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特表2024-530233キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイス
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-08-16
(54)【発明の名称】キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイス
(51)【国際特許分類】
   H01L 21/60 20060101AFI20240808BHJP
【FI】
H01L21/92 602D
H01L21/92 604B
H01L21/60 311Q
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2024509111
(86)(22)【出願日】2022-06-30
(85)【翻訳文提出日】2024-02-15
(86)【国際出願番号】 US2022035751
(87)【国際公開番号】W WO2023027811
(87)【国際公開日】2023-03-02
(31)【優先権主張番号】17/409,334
(32)【優先日】2021-08-23
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】595020643
【氏名又は名称】クゥアルコム・インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】QUALCOMM INCORPORATED
(74)【代理人】
【識別番号】110003708
【氏名又は名称】弁理士法人鈴榮特許綜合事務所
(72)【発明者】
【氏名】チェン、イージェン
(72)【発明者】
【氏名】シュ、フン-ユエン
(72)【発明者】
【氏名】ヘー、ドンミン
【テーマコード(参考)】
5F044
【Fターム(参考)】
5F044KK01
5F044LL01
5F044QQ02
5F044QQ04
(57)【要約】
集積デバイス(例えば、フリップチップ)(100)であって、複数のパッド(107a、107b)と、複数のパッド(107a、107b)に結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続(109a、109b)とを備えるダイ部分と、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続(109a、109b)に結合された複数のピラー相互接続(104a、104b)とを備え、ここにおいて、複数のピラー相互接続(104a、104b)は、第1のキャビティ(209)を備える第1のピラー相互接続(104a)と、第2のキャビティ(209)を備える第2のピラー相互接続(104b)とを備える、集積デバイス。キャビティ(209)は、ピラー相互接続(104a、104b)の高さに部分的に沿って延在し得る。ピラー相互接続(104a、104b)のキャビティ(209)を通って延在する平面断面は、O形状を備え得る。複数のはんだ相互接続(106a、106b)は、複数のピラー相互接続(104a、104b)に結合され得、ピラー相互接続(104a、104b)のキャビティ(209)内に配置されるはんだ相互接続(106a、106b)を備え得る。ピラー相互接続(104a、104b)は、第1の幅を備える第1のピラー相互接続部(204)と、第1の幅とは異なる(例えば、より小さい)第2の幅を備える第2のピラー相互接続部(206)とを備え得、ここにおいて、ピラー相互接続(104a、104b)のキャビティ(209)は、第2のピラー相互接続部(206)に配置され得る。ピラー相互接続(104a、104b)は、シルクハットの形状を備え得る。集積デバイス(100)を製造するための方法(700)は、ダイ部分(102)を提供することと、複数のピラー相互接続(104)を形成することを備え得る。複数のピラー相互接続(104)を形成することは、ダイ部分(102)の上に第1のフォトレジスト層(600)を形成し、パターニングすることと、第1のピラー相互接続部(602)(例えば、リング形状)を形成することと、第1のフォトレジスト層(600)を除去することと、ダイ部分(102)の上に第2のフォトレジスト層(610)を(例えば、リング形状の第1の相互接続部(602)の内径と外径との間の直径を有する円形パターンで)形成し、パターニングすることと、第1のキャビティ(209)が第2のピラー相互接続部内に形成されるように、第1のピラー相互接続部(602)の上に第2のピラー相互接続部を形成することとを備え得る。複数のピラー相互接続(104)を形成することは、ピラー相互接続(104)のキャビティ(209)の上にはんだ相互接続(106)を形成することをさらに備え得る。第2のフォトレジスト層(610)は、第1のはんだ相互接続(106)の形成後に除去され得る。その後、アンダーバンプメタライゼーション層(109)の部分は除去され得、複数のはんだ相互接続(106)はリフローされ得る。パッケージ(400)は、基板(402)と、複数のピラー相互接続(104a、104b)および複数のはんだ相互(106a、106b)を通して基板(402)に結合された集積デバイス(100)とを備える。はんだ相互接続(106a、106b)は、金属間化合物(IMC)(406a、406b)を備え得、それは、集積デバイス(100)を基板(402)に結合するために使用されるはんだリフロープロセス時に、基板相互接続(422a、422b)および/またはピラー相互接続(104a、104b)からの金属がはんだ相互接続(106a、106b)において拡散するときに形成され得る。キャビティ(209)は、はんだ相互接続(106a、106b)が結合するためのより大きな表面積を可能にし、したがって、集積デバイス(100)と基板(402)との間のよりロバストで信頼性の高い接合部を提供する。キャビティ(209)はまた、基板(402)の隣接する相互接続(104a、104b)間の短絡を引き起こすことなく、より多くのはんだ相互接続(106a、106b)がピラー相互接続(104a、104b)と基板(402)との間(106a、106b)に配置されることを可能にし得る。
【選択図】図5
【特許請求の範囲】
【請求項1】
集積デバイスであって、
複数のパッドと、
前記複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と
を備えるダイ部分と、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に結合された複数のピラー相互接続と、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える、
を備える、集積デバイス。
【請求項2】
前記複数のピラー相互接続に結合された複数のはんだ相互接続をさらに備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項3】
前記複数のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、請求項2に記載の集積デバイス。
【請求項4】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項5】
前記第1のピラー相互接続は、
第1の幅を備える第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と
を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項6】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティは、前記第2のピラー相互接続部に配置される、請求項5に記載の集積デバイス。
【請求項7】
前記第1のキャビティは、前記第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項8】
前記第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項9】
前記集積デバイスは、フリップチップを備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項10】
前記ダイ部分は、
ダイ基板と、
前記ダイ基板内および/または前記ダイ基板上に形成された複数のトランジスタと
を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項11】
パッケージであって、
基板と、
複数のピラー相互接続および複数のはんだ相互接続を通して前記基板に結合された集積デバイスと、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える、
を備える、パッケージ。
【請求項12】
前記複数のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項13】
前記第1のはんだ相互接続は、金属間化合物(IMC)を備える、請求項12に記載のパッケージ。
【請求項14】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項15】
前記第1のピラー相互接続は、
第1の幅を備える第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と
を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項16】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティは、前記第2のピラー相互接続部に配置される、請求項15に記載のパッケージ。
【請求項17】
前記複数のピラー相互接続は、前記集積デバイスの一部である、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項18】
前記第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項19】
前記パッケージは、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテイメントユニット、ナビゲーションデバイス、通信デバイス、モバイルデバイス、モバイルフォン、スマートフォン、携帯情報端末、固定位置ターミナル、タブレットコンピュータ、コンピュータ、ウェアラブルデバイス、ラップトップコンピュータ、サーバ、モノのインターネット(IoT)デバイス、および自動車車両内のデバイスから成るグループから選択されたデバイスの一部である、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項20】
集積デバイスを製造するための方法であって、
複数のパッドと、
前記複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と
を備えるダイ部分を提供することと、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続の上に複数のピラー相互接続を形成することと、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続を形成することは、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を形成することを備える、
