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特表2024-515658ＲＦ依存システムに対する電磁環境影響（Ｅ３）を推定するための方法および装置
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-04-10
(54)【発明の名称】ＲＦ依存システムに対する電磁環境影響（Ｅ３）を推定するための方法および装置
(51)【国際特許分類】
G01R 29/08 20060101AFI20240403BHJP
H04B 17/309 20150101ALI20240403BHJP
【ＦＩ】
G01R29/08 D
H04B17/309
【審査請求】未請求
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2023563271
(86)(22)【出願日】2022-03-24
(85)【翻訳文提出日】2023-12-18
(86)【国際出願番号】 US2022021805
(87)【国際公開番号】W WO2022221022
(87)【国際公開日】2022-10-20
(31)【優先権主張番号】63/175,162
(32)【優先日】2021-04-15
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】508364749
【氏名又は名称】ケロッグ ブラウン アンド ルート エルエルシー
【住所又は居所原語表記】６０１ Ｊｅｆｆｅｒｓｏｎ Ｓｔｒｅｅｔ Ｈｏｕｓｔｏｎ ＴＸ ７７００２（ＵＳ）
(74)【代理人】
【識別番号】110000578
【氏名又は名称】名古屋国際弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】ハーウッド ツー セオドア レナード
(72)【発明者】
【氏名】ブラック ジェリック クレイグ
(57)【要約】
記載されたシステムおよび関連の試験方法は、試験精度を大幅に向上させると共に、電磁環境影響（Ｅ３）システムレベル試験における試験時間を短縮する。システムは、リアルタイムスペクトラムアナライザと、ネットワークアナライザと、汎用コンピュータなどの情報処理機器によって制御されるスイッチング／フィルタリング／結合ネットワークとを含んでもよい。これらのシステムは、各受信機のすべての周波数をスキャン可能である。
【選択図】図１
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数のＲＦ依存デバイスを有するプラットフォーム上において無線周波数（ＲＦ）発生源／影響先ＲＦ受信機試験を実施するための方法であって、前記複数のＲＦ依存デバイスの一群をＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、
複数の捕捉アンテナを前記ＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、
リアルタイムスペクトラムアナライザを前記ＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、
前記リアルタイムスペクトラムアナライザおよび前記複数の捕捉アンテナを用いて前記プラットフォームにおける周囲電磁気状態を継続的に監視することと、
ＲＦ発生源を動作させてＲＦ信号を送信することであって、前記ＲＦ発生源が前記一群のうちの前記ＲＦ依存デバイスの１つである、ＲＦ発生源を動作させることと、
前記リアルタイムスペクトラムアナライザを用いて前記一群のうちの各ＲＦ依存デバイスの動作パラメータを推定することと、
推定した前記動作パラメータと前記周囲電磁気状態とを用いて対象信号を特定することと、
前記対象信号を用いて、影響を受けたＲＦ依存デバイスを特定することと、
を含む、方法。
【請求項2】
請求項１に記載の方法であって、前記動作パラメータは、基本周波数と、高調波と、スプリアス発射とのうちの少なくとも１つである、方法。
【請求項3】
