特表 2024-518391 マルチヒンジ付きデバイスに対する負荷測定を行う方法及び装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2024-05-01

(54)【発明の名称】マルチヒンジ付きデバイスに対する負荷測定を行う方法及び装置

(51)【国際特許分類】

   G01M 99/00 20110101AFI20240423BHJP

【ＦＩ】

G01M99/00 Z

【審査請求】未請求

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2023568075

(86)(22)【出願日】2022-05-06

(85)【翻訳文提出日】2023-12-25

(86)【国際出願番号】 US2022028025

(87)【国際公開番号】W WO2022236019

(87)【国際公開日】2022-11-10

(31)【優先権主張番号】63/185,165

(32)【優先日】2021-05-06

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】17/737,386

(32)【優先日】2022-05-05

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(81)【指定国・地域】

【公序良俗違反の表示】

（特許庁注：以下のものは登録商標）

１．ＴＨＵＮＤＥＲＢＯＬＴ

(71)【出願人】

【識別番号】591203428

【氏名又は名称】イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド

(74)【代理人】

【識別番号】100099759

【弁理士】

【氏名又は名称】青木 篤

(74)【代理人】

【識別番号】100123582

【弁理士】

【氏名又は名称】三橋 真二

(74)【代理人】

【識別番号】100153729

【弁理士】

【氏名又は名称】森本 有一

(74)【代理人】

【識別番号】100211177

【弁理士】

【氏名又は名称】赤木 啓二

(72)【発明者】

【氏名】フィリップ レベスク

【テーマコード（参考）】

2G024

【Ｆターム（参考）】

2G024AD28

2G024BA11

2G024CA11

2G024DA09

2G024EA01

(57)【要約】

例示的なヒンジ付きデバイス可撓性基板試験システムは、試験対象のヒンジ付きデバイスの第１の部分を静止状態に保持するように構成される第１の表面を備える第１のプレートと、試験対象のヒンジ付きデバイスの第２の部分を保持するように構成される第２の表面を備える第２のプレートであって、ヒンジ付きデバイスの第２の部分は、第１の折り曲げ半径を有する第１のヒンジを介して第１の部分に結合される、第２のプレートと、試験対象のヒンジ付きデバイスの第３の部分を保持するように構成される第３の表面を備える第３のプレートであって、ヒンジ付きデバイスの第３の部分は、第２の折り曲げ半径を有する第２のヒンジを介して第１の部分に結合される、第３のプレートと、第２のプレートに結合される第１のカム従動子と、第１のカム従動子を移動させて、第２のプレートを、第１のヒンジの第１のヒンジ旋回軸の回りに回転させるように構成される第１の駆動アームと、第１の駆動アームを回転させるように構成される第１のアクチュエータと、第３のプレートに結合される第２のカム従動子と、第２のカム従動子を移動させて、第３のプレートを、第２のヒンジの第２のヒンジ旋回軸の回りに回転させるように構成される第２の駆動アームと、第２の駆動アームを回転させるように構成される第２のアクチュエータと、第１のアクチュエータが第２のプレートを移動させる間、第１のプレートに対する第１の負荷を測定するとともに、第２のアクチュエータが第３のプレートを移動させる間、第１のプレートに対する第２の負荷を測定するように構成されるロードセルとを備える。

【特許請求の範囲】

【請求項1】

ヒンジ付きデバイス試験システムであって、
試験対象のヒンジ付きデバイスの第１の部分を静止状態に保持するように構成された第１の表面を備える第１のプレートと、
前記試験対象のヒンジ付きデバイスの第２の部分を保持するように構成された第２の表面を備える第２のプレートであって、前記ヒンジ付きデバイスの前記第２の部分は、第１の折り曲げ半径を有する第１のヒンジを介して前記第１の部分に結合されている、第２のプレートと、
前記試験対象のヒンジ付きデバイスの第３の部分を保持するように構成された第３の表面を備える第３のプレートであって、前記ヒンジ付きデバイスの前記第３の部分は、第２の折り曲げ半径を有する第２のヒンジを介して前記第１の部分に結合されている、第３のプレートと、
前記第２のプレートに結合された第１のカム従動子と、
前記第２のプレートを前記第１のヒンジの第１のヒンジ旋回軸の回りに回転させるために前記第１のカム従動子を移動させるように構成された第１の駆動アームと、
前記第１の駆動アームを回転させるように構成された第１のアクチュエータと、
前記第３のプレートに結合された第２のカム従動子と、
前記第３のプレートを前記第２のヒンジの第２のヒンジ旋回軸の回りに回転させるために前記第２のカム従動子を移動させるように構成された第２の駆動アームと、
前記第２の駆動アームを回転させるように構成された第２のアクチュエータと、
前記第１のアクチュエータが前記第２のプレートを移動させる間に前記第１のプレートに対する第１の負荷を測定するとともに、前記第２のアクチュエータが前記第３のプレートを移動させる間に前記第１のプレートに対する第２の負荷を測定するように構成されたロードセルと、
を備える、ヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項2】

前記第１のカム従動子、前記第１の駆動アーム、及び前記第１のアクチュエータは、前記ヒンジ付きデバイスの前記第２の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の第１の側に向かって折り曲げるように構成されており、前記第２のカム従動子、前記第２の駆動アーム、及び前記第２のアクチュエータは、前記ヒンジ付きデバイスの前記第３の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の前記第１の側に向かって折り曲げるように構成されており、前記第２の折り曲げ半径は前記第１の折り曲げ半径よりも大きい、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項3】

更に、撓み部であって、前記第１のプレートを支持するように、かつ、前記ロードセルが負荷を測定するように構成された方向以外の方向における前記第１のプレートの移動を制限するように、かつ、前記試験対象のヒンジ付きデバイスから前記ロードセルへの負荷の伝達を許容するように、構成された撓み部を備える、請求項２に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項4】

