き部分44-2に係合し、真空カニューレ44のフレア付き部分44-2の中への空気の流入を遮断する。
【0046】
[0073]図6Fに図示されているシーケンスステップでは、真空が真空カニューレ44によって印加されている状態で、スタイレットカニューレ46が、カッターカニューレ50の中を遠位方向36-2に移動させられ、真空カニューレ44のフレア付き部分44-2から突出部材62-3を解除し、真空カニューレ44の中への空気フローの急激な変化を引き起こし、それによって、真空カニューレ44を通る組織サンプル66-1の真空輸送を助ける。
【0047】
[0074]図6Gおよび図6Hに図示されているシーケンスステップは、本質的に、シーケンスステップ6Eおよび6Fの繰り返しである。
【0048】
[0075]図6Gに図示されているシーケンスステップでは、真空が真空源22によって真空カニューレ44に印加されている状態で、スタイレットカニューレ46が、カッターカニューレ50の中を近位方向36-1に再び移動させられ、穿刺先端部62の突出部材62-3が真空カニューレ44のフレア付き部分44-2に再係合し、真空カニューレ44のフレア付き部分44-2の中への空気の流入を再び遮断する。
【0049】
[0076]図6Hに図示されているシーケンスステップでは、真空が真空源22によって真空カニューレ44に印加されている状態で、スタイレットカニューレ46は、カッターカニューレ50の中を遠位方向36-2に移動させられ、真空カニューレ44のフレア付き部分44-2から突出部材62-3を再び解除し、真空カニューレ44の中への空気フローの急激な変化を引き起こし、それによって、(図6Eおよび図6Fのシーケンスステップによってすでに送達されているのでない場合には)真空カニューレ44を通る組織サンプル66-1の真空輸送を助ける。図6Hのシーケンスの終わりにおいて、スタイレットカニューレ46は、組織受け入れ位置に、すなわち、伸長位置68-2(ゼロ位置とも称される)に再位置決めされ、次の組織サンプルのために組織を受け入れる準備ができており、次の組織サンプルでは、図6A図6Hのシーケンスステップが繰り返される。
【0050】
[0077]図6Eおよび図6Fに図示されているサンプル輸送シーケンスは、真空カニューレ44を通る組織サンプル66-1の真空輸送を完了するために何回でも必要なだけ繰り返され得るということが留意される。また、近位方向36-1へのスタイレットカニューレ46の穿刺先端部62の突出部材62-3の後進運動は、図6Eおよび図6Gによって示されているように、最終的な位置(後退位置68-1)が到達されるまで、後進運動と次いで前進運動とを交互に繰り返す(前進距離は、後進距離よりも小さい)、インクリメンタルステップとして実装され得る。
【0051】
[0078]図7は、図6A図6Hに示されている組織サンプルカッティングおよび輸送シーケンスの間の、異なる位置におけるベースライン真空圧力を示す(正規化された)真空グラフである。
【0052】
[0079]図7の真空グラフを参照すると、図6A図6Hに示されているシーケンス全体を通して、真空が印加されているということが留意される。時間T0において、真空源22が作動させられ、真空(マイナスの圧力)が真空カニューレ44の中に増大する。時間T1において、最大真空が実現され、それは、図6Dに示されているカッティングシーケンスステップの終わりに対応する。時間T2において、図6E図6Fの組織詰め込みシーケンスが始まり、スタイレットカニューレ46の中のベント開口部80が制限されていない瞬間に起因して、真空圧力が急激に降下する。真空は、穿刺先端部62の突出部材62-3が真空カニューレ44のフレア付き部分44-2に接近するときに、時間T3の前に増大し始め、そして、最大化し、図6Eに示されている第1の詰め込みシーケンスの終わりを表す。時間T3において、図6Fに示されているように、穿刺先端部62の突出部材62-3がフレア付き部分44-2から離れるように移動させられることに起因して、真空圧力は急激に降下する。いくつかの場合には、組織サンプル66-1は、サンプルカップ56へ送達されてよい。時間T4において、図6Gおよび図6Hに示されている第2の詰め込みシーケンスが始まる。時間T5は、図6Gに示されている第2の詰め込みシーケンスの終わりに対応する。時間T6において、穿刺先端部62の突出部材62-3が、図6Hに示されているように、フレア付き部分44-2から離れるように再び移動させられ、組織受け入れ(ゼロ)位置へ戻されることに起因して、真空圧力が降下する。
【0053】
[0080]図6A図6Hに示されている組織カッティングおよび輸送シーケンスの異なるステージにおいて、実際の真空圧力と図7に示されているベースライン真空グラフとを比較することによって、カッティングまたは組織輸送の異常が識別されることが可能であり、是正措置が試みられ得る。
【0054】
[0081]本開示の態様によれば、真空センサ24は、真空圧力フィードバック信号をコントローラ回路18に提供し、コントローラ回路18は、プログラム命令を実行し、真空センサ24によって提供される実際の真空圧力が、組織カッティングおよび輸送シーケンスの中の対応するポイントにおいて、図7の真空グラフのベースライン圧力から所定の量を超えて逸脱するかどうかということを判定する。所定の量は、たとえば、ベースライン真空圧力のプラスまたはマイナス10パーセントであることが可能である。逸脱が逸脱の許容可能な範囲の外側にある場合には、組織カッティングおよび輸送シーケンスの中でいつ異常が起こったかということに応じて、是正措置がとられ得る。