を備える、方法。
【請求項21】
前記複数のピラー相互接続を形成することは、
前記ダイ部分の上に第1のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、
第1のピラー相互接続部を形成することと、
前記第1のフォトレジスト層を除去することと、
前記ダイ部分の上に第2のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、
前記第1のキャビティが第2のピラー相互接続部内に形成されるように、前記第1のピラー相互接続部の上に前記第2のピラー相互接続部を形成することと、
を備える、請求項20に記載の方法。
【請求項22】
前記複数のピラー相互接続を形成することは、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティの上に第1のはんだ相互接続を形成することをさらに備える、請求項21に記載の方法。
【請求項23】
前記第1のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に少なくとも部分的に配置される、請求項22に記載の方法。
【請求項24】
前記第1のキャビティは、前記第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、請求項20に記載の方法。
【請求項25】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、請求項20に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【関連出願の相互参照】
【0001】
[0001] 本出願は、2021年8月23日に米国特許庁に出願された非仮出願第17/409,334号の優先権および利益を主張し、その内容全体は、その全体が以下に完全に記載されているかのように、そして全ての適用可能な目的のために、参照により本明細書に組み込まれる。
【技術分野】
【0002】
[0002] 様々な特徴は、集積デバイス(integrated device)に関する。
【背景技術】
【0003】
[0003] パッケージ(package)は、基板(substrate)および集積デバイスを含み得る。これらの構成要素は、様々な電気的機能を実行し得るパッケージを提供するために互いに結合される。パッケージおよびその構成要素の性能は、パッケージの様々な構成要素間の接合部(joint)の品質に依存し得る。構成要素間の確実かつ信頼性の高い接合部を含むパッケージを提供することが、現在も必要とされている。
【発明の概要】
【0004】
[0004] 様々な特徴は、集積デバイスに関する。
【0005】
[0005] 一例は、ダイ部分(die portion)を含む集積デバイスを提供する。ダイ部分は、複数のパッド(pad)と、複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続(under bump metallization interconnect)とを含む。集積デバイスは、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に結合された複数のピラー相互接続(pillar interconnect)を含む。複数のピラー相互接続は、第1のキャビティ(cavity)を備える第1のピラー相互接続を備える。
【0006】
[0006] 別の例は、基板と、複数のピラー相互接続および複数のはんだ相互接続(solder interconnect)を通して基板に結合された集積デバイスとを含むパッケージを提供する。複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える。
【0007】
[0007] 別の例は、集積デバイスを製造するための方法を提供する。この方法は、ダイ部分を提供する。ダイ部分は、複数のパッドと、複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続とを含む。方法は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続の上に複数のピラー相互接続を形成する。複数のピラー相互接続を形成することは、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を形成することを備える。
【図面の簡単な説明】
【0008】
[0008] 様々な特徴、性質、および利点は、同様の参照符号が全体を通して同様のものを指す図面と共に考慮されるとき、以下に示される詳細な説明から明らかになるであろう。
図1】[0009] 図1は、キャビティを有するピラー相互接続を含む例示的な集積デバイスの断面プロファイル図を例示する。
図2】[0010] 図2は、キャビティを有する例示的なピラー相互接続を例示する。
図3】[0011] 図3は、キャビティを有する例示的なピラー相互接続の断面平面図を例示する。
図4】[0012] 図4は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを備える例示的なパッケージの断面プロファイル図を例示する。
図5】[0013] 図5は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを備える例示的なパッケージの拡大図を例示し、ここで、集積デバイスは基板に結合される。
図6A】[0014] 図6Aは、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを製造するための例示的なシーケンスを例示する。
図6B図6Bは、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを製造するための例示的なシーケンスを例示する。
図6C図6Cは、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを製造するための例示的なシーケンスを例示する。
図6D図6Dは、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを製造するための例示的なシーケンスを例示する。
図7】[0015] 図7は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを製造するための方法の例示的なフロー図を例示する。
図8】[0016] 図8は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを備えるパッケージを製造するための例示的なシーケンスを例示する。
図9】[0017] 図9は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを備えるパッケージを製造するための方法の例示的なフロー図を例示する。
図10】[0018] 図10は、本明細書で説明されるダイ、電子回路、集積デバイス、集積受動デバイス(IPD)、受動構成要素、パッケージ、および/またはデバイスパッケージを統合し得る様々な電子デバイスを例示する。
【詳細な説明】
【0009】
[0019] 以下の説明では、本開示の様々な態様の完全な理解を提供するために、具体的な詳細が与えられる。しかしながら、これらの態様が、これらの具体的な詳細なしに実施され得ることは、当業者によって理解されるであろう。例えば、不必要な詳細で態様を不明瞭にすることを避けるために、回路はブロック図で示され得る。他の例では、本開示の態様を不明瞭にしないために、周知の回路、構造および技法は詳細に示されない場合もある。
【0010】
[0020] 本開示は、基板と、複数のピラー相互接続および複数のはんだ相互接続を通して基板に結合された集積デバイスとを含むパッケージについて説明する。複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を含む。複数のはんだ相互接続は、第1のピラー相互接続の第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える。第1のピラー相互接続の第1のキャビティを通って延在する平面断面(planar cross section)は、O形状(O shape)を備える。第1のピラー相互接続は、第1の幅(width)を備える第1のピラー相互接続部と、第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部とを含む。第1のキャビティは、第1のはんだ相互接続が結合するためのより大きな表面積を可能にし、したがって、集積デバイスと基板との間のよりロバストで信頼性の高い接合部を提供する。第1のキャビティはまた、基板の隣接する相互接続間の短絡を引き起こすことなく、より多くのはんだ相互接続が第1のピラー相互接続と基板との間に配置されることを可能にし得る。よりロバストで信頼性の高い接合部は、集積デバイスと基板との間を移動する電流および/または信号のためのより信頼性の高い電気経路を提供し、これは、集積デバイスおよびパッケージの性能の改善につながり得る。
【0011】
キャビティを有するピラー相互接続を備える例示的な集積デバイス
[0021] 図1は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイス100の断面プロファイル図を例示する。集積デバイス100は、ダイ部分102と、複数のピラー相互接続104と、複数のはんだ相互接続106とを含む。複数のピラー相互接続104は、ダイ部分102に結合される。複数のはんだ相互接続106は、複数のピラー相互接続104に結合される。以下でさらに説明するように、複数のピラー相互接続104からの少なくとも1つのピラー相互接続は、ピラー相互接続の高さに少なくとも部分的に沿って延在するキャビティを含み得る。キャビティは、はんだ相互接続が結合するための余分な表面積を作り出す。また、キャビティは、より多くのはんだ相互接続を収容するためにより多くの空間を作り出し、その一方で、近くの相互接続との短絡の可能性を低減する。ピラー相互接続の余分な表面積および/またははんだ相互接続の追加の体積は、集積デバイスのためのよりロバストで信頼性の高い接合部を提供するのに役立ち、したがって、集積デバイスへのおよび集積デバイスからの電流のためのよりロバストで信頼性の高い電気経路を提供する。集積デバイス100は、フリップチップ(flip chip)を含み得る。
【0012】
[0022] ダイ部分102は、ダイ基板(die substrate)120と、相互接続部(interconnect portion)122と、保護層(passivation layer)105と、複数のパッド107と、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109とを含む。ダイ基板120は、シリコン(Si)を含み得る。複数のセルおよび/またはトランジスタ(transistor)(図示せず)が、ダイ基板120内および/またはダイ基板120上に形成され得る。異なる実装は、電界効果トランジスタ(FET)、プレーナFET、finFET、およびゲートオールアラウンドFET(gate all around FET)のような、異なるタイプのトランジスタを使用し得る。いくつかの実装では、ダイ基板120内および/またはダイ基板120上に複数のセルおよび/またはトランジスタを製造するために、基板工程(FEOL:front end of line)プロセスが使用され得る。相互接続部122は、ダイ基板120の上に配置され、ダイ基板120に結合される。相互接続部122は、ダイ基板120内および/またはダイ基板120上に配置された複数のセルおよび/またはトランジスタに結合され得る。相互接続部122は、少なくとも1つの誘電体層と複数のダイ相互接続(図示せず)とを含み得、ここで、複数のダイ相互接続は、複数のセルおよび/またはトランジスタに結合される。いくつかの実装では、相互接続部122を製造するために、配線工程(BEOL:back end of line)プロセスが使用され得る。
