(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-03-25
(54)【発明の名称】テスト装置及び電子機器
(51)【国際特許分類】
G01R 31/00 20060101AFI20240315BHJP
【FI】
G01R31/00
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2024505488
(86)(22)【出願日】2022-07-13
(85)【翻訳文提出日】2023-10-11
(86)【国際出願番号】 CN2022105534
(87)【国際公開番号】W WO2023024744
(87)【国際公開日】2023-03-02
(31)【優先権主張番号】202110967983.6
(32)【優先日】2021-08-23
(33)【優先権主張国・地域又は機関】CN
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】523349907
【氏名又は名称】チップワン テクノロジー (チューハイ) カンパニー リミテッド
(74)【代理人】
【識別番号】100099759
【氏名又は名称】青木 篤
(74)【代理人】
【識別番号】100123582
【氏名又は名称】三橋 真二
(74)【代理人】
【識別番号】100092624
【氏名又は名称】鶴田 準一
(74)【代理人】
【識別番号】100114018
【氏名又は名称】南山 知広
(74)【代理人】
【識別番号】100153729
【氏名又は名称】森本 有一
(74)【代理人】
【識別番号】100196601
【氏名又は名称】酒井 祐市
(72)【発明者】
【氏名】チェン チンルン
(72)【発明者】
【氏名】ヤン チーチャオ
【テーマコード(参考)】
2G036
【Fターム(参考)】
2G036AA19
2G036BA32
2G036BA46
(57)【要約】
テスト装置及び電子機器を提供する。テスト装置は、制御モジュール(10)と、テストモジュール(20)と、少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップ(30)とを含み、制御モジュール(10)は、テストモジュール(20)による少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップ(30)の復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも1つのテスト制御信号を出力することに用いられ、テストモジュール(20)は、テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータをテスト対象の表示駆動チップ(30)に送信して、テスト対象の表示駆動チップ(30)から出力されるターゲット検査符号を得て、ターゲット検査符号をプリセット検査符号と比較して、テスト対象の表示駆動チップ(30)のテスト結果を得ることに用いられる。テスト装置は、表示駆動チップ(30)の復号化機能をテストして、表示駆動チップ(30)の復号化機能が正常であるか否かを判断することができ、テストコストが低く、テスト時間が短く、テスト効率が高い。
【選択図】
図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
テスト装置であって、
制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも1つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられることを特徴とするテスト装置。
【請求項2】
前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられることを特徴とする請求項1に記載のテスト装置。
【請求項3】
前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第1の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第2の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第3の記憶ユニットとを含むことを特徴とする請求項2に記載のテスト装置。
【請求項4】
前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられることを特徴とする請求項1または2に記載のテスト装置。
【請求項5】
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする請求項4に記載のテスト装置。
【請求項6】
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする請求項4に記載のテスト装置。
【請求項7】
前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられることを特徴とする請求項1に記載のテスト装置。
【請求項8】
前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか1つまたは複数を含むことを特徴とする請求項5に記載のテスト装置。
【請求項9】
請求項1~8のいずれか1項に記載のテスト装置を含むことを特徴とする電子機器。
【請求項10】