【0055】
[0082]たとえば、時間T1と時間T2との間の時間期間の間に、真空圧力が、許容可能な逸脱を超えて、ベースラインの下方へ落ちる場合には、これは、不完全なカットの表示である可能性があり、したがって、コントローラ回路18は、エラー状態へ即座に進むというよりもむしろ、ユーザ介入なしに、図6Cおよび図6Dに示されているカッティングシーケンスを繰り返すことが可能である。同様に、真空圧力が、時間T3からT5の間において、許容可能な逸脱を超えて、ベースラインの上方に上昇する場合には、これは、真空カニューレ44を通る不完全な組織輸送の表示である可能性があり、したがって、コントローラ回路18は、ユーザ介入なしに、シーケンスステップ6Eおよび6Fの反復の数を増加させることが可能である。
【0056】
[0083]図10および図13とともに、再び図5Aを参照すると、真空は、一連のシールによって生検プローブアセンブリ14の中に維持される。シール72(たとえば、スリーブ-タイプシール)が、カッターカニューレ50とスタイレットカニューレ46との間にシールを提供するように位置付けされている。シール74(たとえば、Oリングシール)が、スタイレットカニューレ46と真空カニューレ44との間にシールを提供するように位置付けされている。シール76(たとえば、スリーブ-タイプシールまたはOリング構成体)が、真空カニューレ44とサンプルマニホールド54の真空チャンバー部分54-1との間にシールを提供するように位置付けされている。または、シール78が、サンプルマニホールド54の収集チャンバー部分54-2およびサンプルカップ56の中に位置付けされ得る。最後に、シールが、生検プローブアセンブリ14と生検ドライバアセンブリ12との間の真空インターフェースにおいて、真空入力ポート54-3に設置されている。
【0057】
[0084]動作の間に、真空源22の真空ポンプ22-2は、サンプルマニホールド54およびサンプルカップ56によって形成される真空リザーバの中に、真空(マイナスの圧力)を構築する。より具体的には、サンプルカップ56およびサンプルマニホールド54の容積は、「真空ブースト」の強度を画定し、真空源22の真空ポンプ22-2に関するサイクル時間を画定する。本実施形態では、たとえば、容積は、おおよそ25ミリリットルである。
【0058】
[0085]「真空ブースト」に関して、スタイレットカニューレ46は、サンプル用ノッチ60から長手方向に分離されている1つまたは複数のベント開口部80を有する。ベント開口部80は、サンプル用ノッチ60および先端部部分62-1から近位の所定の距離に環状に配置されることが可能であり、これらのベント開口部80(図4を参照)は、スタイレットカニューレ46が後退位置68-1へ後退させられるときに(図6Eおよび図6Gを参照)、大気に露出させられ、ベント開口部80は、カッターカニューレ50とスタイレットカニューレ46との間のシール72の下をスライドする。これらのベント開口部80が大気に露出させられると、システムは、「開放」になり、構築された真空圧力は、周囲の圧力と均等化され、真空源22の真空ポンプ22-2によって送達される連続的なフローに加えて、真空ブースト効果を生成させる。
【0059】
[0086]図8および図8Aも参照すると、本実施形態では、スタイレットカニューレ46の中のベント開口部80は、少なくとも1つの長手方向ベントスロット82を含み、本実施形態では、複数の長手方向ベントスロット84(たとえば、長手方向ベントスロット82および長手方向ベントスロット86)および複数の円形ベント孔88(たとえば、2つ以上の円形ベント孔)を含むことが可能である。本実施形態では、長手方向ベントスロット82および長手方向ベントスロット86は、直径方向に対向する。また、本実施形態では、複数の長手方向ベントスロット84の近位端部(たとえば、長手方向ベントスロット82の近位端部82-1、および、長手方向ベントスロット86の近位端部86-1(図11も参照))は、複数の円形ベント孔88と長手方向に位置合わせされている。
【0060】
[0087]とりわけ図11および図14を参照すると、シール72は、近位シール部分90および遠位シール部分92を含む。シール72の遠位シール部分92は、遠位シールリップ92-1を含み、遠位シールリップ92-1は、カッターカニューレ50の外径(OD)と半径方向に係合するように位置決めされている。シール72の近位シール部分90は、近位シールリップ90-1を含み、近位シールリップ90-1は、スタイレットカニューレ46の外径(OD)と半径方向に係合するように位置決めされている。
【0061】
[0088]スタイレットカニューレ46のそれぞれの長手方向ベントスロット(たとえば、複数の長手方向ベントスロット84)は、サイズおよび形状に関して、真空カニューレ44の真空ルーメン44-3への空気フローの増加を、対応する数の円形ベント孔のものよりも促進させるように構成されており、切断された組織サンプル66-1(図6E図6Gも参照)の近位方向36-1への移動を支援するようになっている。本実施形態では、たとえば、スタイレットカニューレ46の複数の長手方向ベントスロット84のそれぞれの長手方向ベントスロット82、86は、21ミリメートルの長手方向長さおよび0.75ミリメートルの幅を有することが可能である。
【0062】