【0013】
[0023] 保護層105は、相互接続部122の上に配置され、相互接続部122に結合される。複数のパッド107は、相互接続部122の上に配置される。複数のパッド107は、相互接続部122のダイ相互接続に結合され得る。いくつかの実装では、保護層105および/または複数のパッド107は、相互接続部122の一部と見なされ得る。いくつかの実装では、保護層105および複数のパッド107を製造するために、配線工程(BEOL)プロセスが使用され得る。複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109は、複数のパッド107に結合される。複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109は、複数のパッド107の上に配置され得る。いくつかの実装では、複数のパッド107と複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109との間に追加の相互接続が存在し得る。例えば、複数のパッド107と複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109との間にメタライゼーション相互接続が存在し得る。メタライゼーション相互接続の例は、再分配相互接続(redistribution interconnect)を含む。いくつかの実装では、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109は、メタライゼーション相互接続(例えば、再分配相互接続)を通して複数のパッド107に結合され得る。したがって、複数のパッド107に結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109は、複数のパッド107に直接結合され得る、および/または少なくとも1つのメタライゼーション相互接続を通して複数のパッド107に間接的に結合され得る。
【0014】
[0024] 複数のピラー相互接続104は、ダイ部分102に結合され得る。複数のピラー相互接続104は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109に結合され得る。複数のピラー相互接続104は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109を通してダイ部分102に結合され得る。複数のピラー相互接続104は、ピラー相互接続のための手段であり得る。複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109は、アンダーバンプメタライゼーション相互接続のための手段であり得る。
【0015】
[0025] 複数のパッド107は、第1のパッド107aと第2のパッド107bとを含む。複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109は、第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109aと第2のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bとを含む。複数のピラー相互接続104は、第1のピラー相互接続104aと第2のピラー相互接続104bとを含む。複数のはんだ相互接続106は、第1のはんだ相互接続106aと第2のはんだ相互接続106bとを含む。
【0016】
[0026] 第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109aは、第1のパッド107aに結合される。第1のピラー相互接続104aは、第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109aに結合される。第1のはんだ相互接続106aは、第1のピラー相互接続104aに結合される。第1のピラー相互接続104aは第1のキャビティを含み、第1のはんだ相互接続106aの一部は、第1のピラー相互接続104aの第1のキャビティ内に配置され得る。いくつかの実装では、第1のピラー相互接続104aは、少なくとも1つのメタライゼーション相互接続を通して第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109aに結合されることに留意されたい。すなわち、少なくとも1つのメタライゼーション相互接続(例えば、再分配相互接続)が、第1のピラー相互接続104aと第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109aとの間に配置され得る。
【0017】
[0027] 第2のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bは、第2のパッド107bに結合される。第2のピラー相互接続104bは、第2のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bに結合される。第2のはんだ相互接続106bは、第2のピラー相互接続104bに結合される。第2のピラー相互接続104bは、第2のキャビティを含み、第2のはんだ相互接続106bの一部は、第2のピラー相互接続104bの第2のキャビティ内に配置され得る。ピラー相互接続のキャビティの一例は、少なくとも図2において以下でさらに説明される。いくつかの実装では、第2のピラー相互接続104bは、少なくとも1つのメタライゼーション相互接続を通して第2のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bに結合されることに留意されたい。すなわち、少なくとも1つのメタライゼーション相互接続(例えば、再分配相互接続)が、第2のピラー相互接続104bと第2のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bとの間に配置され得る。
【0018】
[0028] 図2は、ピラー相互接続104の例示的な図を例示する。図2のピラー相互接続104は、図1からの複数のピラー相互接続からのピラー相互接続のいずれかを表し得る。図2に示すように、ピラー相互接続104は、キャビティ209を含む。キャビティ209は、ピラー相互接続104の高さに少なくとも部分的に沿って延在し得る。図2では、キャビティ209は、半球(例えば、ボウル)の形状を有する。しかしながら、キャビティ209の形状および/またはサイズは、異なる実装によって変化し得る。キャビティ209は、トレンチであり得る。ピラー相互接続104は、たとえピラー相互接続104がキャビティ209を有していても、一般的なシルクハット(top hat)の形状を有する。シルクハット形状のピラー相互接続104の縁部分は、アンダーバンプメタライゼーション相互接続に結合され得る。
【0019】
[0029] ピラー相互接続104は、第1のピラー相互接続部204と第2のピラー相互接続部206とを含む。第1のピラー相互接続部204は、ピラー相互接続104の基部を表し得る。第1のピラー相互接続部204は、ピラー相互接続104の縁部分と見なされ得る。第1のピラー相互接続部204は、アンダーバンプメタライゼーション相互接続(例えば、109a、109b)に結合され得る。第1のピラー相互接続部204は、第1の幅を含む。第1の幅は、第1の直径を含み得る。第2のピラー相互接続部206は、第2の幅を含む。第2の幅は、第2の直径を含み得る。第2の幅は、第1の幅とは異なる。例えば、第2の幅は、第1の幅よりも小さくなり得る。キャビティ209は、第2のピラー相互接続部206に配置される。キャビティ209は、ピラー相互接続104の高さに沿って(例えば、第2のピラー相互接続部206の高さに沿って)少なくとも部分的に延在し得る。図2は、ピラー相互接続104の平面断面積が円形であることを例示する。しかしながら、ピラー相互接続104は、任意の形状(例えば、楕円形、長方形、正方形)を有する平面断面を有し得る。はんだ相互接続(例えば、106a、106b)は、第2のピラー相互接続部206に結合され得る。はんだ相互接続の一部は、ピラー相互接続104のキャビティ209内に配置され得る。第1のピラー相互接続部204および第2のピラー相互接続部206は、1つの部分または2つ以上の別個の部分と見なされ得ることに留意されたい。第1のピラー相互接続部204と第2のピラー相互接続部206との間にインターフェースが存在することも存在しないこともあり得る。いくつかの実装では、ピラー相互接続104の一部は、集積デバイスのメタライゼーション層(例えば、再分配層)の一部と見なされ得ることにも留意されたい。
【0020】
[0030] 図3は、ピラー相互接続104の断面平面図を例示する。図3に示すように、第1のピラー相互接続104のキャビティ209を通って延在する平面断面は、O形状を備える。例えば、第2のピラー相互接続部206のキャビティ209を通って延在する平面断面は、O形状を備える。しかしながら、異なる実装は、ピラー相互接続104の平面断面について異なる形状を有し得る。ピラー相互接続104は、異なるサイズを有し得る。例えば、第1のピラー相互接続部204は、約50-70マイクロメートルの範囲内にある第1の幅(例えば、第1の直径)を有し得る。第2のピラー相互接続部206は、約30-50マイクロメートルの範囲内にある第2の幅(例えば、第2の直径)を有し得る。キャビティ209は、約20-40マイクロメートルの範囲内にあるキャビティ幅(例えば、キャビティ直径)を有し得る。ピラー相互接続104は、約10-15マイクロメートルの範囲内にある高さを有し得る。上述した値および範囲は例示的なものであり、限定を意味するものではないことに留意されたい。いくつかの実装では、値および/または範囲は、上述したものよりも大きいまたは小さい値を含み得る。
【0021】
[0031] 集積デバイス100は、パッケージにおいて実装され得る。図4は、基板402と、集積デバイス100と、カプセル化層(encapsulation layer)408とを含むパッケージ400を例示する。基板402は、少なくとも1つの誘電体層(dielectric layer)420と、複数の相互接続(interconnect)422と、はんだレジスト層(solder resist layer)426とを含む。複数のはんだ相互接続430が、基板402の複数の相互接続422に結合され得る。集積デバイス100は、複数のピラー相互接続104および複数のはんだ相互接続106を通して基板402の第1の表面(例えば、上面)に結合される。カプセル化層408は、集積デバイス100および/または基板402の上および/または周りに配置され得る。カプセル化層408は、集積デバイス100を少なくとも部分的にカプセル化し得る。カプセル化層408は、金型、樹脂、および/またはエポキシを含み得る。カプセル化層408は、カプセル化のための手段であり得る。カプセル化層408は、圧縮およびトランスファー成形プロセス、シート成形プロセス、または液体成形プロセスを使用することによって提供され得る。