請求項１に記載の方法であって、複数の発生源が順次動作される、方法。
【請求項4】
請求項１に記載の方法であって、前記一群には、前記プラットフォーム上の前記ＲＦ依存デバイスのすべてが含まれる、方法。
【請求項5】
請求項１に記載の方法であって、前記一群には、前記プラットフォーム上の前記ＲＦ依存デバイスのすべてよりも少ないＲＦ依存デバイスが含まれる、方法。
【請求項6】
請求項１に記載の方法であって、前記プラットフォーム上の前記ＲＦ依存デバイスのすべてが通電停止されている間、前記プラットフォームの前記周囲電磁気状態を推定すること、をさらに含む、方法。
【請求項7】
請求項５に記載の方法であって、前記リアルタイムスペクトラムアナライザを用いて前記プラットフォームの前記周囲電磁気状態を推定しながら、前記一群のうちの各ＲＦ依存デバイスを順次接続および通電することを含む、方法。
【請求項8】
請求項１に記載の方法であって、前記ＲＦ信号通信ネットワークには、（ｉ）スイッチングネットワーク、および（ｉｉ）フィルタリングネットワークのうちの少なくとも１つが含まれる、方法。
【請求項9】
複数のＲＦ依存デバイスを有するプラットフォームに対する電磁環境影響（Ｅ３）を推定するための装置であって、複数の信号キャリアを有するＲＦ信号通信ネットワークであって、各信号キャリアが前記複数のＲＦ依存デバイスのうちの関連のＲＦ依存デバイスに接続されるように構成され、前記ＲＦ信号通信ネットワーク、関連の各ＲＦ依存デバイスと信号通信が可能であるＲＦ信号通信ネットワークと、
前記ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信しているスペクトラムアナライザであって、前記ＲＦ依存デバイスに接続された前記信号キャリアにおける誘導ＲＦの広帯域測定を略瞬時に行うように構成されたスペクトラムアナライザと、
前記ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信している少なくとも１つの捕捉アンテナであって、少なくとも１つの周波数範囲内の周囲Ｅ３情報を収集するよう構成された、少なくとも１つの捕捉アンテナと、
前記ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信している情報処理機器であって、前記少なくとも１つの捕捉アンテナと前記リアルタイムスペクトラムアナライザによって生成された情報とを用いてＥ３特性データを生成するように構成された情報処理機器と、
を備える、装置。
【請求項10】
請求項９に記載の装置であって、前記ＲＦ信号通信ネットワークには、（ｉ）スイッチングネットワーク、および（ｉｉ）フィルタリングネットワークのうちの少なくとも１つが含まれる、装置。
【請求項11】
請求項９に記載の装置であって、前記動作パラメータは、基本周波数と、高調波と、スプリアス発射とのうちの少なくとも１つである、装置。
【請求項12】
請求項９に記載の装置であって、前記プラットフォーム上の前記ＲＦ依存デバイスのすべてが通電停止されている間、前記情報処理機器が前記プラットフォームの前記周囲電磁気状態を推定することをさらに含む、装置。
【請求項13】
請求項９に記載の装置であって、前記リアルタイムスペクトラムアナライザを用いて前記プラットフォームの前記周囲電磁気状態を推定しながら、前記一群のうちの各ＲＦ依存デバイスを順次接続および通電することをさらに含む、装置。
【発明の詳細な説明】
【発明の詳細な説明】
【0001】
［技術分野］
本明細書に記載の実施形態は、概して、無線周波数（ＲＦ）依存システムおよびサブシステムに対する電磁環境影響（Ｅ３）の影響力を推定するためのシステム並びに方法に関し、特に、プラットフォームレベルでの電磁両立性（ＥＭＣ）および電磁干渉（ＥＭＩ）に関する。
［背景］
本明細書に記載の実施形態は、概して、無線周波数（ＲＦ）依存システムおよびサブシステムに対する電磁環境影響（Ｅ３）の影響力を推定するためのシステム並びに方法に関し、特に、プラットフォームレベルでの電磁両立性（ＥＭＣ）および電磁干渉（ＥＭＩ）に関する。