[0089]より詳細には、図9図14を参照すると、スタイレットカニューレ46が後退位置68-1に向けて近位方向36-1に後退させられるときに(図6D図6Eを参照)、スタイレットカニューレ46の複数の長手方向ベントスロット84のそれぞれは、シール72の近位シール部分90の近位シールリップ90-1の長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路94(図11および図14を参照)を開放し、真空カニューレ44の外径(OD)とスタイレットカニューレ46の内径(ID)との間の中間ルーメン96における第1の空気経路94-1、および、カッターカニューレ50のIDとスタイレットカニューレ46のODとの間の中間ルーメン98における第2の空気経路94-2の両方を確立するようになっている。第1の空気経路94-1および第2の空気経路94-2のそれぞれは、シールバイパス経路94が確立されているときに、すなわち、シール72の近位シール部分90の近位シールリップ90-1を横切って長手方向にブリッジするようにスタイレットカニューレ46の少なくとも1つの長手方向ベントスロット(たとえば、長手方向ベントスロット82および/または長手方向ベントスロット86)を位置決めすることによって、シール72の近位領域における大気と流体連通する。
【0063】
[0090]図15をさらに参照すると、第1の空気経路94-1および第2の空気経路94-2は、スタイレットカニューレ46のサンプル用ノッチ60において収束し、真空カニューレ44の真空ルーメン44-3への第1の空気経路94-1および第2の空気経路94-2の組み合わされた空気フロー100を確立し、したがって、長手方向ベントスロットの使用せずに複数の円形ベント孔88(たとえば、6つ)を使用するものよりも、真空カニューレ44の真空ルーメン44-3への空気フローの増加を促進させる。別の言い方をすれば、図15は、少なくとも1つの長手方向ベントスロット82および(本実施形態では)複数の長手方向ベントスロット84の使用によって、より多くの空気が中間ルーメン96および中間ルーメン98の両方を通っておよびそれから流れることとなり、組み合わされた空気フロー100は、組織サンプル66-1に到達し、次いで、真空カニューレ44の真空ルーメン44-3を通して組織サンプル66-1を移動させるように、追加的な(第2の)空気経路94-2に起因して、より多くの空気が真空カニューレ44の真空ルーメン44-3の中へ移動させられることが可能であるので、圧力均等化がはるかに速くおよび強力に起こるということを示す。スタイレットカニューレ46の少なくとも1つの長手方向スロット82および/または長手方向ベントスロット86がない場合、追加的な(第2の)空気経路94-2は、本実施形態のコンポーネントの配置によって確立されない。
【0064】
[0091]以下の項目も本開示に関する:
[0092]生検装置であって、
[0093]電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリと、
[0094]ドライバアセンブリに解放可能に取り付けられる生検プローブアセンブリであって、生検プローブアセンブリは、長手方向軸線に沿って同軸に配置されているカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレを有しており、真空カニューレは、スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、スタイレットカニューレは、カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、真空カニューレは、真空ルーメンを有しており、
[0095]真空カニューレの真空ルーメンは、真空源と流体連通した状態で連結されており、
[0096]スタイレットカニューレは、電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されており、スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で真空カニューレおよびカッターカニューレに対して移動可能であり、スタイレットカニューレは、近位部分および遠位部分を有しており、遠位部分は、サンプル用ノッチを有しており、
[0097]スタイレットカニューレは、サンプル用ノッチの近位の場所に配置されている複数のベント開口部を有しており、複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含む、生検プローブアセンブリと、
[0098]近位シール部分および遠位シール部分を有するシールであって、遠位シール部分は、カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、近位シール部分は、スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有しており、
[0099]生検装置は、スタイレットカニューレが第1の伸長位置から第1の後退位置に向けて移動させられるときに、少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、シールの近位シール部分の近位シールリップの下に長手方向に位置決めされるように構成されており、シールの近位シール部分の近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、真空カニューレの外径とスタイレットカニューレの内径との間の第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、カッターカニューレの内径とスタイレットカニューレの外径との間の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっており、第1の空気経路および第2の空気経路は、シールの近位領域と流体連通する、シールと