前記ロードセルは、前記第１の負荷及び前記第２の負荷を測定するために前記第１のプレートに結合された複数のロードセルのうちの１つである、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項5】

前記第１のアクチュエータは、前記ロードセルが前記第１の負荷を測定する第１の期間中において前記第１の駆動アームを回転させるように構成され、前記第２のアクチュエータは、前記ロードセルが前記第２の負荷を測定する第２の期間中において前記第２の駆動アームを回転させるように構成され、前記第１の期間は前記第２の期間と重なっていない、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項6】

前記第１の駆動アームは、前記第１の駆動アームの第１のアーム旋回軸から半径方向に延びる第１のスロットを備え、前記第１のスロットは、前記第１の駆動アームが回転されるときに前記第１のカム従動子をガイドするように構成されている、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項7】

前記第２の駆動アームは第２のスロットを備え、前記第２の駆動アームの第２のアーム旋回軸は、前記第２のスロットを通って延びる線からオフセットされている、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項8】

前記第２のスロットは、前記第２の駆動アームが回転されるときに前記第２のカム従動子が前記第２のスロットに沿って自由に移動するのを許容するように構成されている、請求項７に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項9】

前記第１のカム従動子、前記第１の駆動アーム、及び前記第１のアクチュエータは、前記ヒンジ付きデバイスの前記第２の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の第１の側に向かって折り曲げるように構成されており、前記第２のカム従動子、前記第２の駆動アーム、及び前記第２のアクチュエータは、前記ヒンジ付きデバイスの前記第３の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の第２の側に向かって折り曲げるように構成されている、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項10】

撓み部であって、前記第１のプレートを支持するように、かつ、前記ロードセルが負荷を測定するように構成された方向以外の方向における前記第１のプレートの移動を制限するように、かつ、前記試験対象のヒンジ付きデバイスから前記ロードセルへの負荷の伝達を許容するように、構成された撓み部を更に備え、前記撓み部は、前記第１の駆動アーム及び前記第２の駆動アームの移動経路に関して前記第１のプレートに対し横方向に位置決めされている、請求項９に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項11】

更に、
前記第２のアクチュエータを前記第２の駆動アームに結合させるように構成されたシャフトと、
前記ヒンジ付きデバイスの前記第３の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の第２の側に向かって折り曲げるための第１の位置に前記シャフトを保持するように、かつ、前記ヒンジ付きデバイスの前記第３の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の第１の側に向かって折り曲げるための第２の位置に前記シャフトを保持するように、構成されたブラケットと、
を更に備え、
前記第１のカム従動子、前記第１の駆動アーム、及び前記第１のアクチュエータは、前記ヒンジ付きデバイスの前記第２の部分を前記ヒンジ付きデバイスの前記第１の部分の前記第１の側に向かって折り曲げるように構成されている、
請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項12】

前記ブラケットにおける前記シャフトの前記第１の位置は、前記第１の部分の前記第１の側にあり、前記ブラケットにおける前記シャフトの前記第２の位置は、前記第１の部分の前記第２の側にある、請求項１１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項13】

更に、第１のヒンジ支持プレートであって、前記第１のプレートとは別個に前記第１のヒンジの第１の側を保持するように構成された第１のヒンジ支持プレートを備える、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項14】

前記第２のプレートは、前記第１のヒンジの前記第２の側を保持するように構成されており、前記第１のヒンジは、前記第１のアクチュエータが前記第２のプレートを移動させるときに前記試験対象のヒンジ付きデバイスの前記第２の部分の折り曲げ経路を制御するようになっている、請求項１３に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項15】

前記ヒンジ支持プレート、前記第２のプレート、前記第１のプレート、前記第１の駆動アーム、及び前記第１のカム従動子は、折り曲げ及び展開中に前記ロードセルにかかる力を、前記折り曲げ及び展開中に前記第１のヒンジにより発生された力なしに、前記試験対象のヒンジ付きデバイスの力に制限するように構成されている、請求項１３に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【請求項16】

前記ロードセルが前記負荷を測定している間に、前記第１のアクチュエータは、前記第１の駆動アームを回転させるように構成されており、前記第２のアクチュエータは、前記第２の駆動アームを同時に回転させるように構成されている、請求項１に記載のヒンジ付きデバイス試験システム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

関連出願
本出願は、「ＭＥＴＨＯＤＳ ＡＮＤ ＡＰＰＡＲＡＴＵＳ ＴＯ ＰＥＲＦＯＲＭ ＬＯＡＤ ＭＥＡＳＵＲＥＭＥＮＴＳ ＯＮ ＭＵＬＴＩ－ＨＩＮＧＥＤ ＤＥＶＩＣＥＳ」と題する２０２１年５月６日に出願された米国仮特許出願第６３／１８５，１６５号の利益を主張する。米国仮特許出願第６３／１８５，１６５号の全体は、引用することにより明確に本開示の一部をなす。

【0002】

背景
本開示は、包括的には、材料試験に関し、より詳細には、マルチヒンジ付きデバイスに対する負荷測定を行う方法及び装置に関する。

【背景技術】

【0003】

組立体又は組立体の可動構成要素の信頼性試験は、構成要素の意図した及び／又は意図していない動きを繰り返し行って、定義された最小数の動きサイクルについて構成要素及び／又は組立体が確実に動作することを検証することを伴う場合がある。例えば、可撓性基板の信頼性試験は、デバイスの連続動作について試験し、及び／又は様々な故障モードをモニタリングしながら、１つ以上の方式で基板を繰り返し撓ませることを伴う場合がある。

【発明の概要】

【0004】

概要
マルチヒンジ付きデバイスに対する負荷測定を行う方法及び装置が、特許請求の範囲においてより完全に記載されるように、実質的に、図面のうちの少なくとも１つによって示され、これに関連して説明されるように開示される。

【0005】

図面の簡単な説明
本開示のこれらの特徴、態様、及び利点並びに他の特徴、態様、及び利点は、以下の詳細な説明が添付図面を参照して読まれるとより良好に理解され、図面を通して同様の参照符号は同様の部分を表す。