【0022】
[0032] 図5は、集積デバイスがどのように基板に結合され得るかの拡大図を例示する。図5は、集積デバイス100および基板402を含むパッケージ400の一部分を例示し得る。集積デバイス100は、複数のピラー相互接続104および複数のはんだ相互接続106を通して基板402に結合される。
【0023】
[0033] 図5に示されるように、第1のピラー相互接続104aは、第1のはんだ相互接続106aに結合される。第1のはんだ相互接続106aは、基板402の第1の相互接続422aに結合される。第1のはんだ相互接続106aは、金属間化合物(IMC:intermetallic compound)406aを含み得る。金属間化合物406aは、第1のピラー相互接続104aおよび第1の相互接続422aに結合され得る。金属間化合物406aは、第1の相互接続422aおよび/または第1のピラー相互接続104aからの金属がはんだ相互接続106aに拡散するときに形成され得る。
【0024】
[0034] 第2のピラー相互接続104bは、第2のはんだ相互接続106bに結合される。第2のはんだ相互接続106bは、基板402の第2の相互接続422bに結合される。第2のはんだ相互接続106bは、金属間化合物(IMC)406bを含み得る。金属間化合物406bは、第2のピラー相互接続104bおよび第2の相互接続422bに結合され得る。金属間化合物406bは、第2の相互接続422bおよび/または第2のピラー相互接続104bからの金属がはんだ相互接続106bに拡散するときに形成され得る。
【0025】
[0035] 図5は、はんだ相互接続(例えば、106a)の金属間化合物(例えば、406a)の間により大きなギャップが存在することを例示する。これは、よりロバストで信頼性の高い接合部を提供するのに役立つ。これはまた、集積デバイスと基板との結合中の応力を低減するのに役立ち、それは、パッケージに亀裂が入る可能性を低減するのに役立つ。ピラー相互接続内のキャビティが提供する追加の空間は、はんだの体積の増加によって、はんだが分離する可能性が低くなるので、はんだに亀裂が入るのを回避するのに役立つ。
【0026】
[0036] 集積デバイス(例えば、100)は、ダイ(例えば、半導体ベアダイ)を含み得る。集積デバイスは、電力管理集積回路(PMIC)を含み得る。集積デバイスは、アプリケーションプロセッサを含み得る。集積デバイスは、モデムを含み得る。集積デバイスは、無線周波数(RF)デバイス、受動デバイス、フィルタ、キャパシタ、インダクタ、アンテナ、送信機、受信機、ガリウム砒素(GaAs)ベースの集積デバイス、表面弾性波(SAW)フィルタ、バルク弾性波(BAW)フィルタ、発光ダイオード(LED)集積デバイス、シリコン(Si)ベースの集積デバイス、炭化シリコン(SiC)ベースの集積デバイス、メモリ、電力管理プロセッサ、および/またはそれらの組合せを含み得る。集積デバイス(例えば、100)は、少なくとも1つの電子回路(例えば、第1の電子回路、第2の電子回路、等)を含み得る。集積デバイスは、電気構成要素および/または電気デバイスの一例であり得る。
【0027】
[0037] キャビティを有するピラー相互接続を有する集積デバイスについて説明してきたが、次に、集積デバイスを製造するための方法を以下で説明する。
【0028】
キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを製造するための例示的なシーケンス
[0038] いくつかの実装では、集積デバイスを製造することはいくつかのプロセスを含む。図6A図6Dは、キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを提供または製造するための例示的なシーケンスを例示する。いくつかの実装では、図6A図6Dのシーケンスは、集積デバイス100を提供または製造するために使用され得る。しかしながら、図6A図6Dのプロセスは、本開示で説明される集積デバイスのいずれかを製造するために使用され得る。
【0029】
[0039] 図6A図6Dのシーケンスは、集積デバイスを提供または製造するためのシーケンスを簡略化および/または明確化するために、1つまたは複数のステージを組み合わせ得ることに留意されたい。いくつかの実装では、プロセスの順序は、変更または修正され得る。いくつかの実装では、本開示の範囲から逸脱することなく、プロセスのうちの1つまたは複数が置き換えられるか代用され得る。
【0030】
[0040] 図6Aに示されているようなステージ1は、ダイ部分102が設けられた後の状態を例示する。ダイ部分102は、ダイ基板120、相互接続部122、保護層105、複数のパッド107、および複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109を含み得る。ダイ部分102は、ベアダイ(bare die)(例えば、半導体ベアダイ)を含み得る。
【0031】
[0041] ステージ2は、第1のフォトレジスト層(photo resist layer)600がダイ部分102の上に形成され、第1のフォトレジスト層600中に複数の開口部601を含むようにパターニングされた後の状態を例示する。第1のフォトレジスト層600のパターンを形成および画定するためにフォトリソグラフィプロセスが使用され得る。
【0032】
[0042] ステージ3は、第1のフォトレジスト層600の複数の開口部601を通してピラー相互接続部602が形成された後の状態を例示する。ピラー相互接続部602は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109(またはアンダーバンプメタライゼーション層)の上に形成され得る。ピラー相互接続部602を形成するために、めっきプロセスが使用され得る。ピラー相互接続部602は、銅を含み得る。
【0033】
[0043] 図6Bに示されているようなステージ4は、第1のフォトレジスト層600がダイ部分102から除去された後の状態を例示する。第1のフォトレジスト層600は、開発プロセスを通して除去され得る。第1のフォトレジスト層600は、洗浄プロセスを通して除去され得る。
【0034】
[0044] ステージ5は、第2のフォトレジスト層610がダイ部分102の上に形成され、第2のフォトレジスト層610中に複数の開口部611を含むようにパターニングされた後の状態を例示する。第2のフォトレジスト層610は、ピラー相互接続部602の上に形成され得る。第2のフォトレジスト層610のパターンを形成および画定するためにフォトリソグラフィプロセスが使用され得る。
【0035】
[0045] 図6Cに示されているようなステージ6は、第2のフォトレジスト層610の複数の開口部611を通して複数のピラー相互接続104が形成された後の状態を例示する。複数のピラー相互接続104は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109(またはアンダーバンプメタライゼーション層)の上に形成され得る。複数のピラー相互接続104は、ピラー相互接続部602の上に形成され得る。ピラー相互接続部602は、複数のピラー相互接続104の一部と見なされ得る。複数のピラー相互接続104を形成するために、めっきプロセスが使用され得る。ピラー相互接続104は、銅を含み得る。ステージ3において形成されたピラー相互接続部602とステージ6において形成された複数のピラー相互接続104の部分との間に、1つまたは複数のインターフェースが存在することも存在しないこともあり得る。複数のピラー相互接続104は、少なくとも1つのピラー相互接続がキャビティ209を含むように形成される。
【0036】
[0046] ステージ7は、第2のフォトレジスト層610の複数の開口部611を通して複数のピラー相互接続104の上に複数のはんだ相互接続106が形成された後の状態を例示する。いくつかの実装では、複数のはんだ相互接続106を形成するためにペーストプロセスが使用され得る。しかしながら、複数のはんだ相互接続106は、異なるように形成され得る。
【0037】
[0047] 図6Dに示されているようなステージ8は、第2のフォトレジスト層610がダイ部分102から除去された後の状態を例示する。第2のフォトレジスト層610は、開発プロセスを通して除去され得る。第2のフォトレジスト層610は、洗浄プロセスを通して除去され得る。
【0038】
[0048] ステージ9は、アンダーバンプメタライゼーション相互接続109aおよびアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bを画定するためにアンダーバンプメタライゼーション層の部分が選択的にエッチングされた後の状態を例示する。ステージ9はまた、複数のピラー相互接続104を結合するために複数のはんだ相互接続106がはんだリフロープロセスを受けた後の状態を例示し得る。ステージ9は、ダイ部分102と、複数のピラー相互接続104と、複数のはんだ相互接続106とを含む集積デバイス100を例示し得、ここで、複数のピラー相互接続104からの少なくとも1つのピラー相互接続は、ピラー相互接続の高さ(例えば、厚さ)を少なくとも部分的に通って延在するキャビティ(例えば、209)を含む。複数のはんだ相互接続106は、ピラー相互接続のキャビティ内に配置され得る。複数のはんだ相互接続106は、第1のピラー相互接続104aに結合された第1のはんだ相互接続106aと、第2のピラー相互接続104bに結合された第2のはんだ相互接続106bとを含む。
【0039】
キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを製造するための方法の例示的なフロー図
[0049] いくつかの実装では、集積デバイスを製造することはいくつかのプロセスを含む。図7は、キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを提供または製造するための方法700の例示的なフロー図を例示する。いくつかの実装では、図7の方法700は、本開示で説明された図1の集積デバイス100を提供または製造するために使用され得る。しかしながら、方法700は、本開示で説明される集積デバイスのいずれかを提供または製造するために使用され得る。
【0040】
[0050] 図7の方法は、集積デバイスを提供または製造するための方法を簡略化および/または明確化するために、1つまたは複数のプロセスを組み合わせ得ることに留意されたい。いくつかの実装では、プロセスの順序は、変更または修正され得る。
【0041】
[0051] 方法は、(705において)ダイ部分(例えば、102)を設ける。ダイ部分102は、ダイ基板120、相互接続部122、保護層105、複数のパッド107、および複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109を含み得る。ダイ部分102は、ベアダイ(例えば、半導体ベアダイ)を含み得る。図6Aのステージ1は、ダイ部分を設ける例を例示および説明する。
【0042】