を備える。
【0065】
[00100]カッターカニューレは、電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されており、カッターカニューレは、サンプル用ノッチをカバーするための第2の伸長位置と、スタイレットカニューレが第1の伸長位置にあるときに、サンプル用ノッチを露出させるための第2の後退位置との間で、スタイレットカニューレに対して移動可能である。
【0066】
[00101]実施形態は、以下の数字の条項を参照して説明されることが可能である:
[00102]1.生検装置であって、長手方向軸線に沿って同軸に配置されているカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレを有する生検プローブアセンブリであって、真空カニューレは、スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、スタイレットカニューレは、カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、真空カニューレは、真空ルーメンを有しており、スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で真空カニューレおよびカッターカニューレに対して移動可能であり、スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含む、生検プローブアセンブリと、近位シール部分および遠位シール部分を有するシールであって、遠位シール部分は、カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、近位シール部分は、スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有しており、スタイレットカニューレが第1の伸長位置から第1の後退位置に向けて移動させられるときに、少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、シールの近位シール部分の近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、シールの近位シール部分の近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、真空カニューレの外径とスタイレットカニューレの内径との間の第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、カッターカニューレの内径とスタイレットカニューレの外径との間の第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっており、第1の空気経路および第2の空気経路は、シールの近位領域と流体連通する、シールとを備える、生検装置。
【0067】
[00103]2.電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、生検プローブアセンブリは、ドライバアセンブリに解放可能に取り付けられる、条項1に記載の生検装置。
【0068】
[00104]3.電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、真空カニューレの真空ルーメンは、真空源と流体連通した状態で連結されている、条項1または2に記載の生検装置。
【0069】
[00105]4.電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、スタイレットカニューレは、電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されている、条項1から3のいずれか1つに記載の生検装置。
【0070】
[00106]5.電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、カッターカニューレは、電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されている、条項1から4のいずれか1つに記載の生検装置。
【0071】
[00107]6.カッターカニューレは、スタイレットカニューレのサンプル用ノッチをカバーするための第2の伸長位置と、スタイレットカニューレが第1の伸長位置にあるときに、サンプル用ノッチを露出させるための第2の後退位置との間で、スタイレットカニューレに対して移動可能である、条項1から5のいずれか1つに記載の生検装置。
【0072】
[00108]7.スタイレットカニューレは、近位部分および遠位部分を有しており、遠位部分は、サンプル用ノッチを画定する、条項1から6のいずれか1つに記載の生検装置。
【0073】
[00109]8.複数のベント開口部は、サンプル用ノッチの近位の場所に配置されている、条項1から7のいずれか1つに記載の生検装置。
【0074】
[00110]9.第1の空気経路および第2の空気経路は、サンプル用ノッチにおいて収束する、条項1から8のいずれか1つに記載の生検装置。
【0075】
[00111]10.複数のベント開口部は、少なくとも2つの長手方向ベントスロットを含む、条項1から9のいずれか1つに記載の生検装置。