前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含むことを特徴とする請求項9に記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、表示技術分野に関し、特に、テスト装置及び電子機器に関する。
【背景技術】
【0002】
関連技術では、表示データの補正を行う時に、アプリケーションプロセッサAP(Application Processor)は、表示ストリーム圧縮(ex:VESA DSC display stream compression)画像及びその検査符号を同時に出力する必要があり、それにより、データ受信機は、受信した圧縮画像から検査符号を生成して、受信した検査符号と比較することにより、最終的な画像データが正しいか否かを判断する。しかしながら、画像データが正しくないと判断された場合に、関連技術では、画像データの誤りの原因が、アプリケーションプロセッサにあるのか、駆動チップのデコーダにあるのかを特定することができない。
【発明の概要】
【0003】
本開示の一態様によれば、テスト装置であって、制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも1つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられるテスト装置を提供する。
【0004】
可能な一実施形態では、前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられる。
【0005】
可能な一実施形態では、前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第1の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第2の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第3の記憶ユニットとを含む。
【0006】
可能な一実施形態では、前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられる。
【0007】
可能な一実施形態では、前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。
【0008】
可能な一実施形態では、前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。
【0009】
可能な一実施形態では、前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられる。
【0010】
可能な一実施形態では、前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか1つまたは複数を含む。
【0011】
本開示の一態様によれば、前記テスト装置を含む電子機器を提供する。
【0012】
可能な一実施形態では、前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含む。
【0013】
本開示の実施例によるテストモジュールは、制御モジュールから送信されるテスト制御信号を受信した場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得して、前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、それにより、前記テスト対象の表示駆動チップが、受信したテスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいてターゲット検査符号を得るようにし、前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得る。このようにして、表示駆動チップの復号化機能をテストして、表示駆動チップの復号化機能が正常であるか否かを判断し、受信した表示データに誤りがある場合、制御モジュールのエンコーダに問題があるのか、それとも表示駆動チップのデコーダに問題があるのかを区別することができるとともに、テストコストが低く、テスト時間が短く、テスト効率が高い。
【0014】
以上の一般的な説明と後の詳細な説明は、例示的及び解釈的なものに過ぎず、本開示を制限するものではないことは理解すべきである。以下、例示的な実施例について図面を参照しつつ詳細に説明することによって、本開示の他の特徴及び態様は明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【0015】
ここで、本明細書の一部として組み込まれる図面は、本開示に適合する実施例を示すものであり、明細書と共に本開示の技術的手段を説明するために用いられる。
【
図1】本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。
【
図2】本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。
【
図3】本開示の一実施例による電子機器のブロック図を示す。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下に、本開示による様々な例示的な実施例、特徴及び態様について図面を参照しつつ詳細に説明する。図面において、同じ符号は、機能が同じまたは類似する要素を示す。図面には実施例の様々な態様が示されているが、特に明記されていない限り、図面は必ずしも原寸に比例しているとは限らない。
【0017】