【図面の簡単な説明】

【0006】

【図1A-1B】本開示の態様に係る、マルチヒンジ付きデバイスであって、ヒンジがデバイスの同じ側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイスに対し機械的特性試験を行う例示的なヒンジ付きデバイス試験システムを示す図である。

【0007】

【図2A-2B】本開示の態様に係る、マルチヒンジ付きデバイスであって、ヒンジがデバイスの対向する側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイスに対し機械的特性試験を行う例示的なヒンジ付きデバイス試験システムを示す図である。

【0008】

【図3】図１のヒンジ付きデバイス試験システムの例示的な実施態様のブロック図である。

【0009】

【図4】マルチヒンジ付きデバイスであって、ヒンジがデバイスの同じ側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイスに対し負荷測定試験を行うように構成される図１Ａ及び図１Ｂのヒンジ付きデバイス試験システムの例示的な実施態様の斜視図である。

【0010】

【図5】マルチヒンジ付きデバイスであって、ヒンジがデバイスの対向する側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイスに対し負荷測定試験を行うように構成される図１Ａ及び図１Ｂのヒンジ付きデバイス試験システムの例示的な実施態様の斜視図である。

【0011】

【図6A-6C】図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５の駆動アームを実装するために使用することができる例示的な駆動アームの異なる向きの側面図である。

【0012】

【図7】図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システムを実装するために使用することができる、プレート、支持撓み部、及びロードセルの例示的な構成を示すブロック図である。

【0013】

【図8】図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システムの例示的な構成の上面図である。

【0014】

【図9A-9B】内三つ折り用に構成されるマルチヒンジ付きデバイスの図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システムの駆動アームの例示的な折り曲げ構成を示す図である。

【0015】

【図10A-10B】外三つ折り用に構成されるマルチヒンジ付きデバイスの図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システムの駆動アームの例示的な折り曲げ構成を示す図である。

【0016】

図面は、必ずしも正確な縮尺ではない。適切な場合は、同様の又は同一の参照番号を使用して、同様の又は同一の構成要素を指す。

【発明を実施するための形態】

【0017】

詳細な説明
可撓性標本は、しばしば、制約機構、例えば単純なヒンジ、二重ヒンジ、楕円機構、及び／又は他の形態の制約を有する組立体及び／又はデバイスを含む。従来の測定システムは、そのような制約機構を伴う可撓性標本と関連する力を特徴付けることが可能ではない。なぜなら、従来の測定システムは、標本に過剰な制約を付けることなくそのような標本を折り曲げることができない（結果として損傷する）、及び／又は、制約機構が生む反応力は、典型的には、可撓性材料標本が生む反応力よりも何桁も大きいからである。

【0018】

開示される例示的なヒンジ付きデバイス試験システムは、ヒンジ付きデバイス試験システム自体によってヒンジ付きデバイスに発生する追加の応力を低減又は最小化しながら、３つ以上のセクションについて複数のヒンジを有するヒンジ付きデバイスの反復的な応力試験及び／又は負荷測定を行う。例えば、いくつかの開示されるヒンジ付きデバイス試験システムにより、標本の制約デバイス（複数の場合もある）（例えば、ヒンジ（複数の場合もある））が標本の厳密な折り曲げ経路を決定することを可能にしながら、システムによって標本を折り曲げることが可能になり、それにより、最終的に意図する標本の使用時と同じ様式で標本を試験する。

【0019】

いくつかの開示されるヒンジ付きデバイス試験システムは、ヒンジ付きモバイル電子デバイス（例えば、スマートフォン）等のヒンジ付きデバイスの反復的折り曲げ（又は曲げ）及び展開を提供する固定具を備える。いくつかの例において、試験システムは、折り曲げ可能な基板にかかる力を測定する間、ヒンジ付きデバイスのヒンジが折り曲げ可能な基板の折り曲げ及び展開経路を制御するように構成される。開示される例は、ヒンジ付きデバイスの側部が共に折り曲げられる又は展開される際に、固定具がヒンジ付きデバイスのヒンジ（複数の場合もある）にかかる追加の力を生じないように、可動部品のガイド等の固定具を構成する。

【0020】

いくつかの例において、ヒンジ付きデバイス試験システムは、デバイスにかかる、ヒンジ付きデバイス試験システムを用いて測定される方向ではない力を制限する並進リンク機構を備える。一例として、並進リンク機構は、ヒンジ付きデバイスの測定される側部（複数の場合もある）にかかる横方向の力を、測定方向の力（例えば、ヒンジ付きデバイスの面に対し垂直な力、折り曲げに対するヒンジの抵抗と関連する力等）に変換することができる。

【0021】

ヒンジ付きデバイス試験システムの開示される例は、複数の動的な部分、すなわち可動部分と、静止した負荷測定部分とを備える。動的な部分の例としては、対応する駆動アームを関節運動させる回転シャフトが挙げられる。駆動アームはそれぞれ、カム従動子（例えば、軸受）が駆動アームに沿って半径方向に自由に移動するスロットを特徴とする。軸受はそれぞれ、共有取り付けプレートに固定され、共有取り付けプレートは、取り付けプレートに取り付けられるヒンジ付きデバイスの部分を動かす。静止した負荷測定部分は、動的側部と同じベースプレートに固定される。静止側部は、ヒンジ付きデバイスの別の部分が取り付けられる静的な静止取り付けプレートを特徴とする。いくつかの例において、静止取り付けプレートは、並列撓み部を用いてベースプレートの上方に懸架される。並列撓み部に加えて、ロードセル（例えば、対応するアダプター構成要素を含む）が静止取り付けプレートをベースプレートに接続する。

【0022】

いくつかの例において、静止側部は、負荷測定経路から結合解除される剛体の取り付け点も備え、ヒンジの力を低減又は抹消するようにヒンジの部分を取り付け点に取り付けることができる。標本の制約機構に剛体の取り付け点を設けることによって、開示される例は、制約機構と関連する反応力が負荷測定から隔離されることから、標本の折り曲げ力の高感度測定が可能である。