【0076】
[00112]11.第1の長手方向ベントスロットおよび第2の長手方向ベントスロットは、直径方向に対向する、条項1から10のいずれか1つに記載の生検装置。
【0077】
[00113]12.複数のベント開口部は、少なくとも1つの円形ベント孔を含む、条項1から11のいずれか1つに記載の生検装置。
【0078】
[00114]13.少なくとも1つの長手方向ベントスロットの近位端部は、少なくとも1つの円形ベント孔と位置合わせされている、条項1から12のいずれか1つに記載の生検装置。
【0079】
[00115]14.方法であって、生検装置の真空カニューレを介して、スタイレットカニューレのサンプル用ノッチにおいて、生検装置のスタイレットカニューレのルーメンに真空を印加するステップであって、生検装置のカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレは、長手方向軸線に沿って同軸に配置されており、真空カニューレは、スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、スタイレットカニューレは、カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、真空カニューレは、真空ルーメンを有しており、スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で真空カニューレおよびカッターカニューレに対して移動可能であり、スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含み、生検装置は、近位シール部分および遠位シール部分を有するシールを備え、遠位シール部分は、カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、近位シール部分は、スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有する、ステップと、スタイレットカニューレを第1の後退位置に向けて移動させて、切断された組織サンプルを真空カニューレの中へ移動させるステップであって、スタイレットカニューレが第1の後退位置に向けて移動させられるときに、少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、シールの近位シール部分の近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、シールの近位シール部分の近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、真空カニューレの外径とスタイレットカニューレの内径との間の第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、カッターカニューレの内径とスタイレットカニューレの外径との間の第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっており、第1の空気経路および第2の空気経路は、シールの近位領域と流体連通する、ステップとを含む、方法。
【0080】
[00116]15.カッターカニューレは、サンプル用ノッチをカバーするための第2の伸長位置と、スタイレットカニューレが第1の伸長位置にあるときに、サンプル用ノッチを露出させるための第2の後退位置との間で、スタイレットカニューレに対して移動可能である、条項14に記載の方法。
【0081】
[00117]16.スタイレットカニューレを第1の伸長位置に向けて移動させて、スタイレットカニューレによって組織を穿刺するステップと、カッターカニューレを第2の後退位置に向けて移動させて、スタイレットカニューレのサンプル用ノッチを露出させるステップとをさらに含み、真空カニューレを介して真空を印加するステップは、サンプル用ノッチを通してスタイレットカニューレのルーメンの中へ組織を引き込む、条項14または15に記載の方法。
【0082】
[00118]17.カッターカニューレを第2の伸長位置に移動させて、切断された組織サンプルを組織から切断するステップをさらに備える、条項14から16のいずれか1つに記載の方法。
【0083】
[00119]18.第1の空気経路および第2の空気経路は、サンプル用ノッチにおいて収束する、条項14から17のいずれか1つに記載の方法。
【0084】
[00120]19.スタイレットカニューレを第1の後退位置に向けて移動させて、切断された組織サンプルを真空カニューレの中へ移動させるステップの間に、真空カニューレを介して真空を印加するステップをさらに含む、条項14から18のいずれか1つに記載の方法。
【0085】
[00121]20.複数のベント開口部は、少なくとも2つの長手方向ベントスロットを含み、第1の長手方向ベントスロットおよび第2の長手方向ベントスロットは、直径方向に対向する、条項14から19のいずれか1つに記載の方法。
【0086】
[00122]本明細書で使用されているように、「実質的に」、「わずかに」、「おおよそ」、および、他の程度の語句は、そのように修飾されている特性からの許容可能な変動を示すことを意図した相対的な修飾語である。それは、それが修飾する絶対的な値または特性に限定されることを意図しておらず、むしろ、その反対よりも物理的なまたは機能的な特性の多くを処理すること、および、そのような物理的なまたは機能的な特性に接近するかまたは近似することを意図する。
【0087】