本開示の記載において、理解すべきこととして、「長さ」、「幅」、「上」、「下」、「前」、「後」、「左」、「右」、「鉛直」、「水平」、「頂」、「底」、「内」、「外」などの用語によって表される方位または位置関係は、図面に示された方位または位置関係に基づくものであり、本開示の説明を容易にし、説明を簡略化するために示されたものにすぎず、それらにより示される装置または要素が必ずしも特定の方位を有し、特定の方位で構成され動作しなければならないことを示すか又は暗示するものではないため、本開示を限定するものと理解すべきではない。
【0018】
なお、「第1の」や「第2の」という用語は、説明の目的のためだけに使用され、相対的な重要性を示したり暗示したり、或いはそれらにより示される技術的特徴の数を暗黙的に示すものと理解すべきではない。それにより、「第1の」や「第2の」によって限定される特徴は、1つまたは複数の当該特徴を明示的または暗黙的に含むものであってもよい。本開示の記載において、「複数」は、特に特定の限定がない限り、2つ以上を意味する。
【0019】
本開示では、特に明確な規定と限定がない限り、「取り付け」、「つながる」、「接続」、「固定」などの用語は、広義に理解されるべきである。例えば、固定接続であってもよいし、取り外し可能な接続であってもよいし、または一体になっていてもよい。機械的接続であってもよいし、電気的接続であってもよい。直接に接続してもよいし、中間媒体を介して間接的に接続してもよいし、2つの要素の内部の連通や2つの要素の相互作用関係であってもよい。当業者であれば、本開示における上記用語の具体的な意味を具体的な状況に応じて理解することができる。
【0020】
ここで専用の用語「例示的」とは、「例、実施例として用いられることまたは説明的なもの」を意味する。ここで「例示的」に説明されるいかなる実施例は、必ずしも他の実施例より好ましいまたは優れたものであると解釈されるとは限らない。
【0021】
本明細書において、「及び/又は」という用語は、関連対象の関連関係を記述するためのものに過ぎず、3つの関係が存在可能であることを示す。例えば、A及び/又はBは、Aのみが存在すること、AとBが同時に存在すること、Bのみが存在することという3つの場合を示すことができる。また、本明細書において、「少なくとも1つ」という用語は、複数のうちのいずれか1つ、又は複数のうちの少なくとも2つの任意の組み合わせを示す。例えば、A、B及びCのうちの少なくとも1つを含むとは、A、B及びCからなる集合から選択されるいずれか1つ又は複数の要素を含むことを示すことができる。
【0022】
また、本開示をより良く説明するために、以下の具体的な実施形態において、多くの具体的な細部が示されている。当業者であれば、何らかの具体的な細部がなくても、本開示は同様に実施できることは理解すべきである。いくつかの実例において、本開示の主旨を明らかにするために、当業者によく知られている方法、手段、要素、および回路については詳細に説明されていない。
【0023】
図1を参照すると、
図1は、本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。
【0024】
図1に示すように、前記装置は、制御モジュール10と、テストモジュール20と、少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップ30とを含む。
【0025】
ここで、前記制御モジュール10は、テストモジュール20による少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも1つのテスト制御信号を出力することに用いられる。
【0026】
前記テスト対象の表示駆動チップ30は、前記制御モジュール10及び前記テストモジュール20に接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられる。
【0027】
前記テストモジュール20は、前記制御モジュール10に接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップ30に送信して、前記テスト対象の表示駆動チップ30から出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップ30のテスト結果を得ることに用いられる。
【0028】
本開示の実施例によるテストモジュールは、制御モジュールから送信されるテスト制御信号を受信した場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得して、前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、それにより、前記テスト対象の表示駆動チップが、受信したテスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいてターゲット検査符号を得るようにし、前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得る。このようにして、表示駆動チップの復号化機能をテストして、表示駆動チップの復号化機能が正常であるか否かを判断し、受信した表示データに誤りがある場合、制御モジュールのエンコーダに問題があるのか、それとも表示駆動チップのデコーダに問題があるのかを区別することができるとともに、テストコストが低く、テスト時間が短く、テスト効率が高い。
【0029】
本開示の実施例によるテストモジュールは、表示駆動チップに設けられてもよい。それにより、表示駆動チップは、セルフ検出を行い、復号化機能が正常であるか否かを自ら判断することができ、受信した表示データに誤りがあると特定された場合に、制御モジュール(例えば、アプリケーションプロセッサAP)の符号化機能に問題があるのか、それとも自己の復号化機能に問題があるのかを区別することができる。