[0052] 方法は、(710において)ダイ部分(例えば、102)の上に第1のフォトレジスト層(例えば、600)を形成する。方法はまた、(710において)第1のフォトレジスト層(例えば、600)をパターニングし得る。第1のフォトレジスト層600のパターンを形成および画定するためにフォトリソグラフィプロセスが使用され得る。図6Aのステージ2は、第1のフォトレジスト層を形成およびパターニングする例を例示および説明する。
【0043】
[0053] 方法は、(715において)ピラー相互接続部(例えば、602)を形成する。ピラー相互接続部602は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109(またはアンダーバンプメタライゼーション層)の上に形成され得る。ピラー相互接続部602を形成するために、めっきプロセスが使用され得る。ピラー相互接続部602は、第1のフォトレジスト層600の複数の開口部601を通して形成され得る。図6Aのステージ3は、ピラー相互接続部を形成する例を例示および説明する。
【0044】
[0054] 方法は、(720において)第1のフォトレジスト層(例えば、600)を除去する。第1のフォトレジスト層600は、開発プロセスを通して除去され得る。第1のフォトレジスト層600は、洗浄プロセスを通して除去され得る。図6Bのステージ4は、第1のフォトレジスト層を除去する例を例示および説明する。
【0045】
[0055] 方法は、(725において)ダイ部分(例えば、102)の上に第2のフォトレジスト層(例えば、610)を形成する。方法はまた、(725において)第2のフォトレジスト層(例えば、610)をパターニングし得る。第2のフォトレジスト層610のパターンを形成および画定するためにフォトリソグラフィプロセスが使用され得る。図6Bのステージ5は、第2のフォトレジスト層を形成およびパターニングする例を例示および説明する。
【0046】
[0056] 方法は、(730において)複数のピラー相互接続104を形成するために別のピラー相互接続部を形成し、ここで、少なくとも1つのピラー相互接続はキャビティ(例えば、209)を含む。複数のピラー相互接続104は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続109(またはアンダーバンプメタライゼーション層)の上に形成され得る。複数のピラー相互接続104は、ピラー相互接続部602の上に形成され得る。ピラー相互接続部602は、複数のピラー相互接続104の一部と見なされ得る。複数のピラー相互接続104を形成するために、めっきプロセスが使用され得る。(715において)形成されたピラー相互接続部602と(730において)形成された複数のピラー相互接続104の部分との間に1つまたは複数のインターフェースが存在することも存在しないこともあり得る。複数のピラー相互接続104は、少なくとも1つのピラー相互接続がキャビティ209を含むように形成される。図6Cのステージ6は、ピラー相互接続を形成するためにピラー相互接続部を形成する例を例示および説明する。
【0047】
[0057] 方法は、(735において)複数のピラー相互接続(例えば、104)のキャビティ(例えば、209)の上に複数のはんだ相互接続(例えば、106)を設ける。複数のはんだ相互接続106は、第2のフォトレジスト層610の複数の開口部611を通して複数のピラー相互接続104の上に形成され得る。いくつかの実装では、複数のはんだ相互接続106を形成するためにペーストプロセスが使用され得る。しかしながら、複数のはんだ相互接続106は、異なるように形成され得る。図6Cのステージ7は、複数のはんだ相互接続を提供および/または形成する例を例示および説明する。
【0048】
[0058] 方法は、(740において)第2のフォトレジスト層(例えば、610)を除去する。第2のフォトレジスト層610は、開発プロセスを通して除去され得る。第2のフォトレジスト層610は、洗浄プロセスを通して除去され得る。図6Dのステージ8は、第2のフォトレジスト層を除去する例を例示および説明する。
【0049】
[0059] 方法は、(745において)アンダーバンプメタライゼーション層の部分を除去する。方法は、アンダーバンプメタライゼーション相互接続109aおよびアンダーバンプメタライゼーション相互接続109bを画定するために、アンダーバンプメタライゼーション層の部分を選択的にエッチングし得る。方法は、(745において)複数のはんだ相互接続106を複数のピラー相互接続104に結合するために、はんだリフロープロセスを実行し得る。複数のはんだ相互接続106は、複数のピラー相互接続104のキャビティ(例えば、209)内に配置され得る。図6Dのステージ9は、アンダーバンプメタライゼーション層の部分を除去することと、複数のはんだ相互接続のはんだリフロープロセスの例を例示および説明する。
【0050】
[0060] 本開示で説明された集積デバイス(例えば、100)は、一度に1つずつ製造され得る、または1つまたは複数のウェハの一部として共に製造され、そして個々の集積デバイスに単一化され得る(singulated)。
【0051】
キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを備えるパッケージを製造するための例示的なシーケンス
[0061] いくつかの実装では、パッケージを製造することはいくつかのプロセスを含む。図8は、キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを含むパッケージを提供または製造するための例示的なシーケンスを例示する。いくつかの実装では、図8のシーケンスは、図4のパッケージ400を提供または製造するために使用され得る。しかしながら、図8のプロセスは、本開示で説明されるパッケージのいずれかを製造するために使用され得る。
【0052】
[0062] 図8のシーケンスは、パッケージを提供または製造するためのシーケンスを簡略化および/または明確化するために、1つまたは複数のステージを組み合わせ得ることに留意されたい。いくつかの実装では、プロセスの順序は、変更または修正され得る。いくつかの実装では、本開示の範囲から逸脱することなく、プロセスのうちの1つまたは複数が置き換えられるか代用され得る。
【0053】
[0063] 図8に示されているようなステージ1は、基板402が設けられた後の状態を例示する。基板402は、少なくとも1つの誘電体層420と、複数の相互接続422と、はんだレジスト層426とを含む。異なる実装は、異なる数の金属層を有する異なる基板を使用し得る。基板は、コアレス基板、コア基板、または埋込みトレース基板(ETS)を含み得る。
【0054】
[0064] ステージ2は、集積デバイス100が複数のピラー相互接続104および複数のはんだ相互接続106を通して基板402に結合された後の状態を例示する。集積デバイス100は、複数のピラー相互接続104および複数のはんだ相互接続106を通して基板402の複数の相互接続422に結合され得る。集積デバイス100を基板402に結合するために、はんだリフロープロセスが使用され得る。図5は、集積デバイス100が基板402にどのように結合され得るかの一例を例示する。異なる実装は、異なる構成要素および/またはデバイスを基板402に結合し得る。
【0055】
[0065] ステージ3は、カプセル化層408が基板402の上に設けられた(例えば、形成された)後の状態を例示する。カプセル化層408は、集積デバイス100をカプセル化し得る。カプセル化層408は、金型、樹脂、および/またはエポキシを含み得る。カプセル化層408を形成するために、圧縮成形プロセス、トランスファー成形プロセス、または液体成形プロセスが使用され得る。カプセル化層408は、フォトエッチング可能であり得る。カプセル化層408は、カプセル化のための手段であり得る。
【0056】
[0066] ステージ4は、複数のはんだ相互接続430が基板402に結合された後の状態を例示する。複数のはんだ相互接続430を基板402に結合するために、はんだリフロープロセスが使用され得る。
【0057】
キャビティを有するピラー相互接続を備える集積デバイスを備えるパッケージを製造するための方法の例示的なフロー図
[0067] いくつかの実装では、パッケージを製造することはいくつかのプロセスを含む。図9は、キャビティを有するピラー相互接続を含む集積デバイスを備えるパッケージを提供または製造するための方法900の例示的なフロー図を例示する。いくつかの実装では、図9の方法900は、本開示で説明された図4のパッケージ400を提供または製造するために使用され得る。しかしながら、方法900は、本開示で説明されるパッケージ(例えば、400)のいずれかを提供または作製するために使用され得る。
【0058】
[0068] 図9の方法は、パッケージを提供または製造するための方法を簡略化および/または明確化するために、1つまたは複数のプロセスを組み合わせ得ることに留意されたい。いくつかの実装では、プロセスの順序は、変更または修正され得る。
【0059】
[0069] 方法は、(905において)基板(例えば、402)を提供する。基板402は、サプライヤによって設けられ得る、または製造され得る。異なる実装は、基板402を製造するために異なるプロセスを使用し得る。基板402を製造するために使用され得るプロセスの例は、セミアディティブプロセス(SAP:semi-additive process)および修正セミアディティブプロセス(mSAP:modified semi-additive process)を含む。基板402は、少なくとも1つの誘電体層420と、複数の相互接続422と、はんだレジスト層426とを含む。基板402は、埋め込みトレース基板(ETS)を含み得る。いくつかの実装では、基板は、コア基板であり得る。いくつかの実装では、少なくとも1つの誘電体層420は、プリプレグ層および/またはポリイミドを含み得る。図8のステージ1は、基板を設ける例を例示および説明する。
【0060】
[0070] 方法は、(910において)集積デバイス(例えば、100)を基板402の第1の表面に結合する。例えば、集積デバイス100は、基板402の第1の表面(例えば、上面)に結合され得る。集積デバイス100は、複数のピラー相互接続104および複数のはんだ相互接続106を通して基板402に結合される。少なくとも1つのピラー相互接続は、キャビティを含む。はんだ相互接続の一部は、ピラー相互接続のキャビティ内に配置され得る。集積デバイス100を基板402に結合するために、はんだリフロープロセスが使用され得る。図5は、集積デバイス100が基板402にどのように結合され得るかの一例を例示する。図8のステージ2は、集積デバイスを基板に結合する例を例示および説明する。
【0061】
[0071] 方法は、(915において)基板(例えば、402)の上にカプセル化層(例えば、408)を形成する。カプセル化層408は、基板402および集積デバイス100の上および/または周りに設けられ、形成され得る。カプセル化層408は、金型、樹脂、および/またはエポキシを含み得る。カプセル化層408を形成するために、圧縮成形プロセス、トランスファー成形プロセス、または液体成形プロセスが使用され得る。カプセル化層408は、フォトエッチング可能であり得る。カプセル化層408は、カプセル化のための手段であり得る。図8のステージ3は、カプセル化層を形成する例を例示および説明する。
【0062】
[0072] 方法は、(920において)複数のはんだ相互接続(例えば、430)を基板402に結合する。複数のはんだ相互接続430を基板402に結合するために、はんだリフロープロセスが使用され得る。図8のステージ4は、はんだ相互接続を基板に結合する例を例示および説明する。