［背景］
【0002】
プラットフォームＲＦ発生源／影響先ＲＦ機器（コンポーネント）試験とは、プラットフォームＥＭＣが認証機関の要件を満たしていることを認証機関に証明する認証データを提供するために利用されるいくつかの試験のうちの１つである。この試験が発生源／被害者試験と称されることもあるのは、「被害者」機器が、発生源によって送信されたＲＦ信号に対して意図せずに望まない応答を行うという理由による。そうした試験は、ＥＭＣを実証するための構造的なアプローチを提供し、ＥＭＩが発見された場合には、運転使用前に干渉を解決できる。航空機のような複雑なプラットフォームでは、これらの試験には時間とコストがかかることもある。これらの試験は、ＥＭＩがプラットフォームの安全性に悪影響を及ぼし、その任務遂行能力を損なう可能性がある各電気および電子システムを監視しながら、あらゆる電気および電子システムを地上運転することを含む。発生源機器は、ＲＦエミッションおよび電磁過渡現象発生の最悪のケースと考えられるモードで運転される。ＲＦ依存システムは、ＲＦ放射量や電磁過渡現象の影響を最も受けやすいと考えられるモードで動作しながら監視される。
【0003】
計装無線地上試験は、発生源／被害者機器試験のサブセットである。この試験は、無線アンテナポートにおいてスペクトラムアナライザ（周波数分布分析器）を接続すること、並びに、周囲および発生源の両方のシステム動作について、被試験無線受信機、つまり「被害者」、の動作周波数を掃引（スイープ）することからなる。すべての搭載システムは通電されているが、送信を行っていない。従来、この試験は静かなＲＦ環境（電波暗室など）で行われてきた。しかしながら、これらの試験は、測定器の設置に数日要し、同一拠点の運転条件下での受信機性能を判断するために使用した場合、測定に数週間を要することがある。
【0004】
ある局面において、本開示は、従来技術よりも効率的に、ＲＦ依存システムおよびサブシステムに対するＥ３の影響を推定する必要性に対処する。
［発明の概要］
［発明の概要］
【0005】
本開示は、試験精度を大幅に向上させると共に、電磁環境影響（Ｅ３）システムレベル試験における試験時間を短縮するシステム、および、関連の試験方法を提供する。概して、本開示に係るシステムは、リアルタイムスペクトラムアナライザと、ネットワークアナライザと、汎用コンピュータなどの情報処理機器によって制御されるスイッチング／フィルタリング／結合ネットワークとを含んでもよい。本開示に係るシステムは、各受信機のすべての周波数をスキャン可能であってもよい。例えば、６秒未満では、本開示に係るシステムは、２ＭＨｚから２６ＧＨｚまでスキャン可能である。
【0006】
さらなる局面において、本開示は、複数のＲＦ依存デバイスを有するプラットフォームにおいてＲＦ発生源／影響先ＲＦ受信試験を実施するための方法を提供する。この方法は、複数のＲＦ依存デバイスの一群（セット）をＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、複数の捕捉アンテナをＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、リアルタイムスペクトラムアナライザをＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、リアルタイムスペクトラムアナライザおよび複数の捕捉アンテナを用いてプラットフォームにおける周囲電磁気状態を継続的に監視することと、ＲＦ発生源を動作させてＲＦ信号を送信することであって、ＲＦ発生源が一群のうちのＲＦ依存デバイスの１つである、ＲＦ発生源を動作させることと、リアルタイムスペクトラムアナライザを用いて一群のうちの各ＲＦ依存デバイスの動作パラメータを推定することと、推定した動作パラメータと周囲電磁気状態とを用いて対象の信号を特定することと、対象の信号を用いて、影響を受けたＲＦ依存デバイスを特定することと、を含んでもよい。
【0007】