【0030】
本開示の実施例では、表示駆動チップ30の具体的な種類について限定せず、当業者であれば、駆動される表示パネルの種類に応じて適宜選択することができる。一例において、表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルなどのいずれか1つまたは複数を含んでもよい。
【0031】
一例において、制御モジュール10は、処理モジュールを含んでもよく、処理モジュールは、個別のプロセッサ、またはディスクリート部品、またはプロセッサとディスクリート部品の組み合わせを含むが、これらに限らない。前記プロセッサは、電子機器において命令を実行する機能を有するコントローラを含んでもよい。前記プロセッサは、任意の適切な態様によって実現されてもよく、例えば、1つまたは複数の特定用途向け集積回路(ASIC)、デジタル信号プロセッサ(DSP)、デジタル信号処理装置(DSPD)、プログラマブルロジックデバイス(PLD)、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)、コントローラ、マイクロコントローラ、マイクロプロセッサ、または他の電子部品によって実現される。前記プロセッサの内部において、前記実行可能な命令は、ロジックゲート、スイッチ、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit、ASIC)、プログラマブルロジックコントローラおよび組み込みマイクロコントローラなどのハードウェア回路によって実行されてもよい。
【0032】
一例において、制御モジュール10は、アプリケーションプロセッサAPとタイミングコントローラを含んでもよく、アプリケーションプロセッサAPは、表示データを圧縮符号化するためのエンコーダを含んでもよく、圧縮された表示データまたは圧縮されていない表示データをタイミングコントローラを介して表示駆動チップに送信する。
【0033】
図2を参照すると、
図2は、本開示の一実施例によるテスト装置のブロック図を示す。
【0034】
可能な一実施形態では、
図2に示すように、前記テストモジュール20は、テストユニット210と、記憶ユニット220と、比較ユニット230とを含む。
【0035】
前記テストユニット210は、前記記憶ユニット220及び前記比較ユニット230に接続され、前記記憶ユニット220から、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニット220から取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップ30に送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニット230に送信することに用いられる。
【0036】
前記比較ユニット230は、前記テスト対象の表示駆動チップ30から出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール10及び前記テスト対象の表示駆動チップ30に送信することに用いられる。
【0037】
一例において、ターゲット検査符号は、少なくとも1つのフレームが伸張された画像データに対して少なくとも1種の演算を行って得られる検査符号であってもよい。
【0038】
一例において、記憶ユニットは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含み、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、命令実行機器に使用される命令を保持および記憶可能な有形装置であってもよい。コンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、例えば、電気記憶装置、磁気記憶装置、光記憶装置、電磁記憶装置、半導体記憶装置、または上記の任意の適切な組み合わせであってもよいが、これらに限らない。コンピュータ読み取り可能な記憶媒体のより具体的な例(非網羅的リスト)としては、携帯型コンピュータディスク、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ(RAM)、リードオンリーメモリ(ROM)、消去可能プログラマブルリードオンリーメモリ(EPROMまたはフラッシュメモリ)、スタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)、プログラマブルリードオンリーメモリ(PROM)、携帯型コンパクトディスクリードオンリーメモリ(CD-ROM)、デジタル多用途ディスク(DVD)、メモリスティック、フロッピーディスク、例えば命令が記憶されているせん孔カードまたはスロット内突起構造のような機械的符号化装置、および上記の任意の適切な組み合わせを含む。ここで使用されるコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、瞬時信号自体、例えば無線電波または他の自由に伝播される電磁波、導波路または他の伝送媒体を介して伝播される電磁波(例えば、光ファイバーケーブルを通過するパルス光)、または電線を介して伝送される電気信号と解釈されるものではない。
【0039】