【0023】

開示される例示的なヒンジ付きデバイス試験システムは、ヒンジ、二重ヒンジ、及び未考案の機構を含む様々な制約機構に対応するのに十分な多用途性がある。開示される例は、調整をほとんど（例えば、２ｍｍの曲げ、３ｍｍの曲げ等）又は全くしなくても異なる標本サイズに対応することができる。開示される例は、標本を同じ駆動シャフトに接続することによって、複数の標本を一度に試験するように拡張することが可能である。さらに、開示される例示的な試験システムは安価である。

【0024】

いくつかの開示されるヒンジ付きデバイス試験システムは、内三つ折り（例えば、２つの外側セクションがどちらも、中央セクションの同じ側に向かって折り曲がる）及び外三つ折り（例えば、２つの外側セクションが、中央セクションの対向する側に向かって折り曲がる）を含む、異なる折り曲げ方向を有するヒンジ付きデバイスを試験及び／又は測定するように構成又は配置することができる。達成され得る互いに異なる折り曲げ形状に適応するために、固定構成要素、支持構成要素、及び／又は駆動構成要素は、相互の物理的干渉を回避するとともに、デバイスをガイドする運動を提供するように成形及び／又は位置決めすることができる。例えば、いくつかの開示されるヒンジ付き試験デバイスシステムにおいて、１つ以上の駆動アームは、駆動アームによって提供されるスロット又はガイド経路との位置合わせからオフセットされる回転中心又は旋回軸を有することができる。加えて又は代替的に、撓み部及び／又はロードセルは、試験対象のデバイス及び／又は駆動アームの運動経路と干渉することなく、正確な測定を提供するように位置決めすることができる。

【0025】

図１Ａ及び図１Ｂは、マルチヒンジ付きデバイス１０２に対して機械的特性試験を行う例示的なヒンジ付きデバイス試験システム１００を示している。例示的なマルチヒンジ付きデバイス１０２は、ヒンジ付きデバイス１０２の少なくとも第１の部分１０６、第２の部分１０８、及び第３の部分１１０を少なくとも部分的に折り曲げることを可能にする２つ以上のヒンジ１０４ａ、１０４ｂを有する電子デバイス又は他のデバイスとすることができる。図１Ａの例において、マルチヒンジ付きデバイス１０２の第２の部分１０８及び第３の部分１１０は、両方の部分１０８、１１０が中央部分１０６の同じ側に向かって折り曲がる内三つ折り構成で折り曲がるように構成される。

【0026】

図１Ａ及び図１Ｂのシステム１００は、ヒンジ付きデバイス１０２を反復的に折り曲げ及び展開して、折り曲げ及び展開と関連する力（例えば、抵抗力、スプリング力等）を測定するように構成される。第２の部分１０８及び第３の部分１１０の折り曲げ力を別々に測定するために、例示的なシステム１００は、部分１０８を折り曲げながら力を測定し、その後、部分１１０を測定しながら力を測定するように制御することができる。図１Ａは、マルチヒンジ付きデバイス１０２と第２の部分１０８の折り曲げ経路とを示し、図１Ｂは、第２の部分１０８が既に折り曲げ位置にある状態のマルチヒンジ付きデバイス１０２と第３の部分１１０の折り曲げ経路とを示している。

【0027】

例示的なシステム１００は、第１のプレート１１２と、第２のプレート１１４と、第３のプレート１１６と、第２のプレート１１４に結合された１つ以上の第１のカム従動子１１８と、第３のプレート１１６に結合された１つ以上の第２のカム従動子１２０と、１つ以上の第１の駆動アーム１２２と、１つ以上の第２の駆動アーム１２４と、１つ以上の第１の駆動アーム１２２を駆動するように構成される第１のアクチュエータ１２６と、１つ以上の第２の駆動アーム１２４を駆動するように構成される第２のアクチュエータ１２８と、１つ以上のロードセル１３０と、並進リンク機構１３２とを備える。システム１００は、追加の特徴部、例えば、構造支持体又はフレーム、処理回路部、通信及び／又は入力／出力（Ｉ／Ｏ）回路部、及び／又は他の任意の構成要素を備えることができる。

【0028】

第１のプレート１１２は、ヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６が取り付けられる又は固定される第１の表面１３４を有し、第１の表面１３４に対して静止状態に保持される。第２のプレート１１４は、ヒンジ付きデバイス１０２の第２の部分１０８が取り付けられる又は固定される第２の表面１３６を有し、第２の表面１３６に対して静止状態に保持される。第３のプレート１１６は、ヒンジ付きデバイス１０２の第３の部分１０８が取り付けられる又は固定される第３の表面１３８を有し、第３の表面１３８に対して静止状態に保持される。プレート１１２、１１４、１１６の隣り合うものは、ヒンジ１０４ａ、１０４ｂによって橋架されるそれぞれの間隙によって分離される。

【0029】

図１Ａに示すように、第１の駆動アーム（複数の場合もある）１２２は、対応するカム従動子（複数の場合もある）１１８を動かして、第２のプレート１１４を、ヒンジ付きデバイス１０２のヒンジ１０４ａの旋回軸の回りに回転させる。アクチュエータ１２６は、駆動アーム（複数の場合もある）１２２を回転させて、第２のプレート１１４が、ヒンジ付きデバイス１０２の第２の部分１０８を第１の位置（実線で示す）から、折り曲げ位置（破線で示す）における第１の部分１０６に向かって動かすようにする。駆動アーム（複数の場合もある）１２２は、システム１００が、第２のプレート１１４又は駆動アーム（複数の場合もある）１２２の重量によってヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６にかかる力を制限又は抹消するように、駆動アーム（複数の場合もある）１２２によって画定されるスロット（複数の場合もある）に沿ったカム従動子（複数の場合もある）１１８の運動を可能にし、これにより、ヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６にかかる測定される力は、ヒンジ１０４ａの作動によって完全に決定されるようになっている。