さらに別の局面において、本開示は、複数のＲＦ依存デバイスを有するプラットフォームに対する電磁環境影響（Ｅ３）を推定するための装置を提供する。この装置は、複数の信号キャリアを有するＲＦ信号通信ネットワークであって、各信号キャリアが複数のＲＦ依存デバイスのうちの関連のＲＦ依存デバイスに接続されるように構成され、ＲＦスイッチングおよび／またはフィルタにより関連の各ＲＦ依存デバイスと選択的信号通信可能であるＲＦ信号通信ネットワークと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信しているスペクトラムアナライザであって、ＲＦ依存デバイスに接続された信号キャリアにおける誘導ＲＦの略瞬時広帯域測定を行うように構成されたスペクトラムアナライザと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信している少なくとも１つの捕捉アンテナであって、少なくとも１つの周波数範囲内の周囲Ｅ３情報を収集するよう構成された少なくとも１つの捕捉アンテナと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信している情報処理機器であって、少なくとも１つの捕捉アンテナとリアルタイムスペクトラムアナライザによって生成された情報とを用いてＥ３特性データを生成するように構成された情報処理機器と、を含んでもよい。
【0008】
さらに別の局面において、本開示は、複数のＲＦ依存デバイスを有するプラットフォームに対する電磁環境影響（Ｅ３）を推定するための装置を提供する。この装置は、複数の信号キャリアを有するＲＦ信号通信ネットワークであって、各信号キャリアが複数のＲＦ依存デバイスの各アンテナに接続され、ＲＦフィルタにより各アンテナと選択的信号通信可能に構成されたＲＦ信号通信ネットワークと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信し、ＲＦ依存デバイスに接続された信号キャリア内の誘導ＲＦの略瞬時広帯域測定を行うよう構成されたリアルタイムスペクトラムアナライザと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信し、複数のＲＦ装置の各ＲＦ依存デバイスと関連付けられた動作パラメータを測定するように構成されたネットワークアナライザと、ＲＦ増幅器および１または複数のアンテナであって、該ＲＦ増幅器と少なくとも１つの捕捉アンテナが協働して少なくとも１つの周波数範囲内の周囲Ｅ３情報を収集するよう構成されたＲＦ増幅器および１または複数のアンテナと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信している情報処理機器であって、ＲＦ信号捕捉ユニットと、リアルタイムスペクトラムアナライザによって生成された情報と、ネットワークアナライザによって生成された情報とを用いたＥ３特性データを生成するように構成された情報処理機器と、を含んでもよい。
【0009】
さらなる局面において、本開示は、複数のＲＦ依存デバイスを有するプラットフォーム上においてＲＦ発生源／影響先ＲＦ受信機試験を実施するための方法を提供する。この方法は、複数のＲＦ依存デバイスの一群をＲＦ信号通信ネットワークに接続することと、少なくとも１つの捕捉アンテナと、リアルタイムスペクトラムアナライザとを用いて周囲Ｅ３を推定することと、ＲＦ信号通信ネットワークと信号通信しているリアルタイムスペクトラムアナライザを用いて一群の各ＲＦ依存デバイスと関連付けられた動作パラメータを推定することと、ＲＦ信号通信ネットワークを用いて一群のうちの各ＲＦ依存デバイスの各アンテナ同士を選択的に切り替えることとを含む方法であって、周囲Ｅ３と各動作パラメータとが所定の周波数範囲内および選択された帯域幅で推定される、方法であってもよい。
【0010】
本開示の特定の特徴部の実施例は、以下の詳細な説明がより理解され得るように、かつ当該技術分野への貢献が理解され得るように、かなり広く要約されていることが理解されるべきである。当然ながら、以下に記載され、場合によっては、本明細書に添付される特許請求の範囲の主題を形成する、本開示の追加的な特徴が存在する。