本開示の実施例によるテスト対象の表示データは、1つのフレームが圧縮された画像の表示データであってもよいし、複数のフレームが圧縮された画像の表示データであってもよい。それに応じて、伸張パラメータは、1つのフレームが圧縮された画像の表示データに対応する伸張パラメータであってもよいし、複数のフレームが圧縮された画像の表示データに対応する複数の伸張パラメータであってもよい。ここで、複数の伸張パラメータは、VESA(Video Electronics Standards Association、ビデオ電子規格協会)、DSC(Display Stream Compression、表示ストリーム圧縮)規格の画像パラメータセット設定(Picture Parameter Set:PPS)であってもよい。
【0040】
本開示の実施例による検査符号は、パリティチェック(Parity Check)の検査符号、BCC排他的論理和の検査方法(block check character、ブロック検査符号)の検査符号、LRC縦方向冗長検査(Longitudinal Redundancy Check)の検査符号、CRC(Cyclic Redundancy Check)巡回冗長検査の検査符号、MD5、SHA、MACなどのダイジェストアルゴリズムの検査符号、または他のタイプの検査方式の検査符号であってもよく、本開示の実施例ではこれに対して限定しない。
【0041】
本開示の実施例では、伸張された表示データを用いて検査符号を得ることについて、その具体的な実現形態を限定せず、当業者であれば、関連技術を参考にして実現することができる。
【0042】
一例において、記憶ユニットに記憶されたプリセット検査符号は、テスト対象の表示データの理想的な検査符号であってもよく、または、標準検査符号と呼ばれる。
【0043】
可能な一実施形態では、
図2に示すように、前記記憶ユニット220は、前記テスト対象の表示データを記憶するための第1の記憶ユニット2210と、対応する伸張パラメータを記憶するための第2の記憶ユニット2220と、前記プリセット検査符号を記憶するための第3の記憶ユニット2230とを含み、前記第1の記憶ユニット2210に記憶されるテスト対象の表示データは、少なくとも1つのフレームが圧縮された画像の表示データを含む。
【0044】
可能な一実施形態では、前記制御モジュール10は、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられてもよい。
【0045】
可能な一実施形態では、前記表示駆動チップは、表示パネル40に接続され、
前記制御モジュール10は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップ30に送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップ30は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。
【0046】
一例において、テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が正常である場合、制御モジュール10は、圧縮符号化された表示データをテスト対象の表示駆動チップ30に送信してもよい。このような場合、テスト対象の表示駆動チップ30のデコーダは、受信した圧縮された表示データを復号化し伸張して、伸張された表示データを得て、伸張された表示データに基づいて駆動電圧を生成して表示パネルを制御することができる。
【0047】
可能な一実施形態では、
図2に示すように、前記表示駆動チップは、表示パネル40に接続され、
前記制御モジュール10は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップ30に送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップ30は、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられる。
【0048】
一例において、テスト対象の表示駆動チップ30の復号化機能が異常である場合、表示パネルに対する正確な駆動を実現するために、制御モジュール10は、圧縮符号化された表示データをテスト対象の表示駆動チップ30に送信してはならず、この時、制御モジュール10は、圧縮符号化されていない表示データをテスト対象の表示駆動チップ30に送信する。このような場合、テスト対象の表示駆動チップ30は直接に、受信した表示データに基づいて駆動電圧を生成して表示パネルを制御する。
【0049】
可能な一実施形態では、前記制御モジュール10は、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップ30への表示データの出力を停止させることに用いられる。
【0050】
本開示の一態様によれば、前記テスト装置を含む電子機器を提供する。
【0051】
可能な一実施形態では、前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含む。
【0052】
可能な一実施形態では、前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか1つまたは複数を含む。
【0053】
なお、本開示の実施例によるテストモジュールは、表示駆動チップに設けられてもよく、表示パネルを表示駆動する時にテスト動作を行い、デコーダが正常に動作しているか否かを特定することができる。
【0054】
本開示の実施例による表示駆動チップの自己検証機能に基づいて、当業者は、アプリケーションプロセッサ及び冗長なテストパターン(pattern)を組み合わせることなく、表示駆動チップの復号化機能(伸張機能)の歩留まり率を容易にテストすることができ、テスト時間及びコストを大幅に短縮することができる。