[00123]また、本明細書で使用されているように、「連結されている」という用語およびその派生語は、任意の動作的に機能的な接続、すなわち、直接的な接続または間接的な接続を包含することを意図する。
【0088】
[00124]本出願が少なくとも1つの実施形態に関して説明されてきたが、本出願は、本開示の精神および範囲の中でさらに修正され得る。したがって、本出願は、その一般的原理を使用する特許請求されている主題の任意の変形例、使用例、または適合例をカバーすることが意図されている。
図1
図2
図2A
図3
図4
図5A
図5B
図5C
図6A
図6B
図6C
図6D
図6E
図6F
図6G
図6H
図7
図8
図8A
図9
図10
図11
図12
図13
図14
図15
【手続補正書】
【提出日】2022-11-28
【手続補正1】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
生検装置であって、
長手方向軸線に沿って同軸に配置されているカッターカニューレ、真空カニューレ、およびスタイレットカニューレを有する生検プローブアセンブリであって、前記真空カニューレは、前記スタイレットカニューレの内側に位置決めされて、それらの間に第1の中間ルーメンを画定しており、前記スタイレットカニューレは、前記カッターカニューレの中に位置決めされて、それらの間に第2の中間ルーメンを画定しており、前記真空カニューレは、真空ルーメンを有しており、
前記スタイレットカニューレは、第1の伸長位置と第1の後退位置との間で前記真空カニューレおよび前記カッターカニューレに対して移動可能であり、
前記スタイレットカニューレは、複数のベント開口部を有しており、前記複数のベント開口部は、少なくとも1つの長手方向ベントスロットを含む、
生検プローブアセンブリと、
近位シール部分および遠位シール部分を有するシールであって、前記遠位シール部分は、前記カッターカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている遠位シールリップを有しており、前記近位シール部分は、前記スタイレットカニューレの外径と半径方向に係合するように位置決めされている近位シールリップを有しており、
前記スタイレットカニューレが前記第1の伸長位置から前記第1の後退位置に向けて移動させられるときに、前記少なくとも1つの長手方向ベントスロットは、前記シールの前記近位シール部分の前記近位シールリップの下に長手方向に位置決めされて、前記シールの前記近位シール部分の前記近位シールリップの長手方向延在部を横切ってシールバイパス経路を開放して、前記真空カニューレの外径と前記スタイレットカニューレの内径との間の前記第1の中間ルーメンにおける第1の空気経路、および、前記カッターカニューレの内径と前記スタイレットカニューレの前記外径との間の前記第2の中間ルーメンにおける第2の空気経路の両方を確立するようになっており、前記第1の空気経路および前記第2の空気経路は、前記シールの近位領域と流体連通する、シールと
を備える、生検装置。
【請求項2】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記生検プローブアセンブリは、前記ドライバアセンブリに解放可能に取り付けられる、請求項1に記載の生検装置。
【請求項3】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記真空カニューレの前記真空ルーメンは、前記真空源と流体連通した状態で連結されている、請求項1に記載の生検装置。
【請求項4】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記スタイレットカニューレは、前記電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されている、請求項1に記載の生検装置。
【請求項5】
電気機械的動力源および真空源を有するドライバアセンブリをさらに備え、前記カッターカニューレは、前記電気機械的動力源と駆動式に連通した状態で連結されている、請求項1に記載の生検装置。
【請求項6】
前記カッターカニューレは、前記スタイレットカニューレのサンプル用ノッチをカバーするための第2の伸長位置と、前記スタイレットカニューレが前記第1の伸長位置にあるときに、前記サンプル用ノッチを露出させるための第2の後退位置との間で、前記スタイレットカニューレに対して移動可能である、請求項1に記載の生検装置。
【請求項7】
前記スタイレットカニューレは、近位部分および遠位部分を有しており、前記遠位部分は、サンプル用ノッチを画定する、請求項1に記載の生検装置。
【請求項8】
前記複数のベント開口部は、前記サンプル用ノッチの近位の場所に配置されている、請求項7に記載の生検装置。
【請求項9】
前記第1の空気経路および前記第2の空気経路は、前記サンプル用ノッチにおいて収束する、請求項7に記載の生検装置。
【請求項10】
前記複数のベント開口部は、少なくとも2つの長手方向ベントスロットを含む、請求項1に記載の生検装置。
【請求項11】
第1の長手方向ベントスロットおよび第2の長手方向ベントスロットは、直径方向に対向する、請求項10に記載の生検装置。
【請求項12】
前記複数のベント開口部は、少なくとも1つの円形ベント孔を含む、請求項1に記載の生検装置。
【請求項13】
前記少なくとも1つの長手方向ベントスロットの近位端部は、前記少なくとも1つの円形ベント孔と位置合わせされている、請求項12に記載の生検装置。
【国際調査報告】