【図面の簡単な説明】
【0011】
本開示の詳細な理解のために、好ましい実施形態についての以下の詳細な記載は、添付の図面と合わせて参照されたい。添付の図面では、同様の要素には同様の参照符号が付与されている。
【図1】１または複数のＲＦ発生源と１または複数のＲＦ依存デバイスとを有するプラットフォームを示す概略図である。
【図2】本開示の一実施形態に係る電磁環境影響（Ｅ３）試験システムの一実施形態を示す概略図である。
【図3】本開示の一実施形態に係る１または複数のＲＦ発生源と１または複数のＲＦ依存デバイスとを有するプラットフォームについての校正（キャリブレーション）試験を実施するための方法の一実施形態を示すフローチャートである。
【図4】ＲＦ遮蔽効果を評価するための、本開示の一実施形態に係るＥ３試験システムの一実施形態を示す概略図である。
【図6】プラットフォームのノイズフロアを評価するための、本開示の一実施形態に係るＥ３試験システムの一実施形態を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【0012】
図１を参照すると、複数のＲＦ依存デバイス１２が配置されたプラットフォーム１０が概略的に示されている。試験中、これらのＲＦ依存デバイス１２のそれぞれは、干渉を引き起こすＲＦ信号を送信するＲＦ発生源として機能してもよく、干渉によって影響される、影響を受けるＲＦデバイス（または「被害者」）としても機能してもよい。すなわち、異なる時間において、特定のＲＦ依存デバイスは、ＲＦ発生源として働き、その後、影響を受けるデバイスとして働いてもよく、また、その逆であってもよい。便宜上、図１には、無線周波数（ＲＦ）発生源１３として働くいくつかのＲＦ依存デバイス１２と、影響を受けるＲＦデバイスであるいくつかのＲＦ依存デバイス１４とが示されている。プラットフォーム１０は移動体であってもよく、例えば、航空機、宇宙船、陸上車両、または水上船舶である。ＲＦ発生源１２は、概して、ＲＦ信号を発信可能なあらゆるデバイスであり、ＲＦ依存デバイス１２とは、そうした発信されたＲＦ信号によって動作が損なわれ得るあらゆるデバイスである。いくつかの用途では、各ＲＦ依存デバイス１２は、アンテナ１６または他の同様のＲＦ信号受信機器を含んでもよい。さらに、ＲＦシールド１８を用いてＲＦ依存デバイス１２のうちのいくつか（一部）を包囲してもよい。以下にさらに記載するように、本教示に係る電磁環境影響（Ｅ３）試験システム１００を用いて、ＲＦ依存デバイス１２へのＥ３影響を推定すると共に、システム診断および特性評価を行ってもよい。試験は、プラットフォーム１０上のＲＦ依存デバイス１２の一群に対して行ってもよい。この一群は、プラットフォーム１０上のＲＦ依存デバイス１２のすべて、またはすべてよりも少ないＲＦ依存デバイス１２から構成されてもよい。
【0013】
図２を参照すると、本開示に係るＥ３試験システム１００の非限定的な一実施形態が概略的に示されている。試験システム１００は、スペクトラムアナライザ１０２、ネットワークアナライザ１０４、ＲＦ増幅器１０６、１または複数のアンテナ１０８ａ，ｂ，ｃ、ＲＦ信号通信ネットワーク１１０、および汎用情報処理機器１１２を含んでもよい。
【0014】
ＲＦ信号通信ネットワーク１１０は、ＲＦ依存デバイス１２（図１）のアンテナ１６（図１）のカプラ１１６ａ，ｂ，ｎとの選択的信号通信が可能になるように構成されたモジュール式信号通信ネットワークであってもよい。ＲＦ信号通信ネットワーク１１０は、プラットフォーム１０上のこれらのＲＦ依存デバイス１２のすべて、またはすべてよりも少ないＲＦ依存デバイス１２と選択的信号通信してもよい。実施形態において、ＲＦ信号通信ネットワーク１１０は、関連の信号キャリア１２２ａ，ｂ，ｎを介してカプラ１１６ａ，ｂ，ｎと信号通信しているデジタル減衰器１２０を含んでもよい。なお、３つのカプラ１１６ａ，ｂ，ｎおよび関連の信号キャリア１２２ａ，ｂ，ｎが示されているが、他の実施形態では、２つ以下または４つ以上のカプラ１１６ａ，ｂ，ｎおよび関連の信号キャリア１２２ａ，ｂ，ｎを含んでもよいことを理解されたい。