【0055】
本開示の実施例によるテスト装置は、電子機器に適用することができ、電子機器は、端末、サーバ、または他の形態の装置として提供されてもよい。
【0056】
図3を参照すると、
図3は、本開示の一実施例による電子機器のブロック図を示す。
【0057】
例えば、電子機器800は、携帯電話、コンピュータ、デジタル放送端末、メッセージ送受信機器、ゲームコンソール、タブレット機器、医療機器、フィットネス機器、パーソナルデジタルアシスタント等の端末であってもよい。
【0058】
図3を参照すると、電子機器800は、処理モジュール802、メモリ804、電源モジュール806、マルチメディアモジュール808、オーディオモジュール810、入出力(I/O)インターフェース812、センサモジュール814、及び通信モジュール816のうちの1つまたは複数のモジュールを含んでもよい。
【0059】
処理モジュール802は、一般的に電子機器800の全体的な動作、例えば表示、電話の呼び出し、データ通信、カメラ動作、および記録動作に関連する動作を制御する。処理モジュール802は、命令を実行して前記方法の全部または一部のステップを完成するための1つまたは複数のプロセッサ820を含んでもよい。なお、処理モジュール802は、処理モジュール802と他のモジュールとのインタラクションのために、1つまたは複数のモジュールを含んでもよい。例えば、処理モジュール802は、マルチメディアモジュール808と処理モジュール802とのインタラクションのために、マルチメディアモジュールを含んでもよい。
【0060】
メモリ804は、電子機器800での動作をサポートするために様々なタイプのデータを記憶するように構成される。これらのデータの例としては、電子機器800において動作する任意のアプリケーションプログラムまたは方法の命令、連絡先データ、電話帳データ、メッセージ、ピクチャ、ビデオなどを含む。メモリ804は、スタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)、電気的消去可能プログラマブルリードオンリーメモリ(EEPROM)、消去可能プログラマブルリードオンリーメモリ(EPROM)、プログラマブルリードオンリーメモリ(PROM)、リードオンリーメモリ(ROM)、磁気メモリ、フラッシュメモリ、磁気ディスク、または光ディスクなどの任意のタイプの揮発性または不揮発性の記憶装置、またはそれらの組み合わせによって実現できる。
【0061】
電源モジュール806は、電子機器800の様々なモジュールに電力を供給する。電源モジュール806は、電源管理システム、1つまたは複数の電源、および電子機器800のための電力の生成、管理、および分配に関連する他のモジュールを含んでもよい。
【0062】
マルチメディアモジュール808は、前記電子機器800とユーザとの間に出力インターフェースを提供するスクリーンを含む。いくつかの実施例では、スクリーンは、液晶ディスプレイ(LCD)およびタッチパネル(TP)を含んでもよい。スクリーンがタッチパネルを含む場合、スクリーンは、ユーザからの入力信号を受けるようにタッチスクリーンとして実現されてもよい。タッチパネルは、タッチ、スライドおよびタッチパネル上のジェスチャーを検知するために、1つまたは複数のタッチセンサを含む。前記タッチセンサは、タッチ又はスライド動作の境界だけではなく、前記タッチ又はスライド動作に関連する継続時間及び圧力を検出するようにしてもよい。いくつかの実施例では、マルチメディアモジュール808は、1つのフロントカメラおよび/またはバックカメラを含む。電子機器800が動作モード、例えば写真モードまたはビデオモードになると、フロントカメラおよび/またはバックカメラは、外部のマルチメディアデータを受信することができる。各フロントカメラおよびバックカメラは、固定された光学レンズ系、または焦点距離および光学ズーム能力を有するものであってもよい。
【0063】
オーディオモジュール810は、オーディオ信号を出力および/または入力するように構成される。例えば、オーディオモジュール810は、電子機器800が動作モード、例えば呼び出しモード、記録モードおよび音声認識モードになると、外部のオーディオ信号を受信するように構成されたマイクロフォン(MIC)を含む。受信されたオーディオ信号は、さらにメモリ804に記憶されるか、または通信モジュール816を介して送信されてもよい。いくつかの実施例では、オーディオモジュール810は、オーディオ信号を出力するためのスピーカをさらに含む。
【0064】
I/Oインターフェース812は、処理モジュール802とキーボード、クリックホイール、ボタンなどの周辺インターフェースモジュールとの間にインターフェースを提供する。これらのボタンは、ホームボタン、音量ボタン、スタートボタン、およびロックボタンを含んでもよいが、これらに限らない。
【0065】
センサモジュール814は、電子機器800に各方面での状態評価を提供するための1つまたは複数のセンサを含む。例えば、センサモジュール814は、電子機器800のオン/オフ状態、電子機器800の例えばディスプレイおよびキーパッドのようなモジュールの相対的位置決めを検出可能である。センサモジュール814は、さらに、電子機器800または電子機器800のあるモジュールの位置変化、ユーザと電子機器800との接触の有無、電子機器800の方位または加減速、および電子機器800の温度変化を検出可能である。センサモジュール814は、いかなる物理的接触なしに近傍の物体の存在を検出するように構成された近接センサを含んでもよい。センサモジュール814は、相補型金属酸化物半導体(CMOS)又は電荷結合装置(CCD)イメージセンサのような、イメージングの応用において使用されるための光センサをさらに含んでもよい。いくつかの実施例では、当該センサモジュール814は、加速度センサ、ジャイロセンサ、磁気センサ、圧力センサ、または温度センサをさらに含んでもよい。