【0030】

いくつかの例において、アクチュエータ１２６は、駆動アーム（複数の場合もある）１２２に取り付けられ、駆動アーム（複数の場合もある）１２２の旋回軸（ｐｉｖｏｔ）の回りに駆動アーム（複数の場合もある）１２２を回転させるモータとすることができる。加えて又は代替的に、駆動アーム（複数の場合もある）１２２は、手動で作動させることができる。

【0031】

図１Ｂに示すように、第２の部分１０８が折り曲げ位置にあるとき、第２の駆動アーム（複数の場合もある）１２４は、対応するカム従動子（複数の場合もある）１２０を動かして、第３のプレート１１６を、ヒンジ付きデバイス１０２のヒンジ１０４ｂの旋回軸の回りに回転させる。アクチュエータ１２８は、第２の駆動アーム（複数の場合もある）１２４を回転させて、第３のプレート１１６が、ヒンジ付きデバイス１０２の第３の部分１１０を第１の位置（実線で示す）から、折り曲げ位置（破線で示す）における第１の部分１０６に向かって動かすようにする。駆動アーム（複数の場合もある）１２４は、システム１００が、第３のプレート１１６又は駆動アーム（複数の場合もある）１２４の重量によってヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６にかかる力を制限又は抹消するように、駆動アーム（複数の場合もある）１２４によって画定されるスロット（複数の場合もある）に沿ったカム従動子（複数の場合もある）１２０の運動を可能にし、これにより、ヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６にかかる測定される力は、ヒンジ１０４ｂの作動によって完全に決定されるようになっている。

【0032】

いくつかの例において、アクチュエータ１２８は、駆動アーム（複数の場合もある）１２４に取り付けられ、駆動アーム（複数の場合もある）１２４の旋回軸の回りに駆動アーム（複数の場合もある）１２４を回転させるモータとすることができる。

【0033】

ロードセル１３０は、アクチュエータ１２６が第２のプレート１１４を動かしている間、及びアクチュエータ１２８が第３のプレート１１６を動かしている間、第１のプレート１１２に対する負荷を測定する。特に、ロードセル１３０は、第１のプレート１１２に対しヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６によって加えられる負荷を測定することによって、ヒンジ付きデバイス１０２が折り曲げられる際のヒンジ付きデバイス１０２に対する応力（例えば、折り曲げ力）を測定する。

【0034】

並進リンク機構１３２は、ロードセル１３０が第１のプレート１１２によって負荷をかけられる方向以外の方向における第１のプレート１１２の動きを制限する。例えば、ロードセル１３０が、第１の表面１３４の平面に対し垂直な方向における負荷を測定するように構成される場合、並進リンク機構１３２は、負荷が第１のプレート１１２からロードセル１３０に伝達されることを可能にしながら、第１の表面１３４の平面に対し平行な方向における第１のプレート１１２の動きを制限する。例示的な並進リンク機構１３２は、ロードセル１３０に対し固定されたフレームに結合された１つ以上の４バーリンク機構を含むことができる。いくつかの他の例において、並進リンク機構１３２は、１つ以上の撓み部を備える。いくつかの例において、並進リンク機構１３２は、ロードセル１３０の過負荷を阻止するように、ロードセル１３０に向かう方向において更に制限される。例えば、停止点は、この停止点を越えてロードセル１３０に向かう４バーリンク機構（複数の場合もある）及び第１のプレート１１２の動きを阻止するように、フレームに取り付けることができる。

【0035】

動作時に、例示的なロードセル１３０は、試験測定値から予荷重を減算するために、ヒンジ付きデバイス１０２を第１のプレート１１２、第２のプレート１１２、及び第３のプレート１１４に固定した後にバイアス又はオフセットすることができる。例えば、ロードセル１３０にかかる予荷重は、第１のプレート１１２の重量、並進リンク機構１３２の重量、及び／又は第１のプレート１１２におけるヒンジ付きデバイス１０２の第１の部分１０６及び／又はヒンジ１０４ａ、１０４ｂの重量に起因して生じる場合がある。ロードセル１３０にかかる予荷重を求めることによって、ロードセル１３０は、折り曲げ及び展開中にヒンジ付きデバイス１０２にかかる応力を測定するように較正又はオフセットすることができる。

【0036】

図２Ａ及び図２Ｂは、マルチヒンジ付きデバイス２０２であって、ヒンジ２０４ａ、２０４ｂがデバイス２０２の対向する側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイス２０２に対し機械的特性試験を行う例示的なヒンジ付きデバイス試験システム２００を示している。図１Ａ及び図１Ｂのマルチヒンジ付きデバイス１０２と同様、例示的なマルチヒンジ付きデバイス２０２は、第１の部分２０６と、第１のヒンジ２０４ａを介して第１の部分２０６に接続される第２の部分２０８と、第２のヒンジ２０４ｂを介して第１の部分に接続される第３の部分２１０とを備える。しかしながら、例示的な第３の部分２１０は、第１の部分２０６の第２の部分２０８とは反対側に折り曲がるように構成される（例えば、外三つ折り）。

【0037】

図２Ａ及び図２Ｂの例示的なシステム２００は、第３のプレート１１６が、デバイス２０２の第３の部分２１０の異なる側に接続して、第３の部分２１０を第１の部分２０６の第２の部分２０８とは反対側に向かって折り曲げるように構成されることを除いて、図１Ａ及び図１Ｂの例示的なシステム１００と同様である。

【0038】

図２Ａ及び図２Ｂの例において、ロードセル１３０は、第２の部分２０８を第１の部分２０６の第１の側に向かって折り曲げるときの第１の方向における負荷を測定し、第３の部分２１０を第１の部分２０６の第２の側に向かって折り曲げるときの第２の方向における負荷を測定するように構成することができる。