【0015】
いくつかの実施形態では、ＲＦ信号通信ネットワーク１００は、スイッチングネットワークであってもよい。これらの実施形態は、極めて低い挿入損失が要求され、信号公差が非常に厳しい場合、および、スペクトラムアナライザが、スプリアス発射を発生させることなく測定対象の近傍の大信号を測定可能である場合、に適している可能性がある。いくつかの実施形態では、ＲＦ信号通信ネットワーク１００は、フィルタリングネットワークであってもよい。これらの実施形態は、挿入損失がわずかに増加しても問題とならずに測定を緩和可能である場合や、スペクトラムアナライザが隣接する大信号の近傍で対象信号を測定する際にスプリアス発射を発生させる場合、適している可能性がある。いくつかの実施形態では、ＲＦ信号通信ネットワーク１００は、スイッチングネットワークおよびフィルタリングネットワークであってもよい。
【0016】
スペクトラムアナライザ１０２は、リアルタイムスペクトラムアナライザであってもよい。実施形態において、スペクトラムアナライザ１０２は、ＲＦ信号通信ネットワーク１１０と信号通信してもよく、ＲＦ依存デバイス１２（図１）に接続された信号キャリア１２２ａ，ｂ，ｎにおける誘導ＲＦのほぼ瞬時（２０～５０ミリ秒）広帯域測定（１６０ＭＨｚ）を行うように構成されてもよい。
【0017】
ここでのネットワークアナライザ１０４は、ある１つのネットワークアナライザであってもよい。実施形態において、ネットワークアナライザ１０４は、ＲＦフィルタスイッチングネットワーク１１０と信号通信してもよく、ＲＦ依存デバイス１２のＲＦパラメータと関連付けられた設定済みのＶＳＷＲ、振幅、および位相を測定するように構成されてもよい。
【0018】
ＲＦ増幅器１０６およびアンテナ１０８ａ～ｃは、周囲ＥＥＥを推定するように構成されてもよい。ある１つの非限定的な配置において、アンテナ１０８ａ～ｃは、２ＭＨｚ～５０ＭＨｚの範囲の周囲ＥＥＥを収集するように構成されたロッドアンテナと、５０ＭＨｚ～５００ＭＨｚの範囲の周囲ＥＥＥを収集するように構成された対数周期アンテナと、５００ＭＨｚ～２６ＧＨｚの範囲の周囲ＥＥＥを収集するように構成された導波管ホーンアンテナとを含んでもよい。
【0019】
情報処理機器１１２は、マイクロプロセッサ、メモリ、アルゴリズム、および入力装置を含んでもよい。マイクロプロセッサ、メモリ、アルゴリズム、および入力装置は、Ｅ３試験システム１００の１または複数の構成要素、例えばＲＦフィルタスイッチングネットワーク１１０、を制御することに適していてもよい。インフォメーションプロセッサ１１４は、ネットワークアナライザ１０４および／またはスペクトラムアナライザ１０２によって収集された情報を処理且つ保存することに適したアルゴリズムでプログラムされてもよい。
【0020】
図３を参照すると、図２の試験システムを用いて図１のプラットフォーム１０の１または複数の動作特性を推定するための非限定的な方法１３０が示されている。図１および図２を参照すると、ステップ１３２では、アンテナ１０８ａなどのアンテナが、プラットフォーム１０（図１）上の選択された位置に配置される。ステップ１３４では、スペクトラムアナライザ１０２が動作され、ＲＦ依存デバイス１２（図１）の周囲ＥＥＥデータを収集する。ステップ１３２および１３４は、プラットフォーム１０（図１）上の異なる場所にそのアンテナを再配置することによって繰り返されてもよい。また、ステップ１３２および１３４は、異なるアンテナ（例えば、アンテナ１０８ｂおよびｃ）を使用して繰り返されてもよい。ステップ１３６では、スペクトラムアナライザ１０２の測定を用いて、データセットがコンパイルされる。
【0021】