【0066】
通信モジュール816は、電子機器800と他の機器との間の有線または無線通信を実現するように構成される。電子機器800は、例えば無線ネットワーク(WIFI)、第2世代移動通信技術(2G)または第3世代移動通信技術(3G)、またはそれらの組み合わせのような、通信規格に基づく無線ネットワークにアクセス可能である。例示的な一実施例では、通信モジュール816は、放送チャネルを介して外部の放送管理システムからの放送信号又は放送関連情報を受信する。例示的な一実施例では、前記通信モジュール816は、近距離通信を促進させるために近距離無線通信(NFC)モジュールをさらに含む。例えば、NFCモジュールは、無線周波数識別(RFID)技術、赤外線データ協会(IrDA)技術、超広帯域(UWB)技術、ブルートゥース(登録商標)(BT)技術、および他の技術によって実現できる。
【0067】
例示的な実施例では、電子機器800は、前記方法を実行するために、1つまたは複数の特定用途向け集積回路(ASIC)、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)、デジタル信号処理装置(DSPD)、プログラマブルロジックデバイス(PLD)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、コントローラ、マイクロコントローラ、マイクロプロセッサ、または他の電子デバイスによって実現できる。
【0068】
例示的な実施形態では、さらに、上述の方法を実行するように電子デバイス800のプロセッサ820によって実行可能なコンピュータプログラム命令を含むメモリ804のような不揮発性コンピュータ可読記憶媒体を提供する。
【0069】
本開示の各実施例を記述したが、上記説明は、例示的なものに過ぎず、網羅的なものではなく、かつ披露された各実施例に限定されるものでもない。当業者にとって、説明された各実施例の範囲および精神から逸脱することなく、様々な修正および変更は自明である。本明細書に選ばれた用語は、各実施例の原理、実際の応用、または市場における技術への改善を好適に解釈するか、または他の当業者に本文に披露された各実施例を理解させるためのものである。
【手続補正書】
【提出日】2023-10-11
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0069
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0069】
本開示の各実施例を記述したが、上記説明は、例示的なものに過ぎず、網羅的なものではなく、かつ披露された各実施例に限定されるものでもない。当業者にとって、説明された各実施例の範囲および精神から逸脱することなく、様々な修正および変更は自明である。本明細書に選ばれた用語は、各実施例の原理、実際の応用、または市場における技術への改善を好適に解釈するか、または他の当業者に本文に披露された各実施例を理解させるためのものである。本発明の態様の一部を以下記載する。
[態様1]
テスト装置であって、
制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも1つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられることを特徴とするテスト装置。
[態様2]
前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられることを特徴とする態様1に記載のテスト装置。
[態様3]
前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第1の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第2の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第3の記憶ユニットとを含むことを特徴とする態様2に記載のテスト装置。
[態様4]
前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられることを特徴とする態様1または2に記載のテスト装置。
[態様5]
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする態様4に記載のテスト装置。
[態様6]
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする態様4に記載のテスト装置。
[態様7]
前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられることを特徴とする態様1に記載のテスト装置。
[態様8]
前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか1つまたは複数を含むことを特徴とする態様5に記載のテスト装置。
[態様9]
態様1~8のいずれか1項に記載のテスト装置を含むことを特徴とする電子機器。
[態様10]
前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含むことを特徴とする態様9に記載の電子機器。