【0039】

図３は、図１Ａ、図１Ｂ、図２Ａ、及び／又は図２Ｂのヒンジ付きデバイス試験システム１００、２００の例示的な実施態様のブロック図である。図３に示すように、ヒンジ付きデバイス試験システム１００は、試験用取り付け具３０１及びコンピューティングデバイス３０２を備える。

【0040】

例示的なコンピューティングデバイス３０２は、汎用コンピュータ、ラップトップコンピュータ、タブレットコンピュータ、モバイルデバイス、サーバ、オールインワンコンピュータ、及び／又は他の任意のタイプのコンピューティングデバイスとしてもよい。図３のコンピューティングデバイス３０２は、プロセッサ３０３を備え、プロセッサ３０３は、汎用中央処理装置（ＣＰＵ：ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）とすることができる。いくつかの例において、プロセッサ３０３は、ＦＰＧＡ、ＡＲＭコアを有するＲＩＳＣプロセッサ、画像処理装置、デジタル信号プロセッサ、及び／又はシステムオンチップ（ＳｏＣ）等の１つ以上の専用処理装置を含むことができる。プロセッサ３０３は、プロセッサにおいて（例えば、内蔵キャッシュ又はＳｏＣに）、ランダムアクセスメモリ３０６（又は他の揮発性メモリ）に、リードオンリメモリ３０８（又はフラッシュメモリ等の他の不揮発性メモリ）に、及び／又はマスストレージデバイス３１０にローカルに記憶することができる機械可読命令３０４を実行する。例示的なマスストレージデバイス３１０は、ハードドライブ、ソリッドステートストレージドライブ、ハイブリッドドライブ、ＲＡＩＤアレイ、及び／又は他の任意のマスデータストレージデバイスとしてもよい。バス３１２は、プロセッサ３０３、ＲＡＭ３０６、ＲＯＭ３０８、マスストレージデバイス３１０、ネットワークインターフェース３１４、及び／又は入力／出力インターフェース３１６間の通信を可能にする。

【0041】

例示的なネットワークインターフェース３１４は、コンピューティングデバイス３０２を、インターネット等の通信ネットワーク３１８に接続するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、ネットワークインターフェース３１４は、通信を送信及び／又は受信するために、ＩＥＥＥ ８０２．Ｘ準拠無線及び／又は有線通信ハードウェアを含むことができる。

【0042】

図３の例示的なＩ／Ｏインターフェース３１６は、プロセッサ３０３に入力を提供する及び／又はプロセッサ３０３から出力を提供するために、１つ以上の入力／出力デバイス３２０をプロセッサ３０３に接続するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、Ｉ／Ｏインターフェース３１６は、ディスプレイデバイスとインターフェース接続する画像処理装置、１つ以上のＵＳＢ準拠デバイスとインターフェース接続するユニバーサルシリアルバスポート、ＦｉｒｅＷｉｒｅ（登録商標）、フィールドバス、及び／又は他の任意のタイプのインターフェースを含んでもよい。例示的な伸び計システム１０は、Ｉ／Ｏインターフェース３１６に結合されたディスプレイデバイス３２４（例えば、ＬＣＤスクリーン）を備える。他の例示的なＩ／Ｏデバイス（複数の場合もある）３２０は、キーボード、キーパッド、マウス、トラックボール、ポインティングデバイス、マイクロフォン、オーディオスピーカ、ディスプレイデバイス、光メディアドライブ、マルチタッチタッチスクリーン、ジェスチャー認識インターフェース、磁気メディアドライブ、及び／又は他の任意のタイプの入力及び／又は出力デバイスを含んでもよい。

【0043】

コンピューティングデバイス３０２は、Ｉ／Ｏインターフェース３１６及び／又はＩ／Ｏデバイス（複数の場合もある）３２０を介して非一時的機械可読媒体３２２にアクセスすることができる。図８の機械可読媒体３２２の例は、光ディスク（例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）、デジタルバーサタイル／ビデオディスク（ＤＶＤ）、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標）ディスク等）、磁気メディア（例えば、フロッピーディスク）、ポータブル記憶媒体（例えば、ポータブルフラッシュドライブ、セキュアデジタル（ＳＤ）カード等）、及び／又は他の任意のタイプの取り外し可能及び／又はインストール済み機械可読媒体を含む。

【0044】

試験用取り付け具３０１は、コンピューティングデバイス３０２に結合される。図３の例において、試験用取り付け具３０１は、ＵＳＢポート、Ｔｈｕｎｄｅｒｂｏｌｔポート、ＦｉｒｅＷｉｒｅ（登録商標）（ＩＥＥＥ １３９４）ポート、及び／又は他の任意のタイプのシリアル又はパラレルデータポート等のＩ／Ｏインターフェース３１６を介して、コンピューティングデバイスに結合される。いくつかの例において、試験用取り付け具３０１は、直接又はネットワーク３１８を介して、有線又は無線接続（例えば、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ、Ｗｉ－Ｆｉ等）を介してネットワークインターフェース３１４及び／又はＩ／Ｏインターフェース３１６に結合される。

【0045】

試験用取り付け具３０１は、フレーム３２８と、ロードセル３３０と、材料固定具３３６と、制御プロセッサ３３８とを備える。フレーム３２８は、試験を行う試験用取り付け具３０１の他の構成要素に剛体の構造支持体を提供する。ロードセル３３０は、図１Ａ、図１Ｂ、図２Ａ、及び／又は図２Ｂのロードセル１３０を実装することができ、把持部３４８（例えば、プレート１１２、１１４、１１６）を介してアクチュエータ３４６によって試験対象の材料（例えば、ヒンジ付きデバイス１０２）に加えられた力を測定する。

【0046】

アクチュエータ３４６は、把持部３４８が試験対象の材料を把持するか又は他の形でアクチュエータ３４６に結合している間、試験対象の材料に力を加え、及び／又は試験対象の材料の変位を強制する。