そのようなデータセットは、プラットフォーム１０（図１）の動作特性を意図せずに変化させる可能性のある保守などの１または複数のタスクを、プラットフォーム１０（図１）に対して実施するときに有用でありうる。例えば、ステップ１３８では、プラットフォーム１０（図１）の１または複数のサブシステムに対して保守や修理が行われてもよい。ステップ１３８の完了後、試験システム１００を再び用いて、図１のプラットフォーム１０の１または複数の動作特性を推定してもよい。ステップ１４０および１４２の位置決めおよびＥＥＥデータ収集は、概して、ステップ１３２および１３４とそれぞれ同じである。すべての選択された位置ですべてのアンテナ構成に対してステップ１４０および１４２を繰り返した後、スペクトラムアナライザ１０２の測定を用いて、タスク後のデータセットがコンパイルされる。ステップ１４６では、ステップ１３６および１４４にてコンパイルされたデータセットが比較され、プラットフォーム１０（図１）のシステムおよびサブシステムが、必要に応じて、調整、調節、または別の方法で再構成される。
【0022】
図４を参照すると、プラットフォーム上の機器を包囲するために用いた遮蔽の効果を評価するための、本開示に係るＥ３試験システム２００の非限定的な一実施形態が概略的に示されている。試験システム２００は、スペクトラムアナライザ１０２、ネットワークアナライザ１０４、ＲＦ増幅器１０６、１または複数の周囲アンテナ１０８ａ，ｂ，ｃ、ＲＦフィルタスイッチングネットワーク１１０、および汎用情報処理機器１１４を含んでもよい。これらの装置については既に説明した。また、図４の試験システム２００は、電磁信号を発信するように構成された１または複数の放射モジュール１１６ａ，ｂ，ｃと、発信された電磁信号を受信する１または複数の受信アンテナ１１７ａ，ｂ，ｃとを含む。放射モジュールおよび受信アンテナは、例えば、１１６ａおよび１１７ａ、１１６ｂおよび１１７ｂ、１１６ｃおよび１１７ｃのように対となっている。これらの対内にて送受信された信号を用いて、ＥＥＥからの遮蔽の効果を推定してもよい。各放射モジュール１１６は、放射素子１１８およびダミー負荷１２０を含んでもよい。
【0023】
図５を参照すると、対象の機器を包囲するために用いた遮蔽の効果を評価する、図４の試験システム２００を用いた遮蔽効果試験方法２０１を示すフローチャートが示されている。ステップ２０２では、図３に関連して記載したように校正試験を行ってもよい。次に、基準値（ベースライン）ＥＥＥが決定される。ステップ２０４では、評価予定の遮蔽に近接してアンテナを配置する。ステップ２０６では、スペクトラムアナライザ１０２は、アンテナ１０８ａ，ｂ，ｃを用いて周囲ＥＥＥを表すデータを収集する。ステップ２０４および２０６は、所望の全周波数範囲の周囲ＥＥＥのデータが収集されるまで繰り返される。ステップ２０８では、この周囲ＥＥＥデータを基準値データセットとしてコンパイルしてもよい。ステップ２０８は、ステップ２０４および２０６と同時に行われてもよいことに留意すべきである。
【0024】
ステップ２１０では、放射モジュール１１６ａは評価予定の遮蔽構造体の内側に配置されてもよく、受信アンテナ１１７ａはこの遮蔽構造体の外側に配置される。このステップのために、遮蔽パネルは撤去される。放射モジュール１１６ｂ，ｃと受信アンテナ１１７ｂ，ｃとの追加の対も同様に他の遮蔽構造体に配置される。ステップ２１２では、遮蔽パネルがない状態で、試験システム１００が通電され、１または複数の周波数範囲（例えば、２ＭＨｚ～５０ＭＨｚ、５０ＭＨｚ～５００ＭＨｚ、５００ＭＨｚ～２６ＧＨｚ）にわたって掃引が行われる。ネットワークアナライザ１０４はアンテナ１１７ａ，ｂ，ｃの応答を測定し記録する。
【0025】
ステップ２１４では、遮蔽パネルは、遮蔽効率について評価予定のすべての場所に設置される。ステップ２１６では、遮蔽パネルがある状態で、試験システム１００が通電され、１または複数の周波数範囲（例えば、２ＭＨｚ～５０ＭＨｚ、５０ＭＨｚ～５００ＭＨｚ、５００ＭＨｚ～２６ＧＨｚ）にわたって掃引が行われる。ネットワークアナライザ１０４は、放射素子１１８によって発信された電磁信号が遮蔽を通過したことを確認するため、アンテナ１０８ａ，ｂ，ｃの応答を測定し記録する。
【0026】
ステップ２１８では、ステップ２１２からのデータをステップ２１６からのデータと比較することにより、遮蔽効果が推定される。概して、遮蔽が設置される前と配置された後に測定されたＥＥＥ間の差は、その遮蔽の効果を示す。