【手続補正2】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
テスト装置であって、
制御モジュールと、テストモジュールと、少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップとを含み、
前記制御モジュールは、前記テストモジュールによる少なくとも1つのテスト対象の表示駆動チップの復号化機能に対するテストを制御するために、少なくとも1つのテスト制御信号を出力することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、前記制御モジュール及び前記テストモジュールに接続され、受信した圧縮表示データ及び伸張パラメータを伸張して伸張表示データを得て、前記伸張表示データに基づいて検査符号を得ることに用いられ、
前記テストモジュールは、前記制御モジュールに接続され、
前記テスト制御信号が有効である場合に、テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及びプリセット検査符号を取得し、
前記テスト対象の表示データ及び対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信して、前記テスト対象の表示駆動チップから出力されるターゲット検査符号を得て、
前記ターゲット検査符号を前記プリセット検査符号と比較して、前記テスト対象の表示駆動チップのテスト結果を得ることに用いられることを特徴とするテスト装置。
【請求項2】
前記テストモジュールは、テストユニットと、記憶ユニットと、比較ユニットとを含み、
前記テストユニットは、前記記憶ユニット及び前記比較ユニットに接続され、前記記憶ユニットから、前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータ及び前記プリセット検査符号を取得して、前記記憶ユニットから取得された前記テスト対象の表示データ、対応する伸張パラメータを前記テスト対象の表示駆動チップに送信し、前記プリセット検査符号を前記比較ユニットに送信することに用いられ、
前記比較ユニットは、前記テスト対象の表示駆動チップから出力される前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号を取得し、前記ターゲット検査符号及び前記プリセット検査符号に基づいてテスト結果を得て、前記テスト結果を前記制御モジュール及び前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられることを特徴とする請求項1に記載のテスト装置。
【請求項3】
前記記憶ユニットは、前記テスト対象の表示データを記憶するための第1の記憶ユニットと、対応する伸張パラメータを記憶するための第2の記憶ユニットと、前記プリセット検査符号を記憶するための第3の記憶ユニットとを含むことを特徴とする請求項2に記載のテスト装置。
【請求項4】
前記制御モジュールは、さらに、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と同じである場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものと判断し、または、
前記ターゲット検査符号が前記プリセット検査符号と異なる場合、前記テスト結果は、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものと判断することに用いられることを特徴とする請求項1または2に記載のテスト装置。
【請求項5】
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、圧縮された表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が正常である旨のものである場合、前記圧縮された表示データを伸張して、伸張された表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする請求項4に記載のテスト装置。
【請求項6】
前記表示駆動チップは、表示パネルに接続され、
前記制御モジュールは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、圧縮されていない表示データを前記テスト対象の表示駆動チップに送信することに用いられ、
前記テスト対象の表示駆動チップは、さらに、テスト結果が、前記テスト対象の表示駆動チップの復号化機能が異常である旨のものである場合、前記圧縮されていない表示データに基づいて駆動信号を生成して表示パネルを表示制御することに用いられることを特徴とする請求項4に記載のテスト装置。
【請求項7】
前記制御モジュールは、さらに、前記テスト制御信号が有効である場合、前記テスト対象の表示駆動チップへの表示データの出力を停止させることに用いられることを特徴とする請求項1に記載のテスト装置。
【請求項8】
前記表示パネルは、液晶表示パネル、有機発光ダイオード表示パネル、量子ドット発光ダイオード表示パネル、ミニ発光ダイオード表示パネル及びマイクロ発光ダイオード表示パネルのいずれか1つまたは複数を含むことを特徴とする請求項5に記載のテスト装置。
【請求項9】
請求項
1に記載のテスト装置を含むことを特徴とする電子機器。
【請求項10】
前記電子機器は、ディスプレイ、スマートフォン、または携帯機器を含むことを特徴とする請求項9に記載の電子機器。
【国際調査報告】