【0063】
[0073] 本開示で説明されたパッケージ(例えば、400)は、一度に1つずつ製造され得る、または1つまたは複数のウェハの一部として共に製造され、そして個々のパッケージに単一化され得る。
【0064】
例示的な電子デバイス
[0074] 図10は、上述のデバイス、集積デバイス、集積回路(IC)パッケージ、集積回路(IC)デバイス、半導体デバイス、集積回路、ダイ、インターポーザ、パッケージ、パッケージオンパッケージ(PoP)、システムインパッケージ(SiP)、またはシステムオンチップ(SoC)のいずれかと統合され得る様々な電子デバイスを例示する。例えば、モバイルフォンデバイス1002、ラップトップコンピュータデバイス1004、固定位置ターミナルデバイス1006、ウェアラブルデバイス1008、または自動車車両1010は、本明細書で説明されるようなデバイス1000を含み得る。デバイス1000は、例えば、本明細書で説明されたデバイスおよび/または集積回路(IC)パッケージのいずれかであり得る。図10に例示されたデバイス1002、1004、1006、および1008、ならびに車両1010は、例示的なものにすぎない。他の電子デバイスはまた、モバイルデバイス、ハンドヘルドパーソナル通信システム(PCS)ユニット、携帯情報端末のようなポータブルデータユニット、グローバル測位システム(GPS)対応デバイス、ナビゲーションデバイス、セットトップボックス、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテインメントユニット、メータ読取機器のような固定位置データユニット、通信デバイス、スマートフォン、タブレットコンピュータ、コンピュータ、ウェアラブルデバイス(例えば、時計、眼鏡)、モノのインターネット(IoT)デバイス、サーバ、ルータ、自動車車両(例えば、自律車両)において実装された電子デバイス、またはデータもしくはコンピュータ命令を記憶または取り出す任意の他のデバイス、またはそれらの任意の組合せを含むデバイス(例えば、電子デバイス)のグループを含むが、それらに限定されないデバイス1000を特徴とし得る。
【0065】
[0075] 図1-5、図6A図6D、および/または図7-10に例示された構成要素、プロセス、特徴、および/または機能のうちの1つまたは複数は、単一の構成要素、プロセス、特徴または機能に再構成および/または組み合わせられるか、またはいくつかの構成要素、プロセス、または機能において具現化され得る。追加の要素、構成要素、プロセス、および/または機能も、本開示から逸脱することなく追加され得る。本開示における図1-5、図6A図6D、および/または図7-10、ならびにその対応する説明は、ダイおよび/またはICに限定されないことにも留意されたい。いくつかの実装では、図1-5、図6A図6D、および/または図7-10、ならびにその対応する説明は、デバイスおよび/または集積デバイスを製造、作成、提供、および/または生産するために使用され得る。いくつかの実装では、デバイスは、ダイ、集積デバイス、集積受動デバイス(IPD)、ダイパッケージ、集積回路(IC)デバイス、デバイスパッケージ、集積回路(IC)パッケージ、ウェハ、半導体デバイス、パッケージオンパッケージ(PoP)デバイス、放熱デバイス、および/またはインターポーザを含み得る。
【0066】
[0076] 本開示における図は、様々な部分、構成要素、オブジェクト、デバイス、パッケージ、集積デバイス、集積回路、および/またはトランジスタの実際の表現および/または概念的表現を表し得ることに留意されたい。いくつかの例では、図は、一定の縮尺ではない場合がある。いくつかの例では、明確にするために、全ての構成要素および/または部分が示されていない場合がある。いくつかの例では、図における様々な部分および/または構成要素の位置、場所、サイズ、および/または形状は、例示的であり得る。いくつかの実装では、図における様々な構成要素および/または部分は任意であり得る。
【0067】
[0077] 「例示的(exemplary)」という用語は、本明細書では「例、実例、または例示として機能する」という意味で使用される。「例示的」として本明細書で説明された任意の実装または態様は、必ずしも本開示の他の態様よりも好ましい、または有利であると解釈されるべきではない。同様に、「態様(aspects)」という用語は、本開示の全ての態様が、説明された特徴、利点、または動作モードを含むことを必要としない。「結合される(coupled)」という用語は、本明細書では、2つのオブジェクト間の直接的または間接的な結合(例えば、機械的結合)を指すために使用される。例えば、オブジェクトAがオブジェクトBに物理的に接触し、オブジェクトBがオブジェクトCに接触する場合、オブジェクトAおよびCは、それらが互いに直接物理的に接触しない場合であっても、依然として互いに結合されていると見なされ得る。オブジェクトBに結合されたオブジェクトAは、オブジェクトBの少なくとも一部に結合され得る。「電気的に結合された(electrically coupled)」という用語は、2つのオブジェクトが、電流(例えば、信号、電力、接地)が2つのオブジェクト間を移動し得るように、直接的または間接的に共に結合されることを意味し得る。電気的に結合された2つのオブジェクトは、2つのオブジェクト間を移動する電流を有することも、有さないこともあり得る。「第1(first)」、「第2(second)」、「第3(third)」、および「第4(fourth)」(および/または第4を超える任意のもの)という用語の使用は任意である。説明される構成要素のいずれも、第1の構成要素、第2の構成要素、第3の構成要素、または第4の構成要素であり得る。例えば、第2の構成要素と称される構成要素は、第1の構成要素、第2の構成要素、第3の構成要素、または第4の構成要素であり得る。「カプセル化する(encapsulate)」、「カプセル化すること(encapsulating)」という用語および/または任意の派生語は、オブジェクトが別の物体を部分的にカプセル化するか、または完全にカプセル化し得ることを意味する。用語「上部(top)」および「下部(bottom)」は任意である。上部に配置される構成要素は、下部に位置する構成要素の上に配置され得る。上部構成要素は下部構成要素と見なされ得、その逆も同様である。本開示で説明されたように、第2の構成要素の「上に(over)」配置される第1の構成要素は、下部または上部がどのように任意に定義されるかに応じて、第1の構成要素が第2の構成要素の上または下に配置されることを意味し得る。別の例では、第1の構成要素は、第2の構成要素の第1の表面の上(例えば、上方)に配置され得、第3の構成要素は、第2の構成要素の第2の表面の上(例えば、下方)に配置され得、ここで、第2の表面は、第1の表面の反対側である。さらに、別の構成要素の上に配置される1つの構成要素の文脈において本出願で使用されるような「上に」という用語は、別の構成要素の上および/または別の構成要素の中にある(例えば、構成要素の表面上にあるか、または構成要素の中に埋め込まれた)構成要素を意味するために使用され得ることに留意されたい。したがって、例えば、第2の構成要素の上にある第1の構成要素は、(1)第1の構成要素が第2の構成要素の上にあるが、第2の構成要素に直接接触していないこと、(2)第1の構成要素が第2の構成要素の上(例えば、表面上)にあること、および/または(3)第1の構成要素が第2の構成要素の中にある(例えば、埋め込まれている)ことを意味し得る。第2の構成要素の「中に(in)」配置される第1の構成要素は、第2の構成要素の中に部分的に配置され得る、または第2の構成要素の中に完全に配置され得る。本開示で使用される「約「値X」」または「およそ値X」という用語は、「値X」の10パーセント以内を意味する。例えば、約1またはおよそ1の値は、0.9-1.1の範囲の値を意味する。
【0068】
[0078] いくつかの実装では、相互接続は、2つの点、要素および/または構成要素間の電気接続を可能または容易にするデバイスまたはパッケージの要素または構成要素である。いくつかの実装では、相互接続は、トレース(例えば、トレース相互接続)、ビア(例えば、ビア相互接続)、パッド(例えば、パッド相互接続)、ピラー、メタライゼーション層、再分配層、および/またはアンダーバンプメタライゼーション(UBM:under bump metallization)層/相互接続を含み得る。いくつかの実装では、相互接続は、信号(例えば、データ信号)、接地および/または電力のための電気経路を設けるように構成され得る導電性材料を含み得る。相互接続は、2つ以上の要素または構成要素を含み得る。相互接続は、1つまたは複数の相互接続によって定義され得る。相互接続は、1つまたは複数の金属層を含み得る。相互接続は、回路の一部であり得る。異なる実装は、相互接続を形成するために異なるプロセスおよび/またはシーケンスを使用し得る。いくつかの実装では、化学気相成長法(CVD)プロセス、物理気相成長法(PVD)プロセス、スパッタリングプロセス、スプレーコーティング、および/またはめっきプロセスが、相互接続を形成するために使用され得る。
【0069】
[0079] また、本明細書に含まれる様々な開示は、フローチャート、フロー図、構造図、またはブロック図として図示されるプロセスとして説明され得ることに留意されたい。フローチャートは、動作を順次プロセスとして説明し得るが、動作の多くは、並行してまたは同時に実行され得る。さらに、動作の順序は、再配置され得る。プロセスは、その動作が完了したときに終了する。
【0070】
[0080] 以下では、本発明の理解を容易にするために、さらなる実施例を記載する。
【0071】
[0081] 態様1:ダイ部分を備える集積デバイス。ダイ部分は、複数のパッドと、複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続とを含む。集積デバイスは、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に結合された複数のピラー相互接続を含む。複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える。
【0072】
[0082] 態様2:複数のピラー相互接続に結合された複数のはんだ相互接続をさらに備える、態様1に記載の集積デバイス。
【0073】
[0083] 態様3:複数のはんだ相互接続は、第1のピラー相互接続の第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、態様2に記載の集積デバイス。
【0074】
[0084] 態様4:第1のピラー相互接続の第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、態様1乃至3に記載の集積デバイス。
【0075】
[0085] 態様5:第1のピラー相互接続は、第1の幅を備える第1のピラー相互接続部と、第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と備える、態様1乃至4に記載の集積デバイス。
【0076】
[0086] 態様6:第1のピラー相互接続の第1のキャビティは、第2のピラー相互接続部に配置される、態様5に記載の集積デバイス。
【0077】
[0087] 態様7:第1のキャビティは、第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、態様1乃至6に記載の集積デバイス。