【0027】
記載した方法では、試験予定の各遮蔽場所には、放射モジュールおよび受信アンテナ、例えば、放射モジュール１１６ａおよび受信アンテナ１１７ａが配置される。いくつかの変形例では、放射モジュールおよび受信アンテナは、ある試験場所から別の試験場所に移動してもよい。また、試験は、最初に遮蔽を設置した状態で実施し、その後撤去してもよいことに留意すべきである。
【0028】
図６を参照すると、本開示に係る、プラットフォームノイズフロアを推定するためのＥ３試験システム１００の非限定的な一実施形態が概略的に示されている。試験システム１００は、スペクトラムアナライザ１０２、１または複数のアンテナ１０８ａ，ｂ，ｃ、ＲＦ信号通信ネットワーク１１０、および汎用情報処理機器１１２を含んでもよい。これらの装置については既に説明した。
【0029】
図７を参照すると、図６の試験システム１００を用いて対象プラットフォームのＲＦノイズフロアを推定するＲＦノイズフロア推定方法３００を示すフローチャートが示されている。ステップ３０２では、図３に関連して記載したように、校正試験が行われてもよい。次に、基準値ＥＥＥが決定される。ステップ３０４では、特定の周波数範囲のために構成されたアンテナがプラットフォーム上に配置される。ステップ３０６では、スペクトラムアナライザ１０２を用いて周囲ＥＥＥが推定される。ステップ３０４および３０５は、異なる構成のアンテナを用いて繰り返されてもよい。ステップ３０６では、スペクトラムアナライザ１０２が記録を続けている間、プラットフォームの離散機器を所望の動作状態に通電する。ステップ３０８では、この周囲ＥＥＥデータを基準値データセットとしてコンパイルしてもよい。ステップ３０８は、ステップ３０４および３０６と同時に実施されてもよいことに留意すべきである。
【0030】
ステップ３１０では、プラットフォームに搭載された離散機器は所望の動作状態に通電され、その間に、ステップ３１２では、スペクトラムアナライザが定常状態のＥＥＥを確立できるまでＥＥＥデータを収集する。プラットフォーム１０の追加の離散機器は、順次通電されてもよい。スペクトラムアナライザ１０２は、各離散機器が通電動作状態になるにつれてＥＥＥデータを連続的に収集する。
【0031】
ステップ３１４では、離散機器はＥＥＥ干渉について試験されてもよい。各離散機器の動作周波数範囲は監視されてもよい。基本周波数、高調波、スプリアス発射などのパラメータは、記録／監視および分析され、ＥＭＩ発生源を特定してもよい。例えば、本システムは、機器の周波数範囲で見つけられた放射量に調整され、干渉のレベルを判断してもよい。
【0032】
非限定的な実施形態では、ステップ３１４は、発生源／影響先デバイス（または「発生源／被害者」）テストであってもよく、該テストは、複数のＲＦ依存デバイスの一群を信号通信ネットワークに接続するステップと、複数の捕捉アンテナを信号通信ネットワークに接続するステップと、リアルタイムスペクトラムアナライザを信号通信ネットワークに接続するステップと、リアルタイムスペクトラムアナライザおよび複数の捕捉アンテナを用いてプラットフォームにおける周囲電磁気状態を継続的に監視するステップと、ＲＦ発生源を動作させてＲＦ信号を送信するステップであって、該ＲＦ発生源が一群のうちのＲＦ依存デバイスの１つである、ＲＦ発生源を動作させるステップと、リアルタイムスペクトラムアナライザを用いて一群のうちの各ＲＦ依存デバイスの動作パラメータを推定するステップと、推定した動作パラメータと周囲電磁気状態とを用いて対象の信号を特定するステップと、対象の信号を用いて、影響を受けたＲＦ依存デバイスを特定するステップとを含んでもよい。
【0033】
上記の記載は、本開示の実施形態を対象とするが、その基本的な範囲から逸脱することなく、本開示の他の実施形態、および、さらなる実施形態を考案してもよく、本開示の範囲は、添付の特許請求の範囲によって定められる。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【国際調査報告】