【0047】

試験用取り付け具３０１の構成要素に力及び／又は運動を与えるのに用いることができる例示的なアクチュエータは、電気モータ、空気圧アクチュエータ、油圧アクチュエータ、圧電アクチュエータ、中継器及び／又はスイッチを含む。例示的な試験用取り付け具３０１は、サーボモータ又は直接駆動リニアモータ等のモータを用いるが、他のシステムは、異なるタイプのアクチュエータを用いてもよい。例えば、システムの要件に基づいて、油圧アクチュエータ、空気圧アクチュエータ、及び／又は任意の他のタイプのアクチュエータを用いてもよい。

【0048】

例示的な把持部３３６は、試験されている機械的特性及び／又は試験対象の材料に依拠して、プラテン、クランプ及び／又は他のタイプの固定具を含む。把持部３３６は、手動で構成し、手動入力によって制御し、及び／又は制御プロセッサ３３８によって自動的に制御することができる。

【0049】

試験システム１００は、１つ以上の入力デバイス３５２を含む１つ以上の制御パネル３５０を更に備えることができる。入力デバイス３５２は、オペレータ制御パネル上に位置するボタン、スイッチ及び／又は他の入力デバイスを含むことができる。例えば、入力デバイス３５２は、把持部３４８を所望の位置まで押す（ｊｏｇ）（例えば、位置決めする）ようにアクチュエータ３４２を制御するボタン、把持部３４８を（例えば、別のアクチュエータを介して）開閉するように制御するスイッチ（例えば、フットスイッチ）、及び／又は、試験用取り付け具３０１の動作を制御する任意の他の入力デバイスを含んでもよい。

【0050】

例示的な制御プロセッサ３３８は、コンピューティングデバイス３０２と通信して、例えばコンピューティングデバイス３０２から試験パラメータを受信し、及び／又は、測定値及び／又は他の結果をコンピューティングデバイス３０２に報告する。例えば、制御プロセッサ３３８は、コンピューティングデバイス３０２との通信を可能にする１つ以上の通信又はＩ／Ｏインターフェースを備えることができる。制御プロセッサ３３８は、所与の方向に動き、及び／又はアクチュエータ３４６の速度を制御するようにアクチュエータ３４６を制御し、試験対象の材料を把持又は解放するように固定具（複数の場合もある）３３６を制御し、及び／又は、変位トランスデューサ３３２、ロードセル３３０及び／又は他のトランスデューサから測定値を受信することができる。

【0051】

例示的な制御プロセッサ３３８は、試験標本（例えば、ヒンジ付きデバイス１０２）が試験用取り付け具３０１における試験を受ける反復運動試験プロセスを実施するように構成される。例えば、一連の折り曲げ及び展開運動中又はその後のヒンジ付きデバイス１０２に対する応力を測定するために、制御プロセッサ３３８は、ロードセル３３０をモニタリングしてヒンジ付きデバイス１０２に対する応力を測定しながら、アクチュエータ３４６を、把持部３４８（例えば、第１のプレート１１２、第２のプレート１１４、及び第３のプレート１１６）を動かすように制御する。いくつかの例において、制御プロセッサ３３８は、アクチュエータ３４６のモータエンコーダをモニタリングして、折り曲げ角を求め、及び／又はパルスあたりの折り曲げの度合いの比を確立する。

【0052】

図４は、マルチヒンジ付きデバイスであって、ヒンジがデバイスの同じ側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイスに対し負荷測定試験を行うように構成される図１Ａ及び図１Ｂのヒンジ付きデバイス試験システム１００の例示的な実施態様の斜視図である。図４の例において、並進リンク機構１３２は、ブラケット４０４に取り付けられる複数の撓み部４０２を備え、ブラケット４０４は、撓み部４０２を所望の高さで支持する。例示的なシステム１００は、図４にはマルチヒンジ付きデバイス１０２なしで示されている。

【0053】

図５は、マルチヒンジ付きデバイス２０２であって、ヒンジがデバイスの対向する側に向かって折り曲がる、マルチヒンジ付きデバイス２０２に対し負荷測定試験を行うように構成される図２Ａ及び図２Ｂのヒンジ付きデバイス試験システム２００の例示的な実施態様の斜視図である。図５に示すように、並進リンク機構１３２（例えば、撓み部４０２及びブラケット４０４）及びロードセル（複数の場合もある）１３０は、並進リンク機構１３２及びロードセル（複数の場合もある）１３０が第２のプレート１１６の運動経路と干渉しないように、第１のプレート１１２の側に位置決めされる。第１のプレート１１２は、第１のプレートを撓み部４０２及び／又はロードセル（複数の場合もある）１３０に結合する延長部５０２を備えることができる。

【0054】

図５の例は、別のブラケット５０４を介して旋回駆動アーム１２４の旋回点の位置を変更することによって、図１Ａ、図１Ｂ、図２Ａ、及び図２Ｂの例示的な試験システム１００、２００のいずれかを実装することができる。上方位置５０６を使用することによって、駆動アーム１２４は、外三つ折りデバイスを試験するように構成される（例えば、システム２００）。対照的に、下方位置５０８を使用することによって、駆動アーム１２４は、内三つ折りデバイスを試験するように構成される（例えば、システム１００）。図５の例においては、複数のアクチュエータ１２８及び対応するシャフトが第３のプレート１１６を駆動するものとして示されているが、所与の構成においては、図示のアクチュエータ１２８のうちの一方のみが使用される。

【0055】

図５に示すように、駆動アーム５１０は、アクチュエータ１２８に結合され、第３のプレート１１６に取り付けられるカム従動子５１２を介して第３のプレート１１６を回転させることができる。駆動アーム５１０は、第３のプレート１１６の回転軸を試験対象のデバイスと位置合わせするようにオフセットされる（例えば、Ｌ字形状である）。