【0078】
[0088] 態様8:第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、態様1乃至7に記載の集積デバイス。
【0079】
[0089] 態様9:集積デバイスは、フリップチップを備える、態様1乃至8に記載の集積デバイス。
【0080】
[0090] 態様10:ダイ部分は、ダイ基板と、ダイ基板内および/またはダイ基板上に形成された複数のトランジスタとを備える、態様1乃至9に記載の集積デバイス。
【0081】
[0091] 態様11:基板と、複数のピラー相互接続および複数のはんだ相互接続を通して基板に結合された集積デバイスとを備えるパッケージ。複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える。
【0082】
[0092] 態様12:複数のはんだ相互接続は、第1のピラー相互接続の第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、態様11に記載のパッケージ。
【0083】
[0093] 態様13:第1のはんだ相互接続は、金属間化合物(IMC)を備える、請求項12に記載のパッケージ。
【0084】
[0094] 態様14:第1のピラー相互接続の第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、態様11乃至13に記載のパッケージ。
【0085】
[0095] 態様15:第1のピラー相互接続は、第1の幅を備える第1のピラー相互接続部と、第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と備える、態様11乃至14に記載のパッケージ。
【0086】
[0096] 態様16:第1のピラー相互接続の第1のキャビティは、第2のピラー相互接続部に配置される、態様15に記載のパッケージ。
【0087】
[0097] 態様17:複数のピラー相互接続は、集積デバイスの一部である、態様11乃至16に記載のパッケージ。
【0088】
[0098] 態様18:第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、態様11乃至17に記載のパッケージ。
【0089】
[0099] 態様19:パッケージは、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテイメントユニット、ナビゲーションデバイス、通信デバイス、モバイルデバイス、モバイルフォン、スマートフォン、携帯情報端末、固定位置ターミナル、タブレットコンピュータ、コンピュータ、ウェアラブルデバイス、ラップトップコンピュータ、サーバ、モノのインターネット(IoT)デバイス、および自動車車両内のデバイスから成るグループから選択されたデバイスの一部である、態様11乃至18に記載のパッケージ。
【0090】
[0100] 態様20:集積デバイスを製造するための方法。方法は、複数のパッドと、複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続とを備えるダイ部分を提供する。方法は、複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続の上に複数のピラー相互接続を形成する。複数のピラー相互接続を形成することは、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を形成することを備える。
【0091】
[0101] 態様21:複数のピラー相互接続を形成することは、ダイ部分の上に第1のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、第1のピラー相互接続部を形成することと、第1のフォトレジスト層を除去することと、ダイ部分の上に第2のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、第1のキャビティが第2のピラー相互接続部内に形成されるように、第1のピラー相互接続部の上に第2のピラー相互接続部を形成することとを備える、態様20に記載の方法。
【0092】
[0102] 態様22:複数のピラー相互接続を形成することは、第1のピラー相互接続の第1のキャビティの上に第1のはんだ相互接続を形成することをさらに備える、態様21に記載の方法。
【0093】
[0103] 態様23:第1のはんだ相互接続が、第1のピラー相互接続の第1のキャビティ内に少なくとも部分的に配置される、態様22に記載の方法。
【0094】
[0104] 態様24:第1のキャビティは、第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、態様20乃至23に記載の方法。
【0095】
[0105] 態様25:第1のピラー相互接続の第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を含む、態様20乃至24に記載の方法。
【0096】
[0106] 本明細書で説明された本開示の様々な特徴は、本開示から逸脱することなく、異なるシステムにおいて実現され得る。本開示の前述の態様は、単なる例であり、本開示を限定するものとして解釈されるべきではないことに留意されたい。本開示の態様の説明は、例示的であることが意図されており、特許請求の範囲を限定することは意図されていない。したがって、本教示は、他のタイプの装置に容易に適用することができ、多くの代替、修正、および変形が当業者には明らかであろう。
図1
図2
図3
図4
図5
図6A
図6B
図6C
図6D
図7
図8
図9
図10
【手続補正書】
【提出日】2024-02-15
【手続補正1】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
集積デバイスであって、
複数のパッドと、
前記複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と
を備えるダイ部分と、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に結合された複数のピラー相互接続と、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続は、
第1のキャビティと、
前記ダイ部分に最も近い第1のピラー相互接続部の最下部の第1の幅を備える前記第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅よりも小さい第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と、前記第1のキャビティが、前記第2のピラー相互接続部に配置される、
を備える第1のピラー相互接続を備える、
を備える、集積デバイス。
【請求項2】
前記複数のピラー相互接続に結合された複数のはんだ相互接続をさらに備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項3】
前記複数のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、請求項2に記載の集積デバイス。
【請求項4】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項5】
前記第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項6】
前記集積デバイスは、フリップチップを備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項7】
前記ダイ部分は、
ダイ基板と、
前記ダイ基板内および/または前記ダイ基板上に形成された複数のトランジスタと
を備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項8】
前記第1のピラー相互接続部の前記第1の幅は、前記複数のパッドのうちの第1のパッドの第3の幅よりも大きく、
前記第1のピラー相互接続部は、前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続のうちの第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に直接結合され、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続のうちの前記第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続は、前記複数のパッドのうちの第1のパッドに結合される、
をさらに備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項9】
前記第1のピラー相互接続部の前記第1の幅は、前記複数のパッドのうちの第1のパッドの第3の幅よりも大きい、
をさらに備える、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項10】
前記第1のキャビティは、前記第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、請求項1に記載の集積デバイス。
【請求項11】
パッケージであって、
基板と、
複数のピラー相互接続および複数のはんだ相互接続を通して前記基板に結合された集積デバイスと、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続は、
第1のキャビティと、
前記集積デバイスに最も近い第1のピラー相互接続部の最下部の第1の幅を備える前記第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅よりも小さい第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と、前記第1のキャビティが、前記第2のピラー相互接続部に配置される、
を備える第1のピラー相互接続を備える、
を備える、パッケージ。
【請求項12】
前記複数のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項13】
前記第1のはんだ相互接続は、金属間化合物(IMC)を備える、請求項12に記載のパッケージ。
【請求項14】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項15】
前記複数のピラー相互接続は、前記集積デバイスの一部である、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項16】
前記第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項17】
前記パッケージは、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテイメントユニット、ナビゲーションデバイス、通信デバイス、モバイルデバイス、モバイルフォン、スマートフォン、携帯情報端末、固定位置ターミナル、タブレットコンピュータ、コンピュータ、ウェアラブルデバイス、ラップトップコンピュータ、サーバ、モノのインターネット(IoT)デバイス、および自動車車両内のデバイスから成るグループから選択されたデバイスの一部である、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項18】
複数のパッドと、ここにおいて、前記第1のピラー相互接続部の前記第1の幅は、前記複数のパッドのうちの第1のパッドの第3の幅よりも大きい、
複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と、ここにおいて、前記第1のピラー相互接続部は、前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続のうちの第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に直接結合され、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続のうちの前記第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続は、前記複数のパッドのうちの前記第1のパッドに結合される、
をさらに備える、請求項11に記載のパッケージ。
【請求項19】
集積デバイスを製造するための方法であって、
複数のパッドと、
前記複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と
を備えるダイ部分を提供することと、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続の上に複数のピラー相互接続を形成することと、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続を形成することは、
第1のキャビティと、
前記ダイ部分に最も近い第1のピラー相互接続部の最下部の第1の幅を備える前記第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅よりも小さい第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と、前記第1のキャビティが、前記第2のピラー相互接続部に配置される、
を備える第1のピラー相互接続を形成することを備える、
を備える、方法。
【請求項20】
前記複数のピラー相互接続を形成することは、
前記ダイ部分の上に第1のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、
前記第1のピラー相互接続部を形成することと、
前記第1のフォトレジスト層を除去することと、
前記ダイ部分の上に第2のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、
記第1のピラー相互接続部の上に前記第2のピラー相互接続部を形成することと、
を備える、請求項19に記載の方法。
【請求項21】
前記複数のピラー相互接続を形成することは、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティの上に第1のはんだ相互接続を形成することをさらに備える、請求項20に記載の方法。
【請求項22】
前記第1のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に少なくとも部分的に配置される、請求項21に記載の方法。
【請求項23】
前記第1のキャビティは、前記第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、請求項19に記載の方法。
【請求項24】
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、請求項19に記載の方法。
【請求項25】
前記第1のピラー相互接続部の前記第1の幅は、前記複数のパッドのうちの第1のパッドの第3の幅よりも大きく、
前記第1のピラー相互接続部は、前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続のうちの第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に直接結合され、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続のうちの前記第1のアンダーバンプメタライゼーション相互接続は、前記複数のパッドのうちの第1のパッドに結合される、
をさらに備える、請求項19に記載の方法。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0096
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0096】
[0106] 本明細書で説明された本開示の様々な特徴は、本開示から逸脱することなく、異なるシステムにおいて実現され得る。本開示の前述の態様は、単なる例であり、本開示を限定するものとして解釈されるべきではないことに留意されたい。本開示の態様の説明は、例示的であることが意図されており、特許請求の範囲を限定することは意図されていない。したがって、本教示は、他のタイプの装置に容易に適用することができ、多くの代替、修正、および変形が当業者には明らかであろう。
以下に本願の出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[C1]
集積デバイスであって、
複数のパッドと、
前記複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と
を備えるダイ部分と、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続に結合された複数のピラー相互接続と、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える、
を備える、集積デバイス。
[C2]
前記複数のピラー相互接続に結合された複数のはんだ相互接続をさらに備える、C1に記載の集積デバイス。
[C3]
前記複数のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、C2に記載の集積デバイス。
[C4]
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、C1に記載の集積デバイス。
[C5]
前記第1のピラー相互接続は、
第1の幅を備える第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と
を備える、C1に記載の集積デバイス。
[C6]
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティは、前記第2のピラー相互接続部に配置される、C5に記載の集積デバイス。
[C7]
前記第1のキャビティは、前記第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、C1に記載の集積デバイス。
[C8]
前記第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、C1に記載の集積デバイス。
[C9]
前記集積デバイスは、フリップチップを備える、C1に記載の集積デバイス。
[C10]
前記ダイ部分は、
ダイ基板と、
前記ダイ基板内および/または前記ダイ基板上に形成された複数のトランジスタと
を備える、C1に記載の集積デバイス。
[C11]
パッケージであって、
基板と、
複数のピラー相互接続および複数のはんだ相互接続を通して前記基板に結合された集積デバイスと、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続は、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を備える、
を備える、パッケージ。
[C12]
前記複数のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に配置される第1のはんだ相互接続を備える、C11に記載のパッケージ。
[C13]
前記第1のはんだ相互接続は、金属間化合物(IMC)を備える、C12に記載のパッケージ。
[C14]
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、C11に記載のパッケージ。
[C15]
前記第1のピラー相互接続は、
第1の幅を備える第1のピラー相互接続部と、
前記第1の幅とは異なる第2の幅を備える第2のピラー相互接続部と
を備える、C11に記載のパッケージ。
[C16]
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティは、前記第2のピラー相互接続部に配置される、C15に記載のパッケージ。
[C17]
前記複数のピラー相互接続は、前記集積デバイスの一部である、C11に記載のパッケージ。
[C18]
前記第1のピラー相互接続は、シルクハットの形状を備える、C11に記載のパッケージ。
[C19]
前記パッケージは、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテイメントユニット、ナビゲーションデバイス、通信デバイス、モバイルデバイス、モバイルフォン、スマートフォン、携帯情報端末、固定位置ターミナル、タブレットコンピュータ、コンピュータ、ウェアラブルデバイス、ラップトップコンピュータ、サーバ、モノのインターネット(IoT)デバイス、および自動車車両内のデバイスから成るグループから選択されたデバイスの一部である、C11に記載のパッケージ。
[C20]
集積デバイスを製造するための方法であって、
複数のパッドと、
前記複数のパッドに結合された複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続と
を備えるダイ部分を提供することと、
前記複数のアンダーバンプメタライゼーション相互接続の上に複数のピラー相互接続を形成することと、ここにおいて、前記複数のピラー相互接続を形成することは、第1のキャビティを備える第1のピラー相互接続を形成することを備える、
を備える、方法。
[C21]
前記複数のピラー相互接続を形成することは、
前記ダイ部分の上に第1のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、
第1のピラー相互接続部を形成することと、
前記第1のフォトレジスト層を除去することと、
前記ダイ部分の上に第2のフォトレジスト層を形成し、パターニングすることと、
前記第1のキャビティが第2のピラー相互接続部内に形成されるように、前記第1のピラー相互接続部の上に前記第2のピラー相互接続部を形成することと、
を備える、C20に記載の方法。
[C22]
前記複数のピラー相互接続を形成することは、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティの上に第1のはんだ相互接続を形成することをさらに備える、C21に記載の方法。
[C23]
前記第1のはんだ相互接続は、前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティ内に少なくとも部分的に配置される、C22に記載の方法。
[C24]
前記第1のキャビティは、前記第1のピラー相互接続の高さを部分的に通って延在する、C20に記載の方法。
[C25]
前記第1のピラー相互接続の前記第1のキャビティを通って延在する平面断面は、O形状を備える、C20に記載の方法。
【国際調査報告】