【0056】

図６Ａ～図６Ｃは、図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５の駆動アーム１２２、１２４を実装するために使用することができる例示的な駆動アーム６０２の異なる向きと、カム従動子１１８、１２０に取り付けられる第２のプレート１１４又は第３のプレート１１６の対応する向きとの側面図を示している。例示的な駆動アーム６０２は、駆動アーム旋回軸６０４を有し、プレート１１４、１１６は、マルチヒンジ付きデバイス１０２、２０２のヒンジ旋回軸によって制御されるプレート旋回軸６０６を有する。

【0057】

図７は、図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システム１００、２００を実装するために使用することができる、プレート、支持撓み部、及びロードセルの例示的な構成を示すブロック図である。図８は、図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システムの例示的な構成の上面図である。

【0058】

図８に示すように、中央プレート１１２は、撓み部４０２及び撓み部取り付けブラケット４０４によって両側において支持されてもよく、撓み部４０２及び撓み部取り付けブラケット４０４は、撓み部４０２を折り曲げプレート１１４、１１６の折り曲げ経路の外に位置付けるように、中央プレート１１２の延長部５０２（例えば、タブ）に結合される。同様に、図８の例は、中央プレート１１２の各側に、折り曲げ中の中央プレート１１２にかかる力を正確に測定するためにロードセル１３０を備える。

【0059】

例示的なアクチュエータ１２６、１２８は、それぞれのシャフト８０２、８０４を介してプレート１１４、１１６の片側で駆動アーム１２２、１２４を旋回させるように結合することができる。

【0060】

図９Ａ及び図９Ｂは、内三つ折り用に構成されるマルチヒンジ付きデバイスの図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システム１００の駆動アーム１２２、１２４の例示的な折り曲げ構成を示している。

【0061】

図１０Ａ及び図１０Ｂは、外三つ折り用に構成されるマルチヒンジ付きデバイスの図１Ａ～図２Ｂ、図４、及び／又は図５のヒンジ付きデバイス試験システム２００の駆動アーム１２２、１２４の例示的な折り曲げ構成を示している。

【0062】

本方法及びシステムは、ハードウェア、ソフトウェア、及び／又はハードウェア及びソフトウェアの組み合わせで実現することができる。本方法及び／又はシステムは、少なくとも１つのコンピューティングシステムにおいて集中的に、又はいくつかの相互接続されたコンピューティングシステムにわたって異なる要素が分散される分散的に、実現することができる。本開示で記載した方法を実行するように適合された任意の種類のコンピューティングシステム又は他の装置が適している。ハードウェア及びソフトウェアの典型的な組み合わせは、汎用コンピューティングシステムを、ロードされ実行されるとコンピューティングシステムを本開示で記載した方法を実行するように制御するプログラム又は他のコードとともに、含むことができる。別の典型的な実施態様は、特定用途向け集積回路又はチップを含むことができる。いくつかの実施態様は、非一時的機械可読（例えば、コンピュータ可読）媒体（例えば、フラッシュドライブ、光ディスク、磁気記憶ディスク等）を含むことができ、そうした非一時的機械可読媒体は、機械によって実行可能なコードの１つ以上のラインを記憶し、それにより、機械に、本開示で記載したようなプロセスを実施させる。本開示において使用される場合、「非一時的機械可読媒体」という用語は、全てのタイプの機械可読記憶媒体を含み、伝播信号を排除するように定義される。

【0063】

本開示において使用される場合、「回路」及び「回路部」という用語は、物理的な電子構成要素（すなわち、ハードウェア）と、ハードウェアを構成することができ、ハードウェアが実行することができ、及び／又は他の方法でハードウェアに関連付けることができる、任意のソフトウェア及び／又はファームウェア（「コード」）とを指す。本開示において使用される場合、例えば特定のプロセッサ及びメモリは、コードの第１の１つ以上のラインを実行しているとき、第１の「回路」を含むことができ、コードの第２の１つ以上のラインを実行しているとき、第２の「回路」を含むことができる。本開示において使用される場合、「及び／又は」は、「及び／又は」によって連結されるリストにおける項目のうちの任意の１つ以上の項目を意味する。一例として、「ｘ及び／又はｙ」は、３つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｘ，ｙ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ及び／又はｙ」は、「ｘ及びｙのうちの一方又は両方」を意味する。別の例として、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、７つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｚ），（ｘ，ｙ），（ｘ，ｚ），（ｙ，ｚ），（ｘ，ｙ，ｚ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、「ｘ、ｙ及びｚのうちの１つ以上」を意味する。本開示において使用される場合、「例示的な」という用語は、非限定的な例、事例又は例証としての役割を果たすことを意味する。本開示において使用される場合、「例えば」という用語は、１つ以上の非限定的な例、事例又は例証のリストを開始する。本開示において使用される場合、回路部は、或る機能を実施するために必要なハードウェア及びコード（いずれかが必要である場合）を含む場合はいつでも、その機能の実施が（例えば、ユーザーが構成可能な設定、工場トリム等により）無効にされる又は有効にされていないか否かにかかわらず、回路部はその機能を実行するように「動作可能」である。

【0064】

本方法及び／又はシステムを、或る特定の実施態様を参照して記載してきたが、当業者であれば、本方法及び／又はシステムの範囲から逸脱することなく、種々の変更を行うことができること及び均等物に置き換えることができることを理解するであろう。例えば、開示した例のブロック及び／又は構成要素を、組み合わせ、分割し、再配置し、及び／又は他の方法で変更することができる。加えて、本開示の範囲から逸脱することなく、本開示の教示に対し特定の状況又は材料を適合させるように多くの改変を行うことができる。したがって、本方法及び／又はシステムは、開示されている特定の実施態様に限定されない。代わりに、本方法及び／又はシステムは、字義どおりにでも均等論のもとにおいても、添付の特許請求の範囲内に入る全ての実施態様を含む。

【図1A-1B】

【図2A-2B】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6A】

【図6B】

【図6C】

【図7】

【図8】

【図9A】

【図9B】

【図10A】

【図10B】

【国際調査報告】